JP2010198926A - Image display apparatus - Google Patents

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JP2010198926A JP2009042834A JP2009042834A JP2010198926A JP 2010198926 A JP2010198926 A JP 2010198926A JP 2009042834 A JP2009042834 A JP 2009042834A JP 2009042834 A JP2009042834 A JP 2009042834A JP 2010198926 A JP2010198926 A JP 2010198926A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image display apparatus capable of effectively suppressing changes in characteristics of a light-emitting device. <P>SOLUTION: The image display apparatus includes a light-emitting device formed on a device substrate 2, a sealing substrate 8 arranged on the light-emitting device via a sealing member 10 composed of a first polar material to face the device substrate 2, and a polar body that is formed on a region between the device substrate 2 and the sealing substrate 8 that does not overlap the light-emitting device to contact at least part of the sealing member 10 and has a surface composed of a second polar material different from the first polar material. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

画像表示装置に関する。   The present invention relates to an image display device.

有機発光ダイオード(OLED)等の電流制御型の発光素子を一対の基板の間に設けた画像表示装置が広く知られている。かかる画像表示装置では、基板上に形成される発光素子上に接着剤を塗布し、該接着剤を介して一対の基板を貼り合わせることにより、発光素子を封止している。
ここで、接着剤中には気泡が混入しており、該気泡が発光素子にふれると、気泡に含まれる酸素等と発光素子に含まれる有機材料等が化学反応を起こすことがある。そして、発光素子が化学反応を起こすことによって、発光素子の特性が変化し、発光素子の寿命が短くなることがある。そこで、接着剤中に含まれる気泡を減らす技術が提案されている(例えば、特許文献1,2参照)。また、接着剤中に含まれる気泡を小さくする技術が提案されている(例えば、特許文献3参照)。
2. Description of the Related Art An image display device in which a current control type light emitting element such as an organic light emitting diode (OLED) is provided between a pair of substrates is widely known. In such an image display device, the light emitting element is sealed by applying an adhesive on the light emitting element formed on the substrate and bonding the pair of substrates through the adhesive.
Here, bubbles are mixed in the adhesive. When the bubbles touch the light emitting element, oxygen contained in the bubbles and an organic material contained in the light emitting element may cause a chemical reaction. And when a light emitting element raise | generates a chemical reaction, the characteristic of a light emitting element changes and the lifetime of a light emitting element may become short. Therefore, techniques for reducing bubbles contained in the adhesive have been proposed (see, for example, Patent Documents 1 and 2). In addition, a technique for reducing bubbles contained in the adhesive has been proposed (see, for example, Patent Document 3).

特開2005−5051号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2005-5051 特開2005−32682号公報JP 2005-32682 A 特開2001−155853号公報JP 2001-155853 A

上述した特許文献に開示されている技術では、接着剤中に含まれる気泡を低減した場合、発光素子が気泡にふれる機会が減るものの、依然として気泡が発光素子にふれやすく、その効果が十分ではなかった。   In the technique disclosed in the above-mentioned patent document, when the bubbles contained in the adhesive are reduced, the opportunity for the light emitting element to touch the bubbles is reduced, but the bubbles still easily touch the light emitting elements, and the effect is not sufficient. It was.

本発明は、上記課題に鑑みたものであり、発光素子の特性が変化するのを効果的に抑制することが可能な画像表示装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an image display device capable of effectively suppressing changes in characteristics of a light emitting element.

上記課題を解決するために、本発明の第1の態様に係る画像表示装置は、素子基板上に形成される発光素子と、前記発光素子上に第1極性物質からなるシール材を介して前記素子基板と対向配置される封止基板と、前記素子基板と前記封止基板との間であって、前記発光素子と重ならない領域に前記シール材の少なくとも一部と接するように形成され、表面が前記第1極性物質と異なる第2極性物質からなる極性体と、を備えたことを特徴とする。   In order to solve the above problems, an image display device according to a first aspect of the present invention includes a light emitting element formed on an element substrate and a sealing material made of a first polar substance on the light emitting element. A sealing substrate disposed opposite to the element substrate; and a surface between the element substrate and the sealing substrate and in contact with at least a part of the sealing material in a region that does not overlap the light emitting element; And a polar body made of a second polar substance different from the first polar substance.

本発明の第2の態様に係る画像表示装置は、前記発光素子が、前記素子基板上に複数個設けられており、前記発光素子のそれぞれは前記素子基板側から前記封止基板側に向かって突出する隔壁によって囲まれ、該隔壁によって囲まれる領域内に前記シール材が充填されていることを特徴とする。   In the image display device according to the second aspect of the present invention, a plurality of the light emitting elements are provided on the element substrate, and each of the light emitting elements is directed from the element substrate side toward the sealing substrate side. It is characterized by being surrounded by protruding partition walls, and the sealing material is filled in a region surrounded by the partition walls.

本発明の第3の態様に係る画像表示装置は、前記極性体が、前記隔壁によって囲まれる領域内に設けられていることを特徴とする。   The image display device according to a third aspect of the present invention is characterized in that the polar body is provided in a region surrounded by the partition walls.

本発明の第4の態様に係る画像表示装置は、前記極性体の下部の高さ位置が、前記隔壁の上部の高さ位置よりも下方に位置することを特徴とする。   The image display device according to a fourth aspect of the present invention is characterized in that a lower height position of the polar body is located lower than an upper height position of the partition wall.

本発明の第5の態様に係る画像表示装置は、前記シール材中に気泡が含まれており、前記隔壁の上部の高さ位置以上に存在する前記気泡の単位体積あたりの密度が、前記隔壁の上部の高さ位置未満に存在する前記気泡の単位体積あたりの密度よりも大きいことを特徴とする。   In the image display device according to the fifth aspect of the present invention, bubbles are included in the sealing material, and the density per unit volume of the bubbles present above the height position above the partition is determined by the partition. It is characterized by being larger than the density per unit volume of the bubbles existing below the height position of the upper part.

本発明の第6の態様に係る画像表示装置は、前記シール材中には、気泡が含有されており、前記シール材中に含まれる気泡の単位体積あたりの密度は、前記発光素子と重なる領域に比べて、前記発光素子と重ならない領域の方が大きいことを特徴とする。   In the image display device according to the sixth aspect of the present invention, bubbles are contained in the sealing material, and the density per unit volume of the bubbles contained in the sealing material is a region overlapping the light emitting element. Compared to the above, the region which does not overlap with the light emitting element is larger.

本発明の第7の態様に係る画像表示装置は、前記極性体が、前記発光素子の外周に沿って設けられていることを特徴とする。   The image display device according to a seventh aspect of the present invention is characterized in that the polar body is provided along an outer periphery of the light emitting element.

本発明の第8の態様に係る画像表示装置は、前記極性体が、前記発光素子の外周に沿って点在して複数個設けられていることを特徴とする。
本発明の第9の態様に係る画像表示装置は、前記極性体は、前記封止基板と接続されていることを特徴とする。
The image display device according to an eighth aspect of the present invention is characterized in that a plurality of the polar bodies are provided along the outer periphery of the light emitting element.
The image display device according to a ninth aspect of the present invention is characterized in that the polar body is connected to the sealing substrate.

本発明の第10の態様に係る画像表示装置は、前記極性体は上部よりも下部が幅狭であって、前記極性体の前記封止基板側から前記素子基板側に向かって突出する先端部が湾曲していることを特徴とする。   In the image display device according to the tenth aspect of the present invention, the polar body is narrower at the lower part than at the upper part, and the tip of the polar body projects from the sealing substrate side toward the element substrate side. Is curved.

本発明によれば、発光素子の特性が変化するのを効果的に抑制することが可能な画像表示装置を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the image display apparatus which can suppress effectively that the characteristic of a light emitting element changes can be provided.

本発明の一実施形態に係る画像表示装置の平面図である。1 is a plan view of an image display device according to an embodiment of the present invention. 表示部を構成する画素の拡大した平面図である。It is the top view to which the pixel which comprises a display part was expanded. 図2のA−Aの長破線における一画素の拡大断面図である。FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view of one pixel taken along the long dashed line AA in FIG. 2. 画素内の有機EL素子の構成層を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the structural layer of the organic EL element in a pixel. 図5(A),図5(B),図5(C)は、本実施形態の画像表示装置の製造工程を示す素子基板の断面図である。FIG. 5A, FIG. 5B, and FIG. 5C are cross-sectional views of the element substrate showing the manufacturing process of the image display device of this embodiment. 図6(A),図6(B)は、本実施形態の画像表示装置の製造工程を示す素子基板の断面図である。6A and 6B are cross-sectional views of the element substrate showing the manufacturing process of the image display device of this embodiment. 図7(A),図7(B)は、本実施形態の画像表示装置の製造工程を示す素子基板の断面図である。7A and 7B are cross-sectional views of the element substrate showing the manufacturing process of the image display device of the present embodiment. 図8(A),図8(B)は、本実施形態の画像表示装置の製造工程を示す封止基板の断面図である。8A and 8B are cross-sectional views of the sealing substrate showing the manufacturing process of the image display device of the present embodiment. 本実施形態の画像表示装置の製造工程を示す素子基板及び封止基板の断面図である。It is sectional drawing of the element substrate and sealing substrate which show the manufacturing process of the image display apparatus of this embodiment. 本実施形態の画像表示装置の製造工程を示す素子基板及び封止基板の断面図である。It is sectional drawing of the element substrate and sealing substrate which show the manufacturing process of the image display apparatus of this embodiment.

以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

<1.画像表示装置の概略構成>
図1は、本発明の一実施形態に係る画像表示装置1を示す図である。画像表示装置1は、有機EL素子の発光を利用した装置(有機EL装置)を構成している。
<1. Schematic configuration of image display device>
FIG. 1 is a diagram showing an image display device 1 according to an embodiment of the present invention. The image display device 1 constitutes a device (organic EL device) using light emission of an organic EL element.

画像表示装置1は、テレビ等の家電機器、携帯電話又はコンピュータ機器等の電子機器に用いるものであり、素子基板2と、素子基板2上に実装される実装回路3とを有している。   The image display device 1 is used for home appliances such as a television, electronic equipment such as a mobile phone or a computer device, and includes an element substrate 2 and a mounting circuit 3 mounted on the element substrate 2.

素子基板2は、例えばガラス、プラスチック、金属又はセラミックからなり、素子基板2の中央に位置する表示部D1には、複数の画素4が形成されている。また、素子基板2の端部に位置する実装部D2には、実装回路3が実装されている。   The element substrate 2 is made of, for example, glass, plastic, metal, or ceramic, and a plurality of pixels 4 are formed in the display unit D1 located in the center of the element substrate 2. A mounting circuit 3 is mounted on the mounting portion D2 located at the end of the element substrate 2.

また、画素4は、赤色、緑色又は青色のいずれかの色を発光することができる。このことは、後述するように発光素子としての有機EL素子5を構成する材料を適宜選択することによって、発光する色を決定することができる。なお、本実施形態においては、画素を赤色、緑色又は青色のいずれかの色を発光するものとしたが、例えば白色又は橙色等の色を発光するようにしてもよい。   The pixel 4 can emit any one of red, green, and blue. This can determine the color to emit light by appropriately selecting the material constituting the organic EL element 5 as the light emitting element as will be described later. In this embodiment, the pixels emit light of red, green, or blue. However, for example, white or orange light may be emitted.

ここで、本実施形態においては、画素4は、赤色の光を発する画素4Rと、緑色の光を発する画素4Gと、青色の光を発する画素4Bが含まれている。画素4は、表示部D1にマトリックス状に複数設けられており、各画素3が規則的な順序で配列されている。つまり、表示部D1には、一端から他端に向かって、画素4R、画素4G、画素4Bの順番で連続して配列されている。   Here, in the present embodiment, the pixel 4 includes a pixel 4R that emits red light, a pixel 4G that emits green light, and a pixel 4B that emits blue light. A plurality of pixels 4 are provided in a matrix in the display unit D1, and the pixels 3 are arranged in a regular order. That is, in the display unit D1, the pixels 4R, the pixels 4G, and the pixels 4B are sequentially arranged from one end to the other end.

画素4は、図2に示すように、発光領域R1と該発光領域R1の周囲を取り囲む非発光領域R2とを含んで構成されており、発光領域R1に発光可能な有機EL素子5が設けられている。なお、図2は、図1の表示部D1の一部を拡大した平面図である。   As shown in FIG. 2, the pixel 4 includes a light emitting region R1 and a non-light emitting region R2 surrounding the light emitting region R1, and an organic EL element 5 capable of emitting light is provided in the light emitting region R1. ing. 2 is an enlarged plan view of a part of the display unit D1 in FIG.

また、各画素3には、隔壁6が設けられている。隔壁6は、断面が上部よりも下部が幅狭の形状であって、後述する絶縁物7上に形成されている。隔壁6上には、後述するように、蒸着法を用いて有機EL素子5を構成する層を塗り分けるのに、蒸着マスクを載置することができる。隔壁6は、例えば酸化ケイ素、窒化ケイ素又は酸化窒化ケイ素等の無機絶縁材料、あるいはフェノール樹脂、ノボラック樹脂、アクリル樹脂又はポリイミド樹脂等の有機絶縁材料から成る。なお、隔壁6の厚みは、1μm以上4μm以下に設定されている。   Each pixel 3 is provided with a partition wall 6. The partition wall 6 has a shape in which the lower section is narrower than the upper section, and is formed on an insulator 7 to be described later. As will be described later, a vapor deposition mask can be placed on the partition wall 6 in order to separate the layers constituting the organic EL element 5 by vapor deposition. The partition 6 is made of, for example, an inorganic insulating material such as silicon oxide, silicon nitride, or silicon oxynitride, or an organic insulating material such as phenol resin, novolac resin, acrylic resin, or polyimide resin. In addition, the thickness of the partition wall 6 is set to 1 μm or more and 4 μm or less.

また、素子基板2上には、素子基板2に対して対向するように配置された封止基板8が形成されている。封止基板8は光を透過する基板から成り、例えばガラス又はプラスチックを用いることができる。なお、本実施形態においては、素子基板2側から封止基板8側に向けて光が発せられるトップエミッション型の有機ELディスプレイであるため、封止基板8は光を透過する部材が用いられる。   In addition, a sealing substrate 8 is formed on the element substrate 2 so as to face the element substrate 2. The sealing substrate 8 is made of a substrate that transmits light, and for example, glass or plastic can be used. In this embodiment, since the top emission type organic EL display emits light from the element substrate 2 side toward the sealing substrate 8 side, the light transmitting member is used for the sealing substrate 8.

素子基板2の表示部D1には、画素4を被覆するように保護膜9が形成されている。保護膜9は、隔壁6をも被覆するように形成されることで、各画素4に酸素又は水分が浸入するのを低減し、各画素4が劣化するのを抑制することができる。保護膜9は、例えば窒化珪素、酸化珪素又は酸化窒化珪素等の無機絶縁材料から成る。さらに、保護膜9上にシール材10を介して封止基板8が貼り合わされている。なお、保護膜9は、各画素4の劣化を抑制するために、厚みが1μm以上に設定されている。   A protective film 9 is formed on the display portion D1 of the element substrate 2 so as to cover the pixels 4. By forming the protective film 9 so as to cover the partition wall 6, it is possible to reduce the ingress of oxygen or moisture into each pixel 4 and to suppress the deterioration of each pixel 4. The protective film 9 is made of an inorganic insulating material such as silicon nitride, silicon oxide, or silicon oxynitride. Further, the sealing substrate 8 is bonded onto the protective film 9 via the sealing material 10. The protective film 9 is set to have a thickness of 1 μm or more in order to suppress deterioration of each pixel 4.

シール材10は、接着材としての機能を有し、硬化することによって素子基板2と封止基板8とを固着することができる。かかるシール材10は、第1極性物質からなり、例えばアクリル樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂又はシリコン樹脂等の光硬化性樹脂、あるいは熱硬化性の樹脂を用いることができる。なお、本実施形態においては、紫外線の照射により硬化する光硬化性のエポキシ樹脂を用いる。なお、シール材10は有機樹脂材料からなり、素子基板2と封止基板8とを強固に接着させるために、厚みが1μm以上に設定されている。シール材10の透明度は、分光光度計における波長380〜780nmの光の全光線透過率が80%以上であることが好ましい。また、シール材10の透湿度は、JIS Z 0208に準拠して、85℃・85%RHの条件下で測定した透湿度が150(g/m2 ・24h/100μm)以下であることが好ましい。 The sealing material 10 has a function as an adhesive and can fix the element substrate 2 and the sealing substrate 8 by being cured. The sealing material 10 is made of a first polar substance, and for example, a photocurable resin such as an acrylic resin, an epoxy resin, a urethane resin, or a silicon resin, or a thermosetting resin can be used. In this embodiment, a photocurable epoxy resin that is cured by irradiation with ultraviolet rays is used. The sealing material 10 is made of an organic resin material, and the thickness is set to 1 μm or more in order to firmly bond the element substrate 2 and the sealing substrate 8. Regarding the transparency of the sealing material 10, the total light transmittance of light having a wavelength of 380 to 780 nm in the spectrophotometer is preferably 80% or more. Further, the moisture permeability of the sealing material 10 is preferably 150 (g / m 2 · 24 h / 100 μm) or less according to JIS Z 0208, measured under the conditions of 85 ° C. and 85% RH. .

次に、図3に示すように、素子基板2と封止基板8との間に形成される各種層について説明する。なお、図3は、図2の長破線におけるA−A断面図である。   Next, as shown in FIG. 3, various layers formed between the element substrate 2 and the sealing substrate 8 will be described. FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG.

素子基板2上には、TFTや電気配線等から成る回路層11が形成されている。さらに、回路層11上には、回路層11の所定領域以外が電気的にショートしないように、例えば窒化珪素、酸化珪素又は酸化窒化珪素等から成る絶縁層12が形成されている。   On the element substrate 2, a circuit layer 11 made of TFT, electric wiring, or the like is formed. Furthermore, an insulating layer 12 made of, for example, silicon nitride, silicon oxide, silicon oxynitride, or the like is formed on the circuit layer 11 so as not to cause an electrical short except for a predetermined region of the circuit layer 11.

また、絶縁層12上には、回路層11及び絶縁層12に起因する表面の凹凸を低減するために、平坦化膜13が形成されている。回路層11は、複数の電気配線がパターニングされているため、その表面には凹凸が形成される。有機EL素子5を凹凸な面上に形成すると、有機EL素子5を構成する電極層同士が短絡し、有機EL素子5が発光しないことがある。そのため、絶縁層12上に平坦化膜13が形成される。   Further, a planarizing film 13 is formed on the insulating layer 12 in order to reduce surface irregularities caused by the circuit layer 11 and the insulating layer 12. Since the circuit layer 11 has a plurality of patterned electrical wirings, irregularities are formed on the surface thereof. When the organic EL element 5 is formed on an uneven surface, the electrode layers constituting the organic EL element 5 may be short-circuited and the organic EL element 5 may not emit light. Therefore, a planarizing film 13 is formed on the insulating layer 12.

かかる平坦化膜13は、例えばノボラック樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂又はシリコン樹脂等の絶縁性を有する有機材料を用いることができる。なお、平坦化膜13の厚みは、例えば2μm以上5μm以下に設定されている。   The planarizing film 13 can be made of an insulating organic material such as a novolac resin, an acrylic resin, an epoxy resin, or a silicon resin. The thickness of the planarizing film 13 is set to 2 μm or more and 5 μm or less, for example.

また、平坦化膜13には、平坦化膜13を貫通するコンタクトホールSが形成されている。かかるコンタクトホールSは、上部よりも下部が幅狭に形成されている。コンタクトホールSは、各画素4に形成されており、コンタクトホールSの底部には、回路層11の一部が露出している。   Further, a contact hole S that penetrates the planarizing film 13 is formed in the planarizing film 13. The contact hole S is formed so that the lower part is narrower than the upper part. The contact hole S is formed in each pixel 4, and a part of the circuit layer 11 is exposed at the bottom of the contact hole S.

図4は、有機EL素子5の構成を説明するための断面図である。発光領域R1に位置する平坦化膜13上には、有機EL素子5が形成されている。図3及び図4に示すように、有機EL素子5は、第1電極層14と、第1電極層14上に形成された有機発光層15と、有機発光層15上に形成された第2電極層16と、を含んで構成されている。ここで、発光領域R1は、第1電極層14と有機発光層15が直接接するとともに、第1電極層14と第2電極層16との間に電流が流れることで発光する領域のことをいう。   FIG. 4 is a cross-sectional view for explaining the configuration of the organic EL element 5. An organic EL element 5 is formed on the planarization film 13 located in the light emitting region R1. As shown in FIGS. 3 and 4, the organic EL element 5 includes a first electrode layer 14, an organic light emitting layer 15 formed on the first electrode layer 14, and a second electrode formed on the organic light emitting layer 15. And an electrode layer 16. Here, the light emitting region R1 refers to a region that emits light when the first electrode layer 14 and the organic light emitting layer 15 are in direct contact with each other and a current flows between the first electrode layer 14 and the second electrode layer 16. .

第1電極層14は、平坦化膜13上に形成される。第1電極層14は、例えばアルミニウム、銀、銅、金、ロジウム又はネオジム等の金属、あるいはこれらの合金等の光反射率の大きい材料から成る。このように、第1電極層14を光反射率の大きい材料から構成することにより、トップエミッション型の有機EL素子5においては光取り出し効率を向上させることができる。なお、第1電極層14の厚みは、例えば50nm以上500nm以下に設定されている。   The first electrode layer 14 is formed on the planarization film 13. The first electrode layer 14 is made of a material having a high light reflectivity such as a metal such as aluminum, silver, copper, gold, rhodium or neodymium, or an alloy thereof. In this way, by configuring the first electrode layer 14 from a material having a high light reflectance, the light extraction efficiency can be improved in the top emission type organic EL element 5. The thickness of the first electrode layer 14 is set to, for example, 50 nm or more and 500 nm or less.

また、平坦化膜13上からコンタクトホールSの内周面にかけてコンタクト電極層17が形成されている。そして、コンタクトホールSの内周面に形成されるコンタクト電極層17の一部が、コンタクトホールSの底部から露出する回路層11の一部と接続されている。   A contact electrode layer 17 is formed from the planarizing film 13 to the inner peripheral surface of the contact hole S. A part of the contact electrode layer 17 formed on the inner peripheral surface of the contact hole S is connected to a part of the circuit layer 11 exposed from the bottom of the contact hole S.

絶縁物7は、第1電極層14上に形成されている。絶縁物7は、第1電極層14上に、発光領域R1に対応する第1電極層14の一部を露出するとともに、コンタクトホールSの内周面から平坦化膜13上にかけて形成されるコンタクト電極層17の一部を露出している。なお、絶縁物7は、例えば、フェノール樹脂、アクリル樹脂又はポリイミド樹脂等の有機絶縁材料、あるいは窒化珪素、酸化珪素又は酸化窒化珪素等の無機絶縁材料から成る。   The insulator 7 is formed on the first electrode layer 14. The insulator 7 is a contact formed on the first electrode layer 14 so as to expose a part of the first electrode layer 14 corresponding to the light emitting region R1 and on the planarizing film 13 from the inner peripheral surface of the contact hole S. A part of the electrode layer 17 is exposed. The insulator 7 is made of, for example, an organic insulating material such as phenol resin, acrylic resin, or polyimide resin, or an inorganic insulating material such as silicon nitride, silicon oxide, or silicon oxynitride.

そして、発光領域R1に対応する第1電極層14上に有機発光層15が形成され、その上に第2電極層16が形成される。   Then, the organic light emitting layer 15 is formed on the first electrode layer 14 corresponding to the light emitting region R1, and the second electrode layer 16 is formed thereon.

有機発光層15は、絶縁物7で囲まれる第1電極層14上に形成され、複数の層から構成されている。本実施形態においては、有機発光層15は、正孔注入層18、正孔輸送層19、発光層20、電子輸送層21及び電子注入層22を順次積層した構成である。また、有機発光層15の各層を構成する材料は、発する光の色に応じて、適当な材料が選択される。   The organic light emitting layer 15 is formed on the first electrode layer 14 surrounded by the insulator 7 and is composed of a plurality of layers. In the present embodiment, the organic light emitting layer 15 has a configuration in which a hole injection layer 18, a hole transport layer 19, a light emitting layer 20, an electron transport layer 21, and an electron injection layer 22 are sequentially stacked. In addition, as a material constituting each layer of the organic light emitting layer 15, an appropriate material is selected according to the color of the emitted light.

有機発光層15上には、第2電極層16が形成されている。第2電極層16は、有機発光層15上から絶縁物7上まで延在されている。さらに、第2電極層16の一部は、コンタクトホールSの内周面から平坦化膜13上にまで延在されるコンタクト電極層17と接続されている。そして、第2電極層16とコンタクト電極層17とが導通する。   A second electrode layer 16 is formed on the organic light emitting layer 15. The second electrode layer 16 extends from the organic light emitting layer 15 to the insulator 7. Further, a part of the second electrode layer 16 is connected to a contact electrode layer 17 extending from the inner peripheral surface of the contact hole S to the planarizing film 13. Then, the second electrode layer 16 and the contact electrode layer 17 are conducted.

第2電極層16は、有機発光層15の上面側から光を取り出すために、例えばインジウム錫酸化物(ITO)、錫酸化物等の光透過性を有する導電材料を用いて形成される。また、第2電極16が、例えばマグネシウム、銀、アルミニウム又はカルシウム等の材料から成る場合、その厚みを100nm以下にすることによって、光透過性の電極とすることができる。このようにして、第2電極層16は、有機発光層15の発する光が透過する。そして、透過した光は、画像表示装置1の外部に放出される。   The second electrode layer 16 is formed using a light-transmitting conductive material such as indium tin oxide (ITO) or tin oxide in order to extract light from the upper surface side of the organic light emitting layer 15. Moreover, when the 2nd electrode 16 consists of materials, such as magnesium, silver, aluminum, or calcium, for example, it can be set as a light transmissive electrode by making the thickness into 100 nm or less. Thus, the light emitted from the organic light emitting layer 15 is transmitted through the second electrode layer 16. Then, the transmitted light is emitted to the outside of the image display device 1.

有機発光層15は、第1電極層14と第2電極層16との間に電流が流れ、有機発光層15中に注入された正孔と電子とが結合することによって励起されて発光する。そして、有機発光層15が発する光が第1電極層14と第2電極層16との間で定在波となって共振し、発光する光を強めるために、有機発光層15の厚みが調整されている。   The organic light emitting layer 15 is excited and emits light when a current flows between the first electrode layer 14 and the second electrode layer 16 and holes and electrons injected into the organic light emitting layer 15 are combined. Then, the light emitted from the organic light emitting layer 15 resonates as a standing wave between the first electrode layer 14 and the second electrode layer 16, and the thickness of the organic light emitting layer 15 is adjusted in order to increase the emitted light. Has been.

ここで、有機発光層15が、赤色を発する有機発光層15Rの場合について説明する。   Here, the case where the organic light emitting layer 15 is an organic light emitting layer 15R that emits red light will be described.

有機発光層15Rの正孔注入層18Rは、例えば酸化ニッケル、酸化チタン、フッ化炭素、銅フタロシアニン(CuPc)、或いは1,4,5,8,9,12−ヘキサアザトリフェニレン又はこれにシアノ基などが結合した誘導体等の複素環化合物から成る。正孔注入層18Rの厚みは、例えば5nm以上40nm以下に設定されている。   The hole injection layer 18R of the organic light emitting layer 15R is, for example, nickel oxide, titanium oxide, fluorocarbon, copper phthalocyanine (CuPc), 1,4,5,8,9,12-hexaazatriphenylene or cyano group It consists of a heterocyclic compound such as a derivative to which is bound. The thickness of the hole injection layer 18R is set to, for example, 5 nm or more and 40 nm or less.

また、有機発光層15Rの正孔輸送層19Rは、例えばN,N’−ビス(3−メチルフェニル)−(1,1’−ビフェニル)−4,4’−ジアミン(TPD)、4,4’−ビス[N−(ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル(α−NPD)等の芳香族ジアミン化合物、および4,4’,4”−トリス(N−(3−メチルフェニル)N−フェニルアミノ)トリフェニルアミン(m−MTDATA)等のスターバースト芳香族又は芳香族アミン化合物を用いることができる。正孔輸送層19Rの厚みは、例えば10nm以上50nm以下に設定されている。   Further, the hole transport layer 19R of the organic light emitting layer 15R is formed of, for example, N, N′-bis (3-methylphenyl)-(1,1′-biphenyl) -4,4′-diamine (TPD), 4,4. Aromatic diamine compounds such as' -bis [N- (naphthyl) -N-phenyl-amino] biphenyl (α-NPD), and 4,4 ′, 4 ″ -tris (N- (3-methylphenyl) N— A starburst aromatic or aromatic amine compound such as phenylamino) triphenylamine (m-MTDATA) can be used, and the thickness of the hole transport layer 19R is set to, for example, 10 nm or more and 50 nm or less.

また、有機発光層15Rの発光層20Rは、例えばビス(2−メチル−8−キノリノラト)−4−(フェニルフェノラト)アルミニウム、1,4−フェニレンビス(トリフェニルシラン)、1,3−ビス(トリフェニルシリル)ベンゼン、1,3,5−トリ(9H−カルバゾール−9−イル)ベンゼン、CBP、Alq又はSDPVBi等のホスト材料に、トリス(1−フェニルイソキノリナト−C2,N)イリジウム等の有機金属化合物、或いはDCJTB、クマリン、キナクリドン、フェナンスレン基を有するペリノン誘導体、或いはオリゴチオフェン誘導体又はペリレン誘導体等のドーパント材料を含有したものを用いることができる。発光層20Rの厚みは、例えば20nm以上40nm以下に設定されている。 Further, the light emitting layer 20R of the organic light emitting layer 15R includes, for example, bis (2-methyl-8-quinolinolato) -4- (phenylphenolato) aluminum, 1,4-phenylenebis (triphenylsilane), 1,3-bis. Host materials such as (triphenylsilyl) benzene, 1,3,5-tri (9H-carbazol-9-yl) benzene, CBP, Alq 3 or SDPVBi, tris (1-phenylisoquinolinato-C2, N) An organic metal compound such as iridium, or a material containing a dopant material such as DCJTB, coumarin, quinacridone, a perinone derivative having a phenanthrene group, an oligothiophene derivative, or a perylene derivative can be used. The thickness of the light emitting layer 20R is set to, for example, 20 nm or more and 40 nm or less.

また、有機発光層15Rの電子輸送層21Rは、例えば例えばトリス(8−キノリノラト)アルミニウム(Alq)、オキサゾール、オキサジアゾール、トリアゾール、イミダゾール、イミダゾロン、スチルベン誘導体、ピラゾリン誘導体、テトラヒドロイミダゾール、ポリアリールアルカン、ブタジエンを用いることができる。電子輸送層21Rの厚みは、例えば20nm以上60nm以下に設定されている。
また、有機発光層15Rの電子注入層22Rは、例えば例えばフッ化リチウム、フッ化セシウム、フッ化炭素等を用いることができる。電子注入層22Rの厚みは、例えば0.5nm以上2nm以下に設定されている。
Further, the electron transport layer 21R of the organic light emitting layer 15R is, for example, tris (8-quinolinolato) aluminum (Alq 3 ), oxazole, oxadiazole, triazole, imidazole, imidazolone, stilbene derivative, pyrazoline derivative, tetrahydroimidazole, polyaryl Alkane and butadiene can be used. The thickness of the electron transport layer 21R is set to, for example, 20 nm or more and 60 nm or less.
Further, for example, lithium fluoride, cesium fluoride, carbon fluoride, or the like can be used for the electron injection layer 22R of the organic light emitting layer 15R. The thickness of the electron injection layer 22R is set to, for example, not less than 0.5 nm and not more than 2 nm.

次に、有機発光層15が、緑色を発する有機発光層15Gの場合について説明する。   Next, the case where the organic light emitting layer 15 is an organic light emitting layer 15G that emits green will be described.

有機発光層15Gの正孔注入層18Gは、例えば酸化ニッケル、酸化チタン、フッ化炭素、銅フタロシアニン(CuPc)、1,4,5,8,9,12−ヘキサアザトリフェニレン又はこれにシアノ基などが結合した誘導体等の複素環化合物から成る。正孔注入層18Gの厚みは、例えば5nm以上40nm以下に設定されている。   The hole injection layer 18G of the organic light emitting layer 15G is, for example, nickel oxide, titanium oxide, fluorocarbon, copper phthalocyanine (CuPc), 1,4,5,8,9,12-hexaazatriphenylene or a cyano group. It consists of a heterocyclic compound such as a derivative to which is bonded. The thickness of the hole injection layer 18G is set to, for example, 5 nm or more and 40 nm or less.

また、有機発光層15Gの正孔輸送層19Gは、例えばN,N’−ビス(3−メチルフェニル)−(1,1’−ビフェニル)−4,4’−ジアミン(TPD)、4,4’−ビス[N−(ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル(α−NPD)等の芳香族ジアミン化合物、および4,4’,4”−トリス(N−(3−メチルフェニル)N−フェニルアミノ)トリフェニルアミン(m−MTDATA)等のスターバースト芳香族又は芳香族アミン化合物を用いることができる。正孔輸送層19Gの厚みは、例えば10nm以上50nm以下に設定されている。   Further, the hole transport layer 19G of the organic light emitting layer 15G is formed of, for example, N, N′-bis (3-methylphenyl)-(1,1′-biphenyl) -4,4′-diamine (TPD), 4,4. Aromatic diamine compounds such as' -bis [N- (naphthyl) -N-phenyl-amino] biphenyl (α-NPD), and 4,4 ′, 4 ″ -tris (N- (3-methylphenyl) N— A starburst aromatic or aromatic amine compound such as phenylamino) triphenylamine (m-MTDATA) can be used, and the thickness of the hole transport layer 19G is set to, for example, 10 nm or more and 50 nm or less.

また、有機発光層15Gの発光層20Gは、例えばビス(2−メチル−8−キノリノラト)−4−(フェニルフェノラト)アルミニウム、1,4−フェニレンビス(トリフェニルシラン)、1,3−ビス(トリフェニルシリル)ベンゼン、1,3,5−トリ(9H−カルバゾール−9−イル)ベンゼン、CBP、Alq又はSDPVBi等のホスト材料、或いははこれらのホスト材料に、トリス[ピリジニル−kN−フェニル−kC]イリジウム等の有機金属化合物、或いはアゾメチン亜鉛錯体又はビス[2−(2−ベンゾオキサゾリル)フェノラト]亜鉛(II)等の金属錯体、或いはスチリルアミン、ペルリン、ベンゼン環を有するシロール誘導体、フェナンスレン基を有するペリノン誘導体、オリゴチオフェン誘導体、ペリレン誘導体等のドーパント材料を含有したものを用いることができる。発光層20Gの厚みは、例えば20nm以上40nm以下に設定されている。 Further, the light emitting layer 20G of the organic light emitting layer 15G includes, for example, bis (2-methyl-8-quinolinolato) -4- (phenylphenolato) aluminum, 1,4-phenylenebis (triphenylsilane), 1,3-bis. (triphenylsilyl) benzene, 1,3,5-tri (9H-carbazol-9-yl) benzene, CBP, the host material, such as Alq 3 or SDPVBi, or to these host materials, tris [pyridinyl -kN- Phenyl-kC] iridium and other organometallic compounds, or azomethine zinc complexes or bis [2- (2-benzoxazolyl) phenolato] zinc (II) and other metal complexes, or styrylamine, perlin, siloles having a benzene ring Derivatives, perinone derivatives with phenanthrene groups, oligothiophene derivatives, perylene derivatives What contains dopant materials, such as a body, can be used. The thickness of the light emitting layer 20G is set to, for example, 20 nm or more and 40 nm or less.

また、有機発光層15Gの電子輸送層21Gは、例えばトリス(8−キノリノラト)アルミニウム(Alq)、オキサゾール、オキサジアゾール、トリアゾール、イミダゾール、イミダゾロン、スチルベン誘導体、ピラゾリン誘導体、テトラヒドロイミダゾール、ポリアリールアルカン又はブタジエンを用いることができる。電子輸送層21Gの厚みは、例えば20nm以上60nm以下に設定されている。
また、有機発光層15Gの電子注入層22Gは、例えば例えばフッ化リチウム、フッ化セシウム、フッ化炭素等を用いることができる。電子注入層22Gの厚みは、例えば0.5nm以上2nm以下に設定されている。
In addition, the electron transport layer 21G of the organic light emitting layer 15G includes, for example, tris (8-quinolinolato) aluminum (Alq 3 ), oxazole, oxadiazole, triazole, imidazole, imidazolone, stilbene derivative, pyrazoline derivative, tetrahydroimidazole, polyarylalkane. Alternatively, butadiene can be used. The thickness of the electron transport layer 21G is set to, for example, 20 nm or more and 60 nm or less.
For example, lithium fluoride, cesium fluoride, carbon fluoride, or the like can be used for the electron injection layer 22G of the organic light emitting layer 15G. The thickness of the electron injection layer 22G is set to, for example, not less than 0.5 nm and not more than 2 nm.

次に、有機発光層15が、青色を発する有機発光層15Bの場合について説明する。   Next, the case where the organic light emitting layer 15 is an organic light emitting layer 15B that emits blue light will be described.

有機発光層15Bの正孔注入層18Bは、例えば酸化ニッケル、酸化チタン、フッ化炭素、銅フタロシアニン(CuPc)、1,4,5,8,9,12−ヘキサアザトリフェニレン又はこれにシアノ基などが結合した誘導体等の複素環化合物から成る。正孔注入層18Bの厚みは、例えば5nm以上40nm以下に設定されている。   The hole injection layer 18B of the organic light emitting layer 15B includes, for example, nickel oxide, titanium oxide, fluorocarbon, copper phthalocyanine (CuPc), 1,4,5,8,9,12-hexaazatriphenylene or a cyano group. It consists of a heterocyclic compound such as a derivative to which is bonded. The thickness of the hole injection layer 18B is set to, for example, 5 nm or more and 40 nm or less.

また、有機発光層15Bの正孔輸送層19Bは、例えばN,N’−ビス(3−メチルフェニル)−(1,1’−ビフェニル)−4,4’−ジアミン(TPD)、4,4’−ビス[N−(ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル(α−NPD)等の芳香族ジアミン化合物、および4,4’,4”−トリス(N−(3−メチルフェニル)N−フェニルアミノ)トリフェニルアミン(m−MTDATA)等のスターバースト芳香族又は芳香族アミン化合物を用いることができる。正孔輸送層19Bの厚みは、例えば10nm以上50nm以下に設定されている。   Further, the hole transport layer 19B of the organic light emitting layer 15B is formed of, for example, N, N′-bis (3-methylphenyl)-(1,1′-biphenyl) -4,4′-diamine (TPD), 4,4. Aromatic diamine compounds such as' -bis [N- (naphthyl) -N-phenyl-amino] biphenyl (α-NPD), and 4,4 ′, 4 ″ -tris (N- (3-methylphenyl) N— A starburst aromatic or aromatic amine compound such as phenylamino) triphenylamine (m-MTDATA) can be used, and the thickness of the hole transport layer 19B is set to, for example, 10 nm or more and 50 nm or less.

また、有機発光層15Bの発光層20Bは、例えば1,4−フェニレンビス(トリフェニルシラン)、1,3−ビス(トリフェニルシリル)ベンゼン、1,3,5−トリ(9H−カルバゾール−9−イル)ベンゼン、CBP又はSDPVBi等のホスト材料、あるいはこれらのホスト材料にスチリルアミン、ペルリン、シクロペンタジエン誘導体、テトラフェニルブタジェン、トリフェニルアミン構造とビニル基が結合した化合物、オキサジアゾール誘導体、ピラゾロキノリン誘導体、ジスチリルアリーレン誘導体又はベンゼン環を有するシロール誘導体等のドーパント材料を含有したものを用いることができる。発光層20Bの厚みは、例えば20nm以上40nm以下に設定されている。   Further, the light emitting layer 20B of the organic light emitting layer 15B includes, for example, 1,4-phenylenebis (triphenylsilane), 1,3-bis (triphenylsilyl) benzene, 1,3,5-tri (9H-carbazole-9). -Yl) host materials such as benzene, CBP or SDPVBi, or styrylamine, perlin, cyclopentadiene derivatives, tetraphenylbutadiene, triphenylamine structures and vinyl groups bonded to these host materials, oxadiazole derivatives, A material containing a dopant material such as a pyrazoloquinoline derivative, a distyrylarylene derivative or a silole derivative having a benzene ring can be used. The thickness of the light emitting layer 20B is set to 20 nm or more and 40 nm or less, for example.

また、有機発光層15Bの電子輸送層21Bは、例えばトリス(8−キノリノラト)アルミニウム(Alq)、オキサゾール、オキサジアゾール、トリアゾール、イミダゾール、イミダゾロン、スチルベン誘導体、ピラゾリン誘導体、テトラヒドロイミダゾール、ポリアリールアルカン又はブタジエンを用いることができる。電子輸送層21Bの厚みは、例えば20nm以上60nm以下に設定されている。 Further, the electron transport layer 21B of the organic light emitting layer 15B includes, for example, tris (8-quinolinolato) aluminum (Alq 3 ), oxazole, oxadiazole, triazole, imidazole, imidazolone, stilbene derivative, pyrazoline derivative, tetrahydroimidazole, polyarylalkane. Alternatively, butadiene can be used. The thickness of the electron transport layer 21B is set to, for example, 20 nm or more and 60 nm or less.

また、有機発光層15Bの電子注入層22Bは、例えばフッ化リチウム、フッ化セシウム、フッ化炭素等を用いることができる。電子注入層22Bの厚みは、例えば0.5nm以上2nm以下に設定されている。   Moreover, for example, lithium fluoride, cesium fluoride, carbon fluoride, or the like can be used for the electron injection layer 22B of the organic light emitting layer 15B. The thickness of the electron injection layer 22B is set to, for example, not less than 0.5 nm and not more than 2 nm.

