KR101619466B1 - 반도체 소자 실장 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 반도체 소자 실장 장치를 보여주는 도면이다.
도 2는 도 1의 기판 로딩 유닛을 보여주는 사시도이다.
도 3은 도 2의 기판 카세트와 제 2 로봇을 보여주는 도면이다.
도 4는 배선 기판을 보여주는 도면이다.
도 5는 도 1의 기판 공급 유닛을 보여주는 도면이다.
도 6은 도 1의 제 1 반도체 소자 공급 유닛을 보여주는 사시도이다.
도 7은 웨이퍼로부터 개별 단위로 분리된 반도체 소자들을 보여주는 도면이다.
도 8은 도 1의 실장부를 보여주는 도면이다.
도 9는 도 8의 헤드 어셈블리를 보여주는 도면이다.
도 10은 도 1의 리플로잉부를 보여주는 도면이다.
30: 리플로잉부 40: 언로딩부
100: 기판 로딩 유닛 200: 검출기
300: 기판 공급 유닛 400a,400b: 반도체 소자 공급 유닛
510: 배선 기판 이송 레일 520: 반도체 소자 이송 유닛
530: 헤드 유닛 540a,540b: 플럭스 조
550a,550b: 광학 검사 부재
Claims (11)
- 반도체 소자를 배선 기판에 표면 실장(Surface Mount)하는 실장부; 및
상기 실장부에 인접하게 배치되고, 상기 반도체 소자 및 상기 배선 기판을 상기 실장부로 공급하는 로딩부를 포함하고,
상기 로딩부는,
상기 반도체 소자를 상기 실장부로 공급하는 반도체 소자 공급 유닛들;
상기 배선 기판이 로딩되는 기판 로딩 유닛; 및
상기 배선 기판을 상기 기판 로딩 유닛으로부터 상기 실장부로 공급하는 기판 공급 유닛을 포함하되,
상기 기판 공급 유닛은, 상기 기판 로딩 유닛에 로딩된 상기 배선 기판이 놓이고, 상기 배선 기판을 제 1 방향으로 이송하는 피더(Feeder); 및 상기 제1 방향과 수직한 제 2 방향을 따라 복수의 위치들로 상기 피더를 이동시키는 피더 구동 부재를 포함하고,
상기 실장부는:
상기 피더의 상기 제 2 방향을 따르는 상기 복수의 위치들에 대응하여 상기 제 1 방향으로 연장되고, 상기 피더로부터 전달되는 상기 배선 기판을 상기 제 1 방향으로 이동시키는 배선 기판 이송 레일들;
상기 배선 기판 이송 레일들을 중심으로 상기 제 2 방향을 따라 양측에 각각 배치되고, 상기 반도체 소자 공급 유닛들로부터 전달되는 상기 반도체 소자를 상기 제 1 방향으로 이동시키는 반도체 소자 이송 유닛들; 및
상기 반도체 소자 이송 유닛들의 각각에 전달된 상기 반도체 소자를 픽업하여, 상기 배선 기판 이송 레일들의 각각에 전달된 상기 배선 기판에 실장하는 헤드 유닛들을 포함하는 반도체 소자 실장 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 반도체 소자 공급 유닛, 상기 기판 로딩 유닛, 그리고 상기 기판 공급 유닛은 하나의 설비 하우징 내에 배치되는 반도체 소자 실장 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 기판 로딩 유닛은,
상기 배선 기판을 수용하는 슬롯들이 형성된 매거진; 및
상기 매거진에 수용된 상기 배선 기판을 인출하는 제 1 로봇을 포함하는 반도체 소자 실장 장치. - 제 3 항에 있어서,
상기 기판 로딩 유닛은,
상하 방향으로 적층된 복수 개의 상기 배선 기판들을 수용하며, 상부가 개방된 기판 카세트; 및
상기 기판 카세트에 수용된 상기 배선 기판을 인출하는 제 2 로봇을 더 포함하는 반도체 소자 실장 장치. - 제 4 항에 있어서,
상기 기판 로딩 유닛은, 상기 매거진 또는 상기 기판 카세트로부터 인출된 상기 배선 기판을 상기 기판 공급 유닛으로 운반하는 컨베이어(Conveyor)를 더 포함하고,
상기 로딩부는, 상기 컨베이어의 상부에 배치되며, 그리고 상기 컨베이어가 운반하는 상기 배선 기판에 형성된 리젝 마크(Reject Mark)를 판독하는 검출기를 더 포함하며,
상기 리젝 마크는 상기 배선 기판상의 상기 반도체 소자 실장 영역의 불량 여부를 표시하는 반도체 소자 실장 장치. - 삭제
- 제 1 항에 있어서,
상기 기판 로딩 유닛과 상기 기판 공급 유닛은 상기 제 1 방향을 따라 배열되고, 상기 반도체 소자 공급 유닛은 상기 기판 로딩 유닛과 상기 기판 공급 유닛을 중심으로 상기 제 2 방향을 따라 양측에 복수 개 제공되며,
각각의 상기 반도체 소자 공급 유닛들은,
소잉(Sawing) 공정이 진행된 웨이퍼를 수용하는 웨이퍼 카세트;
상기 웨이퍼 카세트로부터 인출된 상기 웨이퍼가 놓이고, 상기 웨이퍼의 배면에 부착된 다이싱용 자외선 테이프를 확장시키는 테이프 확장기; 및
상기 웨이퍼로부터 개별 단위로 분리된 상기 반도체 소자를 상기 실장부로 이송하는 이송기를 포함하는 반도체 소자 실장 장치. - 반도체 소자를 배선 기판에 표면 실장(Surface Mount)하는 실장부; 및
상기 실장부에 인접하게 배치되고, 상기 반도체 소자 및 상기 배선 기판을 상기 실장부로 공급하는 로딩부를 포함하고,
상기 로딩부는:
상기 배선 기판이 로딩되는 기판 로딩 유닛;
상기 배선 기판을 상기 기판 로딩 유닛으로부터 상기 실장부로 공급하고, 상기 기판 로딩 유닛과 함께 제1 방향으로 배열되는 기판 공급 유닛; 및
상기 기판 로딩 유닛과 상기 기판 공급 유닛을 중심으로 상기 제1 방향과 수직과 제2 방향을 따라 양측에 각각 배치되고, 상기 반도체 소자를 상기 실장부로 공급하는 반도체 소자 공급 유닛들을 포함하되,
상기 기판 로딩 유닛은, 로딩된 상기 배선 기판을 상기 기판 공급 유닛으로 운반하는 컨베이어(Conveyor)를 포함하고,
상기 기판 공급 유닛은, 상기 컨베이어에 인접하게 배치되며, 상기 컨베이어에 의해 운반되는 상기 배선 기판이 놓이고, 상기 배선 기판을 상기 제 1 방향으로 이송하는 피더(Feeder); 및 상기 제 2 방향을 따라 복수의 위치들로 상기 피더를 이동시키는 피더 구동 부재를 포함하고,
상기 반도체 소자 공급 유닛들의 각각은:
소잉(Sawing) 공정이 진행된 웨이퍼를 수용하는 웨이퍼 카세트;
상기 웨이퍼 카세트로부터 인출된 상기 웨이퍼가 놓이고, 상기 웨이퍼의 배면에 부착된 다이싱용 자외선 테이프를 확장시키는 테이프 확장기; 및
상기 웨이퍼로부터 개별 단위로 분리된 상기 반도체 소자를 상기 실장부로 이송하는 이송기를 포함하고,
상기 실장부는:
상기 피더의 상기 제 2 방향을 따르는 상기 복수의 위치들에 대응하여 상기 제 1 방향으로 연장되고, 상기 피더로부터 전달되는 상기 배선 기판을 상기 제 1 방향으로 이동시키는 배선 기판 이송 레일들;
상기 배선 기판 이송 레일들을 중심으로 상기 제 2 방향을 따라 양측에 배치되고, 각각의 상기 이송기로부터 전달되는 상기 반도체 소자를 상기 제 1 방향으로 이동시키는 반도체 소자 이송 유닛들; 및
상기 반도체 소자 이송 유닛들의 각각에 전달된 상기 반도체 소자를 픽업하여, 상기 배선 기판 이송 레일들의 각각에 전달된 상기 배선 기판에 실장하는 헤드 유닛들을 포함하는 반도체 소자 실장 장치. - 제 8 항에 있어서,
각각의 상기 반도체 소자 이송 유닛들은,
상기 제 1 방향을 따라 평행하게 연장되는 복수 개의 가이드 부재들;
상기 가이드 부재들에 직선 이동 가능하게 설치되는 직선 구동 부재들; 및
상기 직선 구동 부재들 상에 배치되며, 상기 이송기로부터 전달되는 상기 반도체 소자를 수용하는 트레이들을 포함하고,
각각의 상기 트레이들에는 상기 반도체 소자가 수용되는 복수 개의 수용 홈들이 제공되는 반도체 소자 실장 장치. - 제 9 항에 있어서,
각각의 상기 헤드 유닛들의 트 수용 홈들에 수용된 상기 반도체 소자를 흡착하는 복수 개의 헤드들을 포함하는 반도체 소자 실장 장치. - 제 7 항에 있어서,
각각의 상기 반도체 소자 이송 유닛들은:
상기 제 1 방향을 따라 평행하게 연장되는 복수 개의 가이드 부재들;
상기 가이드 부재들에 직선 이동 가능하게 설치되는 직선 구동 부재들; 및
상기 직선 구동 부재들 상에 배치되며, 상기 이송기로부터 전달되는 상기 반도체 소자를 수용하는 트레이들을 포함하고,
각각의 상기 트레이들에는 상기 반도체 소자가 수용되는 복수 개의 수용 홈들이 제공되는 반도체 소자 실장 장치.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020100027451A KR101619466B1 (ko) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | 반도체 소자 실장 장치 |
| US13/071,640 US9130011B2 (en) | 2010-03-26 | 2011-03-25 | Apparatus for mounting semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020100027451A KR101619466B1 (ko) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | 반도체 소자 실장 장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20110108128A KR20110108128A (ko) | 2011-10-05 |
| KR101619466B1 true KR101619466B1 (ko) | 2016-05-11 |
Family
ID=44661659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020100027451A Active KR101619466B1 (ko) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | 반도체 소자 실장 장치 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9130011B2 (ko) |
| KR (1) | KR101619466B1 (ko) |
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| CA1234924A (en) * | 1984-01-21 | 1988-04-05 | Hideo Sakamoto | Printed circuit board load-unload system with bypass route |
| KR100581427B1 (ko) | 2000-08-22 | 2006-05-17 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 부품 실장 장치 및 방법 |
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2010
- 2010-03-26 KR KR1020100027451A patent/KR101619466B1/ko active Active
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| US11784081B2 (en) | 2019-07-22 | 2023-10-10 | Samsung Display Co., Ltd. | Micro device transfer apparatus and method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20110108128A (ko) | 2011-10-05 |
| US9130011B2 (en) | 2015-09-08 |
| US20110232082A1 (en) | 2011-09-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190429 Year of fee payment: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 7 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 8 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 9 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |