JPH07160074A - Electrophotographic process control device - Google Patents

Electrophotographic process control device

Info

Publication number
JPH07160074A
JPH07160074A JP5306957A JP30695793A JPH07160074A JP H07160074 A JPH07160074 A JP H07160074A JP 5306957 A JP5306957 A JP 5306957A JP 30695793 A JP30695793 A JP 30695793A JP H07160074 A JPH07160074 A JP H07160074A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoconductor
potential
surface potential
exposure
electrophotographic process
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5306957A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tatsuya Inagaki
達也 稲垣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP5306957A priority Critical patent/JPH07160074A/en
Publication of JPH07160074A publication Critical patent/JPH07160074A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Control Or Security For Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 より短い開発期間で、感光体の特性を考慮し
た適正な制御を行う制御系の構築を可能にすること。 【構成】 感光体上に静電潜像を形成するプロセスを含
む電子写真プロセス機構を有する画像形成装置に対する
電子写真プロセス制御装置において、帯電電位,露光部
電位,温度,湿度,総コピー枚数,感光体回転時間,感
光体劣化度等の電子写真プロセスに影響を及ぼす情報を
取得するためのセンサ手段28と、このセンサ手段の出
力データ、帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の
帯電量、及び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等
の露光量等の前記感光体の表面電位に影響を及ぼすパラ
メータの内の少なくとも1つを入力とし、予め実験等に
基づき得られた前記感光体の前記パラメータとこの感光
体の表面電位との関係を教師値として、前記感光体の潜
像電位特性を学習済みのニューラルネットワークにより
形成されて感光体表面電位を推定する感光体表面電位推
定手段26とを設けた。
(57) Abstract: In short development period than Objective, to enable the construction of a control system for performing proper control in consideration of characteristics of the sensitive light body. In an electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, a charging potential, an exposed portion potential, a temperature, a humidity, a total copy number, Sensor means 28 for acquiring information affecting the electrophotographic process such as body rotation time and photoconductor deterioration degree, output data of this sensor means, charge amount such as charging charger voltage, charging grid voltage, and exposure. Parameter of the photoconductor obtained in advance based on experiments etc. by inputting at least one of parameters affecting the surface potential of the photoconductor such as exposure voltage such as driving voltage of the light source, pulse modulation width, etc. And a surface potential of the photoconductor as a teacher value, a latent image potential characteristic of the photoconductor is formed by a learned neural network to form a photoconductor surface. The photosensitive member surface potential estimating means 26 for estimating the surface potential is provided.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、感光体上に静電潜像を
形成するプロセスを含む電子写真プロセス機構によって
画像の複写、印刷等を行う複写機、プリンタ、ファクシ
ミリ等の画像形成装置に対して、その各部の制御を行う
ための電子写真プロセス制御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image forming apparatus such as a copying machine, a printer or a facsimile machine for copying or printing an image by an electrophotographic process mechanism including a process for forming an electrostatic latent image on a photoconductor. On the other hand, the present invention relates to an electrophotographic process control device for controlling each part thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の電子写真プロセスにおけ
る潜像制御方式としては、テーブル参照法やフィードバ
ック制御法などがある。テーブル参照法は、感光体上の
表面電位等を表面電位計等により測定し、実験等により
予め作成された表(テーブル)から各測定値に対応する
帯電量(帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等)
や、露光量(露光ランプ,露光用レーザ,露光用LED
といった露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等)など
の操作量を参照することで制御を行うというものであ
る。また、フィードバック制御法は、例えば、特開昭6
3−151973号公報等に示されるように、このよう
な操作量を変化させながら、センサ等で装置状態をフィ
ードバックしPID制御等の制御法を用いて最適な操作
量を見出そうというものである。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a latent image control method in this type of electrophotographic process, there are a table reference method and a feedback control method. The table reference method measures the surface potential on the photoconductor with a surface potentiometer, etc., and uses the table created in advance through experiments, etc. )
And exposure amount (exposure lamp, exposure laser, exposure LED
The control is performed by referring to the manipulated variables such as the drive voltage of the exposure light source and the pulse modulation width). A feedback control method is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No.
As disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 3-151973, while varying such an operation amount, a device state is fed back by a sensor or the like to find an optimum operation amount by using a control method such as PID control. is there.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、テーブル参
照法の場合、参照すべきデータが限られたものであり、
感光体の特性を正確に把握して制御することは難しい。
However, in the case of the table reference method, the data to be referred to is limited,
It is difficult to accurately grasp and control the characteristics of the photoconductor.

【0004】また、フィードバック制御法の場合、理想
の制御状態になるまで、何度もフィードバックループを
回し、その都度、帯電及び露光プロセスを行うので、時
間的に無駄が多いとともに、装置自体の性能の低下(即
ち、時間当りのコピー又はプリント速度の低下、ファー
ストコピー又はプリント出力を得るまでの時間の増長)
を引き起こす可能性の大きいものとなる。特にカラー電
子写真プロセスにおいては、中間濃度に対応する電位も
制御する必要があることから、制御対象となる電位の数
に比例して制御にかかる時間が増大するものとなる。
Further, in the case of the feedback control method, the feedback loop is rotated many times until the ideal control state is reached, and the charging and exposure processes are performed each time, so that there is a lot of waste in time and the performance of the apparatus itself. (I.e. slow copy or print speed per hour, increased time to get first copy or print output)
Will be more likely to cause. Especially in the color electrophotographic process, since the potential corresponding to the intermediate density also needs to be controlled, the time required for control increases in proportion to the number of potentials to be controlled.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明で
は、感光体上に静電潜像を形成するプロセスを含む電子
写真プロセス機構を有する画像形成装置に対する電子写
真プロセス制御装置において、帯電電位,露光部電位,
温度,湿度,総コピー枚数,感光体回転時間,感光体劣
化度等の電子写真プロセスに影響を及ぼす情報を取得す
るためのセンサ手段と、このセンサ手段の出力データ、
帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の帯電量、及
び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等の露光量等
の前記感光体の表面電位に影響を及ぼすパラメータの内
の少なくとも1つを入力とし、予め実験等に基づき得ら
れた前記感光体の前記パラメータとこの感光体の表面電
位との関係を教師値として、前記感光体の潜像電位特性
を学習済みのニューラルネットワークにより形成されて
感光体表面電位を推定する感光体表面電位推定手段とを
設けた。
According to a first aspect of the present invention, in an electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, a charging potential is set. , Exposed area potential,
Sensor means for acquiring information affecting the electrophotographic process such as temperature, humidity, total number of copies, photoconductor rotation time, photoconductor deterioration degree, and output data of the sensor means,
At least one of the parameters that affect the surface potential of the photoconductor such as the charging amount such as the charging charger voltage and the charging grid voltage, and the exposure voltage such as the driving voltage of the exposure light source and the pulse modulation width is input. , A photoreceptor formed by a neural network that has learned the latent image potential characteristics of the photoreceptor by using the relationship between the parameter of the photoreceptor and the surface potential of the photoreceptor obtained in advance as an instruction value. A means for estimating the surface potential of the photoconductor is provided.

【0006】請求項2記載の発明では、感光体上に静電
潜像を形成するプロセスを含む電子写真プロセス機構を
有する画像形成装置に対する電子写真プロセス制御装置
において、帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピ
ー枚数,感光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プ
ロセスに影響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段
と、帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の帯電
量、及び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等の露
光量等の感光体表面電位に影響を及ぼすパラメータの複
数の組合せで帯電・露光された複数の感光体表面電位を
測定した時の前記センサ手段の出力データ、帯電量及び
露光量等を時系列でサンプリングしたデータを記憶して
おく記憶装置と、時系列でサンプリングされた前記セン
サ手段の出力データ及び前記パラメータの内の少なくと
も1つを入力とし、予め実験等に基づき得られた前記感
光体の前記パラメータとこの感光体の表面電位との関係
を教師値として、前記感光体の潜像電位特性を学習済み
のニューラルネットワークにより形成されて感光体表面
電位を推定する感光体表面電位推定手段とを設けた。
According to a second aspect of the present invention, in an electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, a charging potential, an exposed portion potential, and a temperature. , Humidity, total number of copies, photoconductor rotation time, photoconductor deterioration degree, and other sensor means for acquiring information that affects the electrophotographic process, charge amount such as charging charger voltage and charging grid voltage, and exposure Output of the sensor means when measuring the surface potentials of a plurality of photoconductors charged / exposed by a plurality of combinations of parameters that affect the surface potentials of the photoconductors, such as the driving voltage of the light source for the light source, the exposure amount of the pulse modulation width, etc. Storage device for storing data, data such as charge amount and exposure amount sampled in time series, and output data of the sensor means sampled in time series And at least one of the parameters described above as an input, and using the relationship between the parameter of the photoconductor and the surface potential of the photoconductor obtained in advance based on experiments or the like as a teacher value, the latent image potential characteristic of the photoconductor. And a photoconductor surface potential estimating means for estimating the photoconductor surface potential formed by a learned neural network.

【0007】請求項3記載の発明では、感光体上に静電
潜像を形成するプロセスを含む電子写真プロセス機構を
有する画像形成装置に対する電子写真プロセス制御装置
において、帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピ
ー枚数,感光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プ
ロセスに影響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段
と、 帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の帯電
量、及び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等の露
光量等の感光体表面電位に影響を及ぼすパラメータの複
数の組合せで帯電・露光された複数の感光体表面電位を
測定した時の前記センサ手段の出力データ、帯電量及び
露光量等を時系列でサンプリングしたデータを記憶して
おく記憶装置と、時系列でサンプリングされた前記セン
サ手段の出力データ、帯電量及び露光量の複数の組合せ
で帯電・露光された複数の感光体表面電位から得られる
傾きγ、及び前記パラメータの内の少なくとも1つを入
力とし、予め実験等に基づき得られた前記感光体の前記
パラメータとこの感光体の表面電位との関係を教師値と
して、前記感光体の潜像電位特性を学習済みのニューラ
ルネットワークにより形成されて感光体表面電位を推定
する感光体表面電位推定手段とを設けた。
According to a third aspect of the present invention, in an electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, a charging potential, an exposed portion potential, and a temperature. , Humidity, total number of copies, photoconductor rotation time, photoconductor deterioration degree, and other sensor means for acquiring information that affects the electrophotographic process, charge amount such as charging charger voltage and charging grid voltage, and exposure Output of the sensor means when measuring the surface potentials of a plurality of photoconductors charged / exposed by a plurality of combinations of parameters that affect the surface potentials of the photoconductors, such as the driving voltage of the light source for light source, the amount of exposure such as pulse modulation width, etc. Storage device for storing data, data such as charge amount and exposure amount sampled in time series, and output data of the sensor means sampled in time series , An inclination γ obtained from a plurality of photoconductor surface potentials charged / exposed with a plurality of combinations of a charge amount and an exposure amount, and at least one of the parameters described above, which are obtained in advance based on experiments and the like. Photoconductor surface potential estimation for estimating the photoconductor surface potential formed by a neural network that has learned the latent image potential characteristics of the photoconductor using the relationship between the parameter of the photoconductor and the surface potential of the photoconductor as a teacher value. And means.

【0008】請求項4記載の発明では、感光体上に静電
潜像を形成するプロセスを含む電子写真プロセス機構を
有する画像形成装置に対する電子写真プロセス制御装置
において、帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピ
ー枚数,感光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プ
ロセスに影響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段
と、このセンサ手段の出力データ、帯電チャージャ電
圧,帯電グリッド電圧等の帯電量、及び、露光用光源の
駆動電圧,パルス変調幅等の露光量等の前記感光体の表
面電位に影響を及ぼすパラメータの内の少なくとも1つ
を入力とし、予め実験等に基づき得られた前記感光体の
前記パラメータとこの感光体の表面電位の傾きγとの関
係を教師値として、前記感光体の潜像電位特性を学習済
みのニューラルネットワークにより形成されて感光体表
面電位の傾きγを推定する感光体表面電位γ推定手段と
を設けた。
According to a fourth aspect of the present invention, in an electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, a charging potential, an exposed portion potential, and a temperature. , Humidity, total number of copies, photoconductor rotation time, photoconductor deterioration degree, and other sensor means for obtaining information that affects the electrophotographic process, and output data of this sensor means, charging charger voltage, charging grid voltage, etc. Of at least one of the parameters affecting the surface potential of the photoconductor such as the charge amount of the exposure light source, the driving voltage of the exposure light source, the exposure amount such as the pulse modulation width, etc. The latent image potential characteristic of the photoconductor is learned by using the relationship between the parameter of the photoconductor and the slope γ of the surface potential of the photoconductor as a teacher value. Provided a photosensitive member surface potential γ estimation means for estimating the inclination γ of the surface potential of the photosensitive member is formed by the workpiece.

【0009】請求項5記載の発明では、感光体上に静電
潜像を形成するプロセスを含む電子写真プロセス機構を
有する画像形成装置に対する電子写真プロセス制御装置
において、帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピ
ー枚数,感光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プ
ロセスに影響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段
と、帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の帯電
量、及び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等の露
光量等の感光体表面電位に影響を及ぼすパラメータの複
数の組合せで帯電・露光された複数の感光体表面電位を
測定した時の前記センサ手段の出力データ、帯電量及び
露光量等を時系列でサンプリングしたデータを記憶して
おく記憶装置と、時系列でサンプリングされた前記セン
サ手段の出力データ及び前記パラメータの内の少なくと
も1つを入力とし、予め実験等に基づき得られた前記感
光体の前記パラメータとこの感光体の表面電位の傾きγ
との関係を教師値として、前記感光体の潜像電位特性を
学習済みのニューラルネットワークにより形成されて感
光体表面電位の傾きγを推定する感光体表面電位γ推定
手段とを設けた。
According to a fifth aspect of the present invention, in an electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, a charging potential, an exposed portion potential, and a temperature. , Humidity, total number of copies, photoconductor rotation time, photoconductor deterioration degree, and other sensor means for acquiring information that affects the electrophotographic process, charging amount such as charging charger voltage, charging grid voltage, and exposure Output of the sensor means when measuring the surface potentials of a plurality of photoconductors charged / exposed by a plurality of combinations of parameters that affect the surface potentials of the photoconductors, such as the driving voltage of the light source for light source, the amount of exposure such as pulse modulation width, etc. Storage device for storing data, data such as charge amount and exposure amount sampled in time series, and output data of the sensor means sampled in time series As input at least one of the fine the parameter, the slope of the surface potential of the photosensitive member and the parameters of the photosensitive body obtained based on experiment or the like in advance γ
And a photoconductor surface potential γ estimation means for estimating the inclination γ of the photoconductor surface potential formed by a neural network that has learned the latent image potential characteristic of the photoconductor.

【0010】請求項6記載の発明では、感光体上に静電
潜像を形成するプロセスを含む電子写真プロセス機構を
有する画像形成装置に対する電子写真プロセス制御装置
において、帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピ
ー枚数,感光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プ
ロセスに影響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段
と、帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の帯電
量、及び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等の露
光量等の感光体表面電位に影響を及ぼすパラメータの複
数の組合せで帯電・露光された複数の感光体表面電位を
測定した時の前記センサ手段の出力データ、帯電量及び
露光量等を時系列でサンプリングしたデータを記憶して
おく記憶装置と、時系列でサンプリングされた前記セン
サ手段の出力データ、帯電量及び露光量の複数の組合せ
で帯電・露光された複数の感光体表面電位から得られる
傾きγ、及び前記パラメータの内の少なくとも1つを入
力とし、予め実験等に基づき得られた前記感光体の前記
パラメータとこの感光体の表面電位の傾きγとの関係を
教師値として、前記感光体の潜像電位特性を学習済みの
ニューラルネットワークにより形成されて感光体表面電
位の傾きγを推定する感光体表面電位γ推定手段とを設
けた。
According to a sixth aspect of the present invention, in an electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, a charging potential, an exposed portion potential, and a temperature. , Humidity, total number of copies, photoconductor rotation time, photoconductor deterioration degree, and other sensor means for acquiring information that affects the electrophotographic process, charging amount such as charging charger voltage, charging grid voltage, and exposure Output of the sensor means when measuring the surface potentials of a plurality of photoconductors charged / exposed by a plurality of combinations of parameters that affect the surface potentials of the photoconductors, such as the driving voltage of the light source for light source, the amount of exposure such as pulse modulation width, etc. Storage device for storing data, data such as charge amount and exposure amount sampled in time series, and output data of the sensor means sampled in time series The sensitivity γ obtained from the surface potentials of a plurality of photoconductors charged / exposed with a plurality of combinations of the charge amount and the exposure amount, and at least one of the above parameters are input, and the photosensitivity obtained in advance based on an experiment or the like. Using the relationship between the parameter of the body and the slope γ of the surface potential of the photoconductor as a teacher value, the latent image potential characteristic of the photoconductor is formed by a learned neural network to estimate the slope γ of the photoconductor surface potential. A means for estimating the photoreceptor surface potential γ is provided.

【0011】請求項7記載の発明では、請求項1,2,
4又は5記載の発明に関して、感光体の表面電位に影響
を及ぼすパラメータ中に、ディザパターンを含むものと
した。
According to the invention of claim 7, claims 1, 2,
With respect to the invention described in 4 or 5, the dither pattern is included in the parameters that affect the surface potential of the photoconductor.

【0012】請求項8記載の発明では、請求項3又は6
記載の発明に関して、感光体の表面電位に影響を及ぼす
パラメータ中にディザパターンを含むとともに、傾きγ
を得るための複数の組合せ中に帯電量、露光量の他にデ
ィザパターンを含むものとした。
According to the invention of claim 8, claim 3 or 6
Regarding the described invention, the dither pattern is included in the parameters that affect the surface potential of the photoconductor, and the slope γ
In addition to the charge amount and the exposure amount, a dither pattern is included in the plurality of combinations for obtaining.

【0013】[0013]

【作用】本発明においては、感光体の潜像電位特性を学
習させたニューラルネットワークにより感光体表面電位
推定手段又は感光体表面電位γ推定手段を形成している
ので、ニューラルネットワークの持つ汎化能力により、
より少ない実験で感光体の特性を考慮した高精度な制御
を行うことができる。つまり、制御する電位の数が多く
ても短時間で目標の電位が得られる帯電量、露光量など
の組合せを見出し得るものとなる。よって、テーブル参
照方式等に比して、開発期間を短縮し得るとともに、コ
ストも大幅に低減させ得るものとなる。
In the present invention, since the photoreceptor surface potential estimating means or the photoreceptor surface potential γ estimating means is formed by the neural network which learned the latent image potential characteristics of the photoreceptor, the generalization ability of the neural network is obtained. Due to
It is possible to perform highly accurate control in consideration of the characteristics of the photoconductor with less experiments. In other words, even if the number of potentials to be controlled is large, it is possible to find a combination of the charge amount, the exposure amount, etc., which can obtain the target potential in a short time. Therefore, the development period can be shortened and the cost can be significantly reduced as compared with the table reference method and the like.

【0014】さらに、請求項2ないし6記載の発明にお
いては、過去の潜像電位又は複数の帯電量と露光量との
組合せで作成された複数の潜像電位の傾きγから、ニュ
ーラルネットワークを用いて潜像電位又はその傾きを推
定するため、過去の履歴をモニタしながら潜像電位をよ
り精度よく推定し得るものとなる。また、感光体の感度
の劣化には長期的なものと短期的なものとがあるが、過
去から現在に至るまでの感光体の潜像電位特性から次の
潜像電位を推定しているので、長期的な感光体疲労だけ
でなく短期的な感光体疲労をも検知して制御に供するこ
とができる。
Further, in the present invention as defined in claims 2 to 6, a neural network is used from the latent image potentials or a plurality of latent image potential gradients γ created by combining a plurality of charge amounts and exposure amounts. Since the latent image potential or the inclination thereof is estimated, the latent image potential can be more accurately estimated while monitoring the past history. In addition, there are long-term and short-term deterioration of the sensitivity of the photoconductor, but the next latent image potential is estimated from the latent image potential characteristics of the photoconductor from the past to the present. It is possible to detect and provide not only long-term photoreceptor fatigue but also short-term photoreceptor fatigue.

【0015】また、請求項4ないし6記載の発明におい
ては、1つ1つの潜像電位でなく、複数の電位より求め
た潜像電位の傾きγを推定するようにしたので、1つ1
つの潜像電位を推定して制御するよりも制御時間を短縮
し得るものとなる。
Further, in the inventions according to claims 4 to 6, since the inclination γ of the latent image potential obtained from a plurality of potentials is estimated instead of each one of the latent image potentials, one by one
The control time can be shortened as compared with the case of estimating and controlling one latent image potential.

【0016】さらに、請求項7,8記載の発明において
は、パラメータとして帯電量、露光量の他に、ディザパ
ターンも考慮するようにしたので、階調性が重要となる
カラー電子写真プロセスに効果的なものとなる。
Further, in the inventions of claims 7 and 8, since the dither pattern is taken into consideration in addition to the charge amount and the exposure amount as parameters, it is effective in the color electrophotographic process in which gradation is important. It becomes the target.

【0017】[0017]

【実施例】本発明の第一の実施例を図1ないし図7に基
づいて説明する。本実施例は、請求項1記載の発明に相
当する。まず、本発明が適用される画像形成装置となる
複写機構成の概略を図3により説明する。この複写機
は、帯電,露光,現像,転写,定着といった電子写真プ
ロセスにより画像を形成するものである。即ち、ドラム
状の感光体1は帯電操作値決定部2(詳細は後述する)
による管理の下、帯電制御部3で帯電量が制御される帯
電チャージャ4により一様帯電された後、露光制御部
(露光用光源)5による露光を受けて静電潜像が形成さ
れる。ここに、露光制御部5では、例えば、コンタクト
ガラス6上にセットされ原稿圧板7で覆われた原稿8を
露光ランプ9で露光照明し、原稿8からの反射光をミラ
ー等の光学系10を介して撮像素子、例えばCCD11
で読取った後、A/D変換器12、原稿画像処理部13
及び露光操作値決定部14(詳細は後述する)を経た原
稿画像情報に応じた露光量で光書込みを行うものであ
り、露光用レーザ,露光用LEDアレイ,露光ランプ等
により構成されている。このように感光体1上に形成さ
れた静電潜像はネガ・ポジ現像方式の現像装置15のト
ナーにより現像されて可視像となり、転写部16におい
て、所定タイミングで給紙された転写紙17上に転写さ
れる。転写済みの転写紙17は分離部18の作用で感光
体1から分離された後、定着ローラ19等を経て排紙側
に向かう。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The present embodiment corresponds to the invention described in claim 1. First, the outline of the configuration of a copying machine which is an image forming apparatus to which the present invention is applied will be described with reference to FIG. This copying machine forms an image by an electrophotographic process such as charging, exposure, development, transfer and fixing. That is, the drum-shaped photoconductor 1 includes the charging operation value determination unit 2 (details will be described later).
Under the control of (1), after being uniformly charged by the charging charger 4 whose charge amount is controlled by the charging control unit 3, an electrostatic latent image is formed by being exposed by the exposure control unit (light source for exposure) 5. Here, in the exposure control unit 5, for example, an original 8 set on the contact glass 6 and covered with the original pressure plate 7 is exposed and illuminated by an exposure lamp 9, and reflected light from the original 8 is reflected by an optical system 10 such as a mirror. Through an image sensor, such as the CCD 11
After reading with, the A / D converter 12 and the document image processing unit 13
Further, the optical writing is performed with an exposure amount according to the document image information that has passed through the exposure operation value determination unit 14 (details will be described later), and includes an exposure laser, an exposure LED array, an exposure lamp, and the like. The electrostatic latent image thus formed on the photoconductor 1 is developed by the toner of the negative / positive developing type developing device 15 into a visible image, and the transfer sheet is fed at a predetermined timing in the transfer section 16. 17 is transcribed. The transferred transfer paper 17 is separated from the photoconductor 1 by the action of the separation unit 18, and then goes to the paper discharge side through the fixing roller 19 and the like.

【0018】また、センサ手段として、例えば、感光体
1の表面における露光後の露光部電位等を測定するため
の表面電位計20、感光体1周りの環境温度や湿度を測
定するための温度センサ21、湿度センサ22、コピー
カウンタ(図示せず)等が設けられている。
As the sensor means, for example, a surface electrometer 20 for measuring the exposed portion potential on the surface of the photoconductor 1 after exposure, a temperature sensor for measuring environmental temperature and humidity around the photoconductor 1. 21, a humidity sensor 22, a copy counter (not shown) and the like are provided.

【0019】ここに、図3に示すような複写機の電子写
真プロセスにおけるネガ・ポジ現像方式の各電位関係を
示すと、図4のようになる。まず、感光体1は帯電チャ
ージャ4により帯電電位VD に帯電され、続いて、画像
となる部分(露光部)はその画像濃度により異なる露光
量で露光制御部5によって露光され露光部電位VL とな
る。ここで、現像バイアス電圧VB とこの露光部電位V
L との差(VB −VL)を現像ポテンシャルと称してお
り、この現像ポテンシャルなる電位差に比例した量のト
ナーが感光体1表面に付着して現像が行われる。このよ
うに感光体1表面に付着したトナーが転写紙17に転写
されることにより転写紙17上に画像が形成される。よ
って、露光部電位を原稿濃度に対応した適切な電位に制
御することが、電子写真プロセス、特にカラー電子写真
プロセスにおいて、高画質の画像を得るために重要とな
る。
FIG. 4 shows potential relationships of the negative / positive developing system in the electrophotographic process of the copying machine as shown in FIG. First, the photoconductor 1 is charged to the charging potential V D by the charging charger 4, and subsequently, a portion to be an image (exposure portion) is exposed by the exposure control portion 5 with an exposure amount that differs depending on the image density of the exposure portion potential VL. Becomes Here, the developing bias voltage V B and the exposed portion potential V
The difference from L (V B −V L ) is called the development potential, and the amount of toner proportional to the potential difference which is the development potential adheres to the surface of the photoconductor 1 for development. In this way, the toner attached to the surface of the photoconductor 1 is transferred to the transfer paper 17 to form an image on the transfer paper 17. Therefore, it is important to control the potential of the exposed portion to an appropriate potential corresponding to the original density in order to obtain a high quality image in the electrophotographic process, particularly the color electrophotographic process.

【0020】そこで、露光量(露光ランプ,露光用レー
ザ,露光用LEDアレイ等の露光用光源に対する駆動電
圧やパルス幅変調等)と露光部電位との関係を検討す
る。両者の関係を図示すると、図5に示すような特性と
なる。カラー電子写真プロセスでは、特に書込みレベル
に対して露光部電位の傾きγ及びカーブが適切に制御さ
れていなくてはならない。これは、カラー電子写真プロ
セスはモノクロ電子写真プロセスに比べ、中間調の濃度
を原稿に忠実に合わせることが重要だからである。即
ち、カラー電子写真プロセスは、3色又は4色のトナー
の組合せであるため、仮に、1色でも濃度がずれている
と、結局、コピー画像の色ずれとなってしまうからであ
る。
Therefore, the relationship between the exposure amount (driving voltage, driving voltage for the exposure light source such as the exposure laser, the exposure laser, the exposure LED array, and the like) and the exposure portion potential will be examined. The relationship between the two is illustrated in FIG. In the color electrophotographic process, the slope γ and the curve of the exposed portion potential have to be appropriately controlled especially with respect to the writing level. This is because it is more important in the color electrophotographic process than in the monochrome electrophotographic process to faithfully match the halftone density to the original. That is, since the color electrophotographic process is a combination of toners of three colors or four colors, if the density of even one color is deviated, the color misregistration of the copy image is eventually caused.

【0021】また、カラー電子写真プロセスでは階調性
も重要となる。例えば、露光光源の駆動電圧が32段
階、パルス変調が16段階、ディザパターンが8種類あ
る場合、これらによる4096種類の組合せの中から、
どの組合せを選んで、例えば、256階調を得るかによ
って、コピー画像が大きく変わってくるからである。
Gradation is also important in the color electrophotographic process. For example, when the driving voltage of the exposure light source is 32 steps, the pulse modulation is 16 steps, and there are 8 types of dither patterns, among these 4096 combinations,
This is because the copy image greatly changes depending on which combination is selected and, for example, 256 gradations are obtained.

【0022】例えば、図5に示したような露光特性に対
して、書込みレベルに対する露光量を適切に選択した場
合の特性は図6(a)(b)に示すようなものとなる
が、書込みレベルに対する露光量を不適切に選択した場
合の特性は図7(a)(b)に示すようになる。即ち、
不適切な例を示す図7において、書込みレベル4以上で
は殆ど画像濃度が変わらないであろうことが予想され
る。このように、同じ露光特性を持つ感光体1に対して
も書込みレベルに対する露光量を適切に選択しないと原
稿に忠実な画像を得ることができなくなる。
For example, with respect to the exposure characteristics shown in FIG. 5, the characteristics when the exposure amount with respect to the writing level is appropriately selected are as shown in FIGS. 6A and 6B. The characteristics when the exposure amount with respect to the level is improperly selected are as shown in FIGS. That is,
In FIG. 7 showing an inappropriate example, it is expected that the image density will hardly change at the writing level 4 or higher. As described above, even for the photoconductor 1 having the same exposure characteristic, an image faithful to the original cannot be obtained unless the exposure amount for the writing level is properly selected.

【0023】しかして、本実施例では、感光体1の潜像
電位特性を学習させたニューラルネットワークによるシ
ミュレートで行うことにより、制御する電位の数が多く
ても短時間で目標の電位を得る帯電量・露光量などの組
合せを見つけ得るようにしたものである。このため、本
実施例の帯電操作値決定部2及び露光操作値決定部14
は、例えば、図1に示すように、ニューラルネットワー
ク(感光体表面電位推定手段)26とパラメータ操作部
27とにより構成されている。センサ(センサ手段)2
8は、前述した表面電位計20、温度センサ21、湿度
センサ22等である。
However, in this embodiment, the target potential is obtained in a short time even if the number of potentials to be controlled is large by performing the simulation by the neural network in which the latent image potential characteristic of the photoconductor 1 is learned. It is designed to find a combination of the charge amount, the exposure amount, and the like. For this reason, the charging operation value determination unit 2 and the exposure operation value determination unit 14 of the present embodiment.
Is composed of a neural network (photoconductor surface potential estimating means) 26 and a parameter operating section 27, as shown in FIG. Sensor (sensor means) 2
Reference numeral 8 denotes the surface electrometer 20, the temperature sensor 21, the humidity sensor 22 and the like described above.

【0024】パラメータ操作部27はニューラルネット
ワーク26の出力と目標値とが一致するように、帯電量
や露光量といったパラメータを操作するものである。こ
こに、本実施例では、感光体1の表面電位を目標値に合
わせるものであり、理想の潜像電位を得るために各書込
みレベルに対して表面電位の目標が決定される。そし
て、ニューラルネットワーク26の出力である推定表面
電位がその目標値に一致するように露光量を操作する。
また、推定表面電位が目標値に一致した時の露光量をそ
の書込みレベルに対する露光量に決定する。
The parameter operating unit 27 operates the parameters such as the charge amount and the exposure amount so that the output of the neural network 26 and the target value match. Here, in this embodiment, the surface potential of the photoconductor 1 is adjusted to the target value, and the target of the surface potential is determined for each writing level in order to obtain the ideal latent image potential. Then, the exposure amount is manipulated so that the estimated surface potential output from the neural network 26 matches the target value.
Also, the exposure amount when the estimated surface potential matches the target value is determined as the exposure amount for the writing level.

【0025】ニューラルネットワーク26は各センサ2
8の出力を基に感光体1の表面電位を推定するネットワ
ークであり、例えば、誤差逆伝播法により、教師値との
誤差が小さくなるように学習済みのものが用いられる。
ここに、このニューラルネットワーク26は例えば図2
に示すように階層型構造とされ、以下のように学習が行
われたものである。
The neural network 26 uses each sensor 2
This is a network for estimating the surface potential of the photoconductor 1 based on the output of 8, and for example, a network that has been learned by the error back propagation method so that the error with the teacher value becomes small is used.
Here, this neural network 26 is shown in FIG.
It has a hierarchical structure as shown in, and learning is performed as follows.

【0026】ニューラルネットワーク26の学習データ
をとる実験では、帯電量(帯電チャージャ電圧,帯電グ
リッド電圧等)、露光量(露光ランプ等の露光用光源の
駆動電圧やパルス変調幅等)のパラメータや、環境条件
(温度,湿度等)、帯電電位の組合せを変更しながら、
様々な感度(総コピー枚数又は感光体回転時間が異な
る)の感光体1でコピーするか、電位測定用のパターン
をとることにより、感光体1の表面電位をサンプリング
する。ニューラルネットワーク26の入力層のニューロ
ンには、帯電量Vg ,露光量(駆動電圧Ld ,パルス変
調幅Pwm),帯電電位Vd ,環境条件(温度T,湿度
H),感光体疲労度Fc (総コピー枚数,感光体総回転
時間などに基づき得られた値)等のパラメータ中の1つ
又は複数を入力し、出力層のニューロンには露光部の表
面電位を教師値として与えることで、誤差逆伝播法によ
り学習する。
In an experiment for acquiring learning data of the neural network 26, parameters such as charge amount (charge charger voltage, charge grid voltage, etc.), exposure amount (driving voltage of exposure light source such as exposure lamp, pulse modulation width, etc.), While changing the combination of environmental conditions (temperature, humidity, etc.) and charging potential,
The surface potential of the photoconductor 1 is sampled by copying with the photoconductor 1 having various sensitivities (total number of copies or different photoconductor rotation time) or by taking a pattern for potential measurement. In the neurons of the input layer of the neural network 26, the charge amount Vg, the exposure amount (driving voltage Ld, the pulse modulation width Pwm), the charge potential Vd, the environmental condition (temperature T, humidity H), the photoconductor fatigue degree Fc (total copy) By inputting one or more of the parameters such as the number of sheets, the total rotation time of the photoconductor, etc.) and giving the neuron of the output layer the surface potential of the exposure section as a teacher value, error back propagation Learn by law.

【0027】このような学習済みのニューラルネットワ
ーク26を含む電子写真プロセス制御装置において、制
御時には、各センサ28の出力データ、帯電量及び露光
量などの感光体1の潜像電位に影響を及ぼすパラメータ
の内の1つ又は複数をニューラルネットワーク26の入
力とすることで、その環境下での感光体1の表面電位が
得られる。そして、ニューラルネットワーク26の出力
である推定表面電位Vp(t)が目標値になるように主に露
光量を操作し、推定表面電位が目標値に等しくなった時
の露光量を任意の書込みレベルでの露光量に決定する。
In the electrophotographic process control apparatus including the learned neural network 26, parameters that affect the latent image potential of the photoconductor 1 such as output data of each sensor 28, charge amount and exposure amount are controlled at the time of control. By inputting one or more of the above to the neural network 26, the surface potential of the photoreceptor 1 under that environment can be obtained. Then, the exposure amount is mainly manipulated so that the estimated surface potential Vp (t), which is the output of the neural network 26, becomes the target value, and the exposure amount when the estimated surface potential becomes equal to the target value is set to an arbitrary writing level. To determine the exposure amount.

【0028】このように、本実施例によれば、感光体表
面電位(潜像電位)の推定にニューラルネットワーク2
6を用いることにより、実験で潜像特性を取得していな
い帯電量、露光量、環境、感光体感度の組合せに対して
も、ニューラルネットワーク26の持つ汎化能力によっ
て、潜像電位を推定し得ることから、より少ない実験で
感光体1の特性を考慮した制御を行うことができる。即
ち、環境要因や帯電量、露光量等のパラメータについて
の、より少ない組合せで機能を実現できる。つまり、同
一の機能をテーブル参照法で実現しようとした場合、テ
ーブルの大きさ(実験の数)により制御の精度が決まる
ため、高精度の制御を行おうとする場合にはそれだけ多
くの実験を必要とするが、本実施例によればニューラル
ネットワーク26の持つ汎化能力により必要とする実験
数を少なくすることができる。
As described above, according to this embodiment, the neural network 2 is used to estimate the surface potential (latent image potential) of the photoconductor.
By using 6, the latent image potential can be estimated by the generalization capability of the neural network 26 even for combinations of charge amount, exposure amount, environment, and photoconductor sensitivity for which latent image characteristics have not been acquired in the experiment. Therefore, it is possible to perform the control in consideration of the characteristics of the photoconductor 1 with less experiments. That is, the function can be realized with a smaller number of combinations of environmental factors and parameters such as the amount of charge and the amount of exposure. In other words, when trying to realize the same function by the table reference method, the accuracy of control is determined by the size of the table (the number of experiments), so more experiments are required when trying to perform highly accurate control. However, according to the present embodiment, the number of experiments required can be reduced by the generalization capability of the neural network 26.

【0029】つづいて、本発明の第二の実施例を図8に
より説明する。前記実施例で示した部分と同一部分は同
一符号を用いて示す(以下の実施例でも同様とする)。
本実施例は、請求項1記載の発明に基づく請求項7記載
の発明に相当し、基本的には、前記第一の実施例と殆ど
同様であるが、感光体1の表面電位に影響を及ぼすパラ
メータとして、帯電量や露光量の他に、少なくともディ
ザパターンを含むようにしたものである。従って、ニュ
ーラルネットワーク26に代る本実施例のニューラルネ
ットワーク29は、ディザパターンDthを含んで学習し
たものが用いられている。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The same parts as those shown in the above-mentioned embodiments are designated by the same reference numerals (the same applies to the following embodiments).
This embodiment corresponds to the invention according to claim 7 based on the invention according to claim 1, and is basically similar to the first embodiment, but affects the surface potential of the photoconductor 1. The parameters to be exerted include at least a dither pattern in addition to the charge amount and the exposure amount. Therefore, as the neural network 29 of this embodiment, which replaces the neural network 26, the one learned by including the dither pattern Dth is used.

【0030】この学習は、ニューラルネットワーク26
の学習と殆ど同じであるが、ディザパターンを含む点で
異なる。即ち、本実施例のニューラルネットワーク29
の学習データをとる実験では、帯電量、露光量、ディザ
パターン(ディザパターンは各々のパターンに番号が付
されている)といったパラメータや、環境条件、帯電電
位の組合せを変更しながら、様々な感度の感光体1でコ
ピーするか、電位測定用のパターンをとることにより、
感光体1の表面電位をサンプリングする。ニューラルネ
ットワーク29の入力層のニューロンには、帯電量Vg
,露光量,帯電電位Vd ,ディザパターンDth,環境
条件(温度T,湿度H),感光体疲労度Fc 等のパラメ
ータ中の1つ又は複数を入力し、出力層のニューロンに
は露光部の表面電位を教師値として与えることで、誤差
逆伝播法により学習する。
This learning is performed by the neural network 26.
It is almost the same as the learning of, but differs in that it includes a dither pattern. That is, the neural network 29 of this embodiment
In the experiment of learning data, the sensitivity such as charge amount, exposure amount, dither pattern (dither pattern is numbered for each pattern), environmental conditions, and combination of charge potential are changed, and various sensitivity is changed. By copying with the photoconductor 1 of or by taking the pattern for potential measurement,
The surface potential of the photoconductor 1 is sampled. The input layer neurons of the neural network 29 have a charge amount Vg
, Exposure amount, charging potential Vd, dither pattern Dth, environmental conditions (temperature T, humidity H), photoconductor fatigue degree Fc, and other parameters are input, and the neurons of the output layer are exposed to the surface of the exposed portion. By applying a potential as a teacher value, learning is performed by the error back propagation method.

【0031】このような学習済みのニューラルネットワ
ーク29を含む電子写真プロセス制御装置において(図
1の構成において、ニューラルネットワーク26に代え
てニューラルネットワーク29を用いたもの)、制御時
には、各センサ28の出力データ及び帯電量,露光量,
ディザパターン(ディザパターンの各々に番号を付し、
その番号を入力する)などの感光体1の潜像電位に影響
を及ぼすパラメータの内の1つ又は複数をニューラルネ
ットワーク29の入力とすることで、その環境下での感
光体1の表面電位が得られる。そして、ニューラルネッ
トワーク29の出力である推定表面電位Vp(t)が目標値
になるように主に露光量とディザパターンとを操作し、
推定表面電位が目標値に等しくなった時の露光量及びデ
ィザパターンを任意の書込みレベルでの露光量及びディ
ザパターンに決定する。
In the electrophotographic process control device including the learned neural network 29 (in which the neural network 29 is used in place of the neural network 26 in the configuration of FIG. 1), the output of each sensor 28 at the time of control. Data and charge, exposure,
Dither pattern (number each dither pattern,
By inputting one or more of the parameters that affect the latent image potential of the photoconductor 1 such as inputting the number) to the neural network 29, the surface potential of the photoconductor 1 under the environment is can get. Then, the exposure amount and the dither pattern are mainly manipulated so that the estimated surface potential Vp (t), which is the output of the neural network 29, becomes the target value.
The exposure amount and dither pattern when the estimated surface potential becomes equal to the target value are determined as the exposure amount and dither pattern at an arbitrary writing level.

【0032】従って、本実施例の場合のパラメータ操作
部27はニューラルネットワーク29の出力と目標値と
が一致するように、帯電量や露光量やディザパターンと
いったパラメータを操作するものである。ここに、本実
施例でも、感光体1の表面電位を目標値に合わせるもの
であり、理想の潜像電位を得るために各書込みレベルに
対して表面電位の目標が決定される。そして、ニューラ
ルネットワーク29の出力である推定表面電位がその目
標値に一致するように露光量及びディザパターンを操作
する。また、推定表面電位が目標値に一致した時の露光
量及びディザパターンをその書込みレベルに対する露光
量及びディザパターンに決定する。
Therefore, the parameter operating unit 27 in this embodiment operates parameters such as the charge amount, the exposure amount, and the dither pattern so that the output of the neural network 29 and the target value match. Here, also in this embodiment, the surface potential of the photoconductor 1 is adjusted to the target value, and the target of the surface potential is determined for each writing level in order to obtain the ideal latent image potential. Then, the exposure amount and the dither pattern are manipulated so that the estimated surface potential output from the neural network 29 matches the target value. Further, the exposure amount and dither pattern when the estimated surface potential matches the target value are determined as the exposure amount and dither pattern for the writing level.

【0033】このように、本実施例によれば、前記第一
の実施例に加え、ニューラルネットワーク29がディザ
パターンも考慮しているため、階調性が重要となるカラ
ー電子写真プロセスをとるものに効果的となる。
As described above, according to this embodiment, in addition to the first embodiment, since the neural network 29 also considers the dither pattern, the color electrophotographic process in which gradation is important is adopted. To be effective.

【0034】次に、本発明の第三の実施例を図9ないし
図11により説明する。本実施例は、請求項2記載の発
明に相当する。本実施例の電子写真プロセス制御装置は
時系列要素を取り入れたものであり、図1を参照する
と、記憶装置30が付加されているとともに、ニューラ
ルネットワーク26に代えて、ニューラルネットワーク
(表面電位推定用NN)31を用いたものとして構成さ
れている。よって、主要部を書替えると、図9に示すよ
うに構成される。ここに、表面電位推定用NN31はセ
ンサ28の出力データを時系列にサンプリングしたデー
タを入力とし、予め実験等により得られた感光体1の潜
像電位を教師値として感光体1の潜像電位特性を後述す
るように予め学習したものである。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The present embodiment corresponds to the invention described in claim 2. The electrophotographic process control apparatus of this embodiment incorporates time series elements. Referring to FIG. 1, a memory device 30 is added, and instead of the neural network 26, a neural network (for surface potential estimation) is used. NN) 31 is used. Therefore, when the main part is rewritten, the structure is as shown in FIG. Here, the surface potential estimation NN31 receives as input the data obtained by sampling the output data of the sensor 28 in time series, and uses the latent image potential of the photoconductor 1 obtained in advance by an experiment or the like as a teacher value to determine the latent image potential of the photoconductor 1. The characteristics are previously learned as described later.

