JPH0410069A - プリント配線パターン検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プリント配線パターン近接検査法に係り、よ
り詳細には、プリント配線パターンの各パターン間の距
離を簡単に測定できるようにしたプリント配線パターン
近接検査法に関する。

〔従来の技術〕

従来、設計されたプリント配線パターンの各パターン間
の近接距離測定は、通常、次のような方法で行われてい
る。

すなわち、例えば、第８図に示すようなパターンＡとパ
ターンＢとを有するプリント配線パターンの場合、予め
、決められた尺度で出力された図面より、検図者が、両
パターンＡ＝Ｂ間の距離で最適な測定箇所を判断（測定
個所がＡＢ間か、ＣＤ間であるの化等について目測で決
定）し、これを定規により、その距離を測定し、実寸長
に演算することでチエツクしている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、上述した方法の場合、次のような問題があるこ
とが指摘されている。

■　パターン間の測定をするためには、ＣＡＤデータ等
をブロックにて、積層パターン全てにわたって作図しな
ければならないので、その作図時間や作図用紙がかなり
必要である。

■　測定個所を目測により決定するのに限度があり、ま
た、作業員の個人的バラツキに左右されやすい。

■　ブロック出図による出力用紙を限定するので尺度に
限度があることや出力時の抽画ズレ等により精度が悪く
なる。

■　定規にも測定限界があるので、精度が悪くなる。

■　測定時間の短縮ができない。

本発明は、上述したような問題を解決し、検査作業性を
向上させると共に、作業員の個人差によるバラツキのな
い再現性の高い検出を行えるようにしたプリント配線パ
ターンの近接検査法を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

そして、上記課題を解決するための手段としての本発明
のプリント配線パターンの近接検査法はＣＡＤ等の設計
データから、パターンデータ、ランドデータ等の各種デ
ータを、特定のデータ構造をもつデータベースとして、
抽出するデータ抽出工程と、 データ抽出工程で得たデータベースに基づき、配線デー
タをベクトルデータとして再構築するベクトルデータ構
築工程と、 上記データ抽出工程で抽出したランドデータ等の各種設
計ベクトルデータを実際の印刷時のパターン形状に合致
させるデータ合致作業工程と、該データ合致作業工程で
合致作業されたパターン間の測定範囲より最適倍率を決
定し、画像として表示する画像表示工程と、 該画像表示工程で画像として表示されたパターン間の任
意の２点の測定箇所より測定経路を選択する測定経路選
択工程と、 上記画像表示工程で表示された画像情報より近接パター
ン間の近接距離を測定する近接距離測定工程、 とを有し、プリント配線パターン間の近接距離を測定で
きるようにした構成よりなる。

〔作用〕

そして、上記構成に基づく、本発明のプリント配線パタ
ーンの近接検査法は、ＣＡＤ等から各種データを抽出し
データベースを得ると共に、該データベースをベクトル
データに変換して、データベース再構築し、近接距離測
定を行おうとするパターンを印刷時のシュミレーシラン
も可能なようにした後、その測定範囲より好ましい倍率
を決定すると共に、画像として表示し、該画像において
近接距離測定しようとするパターン間の測定経路を選択
し、その測定経路における該パターン間の近接距離測定
を行えるようにしているので、距離測定の際、配線構造
を求める図面の出図が不要となると共に、作業員による
判断作業が不要となり、自動的に測定経路を求めること
ができるように作用する。また、作業員毎による個人的
バラツキの発生を解消できるように作用する。

〔実施例〕

以下、図面を参照しながら、本発明を具体化した実施例
について説明する。

ここに、第１〜７図は、本発明の実施例を示し、第１図
は基本データベースにおけるプリント配線パターンのパ
ターン図、第２図は作業データベースの説明図、第３図
はデータ変換過程の説明図、第４図は近接検査を行うプ
リント配線パターンのパターン図、第５図（イ）は設計
データによるランドデータとパターンデータのパターン
図、第５図（ロ）は印刷時におけるパターン模式図、第
６図はパターン間の測定経路の説明図、第７図はパター
ン間の近接距離測定の説明図である。

そして、本実施例は、第１図に示すようなプリント配線
パターンの近接検査法であって、概略すると、■データ
抽出工程、■ベクトルデータ抽出工程、■データ合致作
業工程、■画像表示工程、■測定経路選択工程、■近接
距離測定工程の６エ程よりなる。以下、各工程について
説明する。

−データ抽出工程 本工程は、ＣＡＤ等より必要なデータのみを抽出するた
めの工程である。ＣＡＤデータには、出図に必要な種々
のデータが入っているので、これらのデータより、必要
なデータのみを抽出する必要がある。

そして、具体的には、第２図に示すようなデータベース
として、パターンデータ、ランドデータ等の必要な各種
データを抽出する。すなわち、グループ番号、区分コー
ド、線巾、ｘ、ｙ座標のデータ等を抽出し、該データに
基づき、基本データベースを構築する。

ベクトルデータ抽出工程 本工程は、配線構造を求めるための過程で、データ抽出
工程で得た基本データベースを、パターン配線の区分等
のデータベースに再構築し、ベクトルデータに変換する
工程である。すなわち、基本データベースより、例えば
、メツキ配線とパターン配線の区分や、線幅を有するパ
ターン配線のデータベースの再構築等を行い、第３図に
示すような作業データベースとして抽出・作成する工程
である。

ここでは、線幅を有するパターンから作業データベース
を作るには、データ変換を行うが、具体的には、第４図
に示すように、ベクトルデータに変換して、ベクトルデ
ータとして抽出するようにしている。すなわち、第４図
（イ）は、線巾０゜２５關のメツキ線をベクトルデータ
に変換することにより、メツキ線とパターンとの区分の
ある場合を、ベクトルデータとして抽出している。

−データ合致作業工程 本工程は、データ抽出工程で抽出したランドデータ等の
各種設計データを実際の印刷時のパターン形状に合致さ
せるための工程である。

ここでは、設計データによるランドデータとパターンデ
ータとの設計へクトルデータパターン（第５図（イ）参
照）を、実際に印刷されたパターンに合致させるために
設計ベクトルデータパターンを自由に変更できるように
している。すなわち、第５図のパターンにおいて、通常
、設計時には、パターンＡとパターンＢとの間隔は、Δ
１であるが、印刷時には、パターンＢのランド部分に形
成されるスルーホールが大きく加工され、スルーホール
印刷を施されるので、該パターン間隔は、Δ２となる。

そこで、印刷時のシュミレーションも可能なようにパタ
ーンＢにおいて、ランド半径を自由に変更できるように
して、ランドデータ等の各種設計データを実際の印刷時
のパターン形状に合致させるようにしている。

画像表示工程− 本工程は、データ合致作業工程で合致操作されたパター
ン間の測定範囲より、その最適倍率を決定し、ベクトル
表示像として画面上に表示する工程である。

すなわち、画像処理を好ましい状態で行えるような最適
倍率でもって画像表示させる工程であって、具体的には
、次のような手順でもって行っている。

■　識別（測定）範囲の占める部分を求める。すなわち
、パターン全体から見て、識別範囲が、どの部分を占め
ているかを求め、かつ倍率を求め、画像表示を行う。

■　上記識別範囲における方向性により、画像処理の原
点を求める。

■　次に、マウスの指示点から境界までの特定濃度でパ
ディングする。

■　画像処理原点から特定濃度までを別濃度にてパディ
ングする。

ここで、濃度とは、量子化エリア内のデジタル情報のこ
とをいい、本実施例では、３ビツト情報（０〜７）で表
現している。

測定経路選択工程 本工程は、前工程で、画像表示されたパターン間の任意
の２点の測定箇所より測定経路を選択する工程である。

例えば、第６図に示すパターン間の測定経路を示すＣ−
Ｄ間でパターンＡとパターンＢの近接検査を行う場合に
ついて説明すると、まず、測定点Ｃから測定点りへの方
向性を傾きδより求める。

そして、Ｃ−Ｄ間に垂直な直１Ｅ−Ｆを求めた後、測定
開始点（ｘｃ、ｙｃ）より、測定点り方向へ向かい、そ
れぞれ（、−Ｅ方向、Ｃ−Ｆ方向へ測定し、パターンＡ
とパターンＢに包含される座標（Ｘｉ　、　　Ｙｔ　）
　、　　（ＸＦ　、　　）’Ｆ　）を求める０次に、測
定の中心となる点の座標は（ｘｃ＋Δｘ、　　（Ｙｔ＋
）’ｒ）／２）である。

