KR101802843B1 - 자동 비전 검사 시스템 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2 는 본 발명에 따른 자동 비전 검사 시스템의 평면도,
도 3 은 본 발명에 따른 자동 비전 검사 시스템의 비전검사부 구성도이다.
20 : 칼라카메라 22 : 제2조명
30 : 카메라이동부 32 : 메인브라켓
34 : 카메라브라켓 36 : 모터
38 : 리드스크류 39 : LM가이드
40 : 석션스테이지 50 : 리니어모터
60 : 정반 70 : 구동제어부
100 : 비전검사부 110 : 메인서버
120 : 캠스테이션 130 : 데이터서버
140 : 리페어서버
Claims (7)
- 검사 대상물을 흑백 이미지로 촬영하는 모노카메라(10)와; 검사 대상물을 칼라 이미지로 촬영하는 칼라카메라(20)와; 상기 모노카메라(10) 및 칼라카메라(20)를 Y축 방향으로 동시에 수평 이동시키는 카메라이동부(30)와; 상기 모노카메라(10) 및 칼라카메라(20)의 하측에 배치되고, 상면에 검사 대상물이 흡착 지지되는 석션스테이지(40)와; 상기 석션스테이지(40)의 하부에 구비되어 상기 석션스테이지(40)를 X축 방향으로 수평 이동시키는 리니어모터(50)와; 상기 모노카메라(10)와 칼라카메라(20)에 의해 촬영된 이미지를 기초로 검사 대상물 표면의 불량을 검사하는 비전검사부(100)를 포함하고;
상기 카메라이동부(30)와 리니어모터(50)의 제어에 따라 상기 모노카메라(10)와 칼라카메라(20)가 검사 대상물의 동일한 부분을 순차적으로 촬영하고;
상기 비전검사부(100)는, 상기 모노카메라(10)와 칼라카메라(20)로부터 각각 촬영된 이미지를 전달받아 영상 처리한 후 불량이 없는 검사 대상물의 표준이미지와 비교하여 검사 대상물의 불량 여부 및 해당 불량 위치를 검출하는 메인서버(110)와; 상기 불량이 없는 검사 대상물의 표준이미지를 미리 저장하는 데이터서버(130)를 포함하며;
상기 메인서버(110)는 모노카메라(10)와 칼라카메라(20)에서 각각 촬영된 이미지의 해상도가 서로 일치되도록 캘리브레이션하고, 상기 캘리브레이션된 두 이미지를 합성하여 모노카메라(10)와 칼라카메라(20)에서 각각 촬영된 불량이 모두 표시된 통합이미지를 생성하여 상기 데이터서버(130)로 전송하며;
상기 메인서버(110)는 서로 다른 다수의 검사 대상물을 동시에 검사할 수 있도록 서로 다른 CPU를 개별적으로 보유하는 다수의 검사모듈로 구성되고;
상기 모노카메라(10)와 칼라카메라(20)의 검사 파라메타인 CONFIG 데이터를 입력하는 캠스테이션(120)을 더 포함하되, 상기 캠스테이션(120)으로부터 입력된 CONFIG 데이터는 상기 데이터서버(130)에 저장된 후 메인서버(110)로 전송되고, 상기 메인서버(110)는 전달된 CONFIG 데이터를 기초로 검사 환경과 조건을 세팅하며;
상기 메인서버(110)는, 특정 검사 대상물의 검사 중에, 현재 검사가 수행 중인 검사모듈 이외의 다른 검사모듈에서 다음 검사 환경 세팅이 가능하도록 구성된 것을 특징으로 하는 자동 비전 검사 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 카메라이동부(30)는,
X축 방향 및 Y축 방향으로 연장 형성된 메인브라켓(32)과;
상기 모노카메라(10)와 칼라카메라(20)가 X축 방향으로 나란하게 고정 장착되며, 상기 메인브라켓(32)의 Y축 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합되는 카메라브라켓(34)과;
상기 카메라브라켓(34)에 Y축 방향으로 결합되는 리드스크류(38)와;
상기 리드스크류(38)를 회전시키는 모터(36)를 포함하는 자동 비전 검사 시스템. - 삭제
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,
상기 메인서버(110)로부터 데이터서버(130)에 전달된 통합이미지를 전달받아 검사 결과 불량 여부를 확인하고, 해당 불량 부분의 좌표값을 추출하여, 리페어 로봇을 해당 불량이 발생한 위치 좌표로 이동시켜 불량을 수리하도록 제어하는 리페어서버(140)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 비전 검사 시스템. - 삭제
- 삭제
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| KR1020160051655A KR101802843B1 (ko) | 2016-04-27 | 2016-04-27 | 자동 비전 검사 시스템 |
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Families Citing this family (6)
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|---|---|---|---|---|
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| CN117840071A (zh) * | 2024-02-01 | 2024-04-09 | 青岛河钢新材料科技股份有限公司 | 全自动分拣检测装置及方法 |
Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
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Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001116523A (ja) * | 1999-10-15 | 2001-04-27 | Sokkia Co Ltd | 外観検査装置 |
| KR100952703B1 (ko) | 2008-12-29 | 2010-04-13 | 에이티아이 주식회사 | 듀얼 카메라를 이용한 기판 검사장치 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20230137584A (ko) | 2022-03-22 | 2023-10-05 | (주)이지지오 | 원단 결함 검출을 위한 비전검사 시스템 |
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