【0035】この表面電位推定用NN31の学習につい
て説明する。表面電位推定用NN31の学習データをと
る実験では、帯電量(帯電チャージャ電圧,帯電グリッ
ド電圧等)、露光量(露光ランプ等の露光用光源の駆動
電圧やパルス変調幅等)のパラメータや、環境条件(温
度,湿度等)、帯電電位の組合せを変更しながら、様々
な感度(総コピー枚数又は感光体回転時間が異なる)の
感光体1で電位測定用のパターンをとることにより、帯
電部、露光部の表面電位を(n+1)回分サンプリング
する(この場合、必ずしもコピー毎にサンプリングする
必要はなく、例えば、2枚以上コピーする毎に1回サン
プリングするようにしてもよい)。この電位測定用のパ
ターンは1つ以上の書込みレベルで潜像が書込まれてお
り、図11に示すように、1つ以上の潜像電位レベルが
存在することになる。各書込みレベルは、レベル毎に異
なる露光量で成り立っている。表面電位推定用NN31
の入力層のニューロンには、1〜n回目の帯電量Vg 、
各書込みレベルでの露光量(駆動電圧Ld ,パルス変調
幅Pwm)、各書込みレベルでの潜像電位、環境条件(温
度T,湿度H)、帯電電位Vd 、(n+1)回目の帯電
量、ある書込みレベルでの露光量,環境条件,帯電電位
の内の1つ又は複数を入力し、電位測定用のパターンの
中の入力層の(n+1)回目の書込みレベルでの潜像電
位を教師値として出力層のニューロンに与えることで、
誤差逆伝播法により学習する。つまり、前述した実施例
の学習と異なり、過去n回分の潜像電位パターンの電位
から、感光体1の潜像電位特性を推定するようにしたも
のである。
The learning of the surface potential estimating NN31 will be described. In an experiment in which the learning data of the surface potential estimation NN31 is used, parameters such as charge amount (charge charger voltage, charge grid voltage), exposure amount (drive voltage of exposure light source such as exposure lamp, pulse modulation width, etc.), environment By changing the combination of conditions (temperature, humidity, etc.) and charging potential, by taking a pattern for potential measurement on the photoconductors 1 with various sensitivities (total number of copies or photoconductor rotation time), the charging unit, The surface potential of the exposure section is sampled (n + 1) times (in this case, it is not always necessary to sample every copy, and for example, it may be sampled once every two or more copies). In this potential measuring pattern, a latent image is written at one or more writing levels, and as shown in FIG. 11, there are one or more latent image potential levels. Each writing level has a different exposure amount for each level. NN31 for surface potential estimation
To the neurons of the input layer of
Exposure amount (driving voltage Ld, pulse modulation width Pwm) at each writing level, latent image potential at each writing level, environmental conditions (temperature T, humidity H), charging potential Vd, and (n + 1) th charge amount. Input one or more of the exposure amount at the writing level, the environmental condition, and the charging potential, and use the latent image potential at the (n + 1) th writing level of the input layer in the pattern for potential measurement as a teacher value. By giving to the neurons of the output layer,
Learning by the error back propagation method. That is, unlike the learning of the above-described embodiment, the latent image potential characteristic of the photoconductor 1 is estimated from the potentials of the latent image potential patterns of the past n times.

【0036】また、記憶装置30はセンサ28からの出
力データ及び帯電量や露光量等のパラメータを記憶して
おくものである。より詳細には、帯電チャージャ電圧・
帯電グリッド電圧等の帯電量、及び、露光用光源の駆動
電圧・パルス変調幅等の露光量等の感光体1の表面電位
に影響を及ぼすパラメータの複数の組合せで帯電・露光
された複数の感光体1の表面電位を測定した時のセンサ
28の出力データ、帯電量及び露光量等のパラメータを
t−n〜t−1,tで示すような時系列でサンプリング
した(n+1)回分のデータを記憶しておくものであ
る。
The storage device 30 stores the output data from the sensor 28 and parameters such as the amount of charge and the amount of exposure. More specifically, the charging charger voltage
A plurality of photoconductors that are charged / exposed with a plurality of combinations of parameters that affect the surface potential of the photoconductor 1 such as the amount of charge such as the charging grid voltage and the amount of exposure such as the drive voltage of the light source for exposure and the pulse modulation width. Output data of the sensor 28 when the surface potential of the body 1 is measured, and parameters such as the amount of charge and the amount of exposure are sampled in time series as shown by t-n to t-1, t, and (n + 1) times of data are sampled. It is something to remember.

【0037】このような学習済みの表面電位推定用NN
31を含む電子写真プロセス制御装置において、制御時
には、時系列でサンプリングされた各センサ28の出力
データ及び帯電量,露光量などの感光体1の潜像電位に
影響を及ぼすパラメータの内の1つ又は複数を表面電位
推定用NN31の入力とすることで、その環境下での感
光体1の表面電位が得られる。そして、表面電位推定用
NN31の出力である推定表面電位Vp(t)が目標値にな
るように主に露光量を操作し(時間tにおけるデータの
み)、推定表面電位が目標値に等しくなった時の露光量
を任意の書込みレベルでの露光量に決定する。
Such learned NN for surface potential estimation
In the electrophotographic process control device including 31, the output data of each sensor 28 sampled in time series and one of the parameters that affect the latent image potential of the photoconductor 1 such as the amount of charge and the amount of exposure at the time of control. Alternatively, by inputting a plurality of NN31 for surface potential estimation, the surface potential of the photoconductor 1 under the environment can be obtained. Then, the exposure amount is mainly manipulated so that the estimated surface potential Vp (t), which is the output of the surface potential estimation NN31, becomes the target value (only the data at time t), and the estimated surface potential becomes equal to the target value. The exposure amount at that time is determined as the exposure amount at an arbitrary writing level.

【0038】本実施例においては、前述した第一の実施
例に加えて、過去の潜像電位パターンの電位から感光体
1の感度を推定し、次の潜像電位を推定しているので、
より精度よく推定し得るものとなる。また、感光体1の
感度の劣化には、長期的なもの(例えばクリーニング等
による膜削れから生ずる膜厚変化)と、短期的なもの
(例えば、帯電・露光・除電の繰返しにより生ずる帯電
疲労・感光疲労など)があり、総コピー枚数や感光体回
転時間等から感光体1の感度の劣化を判断する方法では
短期的な劣化が検知できないのに対して、本実施例で
は、過去から現在に至るまでの感光体1の潜像電位特性
の推移から次の潜像電位を推定しているので、長期的な
疲労はもちろん、短期的な疲労についても検知し得るも
のとなる。
In this embodiment, in addition to the first embodiment described above, the sensitivity of the photosensitive member 1 is estimated from the potential of the latent image potential pattern in the past, and the next latent image potential is estimated.
It can be estimated more accurately. Further, the deterioration of the sensitivity of the photoconductor 1 may be caused by a long-term one (for example, a film thickness change caused by film scraping due to cleaning or the like) and a short-term one (for example, charging fatigue caused by repeated charging, exposure, and charge removal). However, in the present embodiment, the short-term deterioration cannot be detected by the method of determining the deterioration of the sensitivity of the photoconductor 1 from the total number of copies or the photoconductor rotation time. Since the next latent image potential is estimated from the transition of the latent image potential characteristic of the photoconductor 1 up to that point, not only long-term fatigue but also short-term fatigue can be detected.

【0039】つづいて、本発明の第四の実施例を図12
及び図13により説明する。本実施例は、請求項2記載
の発明に基づく請求項7記載の発明に相当し、基本的に
は、前記第三の実施例と殆ど同様であるが、第二の実施
例の場合と同様に、感光体1の表面電位に影響を及ぼす
パラメータとして、帯電量や露光量の他に、少なくとも
ディザパターンを含むようにしたものである。従って、
表面電位推定用NN31に代る本実施例の表面電位推定
用NN32は、ディザパターンDthを含んで学習したも
のが用いられている。これに対応して、記憶装置30も
過去n回分のディザパターンを記憶するものとされてい
る。
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
13 and FIG. This embodiment corresponds to the invention according to claim 7 based on the invention according to claim 2, and is basically similar to the third embodiment, but is similar to the case of the second embodiment. In addition to the charge amount and the exposure amount, at least a dither pattern is included as a parameter that affects the surface potential of the photoconductor 1. Therefore,
As the surface potential estimating NN32 of this embodiment, which is an alternative to the surface potential estimating NN31, a learned one including the dither pattern Dth is used. In response to this, the storage device 30 is also supposed to store the past n dither patterns.

【0040】この表面電位推定用NN32の学習につい
て説明する。この学習は、前記実施例の表面電位推定用
NN31の学習と殆ど同じであるが、ディザパターンを
含む点で異なる。表面電位推定用NN32の学習データ
をとる実験では、帯電量、露光量、ディザパターン(デ
ィザパターンは各々のパターンに番号を付ける)等のパ
ラメータや、環境条件、帯電電位の組合せを変更しなが
ら、様々な感度の感光体1で電位測定用のパターンをと
ることにより、帯電部、露光部の表面電位を(n+1)
回分サンプリングする。この電位測定用のパターンは1
つ以上の書込みレベルで潜像が書込まれており、図11
に示した場合と同様に、1つ以上の潜像電位レベルが存
在することになる。各書込みレベルは、レベル毎に異な
る露光量とディザパターンとの組合せで成り立ってい
る。表面電位推定用NN32の入力層のニューロンに
は、1〜n回目の帯電量Vg ,各書込みレベルでの露光
量及びディザパターン,各書込みレベルでの潜像電位,
環境条件,帯電電位、(n+1)回目の帯電量、ある書
込みレベルでの露光量及びディザパターン,環境条件,
帯電電位の内の1つ又は複数を入力し、電位測定用のパ
ターンの中の入力層の(n+1)回目の書込みレベルで
の潜像電位を教師値として出力層のニューロンに与える
ことで、誤差逆伝播法により学習する。つまり、前記実
施例の学習と同様に、過去n回分の潜像電位パターンの
電位から、感光体1の潜像電位特性を推定するようにし
たものである。
The learning of the surface potential estimating NN 32 will be described. This learning is almost the same as the learning of the surface potential estimating NN31 of the above-mentioned embodiment, but is different in that the dither pattern is included. In the experiment for acquiring the learning data of the surface potential estimating NN32, while changing the parameters such as the charge amount, the exposure amount, the dither pattern (the dither pattern numbers each pattern), the environmental conditions, and the charge potential, By taking a pattern for potential measurement with the photoconductor 1 having various sensitivities, the surface potentials of the charging part and the exposing part are (n + 1).
Sample once. This potential measurement pattern is 1
The latent image is written at three or more writing levels.
As in the case shown in, there will be one or more latent image potential levels. Each writing level is made up of a combination of an exposure amount and a dither pattern which are different for each level. In the neurons of the input layer of the surface potential estimation NN32, the charge amount Vg at the first to nth times, the exposure amount and dither pattern at each writing level, the latent image potential at each writing level,
Environmental conditions, charging potential, (n + 1) th charge amount, exposure amount and dither pattern at a certain writing level, environmental conditions,
By inputting one or more of the charging potentials and applying the latent image potential at the (n + 1) th write level of the input layer in the potential measurement pattern to the neuron of the output layer as a teacher value, the error Learn by the back propagation method. That is, similar to the learning of the above-described embodiment, the latent image potential characteristic of the photoconductor 1 is estimated from the potentials of the latent image potential patterns of the past n times.

【0041】このような学習済みの表面電位推定用NN
32を含む電子写真プロセス制御装置において、制御時
には、時系列でサンプリングされた各センサ28の出力
データ及び帯電量,露光量,ディザパターンなどの感光
体1の潜像電位に影響を及ぼすパラメータの内の1つ又
は複数を表面電位推定用NN32の入力とすることで、
その環境下での感光体1の表面電位が得られる。そし
て、表面電位推定用NN32の出力である推定表面電位
Vp(t)が目標値になるように主に露光量及びディザパタ
ーンを操作し(時間tにおけるデータのみ)、推定表面
電位が目標値に等しくなった時の露光量及びディザパタ
ーンを任意の書込みレベルでの露光量及びディザパター
ンに決定する。
Such learned NN for surface potential estimation
In the electrophotographic process control device including 32, at the time of control, among the parameters that influence the latent image potential of the photoconductor 1 such as the output data of each sensor 28 sampled in time series and the charge amount, the exposure amount, and the dither pattern. By inputting one or more of the above to NN32 for surface potential estimation,
The surface potential of the photoreceptor 1 under that environment can be obtained. Then, the exposure amount and the dither pattern are mainly operated so that the estimated surface potential Vp (t), which is the output of the surface potential estimation NN32, becomes the target value (only the data at the time t), and the estimated surface potential becomes the target value. The exposure amount and dither pattern when they are equal are determined as the exposure amount and dither pattern at an arbitrary writing level.

【0042】従って、本実施例の場合のパラメータ操作
部27は表面電位推定用NN32の出力と目標値とが一
致するように、帯電量や露光量やディザパターンといっ
たパラメータを操作するものである。ここに、本実施例
でも、感光体1の表面電位を目標値に合わせるものであ
り、理想の潜像電位を得るために各書込みレベルに対し
て表面電位の目標が決定される。そして、表面電位推定
用NN32の出力である推定表面電位がその目標値に一
致するように露光量及びディザパターンを操作する。ま
た、推定表面電位が目標値に一致した時の露光量及びデ
ィザパターンをその書込みレベルに対する露光量及びデ
ィザパターンに決定する。
Therefore, the parameter operating unit 27 in the case of the present embodiment operates the parameters such as the charge amount, the exposure amount and the dither pattern so that the output of the surface potential estimating NN 32 and the target value match. Here, also in this embodiment, the surface potential of the photoconductor 1 is adjusted to the target value, and the target of the surface potential is determined for each writing level in order to obtain the ideal latent image potential. Then, the exposure amount and the dither pattern are manipulated so that the estimated surface potential, which is the output of the surface potential estimating NN 32, matches the target value. Further, the exposure amount and dither pattern when the estimated surface potential matches the target value are determined as the exposure amount and dither pattern for the writing level.

【0043】このように、本実施例によれば、前記第三
の実施例に加え、表面電位推定用NN32がディザパタ
ーンも考慮しているため、階調性が重要となるカラー電
子写真プロセスをとるものに効果的となる。
As described above, according to this embodiment, in addition to the third embodiment, since the surface potential estimating NN32 also considers the dither pattern, the color electrophotographic process in which gradation is important is performed. It will be effective for what you take.

【0044】次いで、本発明の第五の実施例を図14及
び図15により説明する。本実施例は、請求項3記載の
発明に相当し、前記第三の実施例と同様に、時系列にサ
ンプリングされたデータを扱うとともに、これに加え
て、感光体1の表面電位の傾きγを考慮したものであ
る。図1を参照すれば、本実施例でも記憶装置30が付
加されているとともに、ニューラルネットワーク26に
代えて学習済みの表面電位推定用NN33を用いるよう
にしたものである。これに対応して、本実施例の記憶装
置30では表面電位データとしてその傾きγのデータを
記憶するものとされている。よって、主要部を書替える
と、図14に示すように構成される。ここに、表面電位
推定用NN33は時系列でサンプリングされたセンサ2
8の出力データ、帯電量及び露光量の複数の組合せで帯
電・露光された複数の感光体1の表面電位から得られる
傾きγ、及び前記パラメータの内の少なくとも一つを入
力とし、予め実験等に基づき得られた感光体1のパラメ
ータとこの感光体1の表面電位との関係を教師値とし
て、感光体1の潜像電位特性を学習済みのものである。
Next, a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. This embodiment corresponds to the invention described in claim 3, and handles the data sampled in time series in the same manner as the third embodiment, and in addition to this, in addition to this, the slope γ of the surface potential of the photosensitive member 1 Is taken into consideration. Referring to FIG. 1, a storage device 30 is also added in the present embodiment, and a learned surface potential estimating NN 33 is used instead of the neural network 26. In response to this, the storage device 30 of this embodiment is supposed to store the data of the inclination γ as the surface potential data. Therefore, when the main part is rewritten, the structure is as shown in FIG. Here, the surface potential estimation NN 33 is the sensor 2 sampled in time series.
8 is used as input, at least one of the output data, the inclination γ obtained from the surface potentials of the plurality of photoconductors 1 charged / exposed by a plurality of combinations of the charge amount and the exposure amount, and the above parameters is input. The latent image potential characteristic of the photoconductor 1 has been learned by using the relationship between the parameter of the photoconductor 1 obtained based on the above and the surface potential of the photoconductor 1 as a teacher value.

【0045】この表面電位推定用NN33の学習につい
て説明する。表面電位推定用NN33の学習データをと
る実験では、帯電量(帯電チャージャ電圧、帯電グリッ
ド電圧等)、露光量(露光ランプ等の露光用光源の駆動
電圧やパルス変調幅等)のパラメータや、環境条件(温
度,湿度等)、帯電電位の組合せを変更しながら、様々
な感度(総コピー枚数又は感光体回転時間が異なる)の
感光体1で電位測定用のパターンをとることにより、帯
電部、露光部の表面電位を(n+1)回分サンプリング
する(この場合、必ずしもコピー毎にサンプリングする
必要はなく、例えば、2枚以上コピーする毎に1回サン
プリングするようにしてもよい)。この電位測定用のパ
ターンは1つ以上の書込みレベルで潜像が書込まれてお
り、図11に示した場合と同様に、1つ以上の潜像電位
レベルが存在することになる。各書込みレベルは、レベ
ル毎に異なる露光量で成り立っている。表面電位推定用
NN33の入力層のニューロンには、1〜n回目の帯電
量Vg 、各書込みレベルでの露光量(駆動電圧Ld ,パ
ルス変調幅Pwm)、電位測定用のパターンの電位の傾き
γ、環境条件(温度T,湿度H)、帯電電位Vd 、(n
+1)回目の帯電量、ある書込みレベルでの露光量,環
境条件,帯電電位の内の1つ又は複数を入力し、電位測
定用のパターンの中の入力層の(n+1)回目の書込み
レベルでの潜像電位を教師値として出力層のニューロン
に与えることで、誤差逆伝播法により学習する。つま
り、前述した第三の実施例の学習であれば、潜像電位測
定用のパターンの各レベルを1つ1つ入力しているが、
本実施例の学習によれば、パターンの電位の傾きγ(線
形近似、その他の方法で求めた傾きを代表するパラメー
タ)を入力とすることにより、入力データ数を減らすこ
とができる。
The learning of the surface potential estimating NN 33 will be described. In the experiment for acquiring the learning data of the surface potential estimation NN33, parameters such as charge amount (charge charger voltage, charge grid voltage, etc.), exposure amount (drive voltage of exposure light source such as exposure lamp, pulse modulation width, etc.), environment By changing the combination of conditions (temperature, humidity, etc.) and charging potential, the pattern of potential measurement is taken by the photoconductors 1 with various sensitivities (total number of copies or photoconductor rotation time is different). The surface potential of the exposure section is sampled (n + 1) times (in this case, it is not always necessary to sample every copy, and for example, it may be sampled once every two or more copies). In this potential measuring pattern, a latent image is written at one or more writing levels, and as in the case shown in FIG. 11, one or more latent image potential levels exist. Each writing level has a different exposure amount for each level. For the neurons in the input layer of the surface potential estimation NN33, the charge amount Vg at the first to nth times, the exposure amount at each writing level (driving voltage Ld, pulse modulation width Pwm), and the potential gradient γ of the potential measurement pattern. , Environmental conditions (temperature T, humidity H), charging potential Vd, (n
+1) Input one or more of the amount of charge, the amount of exposure at a certain writing level, environmental conditions, and the charging potential, and at the (n + 1) th writing level of the input layer in the potential measurement pattern. By applying the latent image potential of as a teacher value to the neurons in the output layer, learning is performed by the back propagation method. That is, in the case of the learning of the above-described third embodiment, each level of the latent image potential measurement pattern is input one by one,
According to the learning of the present embodiment, the number of input data can be reduced by inputting the gradient γ of the potential of the pattern (a parameter representing the gradient obtained by the linear approximation or other method).

【0046】このような学習済みの表面電位推定用NN
33を含む電子写真プロセス制御装置において、制御時
には、時系列でサンプリングされた各センサ28の出力
データ及び帯電量,露光量などの感光体1の潜像電位に
影響を及ぼすパラメータの内の1つ又は複数を表面電位
推定用NN33の入力とすることで、その環境下での感
光体1の表面電位が得られる。そして、表面電位推定用
NN33の出力である推定表面電位Vp(t)が目標値にな
るように主に露光量を操作し(時間tにおけるデータの
み)、推定表面電位が目標値に等しくなった時の露光量
を任意の書込みレベルでの露光量に決定する。
Such learned NN for estimating the surface potential
In the electrophotographic process control device including 33, one of the output data of each sensor 28 sampled in time series and the parameters that affect the latent image potential of the photoconductor 1 such as the charge amount and the exposure amount at the time of control. Alternatively, by inputting a plurality of NNs 33 for estimating the surface potential, the surface potential of the photoconductor 1 under the environment can be obtained. Then, the exposure amount is mainly manipulated so that the estimated surface potential Vp (t), which is the output of the surface potential estimation NN33, becomes the target value (only the data at time t), and the estimated surface potential becomes equal to the target value. The exposure amount at that time is determined as the exposure amount at an arbitrary writing level.

【0047】このような本実施例によれば、第三の実施
例と同様に、過去の潜像電位パターンの潜像電位から感
光体1の感度を推定し、次の潜像電位を推定するので、
より精度の高い推定が可能で、長期的・短期的な感光体
疲労の何れをも検知し得る上に、特に、1つ1つの潜像
電位でなく、潜像電位の傾きγを入力として学習するの
で、入力数を減らすこともできる。
According to the present embodiment as described above, similarly to the third embodiment, the sensitivity of the photoconductor 1 is estimated from the latent image potential of the latent image potential pattern in the past, and the next latent image potential is estimated. So
Highly accurate estimation is possible, both long-term and short-term photoconductor fatigue can be detected, and in particular, the latent image potential gradient γ is learned as an input instead of the latent image potential. Therefore, the number of inputs can be reduced.

【0048】つづいて、本発明の第六の実施例を図16
及び図17により説明する。本実施例は、請求項3記載
の発明に基づく請求項8記載の発明に相当し、基本的に
は、前記第五の実施例と殆ど同様であるが、第二,四の
実施例の場合と同様に、感光体1の表面電位に影響を及
ぼすパラメータとして、帯電量や露光量の他に、少なく
ともディザパターンを含み、傾きγを得るための複数の
組合せ中にも帯電量、露光量の他に、ディザパターンを
含むようにしたものである。従って、表面電位推定用N
N33に代る本実施例の表面電位推定用NN34は、デ
ィザパターンDthを含んで学習したものが用いられてい
る。これに対応して、記憶装置30も過去n回分のディ
ザパターンを記憶するものとされている。
Next, a sixth embodiment of the present invention is shown in FIG.
17 and FIG. This embodiment corresponds to the invention according to claim 8 based on the invention according to claim 3, and is basically similar to the fifth embodiment, but in the case of the second and fourth embodiments. Similarly to, as parameters that affect the surface potential of the photoconductor 1, in addition to the charge amount and the exposure amount, at least the dither pattern is included, and the charge amount and the exposure amount are also included in a plurality of combinations for obtaining the inclination γ. In addition, a dither pattern is included. Therefore, N for surface potential estimation
As the surface potential estimation NN34 of this embodiment instead of N33, a learned one including the dither pattern Dth is used. In response to this, the storage device 30 is also supposed to store the past n dither patterns.

【0049】この表面電位推定用NN34の学習につい
て説明する。この学習は、前記実施例の表面電位推定用
NN33の学習と殆ど同じであるが、ディザパターンを
含む点で異なる。表面電位推定用NN34の学習データ
をとる実験では、帯電量、露光量、ディザパターン(デ
ィザパターンは各々のパターンに番号を付ける)等のパ
ラメータや、環境条件、帯電電位の組合せを変更しなが
ら、様々な感度の感光体1で電位測定用のパターンをと
ることにより、帯電部、露光部の表面電位を(n+1)
回分サンプリングする。この電位測定用のパターンは2
つ以上の書込みレベルで潜像が書込まれており、図11
に示した場合と同様に、2つ以上の潜像電位レベルが存
在することになる。各書込みレベルは、レベル毎に異な
る露光量とディザパターンとの組合せで成り立ってい
る。表面電位推定用NN34の入力層のニューロンに
は、1〜n回目の帯電量Vg 、各書込みレベルでの露光
量及びディザパターン,電位測定用のパターンの電位の
傾きγ、環境条件、帯電電位、(n+1)回目の帯電
量、ある書込みレベルでの露光量及びディザパターン,
環境条件,帯電電位の内の1つ又は複数を入力し、電位
測定用のパターンの中の入力層の(n+1)回目の書込
みレベルでの潜像電位を教師値として出力層のニューロ
ンに与えることで、誤差逆伝播法により学習する。つま
り、前記実施例の学習と同様に、過去n回分の潜像電位
パターンの電位から、感光体1の潜像電位特性を推定す
るようにしたものである。
The learning of the surface potential estimating NN 34 will be described. This learning is almost the same as the learning of the surface potential estimating NN 33 of the above-mentioned embodiment, but is different in that the dither pattern is included. In the experiment for acquiring the learning data of the surface potential estimation NN34, while changing the parameters such as the charge amount, the exposure amount, the dither pattern (the dither patterns number each pattern), the environmental conditions, and the charge potential, By taking a pattern for potential measurement with the photoconductor 1 having various sensitivities, the surface potentials of the charging part and the exposing part are (n + 1).
Sample once. This potential measurement pattern is 2
The latent image is written at three or more writing levels.
As in the case shown in, there will be more than one latent image potential level. Each writing level is made up of a combination of an exposure amount and a dither pattern which are different for each level. For the neurons in the input layer of the surface potential estimation NN34, the charge amount Vg at the 1st to nth times, the exposure amount and dither pattern at each writing level, the potential gradient γ of the potential measurement pattern, the environmental conditions, the charging potential, (N + 1) th charge amount, exposure amount and dither pattern at a certain writing level,
Inputting one or more of environmental conditions and electrostatic potentials, and applying the latent image potential at the (n + 1) th writing level of the input layer in the pattern for potential measurement as a teacher value to the neuron in the output layer. Then, the error back propagation method is used for learning. That is, similar to the learning of the above-described embodiment, the latent image potential characteristic of the photoconductor 1 is estimated from the potentials of the latent image potential patterns of the past n times.

【0050】このような学習済みの表面電位推定用NN
34を含む電子写真プロセス制御装置において、制御時
には、時系列でサンプリングされた各センサ28の出力
データ及び帯電量,露光量,ディザパターンなどの感光
体1の潜像電位に影響を及ぼすパラメータの内の1つ又
は複数を表面電位推定用NN34の入力とすることで、
その環境下での感光体1の表面電位が得られる。そし
て、表面電位推定用NN34の出力である推定表面電位
Vp(t)が目標値になるように主に露光量及びディザパタ
ーンを操作し、推定表面電位が目標値に等しくなった時
の露光量及びディザパターンを任意の書込みレベルでの
露光量及びディザパターンに決定する。
Such learned NN for surface potential estimation
In the electrophotographic process control apparatus including 34, during control, among the output data of each sensor 28 sampled in time series and the parameters that affect the latent image potential of the photoconductor 1 such as the charge amount, the exposure amount, and the dither pattern. By inputting one or more of the above to the surface potential estimation NN34,
The surface potential of the photoreceptor 1 under that environment can be obtained. Then, the exposure amount and the dither pattern are mainly operated so that the estimated surface potential Vp (t), which is the output of the surface potential estimation NN34, becomes the target value, and the exposure amount when the estimated surface potential becomes equal to the target value. And the dither pattern is determined as the exposure amount and the dither pattern at an arbitrary writing level.

【0051】従って、本実施例の場合のパラメータ操作
部27は表面電位推定用NN34の出力と目標値とが一
致するように、帯電量や露光量やディザパターンといっ
たパラメータを操作するものである。ここに、本実施例
でも、感光体1の表面電位を目標値に合わせるものであ
り、理想の潜像電位を得るために各書込みレベルに対し
て表面電位の目標が決定される。そして、表面電位推定
用NN34の出力である推定表面電位がその目標値に一
致するように露光量及びディザパターンを操作する(時
間tにおけるデータのみ)。また、推定表面電位が目標
値に一致した時の露光量及びディザパターンをその書込
みレベルに対する露光量及びディザパターンに決定す
る。
Therefore, the parameter operating unit 27 in the present embodiment operates parameters such as the charge amount, the exposure amount and the dither pattern so that the output of the surface potential estimating NN 34 and the target value match. Here, also in this embodiment, the surface potential of the photoconductor 1 is adjusted to the target value, and the target of the surface potential is determined for each writing level in order to obtain the ideal latent image potential. Then, the exposure amount and the dither pattern are manipulated so that the estimated surface potential which is the output of the surface potential estimation NN34 matches the target value (only the data at time t). Further, the exposure amount and dither pattern when the estimated surface potential matches the target value are determined as the exposure amount and dither pattern for the writing level.

【0052】このように、本実施例によれば、前記第五
の実施例に加え、表面電位推定用NN34がディザパタ
ーンも考慮しているため、階調性が重要となるカラー電
子写真プロセスをとるものに効果的となる。
As described above, according to this embodiment, in addition to the fifth embodiment, since the surface potential estimating NN34 also considers the dither pattern, the color electrophotographic process in which gradation is important is performed. It will be effective for what you take.

【0053】次いで、本発明の第七の実施例を図18に
より説明する。本実施例は、請求項4記載の発明に相当
し、潜像電位(表面電位)を推定する前述した各実施例
の場合と異なり、本実施例では表面電位の傾きγを推定
するニューラルネットワーク35を感光体表面電位γ推
定手段として用いるようにしたものである。これは、例
えばカラー電子写真プロセスなどで1つ1つの電位を制
御するよりも、低濃度部に対応する電位から高濃度部に
対応する複数の電位の傾きγを制御するほうが有効な場
合がある点に注目したものである。このような場合であ
れば、1つ1つの電位を推定するより、帯電量と露光量
との複数の組合せにより得られる潜像電位の傾きγを推
定したほうが時間を短縮し得ると考えられる。特に、カ
ラー電子写真プロセスのように高階調で制御すべき電位
が多いときには制御時間を短縮する上でも有効となる。
Next, a seventh embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment corresponds to the invention described in claim 4 and is different from each of the above-described embodiments for estimating the latent image potential (surface potential), and in this embodiment, the neural network 35 for estimating the slope γ of the surface potential. Is used as a means for estimating the photoreceptor surface potential γ. For this reason, it may be more effective to control the slopes γ of a plurality of potentials corresponding to the low-density portion from the potential corresponding to the low-density portion, rather than controlling the individual potentials in a color electrophotographic process or the like. It focuses on the points. In such a case, it is considered that the time can be shortened by estimating the inclination γ of the latent image potential obtained by a plurality of combinations of the charge amount and the exposure amount, rather than estimating each potential. In particular, it is effective in shortening the control time when there are many potentials to be controlled in high gradation such as a color electrophotographic process.

【0054】このような点に着目した本実施例は、図1
を参照すれば、ニューラルネットワーク26に代えて学
習済みのニューラルネットワーク35を用いるようにし
たものである。ここに、ニューラルネットワーク35
は、このセンサ28の出力データ、帯電チャージャ電
圧,帯電グリッド電圧等の帯電量、及び、露光用光源の
駆動電圧,パルス変調幅等の露光量等の感光体1の表面
電位に影響を及ぼすパラメータの内の少なくとも一つを
入力とし、予め実験等に基づき得られた感光体1のパラ
メータとこの感光体1の表面電位の傾きγとの関係を教
師値として、感光体1の潜像電位特性を学習済みとした
ものである。
This embodiment, which pays attention to such a point, is shown in FIG.
Referring to, the learned neural network 35 is used in place of the neural network 26. Here, the neural network 35
Is a parameter that affects the surface potential of the photoconductor 1 such as the output data of the sensor 28, the charge amount such as the charging charger voltage and the charging grid voltage, and the exposure voltage such as the driving voltage of the exposure light source and the pulse modulation width. The latent image potential characteristic of the photoconductor 1 is set by using at least one of Is already learned.

【0055】このニューラルネットワーク35の学習に
ついて説明する。ニューラルネットワーク35の学習デ
ータをとる実験では、帯電量(帯電チャージャ電圧,帯
電グリッド電圧等)、露光量(露光ランプ等の露光用光
源の駆動電圧やパルス変調幅等)のパラメータや、環境
条件(温度,湿度等)、帯電電位の組合せを変更しなが
ら、様々な感度(総コピー枚数又は感光体回転時間が異
なる)の感光体1で電位測定用のパターンをとることに
より、帯電部、露光部の表面電位を(n+1)回分サン
プリングする(この場合、必ずしもコピー毎にサンプリ
ングする必要はなく、例えば、2枚以上コピーする毎に
1回サンプリングするようにしてもよい)。この電位測
定用のパターンは2つ以上の書込みレベルで潜像が書込
まれており、図11に示した場合と同様に、2つ以上の
潜像電位レベルが存在することになる。各書込みレベル
は、レベル毎に異なる露光量で成り立っている。ニュー
ラルネットワーク35の入力層のニューロンには、帯電
量Vg ,各書込みレベルでの露光量(駆動電圧Ld ,パ
ルス変調幅Pwm),環境条件(温度T,湿度H),帯電
電位Vd 、感光体疲労度(総コピー枚数、感光体総回転
時間などに基づき得られた値)、環境条件の内の1つ又
は複数を入力し、潜像電位の傾きγ(線形近似、その他
の方法で求めた傾きを代表するパラメータ)を教師値と
して出力層のニューロンに与えることで、誤差逆伝播法
により学習する。つまり、前述した第一の実施例のニュ
ーラルネットワーク26の場合のように、潜像電位を1
つ1つ推定するのではなく、潜像電位の傾きγを一度に
推定するようにしたものである。
The learning of the neural network 35 will be described. In an experiment in which the learning data of the neural network 35 is taken, parameters such as charge amount (charge charger voltage, charge grid voltage, etc.), exposure amount (driving voltage of exposure light source such as an exposure lamp, pulse modulation width, etc.) and environmental conditions ( By changing the combination of temperature, humidity, etc.) and charging potential, by taking a pattern for potential measurement with the photoconductor 1 of various sensitivities (total number of copies or photoconductor rotation time is different), the charging unit, the exposure unit (N + 1) times the surface potential is sampled (in this case, it is not always necessary to sample each copy, and for example, it may be sampled once every two or more copies). In this potential measurement pattern, latent images are written at two or more writing levels, and as in the case shown in FIG. 11, there are two or more latent image potential levels. Each writing level has a different exposure amount for each level. In the neurons of the input layer of the neural network 35, the charge amount Vg, the exposure amount at each writing level (driving voltage Ld, pulse modulation width Pwm), environmental conditions (temperature T, humidity H), charging potential Vd, photoconductor fatigue Degree (a value obtained based on the total number of copies, the total rotation time of the photoconductor, etc.) and one or more of the environmental conditions, and the gradient γ of latent image potential (the gradient obtained by linear approximation or other method). , Which is a representative parameter of (), is given to the neurons in the output layer as a teacher value to learn by the error back-propagation method. That is, the latent image potential is set to 1 as in the case of the neural network 26 of the first embodiment described above.
Instead of estimating one by one, the inclination γ of the latent image potential is estimated at one time.

【0056】このような学習済みのニューラルネットワ
ーク35を含む電子写真プロセス制御装置において、制
御時には、各センサ28の出力データ及び帯電量,露光
量などの感光体1の潜像電位に影響を及ぼすパラメータ
の組合せの内の1つ又は複数をニューラルネットワーク
35の入力とし、その環境下での入力の露光量の複数の
組合せにより生ずる感光体1の表面電位の傾きγが得ら
れる。そして、ニューラルネットワーク35の出力であ
る推定表面電位の傾きγが目標値になるように主に露光
量を操作し、推定表面電位の傾きγが目標値に等しくな
った時の露光量の組合せを各書込みレベルでの露光量に
決定する。
In the electrophotographic process control device including the learned neural network 35, the output data of each sensor 28 and the parameters that affect the latent image potential of the photoconductor 1 such as the charge amount and the exposure amount are controlled at the time of control. One or more of the above combinations are input to the neural network 35, and the slope γ of the surface potential of the photoconductor 1 generated by the plurality of combinations of the input exposure amounts under the environment is obtained. Then, the exposure amount is mainly manipulated so that the gradient γ of the estimated surface potential, which is the output of the neural network 35, becomes the target value, and the combination of the exposure amounts when the gradient γ of the estimated surface potential becomes equal to the target value is obtained. The exposure amount at each writing level is determined.

【0057】従って、本実施例の場合のパラメータ操作
部27はニューラルネットワーク35の出力と目標値と
が一致するように、帯電量や露光量やディザパターンと
いったパラメータを操作するものである。ここに、本実
施例では、感光体1の表面電位の傾きγを目標値に合わ
せるものであり、ニューラルネットワーク35の出力で
ある推定表面電位の傾きγがその目標値に一致するよう
に複数の書込みレベルに対する露光量を操作する。そし
て、推定表面電位の傾きγが目標値に一致した時の各露
光量を各書込みレベルに対する露光量に決定する。
Therefore, the parameter operating unit 27 in the present embodiment operates parameters such as the charge amount, the exposure amount, and the dither pattern so that the output of the neural network 35 and the target value match. Here, in the present embodiment, the slope γ of the surface potential of the photoconductor 1 is adjusted to the target value, and there are a plurality of values so that the slope γ of the estimated surface potential output from the neural network 35 matches the target value. Manipulate the exposure amount for the writing level. Then, each exposure amount when the slope γ of the estimated surface potential matches the target value is determined as the exposure amount for each writing level.

【0058】このような本実施例によれば、1つ1つの
潜像電位でなく、複数の電位より求めた潜像電位の傾き
γを推定するので、1つ1つの潜像電位を推定して制御
するよりも制御の時間を短縮し得る。
According to this embodiment, since the latent image potential gradient γ obtained from a plurality of potentials is estimated instead of each latent image potential, each latent image potential is estimated. The control time can be shortened as compared with the above-mentioned control.

【0059】つづいて、本発明の第八の実施例を図19
により説明する。本実施例は、請求項4記載の発明に基
づく請求項7記載の発明に相当し、基本的には、前記第
七の実施例と殆ど同様であるが、第二,四の実施例の場
合と同様に、感光体1の表面電位に影響を及ぼすパラメ
ータとして、帯電量や露光量の他に、少なくともディザ
パターンを含むようにしたものである。従って、ニュー
ラルネットワーク35に代る本実施例のニューラルネッ
トワーク36は、ディザパターンDthを含んで学習した
ものが用いられている。
Next, the eighth embodiment of the present invention is shown in FIG.
Will be described. This embodiment corresponds to the invention according to claim 7 based on the invention according to claim 4, and is basically similar to the seventh embodiment, but in the case of the second and fourth embodiments. Similarly to, in addition to the charge amount and the exposure amount, at least a dither pattern is included as a parameter that affects the surface potential of the photoconductor 1. Therefore, as the neural network 36 of the present embodiment, which replaces the neural network 35, the one learned by including the dither pattern Dth is used.

【0060】このニューラルネットワーク36の学習に
ついて説明する。この学習は、前記実施例のニューラル
ネットワーク35の学習と殆ど同じであるが、ディザパ
ターンを含む点で異なる。ニューラルネットワーク36
の学習データをとる実験では、帯電量、露光量、ディザ
パターン(ディザパターンは各々のパターンに番号を付
ける)等のパラメータや、環境条件、帯電電位の組合せ
を変更しながら、様々な感度の感光体1で電位測定用の
パターンをとることにより、帯電部、露光部の表面電位
を(n+1)回分サンプリングする。この電位測定用の
パターンは2つ以上の書込みレベルで潜像が書込まれて
おり、図11に示した場合と同様に、2つ以上の潜像電
位レベルが存在することになる。各書込みレベルは、レ
ベル毎に異なる露光量とディザパターンとの組合せで成
り立っている。ニューラルネットワーク36の入力層の
ニューロンには、帯電量Vg ,各書込みレベルでの露光
量及びディザパターン,環境条件,帯電電位、感光体疲
労度の内の1つ又は複数を入力し、潜像電位の傾きγを
教師値として出力層のニューロンに与えることで、誤差
逆伝播法により学習する。
The learning of the neural network 36 will be described. This learning is almost the same as the learning of the neural network 35 of the above-mentioned embodiment, but is different in that the dither pattern is included. Neural network 36
In the experiment of learning data, the exposure amount of various sensitivities was changed while changing the parameters such as charge amount, exposure amount, dither pattern (dither patterns are numbered for each pattern), environmental conditions, and charging potential. By taking a pattern for potential measurement on the body 1, the surface potentials of the charging part and the exposing part are sampled (n + 1) times. In this potential measurement pattern, latent images are written at two or more writing levels, and as in the case shown in FIG. 11, there are two or more latent image potential levels. Each writing level is made up of a combination of an exposure amount and a dither pattern which are different for each level. To the neurons of the input layer of the neural network 36, one or more of the charge amount Vg, the exposure amount and dither pattern at each writing level, the environmental condition, the charge potential, and the photoconductor fatigue level are input to input the latent image potential. The learning is performed by the error back-propagation method by giving the gradient γ of γ to the neuron in the output layer as a teacher value.

【0061】このような学習済みのニューラルネットワ
ーク36を含む電子写真プロセス制御装置において、制
御時には、各センサ28の出力データ及び帯電量,露光
量,ディザパターンなどの感光体1の潜像電位に影響を
及ぼすパラメータの組合せの内の1つ又は複数をニュー
ラルネットワーク36の入力とし、その環境下での入力
の露光量とディザパターンとの複数の組合せにより生ず
る感光体1の表面電位の傾きγが得られる。そして、ニ
ューラルネットワーク36の出力である推定表面電位の
傾きγが目標値になるように主に露光量及びディザパタ
ーンを操作し、推定表面電位の傾きγが目標値に等しく
なった時の露光量及びディザパターンの組合せを各書込
みレベルでの露光量及びディザパターンに決定する。
In the electrophotographic process control device including the learned neural network 36, the output data of each sensor 28 and the latent image potential of the photoconductor 1 such as the charge amount, the exposure amount and the dither pattern are influenced at the time of control. One or more of the combinations of the parameters that give the input to the neural network 36 are input, and the slope γ of the surface potential of the photoconductor 1 caused by the plurality of combinations of the input exposure amount and the dither pattern under the environment is obtained. To be Then, the exposure amount and the dither pattern are mainly manipulated so that the gradient γ of the estimated surface potential, which is the output of the neural network 36, becomes the target value, and the exposure amount when the gradient γ of the estimated surface potential becomes equal to the target value. And the dither pattern combination is determined as the exposure amount and the dither pattern at each writing level.

【0062】従って、本実施例の場合のパラメータ操作
部27はニューラルネットワーク36の出力と目標値と
が一致するように、帯電量や露光量やディザパターンと
いったパラメータを操作するものである。ここに、本実
施例では、前記実施例と同じく、感光体1の表面電位の
傾きを目標値に合わせるものであり、ニューラルネット
ワーク36の出力である推定表面電位の傾きγがその目
標値に一致するように複数の書込みレベルに対する露光
量及びディザパターンを操作する。そして、推定表面電
位の傾きγが目標値に一致した時の各露光量とディザパ
ターンとの組合せを各書込みレベルに対する露光量とデ
ィザパターンとの組合せとして決定する。
Therefore, the parameter operating unit 27 in this embodiment operates parameters such as the charge amount, the exposure amount, and the dither pattern so that the output of the neural network 36 and the target value match. Here, in the present embodiment, the inclination of the surface potential of the photoconductor 1 is adjusted to the target value, as in the previous embodiments, and the inclination γ of the estimated surface potential output from the neural network 36 matches the target value. The exposure amount and the dither pattern for a plurality of writing levels are manipulated as described above. Then, a combination of each exposure amount and the dither pattern when the estimated surface potential gradient γ matches the target value is determined as a combination of the exposure amount and the dither pattern for each writing level.

【0063】このように、本実施例によれば、前記第七
の実施例に加え、ニューラルネットワーク36がディザ
パターンも考慮しているため、階調性が重要となるカラ
ー電子写真プロセスをとるものに、効果的となる。
As described above, according to this embodiment, in addition to the seventh embodiment, since the neural network 36 also considers the dither pattern, the color electrophotographic process in which gradation is important is adopted. It will be effective.

【0064】次に、本発明の第九の実施例を図20及び
図21により説明する。本実施例は、請求項5記載の発
明に相当する。本実施例の電子写真プロセス制御装置は
第七の実施例に時系列要素を取り入れたものであり、図
1を参照すると、記憶装置30が付加されているととも
に、ニューラルネットワーク26に代えて、ニューラル
ネットワーク(表面電位γ推定用NN)37を用いたも
のとして構成されている。よって、主要部を書替える
と、図20に示すように構成される。ここに、表面電位
γ推定用NN37はセンサ28の出力データを時系列に
サンプリングしたデータを入力とし、予め実験等により
得られた感光体1の潜像電位を教師値として感光体1の
潜像電位特性を後述するように予め学習したものであ
る。
Next, a ninth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The present embodiment corresponds to the invention described in claim 5. The electrophotographic process control apparatus of the present embodiment is one in which time-series elements are incorporated in the seventh embodiment. Referring to FIG. 1, a memory device 30 is added and a neural network 26 is replaced with a neural network. The network (NN for estimating surface potential γ) 37 is used. Therefore, when the main part is rewritten, the structure is as shown in FIG. The surface potential γ estimation NN 37 receives as input the data obtained by sampling the output data of the sensor 28 in time series, and uses the latent image potential of the photoconductor 1 previously obtained by an experiment or the like as a teacher value for the latent image of the photoconductor 1. The potential characteristic is previously learned as described later.

【0065】この表面電位γ推定用NN37の学習につ
いて説明する。表面電位γ推定用NN37の学習データ
をとる実験では、帯電量(帯電チャージャ電圧,帯電グ
リッド電圧等)、露光量(露光ランプ等の露光用光源の
駆動電圧やパルス変調幅等)のパラメータや、環境条件
(温度,湿度等)、帯電電位の組合せを変更しながら、
様々な感度(総コピー枚数又は感光体回転時間が異な
る)の感光体1で電位測定用のパターンをとることによ
り、帯電部、露光部の表面電位を(n+1)回分サンプ
リングする(この場合、必ずしもコピー毎にサンプリン
グする必要はなく、例えば、2枚以上コピーする毎に1
回サンプリングするようにしてもよい)。この電位測定
用のパターンは2つ以上の書込みレベルで潜像が書込ま
れており、図11に示した場合と同様に、2つ以上の潜
像電位レベルが存在することになる。各書込みレベル
は、レベル毎に異なる露光量で成り立っている。表面電
位γ推定用NN37の入力層のニューロンには、1〜n
回目の帯電量Vg ,各書込みレベルでの露光量(駆動電
圧Ld ,パルス変調幅Pwm),各書込みレベルでの潜像
電位,環境条件(温度T,湿度H),帯電電位Vd 、
(n+1)回目の帯電量、ある書込みレベルでの露光
量,環境条件,帯電電位の内の1つ又は複数を入力し、
入力層の(n+1)回目の書込みレベルでの潜像電位の
傾きγ(線形近似、その他の方法で求めた傾きを代表す
るパラメータ)を教師値として出力層のニューロンに与
えることで、誤差逆伝播法により学習する。つまり、前
述した第七の実施例の学習と異なり、過去n回分の潜像
電位パターンの電位から、感光体1の潜像電位特性を推
定するようにしたものである。また、第三の実施例との
対比では、潜像電位を1つ1つ推定するのではなく、潜
像電位の傾きγを一度に推定するようにしたものであ
る。
The learning of the surface potential γ estimation NN 37 will be described. In the experiment for acquiring the learning data of the surface potential γ estimation NN37, parameters such as the charge amount (charge charger voltage, charge grid voltage, etc.), exposure amount (driving voltage of the exposure light source such as an exposure lamp, pulse modulation width, etc.) While changing the combination of environmental conditions (temperature, humidity, etc.) and charging potential,
The surface potentials of the charging part and the exposing part are sampled (n + 1) times by taking a pattern for potential measurement with the photoconductors 1 of various sensitivities (total number of copies or different photoconductor rotation time) (in this case, not necessarily It is not necessary to sample every copy, for example, 1 for every two or more copies.
It may be possible to sample twice). In this potential measurement pattern, latent images are written at two or more writing levels, and as in the case shown in FIG. 11, there are two or more latent image potential levels. Each writing level has a different exposure amount for each level. The neurons in the input layer of the NN37 for surface potential γ estimation have 1 to n
Charge amount Vg at the first time, exposure amount at each writing level (driving voltage Ld, pulse modulation width Pwm), latent image potential at each writing level, environmental conditions (temperature T, humidity H), charging potential Vd,
Input one or more of the (n + 1) th charge amount, the exposure amount at a certain writing level, the environmental condition, and the charge potential,
Error backpropagation is performed by giving a gradient γ (a parameter representing the gradient obtained by a linear approximation or other method) of the latent image potential at the (n + 1) th writing level of the input layer to the neuron of the output layer as a teacher value. Learn by law. That is, unlike the learning of the seventh embodiment described above, the latent image potential characteristic of the photoconductor 1 is estimated from the potentials of the latent image potential patterns of the past n times. Further, in comparison with the third embodiment, instead of estimating the latent image potentials one by one, the inclination γ of the latent image potential is estimated at one time.

【0066】また、本実施例の記憶装置30は第三の実
施例の場合と同じく、センサ28からの出力データ及び
帯電量や露光量等のパラメータを記憶しておくものであ
る。より詳細には、帯電チャージャ電圧,帯電グリッド
電圧等の帯電量、及び、露光用光源の駆動電圧,パルス
変調幅等の露光量等の感光体1の表面電位に影響を及ぼ
すパラメータの複数の組合せで帯電・露光された複数の
感光体1の表面電位を測定した時のセンサ28の出力デ
ータ、帯電量及び露光量等のパラメータをt−n〜t−
1,tで示すような時系列でサンプリングした(n+
1)回分のデータを記憶しておくものである。
The storage device 30 of this embodiment stores the output data from the sensor 28 and the parameters such as the charge amount and the exposure amount, as in the case of the third embodiment. More specifically, a plurality of combinations of parameters that affect the surface potential of the photoconductor 1 such as a charging amount such as a charging charger voltage and a charging grid voltage, and an exposure amount such as a driving voltage of an exposure light source and a pulse modulation width. The output data of the sensor 28 when measuring the surface potentials of the plurality of photoconductors 1 charged / exposed by, and parameters such as the charge amount and the exposure amount are tn to t-.
1, t are sampled in time series (n +
1) The data for one time is stored.

【0067】このような学習済みの表面電位γ推定用N
N37を含む電子写真プロセス制御装置において、制御
時には、時系列でサンプリングされた各センサ28の出
力データ及び帯電量,露光量などの感光体1の潜像電位
に影響を及ぼすパラメータの組合せの内の1つ又は複数
を表面電位γ推定用NN37の入力とすることで、その
環境下での感光体1の表面電位の傾きγが得られる。そ
して、表面電位γ推定用NN37の出力である推定表面
電位の傾きγが目標値になるように主に露光量を操作し
(時間tにおけるデータのみ)、推定表面電位の傾きγ
が目標値に等しくなった時の露光量の組合せを各書込み
レベルでの露光量に決定する。
Such learned N for surface potential γ estimation
In the electrophotographic process control apparatus including the N37, at the time of control, among the combination of the output data of each sensor 28 sampled in time series and the parameters that affect the latent image potential of the photoconductor 1 such as the charge amount and the exposure amount. By inputting one or more of them to the surface potential γ estimation NN 37, the slope γ of the surface potential of the photoconductor 1 under the environment can be obtained. Then, the exposure amount is mainly manipulated so that the slope γ of the estimated surface potential, which is the output of the surface potential γ estimation NN 37, reaches the target value (only the data at the time t), and the slope γ of the estimated surface potential.
Is determined as the exposure amount at each writing level.

【0068】本実施例においては、前述した第七の実施
例に加えて、過去の潜像電位パターンの電位から感光体
1の感度を推定し、次の潜像電位を推定しているので、
より精度よく推定し得るものとなる。また、過去から現
在に至るまでの感光体1の潜像電位特性の推移から次の
潜像電位を推定しているので、長期的な疲労はもちろ
ん、短期的な疲労についても検知し得るものとなる。
In this embodiment, in addition to the seventh embodiment described above, the sensitivity of the photosensitive member 1 is estimated from the potential of the latent image potential pattern in the past, and the next latent image potential is estimated.
It can be estimated more accurately. Further, since the next latent image potential is estimated from the transition of the latent image potential characteristics of the photoconductor 1 from the past to the present, not only long-term fatigue but also short-term fatigue can be detected. Become.

【0069】つづいて、本発明の第十の実施例を図22
及び図23により説明する。本実施例は、請求項5記載
の発明に基づく請求項7記載の発明に相当し、基本的に
は、前記第九の実施例と殆ど同様であるが、第二,四,
八の実施例の場合と同様に、感光体1の表面電位に影響
を及ぼすパラメータとして、帯電量や露光量の他に、少
なくともディザパターンを含むようにしたものである。
従って、表面電位γ推定用NN37に代る本実施例の表
面電位γ推定用NN38は、ディザパターンDthを含ん
で学習したものが用いられている。これに対応して、記
憶装置30も過去n回分のディザパターンを記憶するも
のとされている。
Next, a tenth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
And FIG. 23. This embodiment corresponds to the invention according to claim 7 based on the invention according to claim 5, and is basically similar to the ninth embodiment except that the second, fourth,
As in the case of the eighth embodiment, as a parameter affecting the surface potential of the photoconductor 1, at least a dither pattern is included in addition to the charge amount and the exposure amount.
Therefore, as the surface potential γ estimation NN38 of this embodiment, which is an alternative to the surface potential γ estimation NN37, a learned one including the dither pattern Dth is used. In response to this, the storage device 30 is also supposed to store the past n dither patterns.

【0070】この表面電位γ推定用NN38の学習につ
いて説明する。この学習は、前記実施例の表面電位γ推
定用NN37の学習と殆ど同じであるが、ディザパター
ンを含む点で異なる。表面電位γ推定用NN38の学習
データをとる実験では、帯電量、露光量、ディザパター
ン(ディザパターンは各々のパターンに番号を付ける)
等のパラメータや、環境条件、帯電電位の組合せを変更
しながら、様々な感度の感光体1で電位測定用のパター
ンをとることにより、帯電部、露光部の表面電位を(n
+1)回分サンプリングする。この電位測定用のパター
ンは2つ以上の書込みレベルで潜像が書込まれており、
図11に示した場合と同様に、2つ以上の潜像電位レベ
ルが存在することになる。各書込みレベルは、レベル毎
に異なる露光量とディザパターンとの組合せで成り立っ
ている。表面電位γ推定用NN38の入力層のニューロ
ンには、1〜n回目の帯電量Vg ,各書込みレベルでの
露光量及びディザパターン,電位測定用のパターンでの
電位の傾きγ,環境条件,帯電電位、(n+1)回目の
帯電量、各書込みレベルでの露光量及びディザパター
ン,環境条件,帯電電位の内の1つ又は複数を入力し、
入力層の(n+1)回目の潜像電位の傾きγを教師値と
して出力層のニューロンに与えることで、誤差逆伝播法
により学習する。つまり、前記第九の実施例の学習と同
様に、過去n回分の潜像電位パターンの電位から、感光
体1の潜像電位特性を推定するようにしたものである。
Learning of the surface potential γ estimating NN 38 will be described. This learning is almost the same as the learning of the surface potential γ estimation NN 37 of the above-mentioned embodiment, but is different in that it includes a dither pattern. In the experiment in which the learning data of the surface potential γ estimation NN38 is taken, the charge amount, the exposure amount, and the dither pattern (dither patterns are numbered for each pattern).
While changing the combination of parameters such as the above, environmental conditions, and the charging potential, the surface potentials of the charging portion and the exposing portion are set to (n
+1) Sampling is performed once. This potential measurement pattern has a latent image written at two or more writing levels.
As in the case shown in FIG. 11, there will be two or more latent image potential levels. Each writing level is made up of a combination of an exposure amount and a dither pattern which are different for each level. For the neurons in the input layer of the surface potential γ estimation NN38, the charge amount Vg at the first to nth times, the exposure amount and dither pattern at each writing level, the potential gradient γ in the potential measurement pattern, the environmental conditions, the charging Input one or more of potential, (n + 1) th charge amount, exposure amount and dither pattern at each writing level, environmental conditions, and charge potential,
The gradient γ of the (n + 1) th latent image potential of the input layer is given as a teacher value to the neuron of the output layer to learn by the error back propagation method. That is, similarly to the learning of the ninth embodiment, the latent image potential characteristic of the photoconductor 1 is estimated from the potentials of the latent image potential patterns of the past n times.

【0071】このような学習済みの表面電位γ推定用N
N38を含む電子写真プロセス制御装置において、制御
時には、時系列でサンプリングされた各センサ28の出
力データ及び帯電量,露光量,ディザパターンなどの感
光体1の潜像電位に影響を及ぼすパラメータの組合せの
内の1つ又は複数を表面電位γ推定用NN38の入力と
することで、その環境下での感光体1の表面電位の傾き
γが得られる。そして、表面電位γ推定用NN38の出
力である推定表面電位の傾きγが目標値になるように主
に露光量及びディザパターンを操作し(時間tにおける
データのみ)、推定表面電位の傾きγが目標値に等しく
なった時の露光量とディザパターンとの組合せを各書込
みレベルでの露光量とディザパターンとの組合せとして
決定する。
Such learned N for surface potential γ estimation
In the electrophotographic process control device including the N38, at the time of control, the output data of each sensor 28 sampled in time series and a combination of parameters such as a charge amount, an exposure amount, and a dither pattern that affect the latent image potential of the photoconductor 1 are combined. By inputting one or more of them to the surface potential γ estimation NN 38, the slope γ of the surface potential of the photoconductor 1 under the environment can be obtained. Then, the exposure amount and the dither pattern are mainly manipulated so that the slope γ of the estimated surface potential, which is the output of the surface potential γ estimation NN 38, becomes the target value (only the data at time t), and the slope γ of the estimated surface potential is The combination of the exposure amount and the dither pattern when it becomes equal to the target value is determined as the combination of the exposure amount and the dither pattern at each writing level.

【0072】従って、本実施例の場合のパラメータ操作
部27は表面電位γ推定用NN38の出力と目標値とが
一致するように、帯電量や露光量やディザパターンとい
ったパラメータを操作するものである。ここに、本実施
例でも、前記実施例と同じく、感光体1の表面電位の傾
きを目標値に合わせるものであり、表面電位γ推定用N
N38の出力である推定表面電位の傾きγがその目標値
に一致するように複数の書込みレベルに対する露光量及
びディザパターンを操作する。そして、推定表面電位の
傾きγが目標値に一致した時の各露光量とディザパター
ンとの組合せを各書込みレベルに対する露光量とディザ
パターンとの組合せとして決定する。
Therefore, the parameter operating unit 27 in this embodiment operates parameters such as the charge amount, the exposure amount, and the dither pattern so that the output of the NN 38 for estimating the surface potential γ and the target value match. . Here, also in the present embodiment, the inclination of the surface potential of the photoconductor 1 is adjusted to the target value, as in the above-described embodiment, and the surface potential γ estimation N
The exposure amount and the dither pattern for a plurality of writing levels are manipulated so that the slope γ of the estimated surface potential, which is the output of N38, matches the target value. Then, a combination of each exposure amount and the dither pattern when the estimated surface potential gradient γ matches the target value is determined as a combination of the exposure amount and the dither pattern for each writing level.

【0073】このように、本実施例によれば、前記第九
の実施例に加え、表面電位γ推定用NN38がディザパ
ターンも考慮しているため、階調性が重要となるカラー
電子写真プロセスをとるものに、効果的となる。
As described above, according to the present embodiment, in addition to the ninth embodiment, since the NN38 for estimating the surface potential γ also considers the dither pattern, the color electrophotographic process in which the gradation is important. It is effective for those that take.