上述したように、有機発光層15の発する色に応じて、それを構成する各層の膜厚は、異なる。すなわち、絵素中の各画素の発光領域は、それぞれ異なる発光材料が含有されている。このようにして、電極間の膜厚を調整することによって、有機発光層15の発する光を定常波となるように設定することができる。   As described above, depending on the color emitted by the organic light emitting layer 15, the film thickness of each layer constituting it varies. That is, the light emitting region of each pixel in the picture element contains a different light emitting material. In this way, by adjusting the film thickness between the electrodes, the light emitted from the organic light emitting layer 15 can be set to be a standing wave.

素子基板2と封止基板8との間であって、シール材10の少なくとも一部と接するように極性体23が形成されている。極性体23は、封止基板8と接続して設けられており、上部よりも下部が幅狭に形成されている。そして、極性体23は、封止基板8側から素子基板2側に向かって突出する端部が湾曲している。後述するように、極性体23を封止基板8上に形成した後、極性体23が形成された封止基板8上にシール材10を塗布するときに、極性体23の端部が湾曲していることで、シール材10の流れを遮りにくくし、シール材10中に気泡が発生するのを抑制することができる。なお、極性体23が封止基板8と接続しているとは、封止基板8と極性体23とが直接接続されているものと、封止基板8と極性体23との間にブラックマトリックス等の層が介在され、封止基板8と極性体23とが間接接続されているものの両方を含む。   A polar body 23 is formed between the element substrate 2 and the sealing substrate 8 so as to be in contact with at least a part of the sealing material 10. The polar body 23 is provided in connection with the sealing substrate 8, and the lower part is formed narrower than the upper part. The polar body 23 is curved at the end protruding from the sealing substrate 8 side toward the element substrate 2 side. As will be described later, after the polar body 23 is formed on the sealing substrate 8, when the sealing material 10 is applied on the sealing substrate 8 on which the polar body 23 is formed, the end of the polar body 23 is curved. Therefore, the flow of the sealing material 10 can be made difficult to be blocked, and bubbles can be prevented from being generated in the sealing material 10. Note that the polar body 23 is connected to the sealing substrate 8 means that the black matrix is interposed between the sealing substrate 8 and the polar body 23 when the sealing substrate 8 and the polar body 23 are directly connected. And the like, including both of which the sealing substrate 8 and the polar body 23 are indirectly connected.

また、極性体23は、平面視して発光領域R1と重ならない領域に形成されており、発光領域R1から取り出される光を遮らないように配置されている。そして、極性体23は、平面視して隔壁6で囲まれた領域内に位置するように配置されている。さらに、極性体23の下部の高さ位置は、隔壁6の上部の高さ位置よりも下方に位置するように設定されている。そのため、後述するように、素子基板2と封止基板8をシール材10を介して貼り合わせるときに、隔壁6と極性体23が接触しないようにすることができる。その結果、素子基板2と封止基板8との間の距離を短くすることができ、画像表示装置1の厚みを効果的に薄くすることができる。なお、極性体23は、上下方向の厚みが1μm以上8μm以下であって、シール材10の厚みよりも小さく設定されている。   The polar body 23 is formed in a region that does not overlap the light emitting region R1 in plan view, and is disposed so as not to block light extracted from the light emitting region R1. And the polar body 23 is arrange | positioned so that it may be located in the area | region enclosed by the partition 6 by planar view. Furthermore, the height position of the lower part of the polar body 23 is set so as to be positioned below the height position of the upper part of the partition wall 6. Therefore, as will be described later, when the element substrate 2 and the sealing substrate 8 are bonded together via the sealing material 10, the partition wall 6 and the polar body 23 can be prevented from contacting each other. As a result, the distance between the element substrate 2 and the sealing substrate 8 can be shortened, and the thickness of the image display device 1 can be effectively reduced. The polar body 23 has a thickness in the vertical direction of 1 μm or more and 8 μm or less, and is set smaller than the thickness of the sealing material 10.

また、極性体23は、封止基板8側から素子基板2側に向かって突出し、隔壁6が、素子基板2側から封止基板8側に向かって突出することにより、極性体23と隔壁6が上方側と下方側から交互にシール材10中に突入する。そして、隔壁6によって囲まれる領域内にシール材10が充填されることで、シール材10に対して極性体23と隔壁6との接触面積を大きくし、これらの接着力を大きくすることができる。その結果、素子基板2と封止基板8との接着性を良好に向上させることができる。   The polar body 23 protrudes from the sealing substrate 8 side toward the element substrate 2 side, and the partition wall 6 protrudes from the element substrate 2 side toward the sealing substrate 8 side. Enters the sealing material 10 alternately from the upper side and the lower side. Then, by filling the region surrounded by the partition wall 6 with the sealing material 10, the contact area between the polar body 23 and the partition wall 6 with respect to the sealing material 10 can be increased, and the adhesive force thereof can be increased. . As a result, the adhesion between the element substrate 2 and the sealing substrate 8 can be improved satisfactorily.

極性体23は、シール材10中の気泡を吸着する機能を備えている。極性体23は、第2極性物質からなり、例えば、ビニリデンフルオライド等の共重合体、或いはノボラック樹脂、ポリパラヒドロキシスチレン、ポリノルボルネン又はアクリル樹脂等のフォトレジスト材料、或いは熱硬化型の透明エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂材料からなる主成分に、フッ素化アルキル基を有するテトラフルオロエチレン又はヘキサフルオロエチレン等のモノマーからなる低極性成分、或いはアルカリ金属酸化物又はアルカリ土類金属酸化物等の高極性成分としての副成分を含んでなる。   The polar body 23 has a function of adsorbing bubbles in the sealing material 10. The polar body 23 is made of a second polar substance, for example, a copolymer such as vinylidene fluoride, a photoresist material such as novolac resin, polyparahydroxystyrene, polynorbornene, or acrylic resin, or a thermosetting transparent epoxy. Low-polarity components consisting of monomers such as tetrafluoroethylene or hexafluoroethylene having a fluorinated alkyl group in the main component consisting of a thermosetting resin material such as resin, or alkali metal oxide or alkaline earth metal oxide It comprises subcomponents as highly polar components.

また、極性体23を構成する高極性成分の材料として、アルミニウムオキサイドオクチレート等の有機アルミ二ウム化合物、或いはヘキサメチルジシラザン等のアルキルシラン誘導体、或いはアルコキシシラン化合物又はアルコキシシラン化合物のエステル等の有機シラン化合物を用いることもできる。また、極性体23を構成する高極性成分の材料として、γ型活性アルミナ、酸化バリウム、塩化カルシウム、臭化バリウム、臭化カルシウム、臭化亜鉛、硫酸カルシウム、塩化マグネシウム、酸化マグネシウム、硫酸マグネシウム、硫酸アルミニウム、硫酸ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、塩化亜鉛、過塩素酸マグネシウム、過塩素酸バリウム、過塩素酸リチウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、塩化銅、フッ化セシウム、フッ化ニオブ、臭化バナジウム、モレキュラーシーブ又はゼオライトを用いることができる。なお、極性体23は、これらの材料を二種以上併用してもよい。   Moreover, as a material of the high polarity component constituting the polar body 23, an organic aluminum compound such as aluminum oxide octylate, an alkylsilane derivative such as hexamethyldisilazane, an alkoxysilane compound or an ester of an alkoxysilane compound, etc. An organosilane compound can also be used. Further, as the material of the high polarity component constituting the polar body 23, γ-type activated alumina, barium oxide, calcium chloride, barium bromide, calcium bromide, zinc bromide, calcium sulfate, magnesium chloride, magnesium oxide, magnesium sulfate, Aluminum sulfate, sodium sulfate, sodium carbonate, potassium carbonate, zinc chloride, magnesium perchlorate, barium perchlorate, lithium perchlorate, sodium hydroxide, potassium hydroxide, copper chloride, cesium fluoride, niobium fluoride, odor Vanadium fluoride, molecular sieve or zeolite can be used. In addition, the polar body 23 may use 2 or more types of these materials together.

また、極性体23を構成する高極性成分の材料としては、トリイソプロポキシアルミニウム、テトラエトキシシラン又はテトラ(n−ブトキシ)チタン等の金属アルコキシドと、2−メチル−2,4−ペンタンジオール、ジエタノールアミン又はジエチレングリコール等のポリオールとをそれぞれ反応させることにより得られる有機金属化合物を用いることもできる。   Moreover, as a material of the highly polar component which comprises the polar body 23, metal alkoxides, such as a triisopropoxy aluminum, tetraethoxysilane, or tetra (n-butoxy) titanium, 2-methyl-2,4-pentanediol, diethanolamine Alternatively, an organometallic compound obtained by reacting with a polyol such as diethylene glycol can also be used.

ここで低極性成分とは、表面の分極がビスフェノールA型エポキシ樹脂よりも小さいか、親水性がビスフェノールA型エポキシ樹脂よりも低いことをいう。また、高極性成分とは、表面の分極がビスフェノールA型エポキシ樹脂よりも大きいか、親水性がビスフェノールA型エポキシ樹脂よりも高いことをいう。ここで、親水性は、公知の接触角測定方法で測定することができる。また、表面の分極は、表面プラズモン共鳴を用いた分極測定装置を用いて測定することができる。   Here, the low polarity component means that the surface polarization is smaller than that of the bisphenol A type epoxy resin or the hydrophilicity is lower than that of the bisphenol A type epoxy resin. Further, the high polar component means that the surface polarization is larger than that of the bisphenol A type epoxy resin or the hydrophilicity is higher than that of the bisphenol A type epoxy resin. Here, the hydrophilicity can be measured by a known contact angle measurement method. Further, the polarization of the surface can be measured using a polarization measuring device using surface plasmon resonance.

仮に、極性体を構成する材料を、例えばノボラック樹脂を主成分とする光硬化性樹脂組成物として、シール材を構成する材料を例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂100質量部と、硬化制御剤としてポリエチレングリコール(分子量1000)10質量部と、光カチオン重合開始剤としてトリフェニルスルホニウムボレート塩3質量部とを混合してなる光硬化性樹脂組成物とした場合、該極性体は、該シール材と同程度の分極を示し、親水性も中程度である。そのため、極性体を構成する材料を、例えばノボラック樹脂の主成分中に、高極性成分であるアルカリ土類金属酸化物の副成分を含有させることにより、ビスフェノールA型エポキシ樹脂を主成分として構成されるシール材10とは分極の程度が大きく異なるようになり、極性体23の表面はシール材10をはじく性質を示すようになる。すると、極性体23の全表面がシール材10で被覆されるよりも、極性体23の表面の少なくとも一部が気泡に接し、極性体23の表面のうち、シール材10で被覆される割合が低下したほうが安定な状態が得られるようになる。これは、水中の油分が油吸収剤に吸着される現象や、雨滴がはっ水性樹脂ではじかれる現象と同様に、分極状態の相違により引き起こされる作用である。   Temporarily, the material which comprises a polar body is made into a photocurable resin composition which has a novolak resin as a main component, for example, the material which comprises a sealing material is made into 100 mass parts of bisphenol A type epoxy resins, and polyethylene as a hardening control agent, for example. When a photocurable resin composition is prepared by mixing 10 parts by weight of glycol (molecular weight 1000) and 3 parts by weight of triphenylsulfonium borate salt as a photocationic polymerization initiator, the polar body is the same as the sealing material. It exhibits a degree of polarization and is also moderately hydrophilic. For this reason, the material constituting the polar body is composed mainly of a bisphenol A type epoxy resin, for example, by containing a minor component of an alkaline earth metal oxide that is a highly polar component in the main component of a novolac resin. The degree of polarization is significantly different from that of the sealing material 10, and the surface of the polar body 23 exhibits a property of repelling the sealing material 10. Then, rather than the entire surface of the polar body 23 being covered with the sealing material 10, at least a part of the surface of the polar body 23 is in contact with the bubbles, and the ratio of the surface of the polar body 23 that is covered with the sealing material 10 is higher. The lower the value, the more stable the state can be obtained. This is an effect caused by a difference in polarization state as well as a phenomenon in which oil in water is adsorbed by the oil absorbent and a phenomenon in which raindrops are repelled by a water-repellent resin.

そして、シール材10中の気泡が一旦、極性体23の表面に接すると、極性体23の表面と気泡との界面は安定な状態となる。極性体23の表面と気泡との界面に、シール材10が侵入し、界面の面積が減少することはエネルギーの増大を必要とするため、不利な過程となる。従って、シール材10中の気泡は極性体23の表面に拘束されるようになり、その結果として極性体23はシール材10中の気泡を吸着することができる。   Once the bubbles in the sealing material 10 are in contact with the surface of the polar body 23, the interface between the surface of the polar body 23 and the bubbles is in a stable state. If the sealing material 10 enters the interface between the surface of the polar body 23 and the bubbles and the area of the interface decreases, an increase in energy is required, which is a disadvantageous process. Accordingly, the bubbles in the sealing material 10 are restrained by the surface of the polar body 23, and as a result, the polar body 23 can adsorb the bubbles in the sealing material 10.

上述したように、極性体23をシール材10を構成する第1極性物質と異なる第2極性物質を含有させることにより、その極性体23の表面の一部に第2極性物質の高極性成分または低極性成分を露出させることができる。そして、シール材10と極性体23との界面において、微視的に観察した場合、両者の極性の違いに起因して両者が距離をおいて離れようとする。その結果、両者の界面において、未硬化のシール材中に含まれる気泡が吸着されるように移動する。   As described above, the polar body 23 contains a second polar substance different from the first polar substance constituting the sealing material 10, so that a part of the surface of the polar body 23 has a high polarity component of the second polar substance or Low polarity components can be exposed. And when it observes microscopically in the interface of the sealing material 10 and the polar body 23, both are going to leave | separate at a distance resulting from the difference in polarity of both. As a result, the bubbles contained in the uncured sealing material move so as to be adsorbed at the interface between them.

極性体23は、有機EL素子5の外周に沿って設けられている。極性体23は、気泡を吸着することができるため、有機EL素子5の外周に沿って設けることで、気泡が平面視して有機EL素子5上に留まるのを低減することができる。そして、発光領域R1内に位置する有機EL素子5上に気泡を少なくすることで、有機EL素子5が発する光が気泡によって屈折する可能性を低減することができ、光の外部取り出し効率を向上させることができる。   The polar body 23 is provided along the outer periphery of the organic EL element 5. Since the polar body 23 can adsorb bubbles, the polar body 23 can be provided along the outer periphery of the organic EL element 5 to reduce bubbles remaining on the organic EL element 5 in plan view. Further, by reducing the number of bubbles on the organic EL element 5 located in the light emitting region R1, the possibility that the light emitted from the organic EL element 5 is refracted by the bubbles can be reduced, and the light extraction efficiency is improved. Can be made.

極性体23は、発光素子5の外周に沿って点在して複数個設けられている。極性体23が、複数個に分かれて点在することにより、後述するように、極性体23が形成された封止基板8上にシール材10を塗布したときに、シール材10の流れをスムーズにすることができ、シール材10中に気泡が発生するのを抑制することができる。さらに、極性体23が、発光素子5の外周に沿って規則的に点在して設けられると、シール材10の流れをよりスムーズにすることができ、シール材10中の気泡をより低減することができる。   A plurality of polar bodies 23 are provided along the outer periphery of the light emitting element 5. Since the polar body 23 is divided into a plurality of dots, as will be described later, when the sealing material 10 is applied onto the sealing substrate 8 on which the polar body 23 is formed, the flow of the sealing material 10 is smooth. And generation of bubbles in the sealing material 10 can be suppressed. Furthermore, when the polar bodies 23 are provided regularly and scattered along the outer periphery of the light emitting element 5, the flow of the sealing material 10 can be made smoother, and the bubbles in the sealing material 10 are further reduced. be able to.

また、極性体23は、仮にシール材10中に気泡が発生しても、極性体23が形成された封止基板8上に塗布したときに、シール材10が流れている最中に、気泡を吸着することができる。   In addition, even if bubbles are generated in the sealing material 10, the polar body 23 is in the middle of the flow of the sealing material 10 when applied on the sealing substrate 8 on which the polar body 23 is formed. Can be adsorbed.

また、極性体23の周囲には、図3に示すように、気泡bが吸着されている。つまり、極性体23との界面に空隙を介してシール材が形成されている。気泡bは、大気中の成分と同様に酸素又は水分等が微量ながら含まれている。気泡は、有機EL素子5と直接接した状態が長くなると、有機EL素子5の電極を酸化させたり、有機発光層15を劣化させたりすることがある。そこで、極性体23がシール材10中に含まれる気泡bを吸着することによって、有機EL素子5の特性が変化するのを良好に抑制することができる。高極性成分は、水分又は酸素を吸収することが好ましい。この場合、気泡に含まれている水分又は酸素が除去されるので、有機EL素子5の特性が変化するのをより有効に抑制することができる。   In addition, bubbles b are adsorbed around the polar body 23 as shown in FIG. That is, the sealing material is formed at the interface with the polar body 23 via the gap. The bubbles b contain a small amount of oxygen, moisture, or the like, similar to the components in the atmosphere. When the state of direct contact with the organic EL element 5 becomes longer, the bubbles may oxidize the electrode of the organic EL element 5 or deteriorate the organic light emitting layer 15. Therefore, the polar body 23 adsorbs the bubbles b contained in the sealing material 10, so that it is possible to satisfactorily suppress changes in the characteristics of the organic EL element 5. The highly polar component preferably absorbs moisture or oxygen. In this case, since moisture or oxygen contained in the bubbles is removed, it is possible to more effectively suppress changes in the characteristics of the organic EL element 5.

気泡bの大きさは、極性体23が形成された封止基板8上にシール材10を塗布したときに、シール材10中の気泡が極性体23と衝突し、気泡が細かく分解される。このとき、シール材10の厚さに対して、3分の1以下乃至9分の1以下程度の大きさになるように、気泡を小さくすることができるため、仮に気泡が有機EL素子5と直接接したとしても、有機EL素子5に与える影響を低減することができる。なお、分解された気泡bの径は、例えば1.5μm以下となる。   The size of the bubbles b is such that when the sealing material 10 is applied on the sealing substrate 8 on which the polar body 23 is formed, the bubbles in the sealing material 10 collide with the polar body 23 and the bubbles are finely decomposed. At this time, since the bubbles can be made small so that the size of the sealing material 10 is about 1/3 or less to 1/9 or less of the thickness of the sealing material 10, the bubbles are assumed to Even if it contacts directly, the influence which it has on the organic EL element 5 can be reduced. The diameter of the decomposed bubbles b is, for example, 1.5 μm or less.

また、気泡bは、平面視して発光領域R1と重なるシール材10中に比べて、平面視して非発光領域R2と重なるシール材10中の方が、単位体積当り多く存在するように設定されている。極性体23が、平面視して非発光領域R2に配置されていることにより、シール材10中に存在する気泡の単位体積当りの密度を調整することができ、気泡bが有機EL素子5から取り出される光の邪魔になるのを低減することができる。ここで、シール材10中に含まれる気泡の単位体積当りの密度は、発光領域R1と重なる領域は、例えば0.2以下であって、非発光領域R2と重なる領域は、例えば0.6以下である。なお、本実施形態においては、単位体積を1μmとする。 Further, the bubble b is set so that there are more per unit volume in the sealing material 10 overlapping the non-light emitting region R2 in plan view than in the sealing material 10 overlapping the light emitting region R1 in plan view. Has been. Since the polar body 23 is arranged in the non-light emitting region R2 in a plan view, the density per unit volume of bubbles existing in the sealing material 10 can be adjusted, and the bubbles b are removed from the organic EL element 5. It is possible to reduce the obstacle to the extracted light. Here, the density per unit volume of the bubbles contained in the sealing material 10 is, for example, 0.2 or less in the region overlapping the light emitting region R1, and the region overlapping the non-light emitting region R2 is, for example, 0.6 or less. It is. In this embodiment, the unit volume is 1 μm 3 .

また、隔壁6の上部の高さ位置以上に存在する気泡の単位体積当りの密度は、隔壁6の上部の高さ位置未満に存在する気泡の単位体積当りの密度よりも大きく設定されている。つまり、気泡は、極性体23の下部よりも上部の周囲に多く存在する。これは、後述するように、素子基板2に対して封止基板8を貼り合わせるときに、素子基板2を下方に配置した状態で、素子基板2の上方側から封止基板8を素子基板2に貼り合わせる。そのため、シール材10中の気泡は、浮力によって上方に位置する封止基板8側に向かって移動しやすく、極性体23の上部に気泡を多く吸着することができる。そして、両基板の貼り合わせる向きを調整するとともに、極性体23を封止基板8に設けることにより、気泡の存在する領域を調整することができる。したがって、気泡を有機EL素子5から離れるように封止基板8側に集めることで、気泡と有機EL素子5が直接接する機会を低減することができる。   Further, the density per unit volume of bubbles existing above the height position above the partition wall 6 is set larger than the density per unit volume of bubbles existing below the height position above the partition wall 6. That is, more bubbles exist around the upper part than the lower part of the polar body 23. As will be described later, when the sealing substrate 8 is bonded to the element substrate 2, the sealing substrate 8 is placed on the element substrate 2 from above the element substrate 2 with the element substrate 2 disposed below. Paste to. Therefore, the bubbles in the sealing material 10 can easily move toward the sealing substrate 8 positioned above by buoyancy, and a large amount of bubbles can be adsorbed on the top of the polar body 23. And the area | region where a bubble exists can be adjusted by providing the polar body 23 in the sealing substrate 8 while adjusting the direction which both board | substrates bond. Therefore, by collecting the bubbles on the sealing substrate 8 side so as to be away from the organic EL element 5, the opportunity for the bubbles and the organic EL element 5 to be in direct contact with each other can be reduced.

本実施形態によれば、封止基板に気泡を吸着する極性体を設けることにより、気泡と有機EL素子が直接接する機会を低減することができ、有機EL素子の特性が変化するのを効果的に抑制することができる。   According to this embodiment, by providing the sealing body with a polar body that adsorbs bubbles, the opportunity of direct contact between the bubbles and the organic EL element can be reduced, and the characteristics of the organic EL element can be effectively changed. Can be suppressed.

以下に、本発明の実施形態に係る画像表示装置1の製造方法について、図5〜図10を用いて詳細に説明する。   Below, the manufacturing method of the image display apparatus 1 which concerns on embodiment of this invention is demonstrated in detail using FIGS.

素子基板2と封止基板8とをシール材10を介して貼り合わせる前の素子基板2と封止基板8とを準備する準備工程について説明する。   A preparation process for preparing the element substrate 2 and the sealing substrate 8 before the element substrate 2 and the sealing substrate 8 are bonded together via the sealing material 10 will be described.

ここで、素子基板2の準備工程について説明する。   Here, the preparation process of the element substrate 2 will be described.

まず、素子基板2上に、回路層11及び絶縁層12をパターニングして形成された基板を準備する。なお、回路層11及び絶縁層12は、従来周知の蒸着法、CVD法又はスパッタリング法等の薄膜形成技術、フォトリソグラフィ法又はエッチング法等の薄膜加工技術を用いて、所定パターンに形成される。   First, a substrate formed by patterning the circuit layer 11 and the insulating layer 12 on the element substrate 2 is prepared. The circuit layer 11 and the insulating layer 12 are formed in a predetermined pattern by using a conventionally known thin film forming technique such as a vapor deposition method, a CVD method or a sputtering method, or a thin film processing technique such as a photolithography method or an etching method.

そして、回路層11及び絶縁層12を被覆するように例えば従来周知のスピンコート法を用いて有機樹脂膜を形成する。さらに、有機樹脂膜上に露光マスクを用いて有機樹脂膜を露光し、さらに現像、ベーキング処理を行い、図5(A)に示すように、回路層11の一部を露出させて、上部よりも下部が幅狭なコンタクトホールSを有する平坦化膜13を形成する。なお、有機樹脂膜は、硬化後に平坦化膜13となる。   Then, an organic resin film is formed using, for example, a conventionally known spin coating method so as to cover the circuit layer 11 and the insulating layer 12. Further, the organic resin film is exposed on the organic resin film using an exposure mask, and further developed and baked to expose a part of the circuit layer 11 as shown in FIG. A flattening film 13 having a contact hole S with a narrow lower portion is formed. The organic resin film becomes the planarizing film 13 after curing.

次に、図5(B)に示すように、平坦化膜13上に、例えばアルミニウム及びネオジウムとの合金から成る第1電極層14を形成する。具体的には、平坦化膜13及びスルーホールSに対して、スパッタリング法を用いて金属膜を形成する。そして、金属膜をエッチング法等によってパターニングすることによって、第1電極層14を形成することができる。また、このとき、第1電極層14とともに、コンタクトホールSの内周面から平坦化膜13上にかけてコンタクト電極層17が形成される。第1電極層14とコンタクト電極層17とは、同じ工程にて同時に形成される。そのため、第1電極層14とコンタクト電極層17とは同様の材料からなる。なお、第1電極層14とコンタクト電極層17とは、分離されており、両者はこの時点でお互いから絶縁されている状態である。   Next, as shown in FIG. 5B, a first electrode layer 14 made of an alloy of, for example, aluminum and neodymium is formed on the planarizing film 13. Specifically, a metal film is formed on the planarizing film 13 and the through hole S using a sputtering method. Then, the first electrode layer 14 can be formed by patterning the metal film by an etching method or the like. At this time, together with the first electrode layer 14, the contact electrode layer 17 is formed from the inner peripheral surface of the contact hole S to the planarizing film 13. The first electrode layer 14 and the contact electrode layer 17 are simultaneously formed in the same process. Therefore, the first electrode layer 14 and the contact electrode layer 17 are made of the same material. Note that the first electrode layer 14 and the contact electrode layer 17 are separated from each other, and both are insulated from each other at this point.

次に、第1電極層14及びコンタクト電極層17上に、例えばCVD法を用いて、例えば窒化珪素から成る無機絶縁材料層を形成する。そして、図5(C)に示すように、薄膜加工技術を用いて、無機絶縁材料層をパターニングして絶縁物7を形成する。具体的には、発光領域R1に対応する領域における第1電極層14、及びコンタクト電極層17の一部を露出させるように、絶縁物をフォトリソグラフィ法又はエッチング法等の薄膜加工技術を用いて、各画素に絶縁物7形成することができる。   Next, an inorganic insulating material layer made of, for example, silicon nitride is formed on the first electrode layer 14 and the contact electrode layer 17 by using, for example, a CVD method. Then, as shown in FIG. 5C, the insulator 7 is formed by patterning the inorganic insulating material layer using a thin film processing technique. Specifically, the insulator is formed using a thin film processing technique such as a photolithography method or an etching method so that a part of the first electrode layer 14 and the contact electrode layer 17 in the region corresponding to the light emitting region R1 is exposed. The insulator 7 can be formed on each pixel.

さらに、図6(A)に示すように、絶縁物7上に、従来周知の薄膜形成技術及び薄膜加工技術を用いて、上部よりも下部が幅狭な隔壁6を形成する。このとき、隔壁6の断面のテーパー角は、55度以上67度以下であることが好ましい。   Further, as shown in FIG. 6A, a partition wall 6 having a lower width than the upper portion is formed on the insulator 7 by using a conventionally known thin film forming technique and thin film processing technique. At this time, the taper angle of the cross section of the partition wall 6 is preferably 55 degrees or more and 67 degrees or less.

そして、図6(B)に示すように、第1電極層14上に、例えば蒸着法を用いて、有機発光層15を形成する。具体的には、有機発光層15を形成する際は、蒸着マスクを隔壁6上に載置する。そして、各画素4を、赤色、緑色又は青色と発光する色に応じた有機材料を塗り分けることができる。   Then, as shown in FIG. 6B, the organic light emitting layer 15 is formed on the first electrode layer 14 by using, for example, a vapor deposition method. Specifically, when the organic light emitting layer 15 is formed, a vapor deposition mask is placed on the partition wall 6. Then, each pixel 4 can be separately coated with an organic material corresponding to a color that emits red, green, or blue.

そして、図7(A)に示すように、有機発光層15上から絶縁物7上にかけて、第2電極層16を形成する。第2電極層16を構成する際は、蒸着マスクを用いずに、有機発光層15上から絶縁物7上を介してコンタクト電極層17上にまで形成することができる。このようにして、各画素4に有機EL素子5を形成することができる。そして、第2電極層16とコンタクト電極層17とを直接接続することにより、第2電極層16とコンタクト電極層17とを電気的に接続することができる。   Then, as shown in FIG. 7A, the second electrode layer 16 is formed over the organic light emitting layer 15 and the insulator 7. When the second electrode layer 16 is configured, it can be formed from the organic light emitting layer 15 to the contact electrode layer 17 via the insulator 7 without using a vapor deposition mask. In this way, the organic EL element 5 can be formed in each pixel 4. Then, the second electrode layer 16 and the contact electrode layer 17 can be electrically connected by directly connecting the second electrode layer 16 and the contact electrode layer 17.

さらに、図7(B)に示すように、例えばスパッタリング法を用いて、表示部D1上に有機EL素子5が劣化しないように保護膜9を形成する。有機EL素子5を保護膜9で被覆することにより、外気から有機EL素子5が晒されるのを防止することができる。   Further, as shown in FIG. 7B, a protective film 9 is formed on the display portion D1 so as not to deteriorate the organic EL element 5 by using, for example, a sputtering method. By covering the organic EL element 5 with the protective film 9, it is possible to prevent the organic EL element 5 from being exposed from the outside air.

このようにして、各種層が形成された素子基板2を準備することができる。   Thus, the element substrate 2 on which various layers are formed can be prepared.

次に、封止基板8の準備工程について説明する。   Next, a preparation process for the sealing substrate 8 will be described.

まず、気泡を吸着する機能を備えた極性体23を構成する材料として、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロエチレン−ビニリデンフルオライド共重合体100質量部に対し、高極性成分0.5〜40質量部を含む混合物を、例えばスピンコート法、またはディスペンサ法を用いて、封止基板8上に塗布する。ここで、高極性成分としては、例えば、BET比表面積3〜150g/m2、温度25℃及び相対湿度50%の雰囲気下で、1時間静置後の吸湿率が2〜40%の酸化カルシウムを用いる。 First, as a material constituting the polar body 23 having the function of adsorbing bubbles, 0.5 to 40 parts by mass of a high polarity component is added to 100 parts by mass of the tetrafluoroethylene-hexafluoroethylene-vinylidene fluoride copolymer. The mixture containing is applied onto the sealing substrate 8 by using, for example, a spin coating method or a dispenser method. Here, as the high polarity component, for example, calcium oxide having a moisture absorption rate of 2 to 40% after standing for 1 hour in an atmosphere having a BET specific surface area of 3 to 150 g / m 2 , a temperature of 25 ° C. and a relative humidity of 50%. Is used.

そして、図8(A)に示すように、フォトリソグラフィ法又はエッチング法等の薄膜加工技術を用いて、封止基板8側から外部に向かって突出する極性体23が形成される。なお、極性体23は、素子基板2と封止基板8とを貼り合わせたときに、隔壁内の領域に極性体23が規則的に位置するように形成される。   Then, as shown in FIG. 8A, a polar body 23 protruding outward from the sealing substrate 8 side is formed by using a thin film processing technique such as a photolithography method or an etching method. The polar body 23 is formed so that the polar body 23 is regularly positioned in a region in the partition when the element substrate 2 and the sealing substrate 8 are bonded to each other.

そして、極性体23を上方に向くように封止基板8を下方に固定する。その後、極性体23が形成された封止基板8上に、例えばディスペンサ法、またはスクリーン印刷法を用いて、未硬化のシール材10xを塗布する。このとき、シール材10xが封止基板8上に流れるときに、極性体23が規則的に配置されているため、シール材10xの流れをスムーズにすることができ、シール材10xの厚みを全面的に所定範囲以下の誤差に収まるようにすることができる。更に、シール材10xを塗布するときに、微量ながら混入する気泡は、シール材10xが流れるときに極性体23と衝突することにより、気泡が細かく分解され、極性体23に吸着されやすくなる。なお、シール材10xの25℃での粘度は、0.1〜100Pa・sに設定されている。   Then, the sealing substrate 8 is fixed downward so that the polar body 23 faces upward. Thereafter, an uncured sealing material 10x is applied onto the sealing substrate 8 on which the polar body 23 is formed, using, for example, a dispenser method or a screen printing method. At this time, since the polar bodies 23 are regularly arranged when the sealing material 10x flows on the sealing substrate 8, the flow of the sealing material 10x can be made smooth, and the thickness of the sealing material 10x can be increased. Therefore, the error can be kept within a predetermined range or less. Furthermore, when the sealing material 10x is applied, a small amount of mixed bubbles collide with the polar body 23 when the sealing material 10x flows, so that the bubbles are finely decomposed and easily adsorbed on the polar body 23. The viscosity of the sealing material 10x at 25 ° C. is set to 0.1 to 100 Pa · s.

このようにして、シール材10xが塗布された状態の封止基板8を準備することができる。   Thus, the sealing substrate 8 in a state where the sealing material 10x is applied can be prepared.

次に、上述した工程により得られた素子基板2と封止基板8の両方を用意する。そして、図9に示すように、下側に素子基板2を配置し、上側に封止基板8を配置する。このとき、極性体23は、下方に向くように封止基板8を上下反転させる。そして、極性体23が、平面視して隔壁6内に位置するように両基板を位置合わせする。   Next, both the element substrate 2 and the sealing substrate 8 obtained by the process described above are prepared. Then, as shown in FIG. 9, the element substrate 2 is disposed on the lower side, and the sealing substrate 8 is disposed on the upper side. At this time, the polar body 23 turns the sealing substrate 8 upside down so as to face downward. Then, both substrates are aligned so that the polar body 23 is positioned in the partition wall 6 in plan view.

そして、両者を位置合わせした状態で、図10に示すように、素子基板2と封止基板8をシール材10xを介して貼り合わせる。このとき、シール材10xは、隔壁6に起因する凹凸によって変形し、極性体23の周囲に位置していた気泡bを極性体23に向かって移動させることができる。その結果、シール材10x中の極性体23の周囲に存在する気泡を極性体23に集めることができる。   Then, in a state where both are aligned, as shown in FIG. 10, the element substrate 2 and the sealing substrate 8 are bonded together via a sealing material 10x. At this time, the sealing material 10 x is deformed by the unevenness caused by the partition wall 6, and the bubbles b located around the polar body 23 can be moved toward the polar body 23. As a result, bubbles existing around the polar body 23 in the sealing material 10 x can be collected in the polar body 23.

なお、封止基板8をシール材10xによって、素子基板2に貼り合わせる作業は、例えば窒素ガス又はアルゴンガス等の不活性ガス中や、高真空中で行うことによって、素子基板2と封止基板8との間に酸素や水分が含まれるのを抑制することができる。   The operation of bonding the sealing substrate 8 to the element substrate 2 with the sealing material 10x is performed in an inert gas such as nitrogen gas or argon gas or in a high vacuum, for example, so that the element substrate 2 and the sealing substrate are bonded. It is possible to suppress oxygen and moisture from being contained between the two.

さらに、シール材10xを硬化させて、素子基板2と封止基板8の両者を固着させることができる。ここで、シール材10xが硬化することにより、シール材10となる。   Further, the sealing material 10x can be cured to fix both the element substrate 2 and the sealing substrate 8. Here, the sealing material 10x is cured to become the sealing material 10.

このようにして、有機ELパネルを作製することができる。そして、素子基板2の非表示領域D2上に実装回路3を実装することで、画像表示装置1を作製することができる。   In this way, an organic EL panel can be produced. Then, by mounting the mounting circuit 3 on the non-display area D2 of the element substrate 2, the image display device 1 can be manufactured.

本実施形態によれば、シール材中に気泡が発生するのを抑制することができ、さらにシール材中に発生した気泡と有機EL素子が直接接する機会を低減することができる。   According to this embodiment, generation | occurrence | production of a bubble can be suppressed in a sealing material, and also the opportunity which the bubble generated in the sealing material and the organic EL element contact | connect directly can be reduced.

なお、本発明は上述の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。上述した実施形態においては、トップエミッションの画像表示装置について説明したが、本発明の作用効果を奏するのであれば、ボトムエミッションの画像表示装置であっても構わない。   In addition, this invention is not limited to the above-mentioned form, A various change, improvement, etc. are possible in the range which does not deviate from the summary of this invention. In the above-described embodiments, the top emission image display device has been described. However, a bottom emission image display device may be used as long as the effects of the present invention are achieved.

1 画像表示装置
2 素子基板
3 実装回路
4 画素
5 有機EL素子
6 隔壁
7 絶縁物
8 封止基板
9 保護膜
10 シール材
11 回路層
12 絶縁層
13 平坦化膜
14 第1電極層
15 有機発光層
16 第2電極層
17 コンタクト電極層
18 正孔注入層
19 正孔輸送層
20 発光層
21 電子輸送層
22 電子注入層
23 極性体
D1 表示部
D2 実装部
R1 発光領域
R2 非発光領域
S コンタクトホール
b 気泡
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Image display apparatus 2 Element board | substrate 3 Mounting circuit 4 Pixel 5 Organic EL element 6 Partition 7 Insulator 8 Sealing board 9 Protective film 10 Sealing material 11 Circuit layer 12 Insulating layer 13 Planarization film 14 1st electrode layer 15 Organic light emitting layer 16 Second electrode layer 17 Contact electrode layer 18 Hole injection layer 19 Hole transport layer 20 Light emitting layer 21 Electron transport layer 22 Electron injection layer 23 Polar body D1 Display part D2 Mounting part R1 Light emitting area R2 Non-light emitting area S Contact hole b Bubbles

Claims (10)

素子基板上に形成される発光素子と、
前記発光素子上に第1極性物質からなるシール材を介して前記素子基板と対向配置される封止基板と、
前記素子基板と前記封止基板との間であって、前記発光素子と重ならない領域に前記シール材の少なくとも一部と接するように形成され、表面が前記第1極性物質と異なる第2極性物質からなる極性体と、
を備えたことを特徴とする画像表示装置。
A light emitting element formed on the element substrate;
A sealing substrate disposed opposite to the element substrate through a sealing material made of a first polar substance on the light emitting element;
A second polar substance that is formed between the element substrate and the sealing substrate so as to be in contact with at least a part of the sealing material in a region that does not overlap the light emitting element and has a surface different from the first polar substance A polar body consisting of
An image display device comprising:
請求項1に記載の画像表示装置であって、
前記発光素子は、前記素子基板上に複数個設けられており、前記発光素子のそれぞれは前記素子基板側から前記封止基板側に向かって突出する隔壁によって囲まれ、該隔壁によって囲まれる領域内に前記シール材が充填されていることを特徴とする画像表示装置。
The image display device according to claim 1,
A plurality of the light emitting elements are provided on the element substrate, and each of the light emitting elements is surrounded by a partition wall protruding from the element substrate side toward the sealing substrate side, and in a region surrounded by the partition wall The image display device is filled with the sealing material.
請求項2に記載の画像表示装置であって、
前記極性体は、前記隔壁によって囲まれる領域内に設けられていることを特徴とする画像表示装置。
The image display device according to claim 2,
The image display apparatus, wherein the polar body is provided in a region surrounded by the partition wall.
請求項3に記載の画像表示装置であって、
前記極性体の下部の高さ位置は、前記隔壁の上部の高さ位置よりも下方に位置することを特徴とする画像表示装置。
The image display device according to claim 3,
The image display apparatus according to claim 1, wherein a height position of a lower portion of the polar body is located below a height position of an upper portion of the partition wall.
請求項4に記載の画像表示装置であって、
前記シール材中に気泡が含まれており、前記隔壁の上部の高さ位置以上に存在する前記気泡の単位体積あたりの密度が、前記隔壁の上部の高さ位置未満に存在する前記気泡の単位体積あたりの密度よりも大きいことを特徴とする画像表示装置。
The image display device according to claim 4,
The bubbles are contained in the sealing material, and the density per unit volume of the bubbles present above the height position of the upper part of the partition wall is a unit of the bubbles existing below the height position of the upper part of the partition wall. An image display device characterized by being larger than the density per volume.
請求項1に記載の画像表示装置であって、
前記シール材中には、気泡が含有されており、
前記シール材中に含まれる気泡の単位体積あたりの密度は、前記発光素子と重なる領域に比べて、前記発光素子と重ならない領域の方が大きいことを特徴とする画像表示装置。
The image display device according to claim 1,
The sealing material contains air bubbles,
An image display device, wherein a density per unit volume of bubbles contained in the sealing material is larger in a region not overlapping with the light emitting element than in a region overlapping with the light emitting element.
請求項1乃至請求項6のいずれか一つに記載の画像表示装置であって、
前記極性体は、前記発光素子の外周に沿って設けられていることを特徴とする画像表示装置。
The image display device according to any one of claims 1 to 6,
The image display apparatus, wherein the polar body is provided along an outer periphery of the light emitting element.
請求項7に記載の画像表示装置であって、
前記極性体は、前記発光素子の外周に沿って点在して複数個設けられていることを特徴とする画像表示装置。
The image display device according to claim 7,
An image display device, wherein a plurality of the polar bodies are provided along the outer periphery of the light emitting element.
請求項1乃至請求項8のいずれかに一つに記載の画像表示装置であって、
前記極性体は、前記封止基板と接続されていることを特徴とする画像表示装置。
An image display device according to any one of claims 1 to 8,
The polar display is connected to the sealing substrate.
請求項1乃至請求項9のいずれか一つに記載の画像表示装置であって、
前記極性体は上部よりも下部が幅狭であって、前記極性体の前記封止基板側から前記素子基板側に向かって突出する先端部が湾曲していることを特徴とする画像表示装置。

An image display device according to any one of claims 1 to 9,
2. The image display device according to claim 1, wherein the polar body is narrower at the lower portion than at the upper portion, and a tip portion of the polar body that protrudes from the sealing substrate side toward the element substrate side is curved.

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