但し、ΔＸは、 Δｘ＝　　ｌｘ、　　ｘ、ｌ　　／ｎ で求める分解能である。

このようにして、測定経路を選択し、次工程で近接距離
測定を行える経路を得る。

−近接距離測定工程 本工程は、画像表示工程で表示された画像情報より近接
パターン間の近接距離を測定するための工程である。

例えば、第７図において、初めの中心点（ｘｃｙｃ）を
通る直線ＣＤに垂直な直線り、上の点で、最初のパター
ンＡ、Ｂに包含される点をそれぞれ（ＸＦＩ　、　）’
ｔ＋）　＋　　（ＸＦＩ　、　ｙｒ＋）とする。そして
、次の中心点（ｘｃ　→−ΔＸ、　　ＣＹＥ＋ｙｖ〕／
２）を通る直線ＣＤに垂直な直線り、上の点でパターン
Ａ、Ｂに包含される点　（ＸＦ２　、　ｙｔｚ）（Ｘｖ
ｔ　、　Ｙｖｚ）を求める。このようにしてできた測定
の中間点では、中心点（ｘｃ　＋　［ｎ＋　ｔ）、ΔＸ
、　　［）’Ｅ＋ｎ−１１千ｙＦｌｎ−１１）／２）を
通り、θ１からθ２の傾斜を有する直線り。上にあり、
パターンＡ、Ｂに包含される点（ＸＥｌｌ　、　）’Ｅ
１１）（ＸＦ１１＝）’ＦＴ１）を求め、最も近い点を
求める。さらに、次の中心点（ｘｃ＋ｎ・Δｘ、〔ｙＦ
、、十ｙＦ、、〕／２）を通り、直線り。、１上にある
最も近い点を求める。

以上の操作をＤ点まで繰り返して行うことによりパター
ン間の最短距離を求める。

次に、上述した本実施例の効果をｉｌｌするために、第
１図に示すプリント配線パターンについて、そのパター
ンＡ、Ｂ間の近接距離を従来例による手法と比較測定を
行った。

その結果、本実施例の手法による場合は、作業ファイル
データベースを作成するのに約３分間要し、測定に１０
秒〜２０秒程度で、その測定を行えたのに対し、従来例
手法の場合、出図に３０分要し、かつ測定自体に５〜６
分要した。また、精度の面においても、従来例手法の場
合、劣るという結果を得た。これは、尺度に限度がある
ことや、抽画ズレを生じること等に起因するものと考え
られる。

なお、本発明は上述した実施例に限定されるものでなく
、本発明の要旨を変更しない範囲内で変形実施できるも
のを含む。

〔発明の効果〕

そして、本発明のプリント配線パターンの近接検査法に
よれば、次ぎのような効果を奏する。

■　図面の出図が不要となり、出図時間、出図用紙の節
約をもたらす。

■　出図された図面を何度も繰り返し調査し、測定個所
を作業員が判断しなくても良く、自動的に求められる。

■　専門技術員が不要である。

■　個人毎のバラツキのない再現性の高い演算ができる
。

従って、本発明によれば、検査作業性を向上させると共
に、作業員の個人差によるバラツキのない、再現性の高
い高精度な測定を行えるプリント配線パターンの近接検
査法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１〜７図は、本発明の実施例を示し、第１図は基本デ
ータベースにおけるプリント配線パターンのパターン図
、第２図は作業データヘースの説明図、第３図はデータ
変換過程の説明図、第４図は近接検査を行うプリント配
線パターンのパターン図、第５図（イ）は設計データに
よるランドデータとパターンデータのパターン図、第５
図（ロ）は印刷時におけるパターン模式図、第６図はパ
ターン間の測定経路の説明図、第７図はパターン間の近
接距離測定の説明図、第８図は従来の近接検査法の説明
図である。 Ｂ　・ ・パターン 特 許

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）ＣＡＤ等の設計データから、パターンデータ、ラ
   ンドデータ等の各種データを、特定のデータ構造をもつ
   データベースとして、抽出するデータ抽出工程と、 データ抽出工程で得たデータベースに基づき、配線デー
   タをベクトルデータとして再構築するベクトルデータ構
   築工程と、 上記データ抽出工程で抽出したランドデータ等の各種設
   計ベクトルデータを実際の印刷時のパターン形状に合致
   させるデータ合致作業工程と、該データ合致作業工程で
   合致作業されたパターン間の測定範囲より最適倍率を決
   定し、画像として表示する画像表示工程と、該画像表示
   工程で画像として表示されたパターン間の任意の２点の
   測定箇所より測定経路を選択する測定経路選択工程と、 上記画像表示工程で表示された画像情報より近接パター
   ン間の近接距離を測定する近接距離測定工程、 とを有し、プリント配線パターン間の近接距離を測定で
   きるようにしたことを特徴とするプリント配線パターン
   検査方法。