【0074】次いで、本発明の第十一の実施例を図24
及び図25により説明する。本実施例は、請求項6記載
の発明に相当し、前記第九の実施例と同様に、時系列に
サンプリングされたデータを扱うとともに、これに加え
て、感光体1の表面電位の傾きγを考慮したものであ
る。図1を参照すれば、本実施例でも記憶装置30が付
加されているとともに、ニューラルネットワーク26に
代えて学習済みの表面電位γ推定用NN39を用いるよ
うにしたものである。これに対応して、本実施例の記憶
装置30では表面電位データとしてその傾きγのデータ
を記憶するものとされている。よって、主要部を書替え
ると、図24に示すように構成される。ここに、表面電
位γ推定用NN39は時系列でサンプリングされたセン
サ28の出力データ、帯電量及び露光量の複数の組合せ
で帯電・露光された複数の感光体1の表面電位から得ら
れる傾きγ、及び前記パラメータの内の少なくとも一つ
を入力とし、予め実験等に基づき得られた感光体1のパ
ラメータとこの感光体1の表面電位との関係を教師値と
して、感光体1の潜像電位特性を学習済みのものであ
る。
Next, an eleventh embodiment of the present invention is shown in FIG.
And FIG. 25. This embodiment corresponds to the invention described in claim 6, handles the data sampled in time series in the same manner as the ninth embodiment, and in addition to this, in addition to this, the slope γ of the surface potential of the photoconductor 1 Is taken into consideration. Referring to FIG. 1, in the present embodiment as well, a storage device 30 is added, and a learned surface potential γ estimation NN 39 is used instead of the neural network 26. In response to this, the storage device 30 of this embodiment is supposed to store the data of the inclination γ as the surface potential data. Therefore, when the main part is rewritten, the structure is as shown in FIG. Here, the surface potential γ estimation NN 39 is an inclination γ obtained from the surface potentials of the plurality of photoconductors 1 charged / exposed by a plurality of combinations of the output data of the sensor 28 sampled in time series, the charge amount and the exposure amount. , And at least one of the above-mentioned parameters as an input, and the latent image potential of the photoconductor 1 is set as a teacher value by using the relationship between the parameter of the photoconductor 1 and the surface potential of the photoconductor 1 obtained based on experiments in advance. The characteristics have already been learned.

【0075】この表面電位γ推定用NN39の学習につ
いて説明する。表面電位γ推定用NN39の学習データ
をとる実験では、帯電量(帯電チャージャ電圧,帯電グ
リッド電圧等)、露光量(露光ランプ等の露光用光源の
駆動電圧やパルス変調幅等)のパラメータや、環境条件
(温度,湿度等)、帯電電位の組合せを変更しながら、
様々な感度(総コピー枚数又は感光体回転時間が異な
る)の感光体1で電位測定用のパターンをとることによ
り、帯電部、露光部の表面電位を(n+1)回分サンプ
リングする(この場合、必ずしもコピー毎にサンプリン
グする必要はなく、例えば、2枚以上コピーする毎に1
回サンプリングするようにしてもよい)。この電位測定
用のパターンは2つ以上の書込みレベルで潜像が書込ま
れており、図11に示した場合と同様に、2つ以上の潜
像電位レベルが存在することになる。各書込みレベル
は、レベル毎に異なる露光量で成り立っている。表面電
位γ推定用NN39の入力層のニューロンには、1〜n
回目の帯電量Vg ,各書込みレベルでの露光量(駆動電
圧Ld ,パルス変調幅Pwm),電位測定用のパターンの
電位の傾きγ,環境条件(温度T,湿度H),帯電電位
Vd の内の1つ又は複数を入力し、入力層の(n+1)
回目の潜像電位の傾きγ(線形近似、その他の方法で求
めた傾きを代表するパラメータ)を教師値として出力層
のニューロンに与えることで、誤差逆伝播法により学習
する。つまり、前述した第九の実施例の学習であれば、
潜像電位測定用のパターンの各レベルを1つ1つ入力し
ているが、本実施例の学習によれば、パターンの電位の
傾きγを入力とすることにより、入力データ数を減らす
ことができる。
The learning of the surface potential γ estimating NN 39 will be described. In an experiment in which the learning data of the surface potential γ estimation NN39 is taken, parameters such as the charge amount (charge charger voltage, charge grid voltage, etc.), the exposure amount (driving voltage of the exposure light source such as the exposure lamp, the pulse modulation width, etc.), While changing the combination of environmental conditions (temperature, humidity, etc.) and charging potential,
The surface potentials of the charging part and the exposing part are sampled (n + 1) times by taking a pattern for potential measurement with the photoconductors 1 of various sensitivities (total number of copies or different photoconductor rotation time) (in this case, not necessarily It is not necessary to sample every copy, for example, 1 for every two or more copies.
It may be possible to sample twice). In this potential measurement pattern, latent images are written at two or more writing levels, and as in the case shown in FIG. 11, there are two or more latent image potential levels. Each writing level has a different exposure amount for each level. The neurons in the input layer of the NN39 for surface potential γ estimation have 1 to n
Of the charge amount Vg at the first time, the exposure amount at each writing level (driving voltage Ld, pulse modulation width Pwm), the potential gradient γ of the potential measurement pattern, the environmental conditions (temperature T, humidity H), and the charging potential Vd. Input one or more of (n + 1) in the input layer
Learning by the error back-propagation method is performed by giving a gradient γ (a parameter representing the gradient obtained by a linear approximation or other method) of the latent image potential to the neurons in the output layer as a teacher value. That is, if the learning of the ninth embodiment described above,
Although each level of the latent image potential measurement pattern is input one by one, according to the learning of the present embodiment, the number of input data can be reduced by inputting the potential gradient γ of the pattern. it can.

【0076】このような学習済みの表面電位γ推定用N
N39を含む電子写真プロセス制御装置において、制御
時には、時系列でサンプリングされた各センサ28の出
力データ及び帯電量,露光量などの感光体1の潜像電位
に影響を及ぼすパラメータの複数の組合せの内の1つ又
は複数を表面電位γ推定用NN39の入力とすること
で、その環境下での感光体1の表面電位の傾きγが得ら
れる。そして、表面電位γ推定用NN39の出力である
推定表面電位の傾きγが目標値になるように主に露光量
を操作し(時間tにおけるデータのみ)、推定表面電位
の傾きγが目標値に等しくなった時の露光量の組合せを
各書込みレベルでの露光量に決定する。
Such learned N for surface potential γ estimation
In the electrophotographic process control device including N39, at the time of control, a plurality of combinations of parameters that influence the latent image potential of the photoconductor 1 such as output data of each sensor 28 sampled in time series and charge amount and exposure amount are controlled. By inputting one or more of them to the NN39 for estimating the surface potential γ, the slope γ of the surface potential of the photoconductor 1 under the environment can be obtained. Then, the exposure amount is mainly manipulated so that the slope γ of the estimated surface potential, which is the output of the surface potential γ estimation NN 39, becomes the target value (only the data at the time t), and the slope γ of the estimated surface potential becomes the target value. The combination of the exposure amounts when they are equal is determined as the exposure amount at each writing level.

【0077】このような本実施例によれば、第九の実施
例と同様に、過去の潜像電位パターンの潜像電位から感
光体1の感度を推定し、次の潜像電位を推定するので、
より精度の高い推定が可能で、長期的・短期的な感光体
疲労の何れをも検知し得る上に、特に、1つ1つの潜像
電位でなく、潜像電位の傾きγを入力として学習するの
で、入力数を減らすこともできる。
According to the present embodiment as described above, similarly to the ninth embodiment, the sensitivity of the photoconductor 1 is estimated from the latent image potential of the latent image potential pattern in the past, and the next latent image potential is estimated. So
Highly accurate estimation is possible, both long-term and short-term photoconductor fatigue can be detected, and in particular, the latent image potential gradient γ is learned as an input instead of the latent image potential. Therefore, the number of inputs can be reduced.

【0078】つづいて、本発明の第十二の実施例を図2
6及び図27により説明する。本実施例は、請求項6記
載の発明に基づく請求項8記載の発明に相当し、基本的
には、前記第十一の実施例と殆ど同様であるが、第六の
実施例の場合と同様に、感光体1の表面電位に影響を及
ぼすパラメータとして、帯電量や露光量の他に、少なく
ともディザパターンを含み、かつ、傾きγを得るための
複数の組合せ中にも帯電量、露光量の他に、ディザパタ
ーンを含むようにしたものである。従って、表面電位γ
推定用NN39に代る本実施例の表面電位γ推定用NN
40は、ディザパターンDthを含んで学習したものが用
いられている。これに対応して、記憶装置30も過去n
回分のディザパターンを記憶するものとされている。
Next, a twelfth embodiment of the present invention is shown in FIG.
6 and FIG. 27. This embodiment corresponds to the invention according to claim 8 based on the invention according to claim 6, and is basically similar to the above eleventh embodiment, but is different from the case of the sixth embodiment. Similarly, as a parameter affecting the surface potential of the photoconductor 1, in addition to the charge amount and the exposure amount, at least a dither pattern is included, and the charge amount and the exposure amount are included in a plurality of combinations for obtaining the inclination γ. In addition to the above, a dither pattern is included. Therefore, the surface potential γ
NN for estimating the surface potential γ of the present embodiment instead of the NN39 for estimating
As for 40, what is learned by including the dither pattern Dth is used. Corresponding to this, the storage device 30 also has past n
It is supposed to store the dither pattern for each batch.

【0079】この表面電位γ推定用NN40の学習につ
いて説明する。この学習は、前記実施例の表面電位γ推
定用NN39の学習と殆ど同じであるが、ディザパター
ンを含む点で異なる。表面電位γ推定用NN40の学習
データをとる実験では、帯電量、露光量、ディザパター
ン(ディザパターンは各々のパターンに番号を付ける)
等のパラメータや、環境条件、帯電電位の組合せを変更
しながら、様々な感度の感光体1で電位測定用のパター
ンをとることにより、帯電部、露光部の表面電位を(n
+1)回分サンプリングする。この電位測定用のパター
ンは2つ以上の書込みレベルで潜像が書込まれており、
図11に示した場合と同様に、2つ以上の潜像電位レベ
ルが存在することになる。各書込みレベルは、レベル毎
に異なる露光量とディザパターンとの組合せで成り立っ
ている。表面電位γ推定用NN40の入力層のニューロ
ンには、1〜n回目の帯電量Vg ,各書込みレベルでの
露光量及びディザパターン,電位測定用のパターンの電
位の傾きγ、環境条件,帯電電位、(n+1)回目の帯
電量、各書込みレベルでの露光量及びディザパターン,
環境条件,帯電電位の内の1つ又は複数を入力し、入力
層の(n+1)回目の潜像電位の傾きγを教師値として
出力層のニューロンに与えることで、誤差逆伝播法によ
り学習する。
The learning of the surface potential γ estimation NN 40 will be described. This learning is almost the same as the learning of the surface potential γ estimation NN39 of the above-mentioned embodiment, but is different in that the dither pattern is included. In the experiment in which the learning data of the surface potential γ estimation NN40 is used, the charge amount, the exposure amount, and the dither pattern (dither patterns are numbered for each pattern).
While changing the combination of parameters such as the above, environmental conditions, and the charging potential, the surface potentials of the charging portion and the exposing portion are set to (n
+1) Sampling is performed once. This potential measurement pattern has a latent image written at two or more writing levels.
As in the case shown in FIG. 11, there will be two or more latent image potential levels. Each writing level is made up of a combination of an exposure amount and a dither pattern which are different for each level. For the neurons in the input layer of the surface potential γ estimation NN 40, the charge amount Vg at the first to nth times, the exposure amount and dither pattern at each writing level, the potential gradient γ of the potential measurement pattern, the environmental conditions, the charging potential , (N + 1) th charge amount, exposure amount and dither pattern at each writing level,
One or more of environmental conditions and charged potentials are input, and the gradient γ of the (n + 1) th latent image potential of the input layer is given as a teacher value to the neuron of the output layer to learn by the error back propagation method. .

【0080】このような学習済みの表面電位γ推定用N
N40を含む電子写真プロセス制御装置において、制御
時には、時系列でサンプリングされた各センサ28の出
力データ及び帯電量,露光量,ディザパターンなどの感
光体1の潜像電位に影響を及ぼすパラメータの複数の組
合せの内の1つ又は複数を表面電位γ推定用NN40の
入力とすることで、その環境下での感光体1の表面電位
の傾きγが得られる。そして、表面電位γ推定用NN4
0の出力である推定表面電位の傾きγが目標値になるよ
うに主に露光量及びディザパターンを操作し、推定表面
電位の傾きγが目標値に等しくなった時の露光量とディ
ザパターンとの組合せを各書込みレベルでの露光量とデ
ィザパターンとの組合せとして決定する。
Such learned N for surface potential γ estimation
In the electrophotographic process control device including the N40, at the time of control, the output data of each sensor 28 sampled in time series and a plurality of parameters that affect the latent image potential of the photoconductor 1 such as the charge amount, the exposure amount, and the dither pattern are controlled. By inputting one or a plurality of the combinations of 1 to the surface potential γ estimation NN 40, the slope γ of the surface potential of the photoconductor 1 under the environment can be obtained. Then, the surface potential γ estimation NN4
The exposure amount and the dither pattern are mainly manipulated so that the estimated surface potential gradient γ which is an output of 0 becomes the target value, and the exposure amount and the dither pattern when the estimated surface potential gradient γ becomes equal to the target value Is determined as the combination of the exposure amount and the dither pattern at each writing level.

【0081】このように、本実施例によれば、前記第十
一の実施例に加え、表面電位γ推定用NN40がディザ
パターンも考慮しているため、階調性が重要となるカラ
ー電子写真プロセスをとるものに、効果的となる。
As described above, according to this embodiment, in addition to the eleventh embodiment, the NN 40 for estimating the surface potential γ also considers the dither pattern, so that the gradation is important in the color electrophotography. It is effective for those who take the process.

【0082】[0082]

【発明の効果】本発明によれば、感光体の潜像電位特性
を学習させたニューラルネットワークにより形成した感
光体表面電位推定手段又は感光体表面電位γ推定手段を
設けたので、ニューラルネットワークの持つ汎化能力に
より、より少ない実験で感光体の特性を考慮した高精度
な制御を行うことができ、よって、テーブル参照方式等
に比して、同一機能を得るための開発期間を短縮できる
とともに、コストも大幅に低減させることができる。特
に、請求項2ないし6記載の発明によれば、時系列でサ
ンプリングした過去の潜像電位、又は、複数の帯電量と
露光量との組合せで作成された複数の潜像電位の傾きγ
から、ニューラルネットワークを用いて潜像電位又はそ
の傾きを推定するようにしたので、過去の履歴をモニタ
しながら潜像電位をより精度よく推定することができ、
また、過去から現在に至るまでの感光体の潜像電位特性
から次の潜像電位を推定するようにしたので、長期的な
感光体疲労だけでなく短期的な感光体疲労をも検知して
制御に供することができ、また、請求項4ないし6記載
の発明によれば、1つ1つの潜像電位でなく、複数の電
位より求めた潜像電位の傾きγを推定するようにしたの
で、1つ1つの潜像電位を推定して制御するよりも制御
時間を短縮することができ、さらに、請求項7,8記載
の発明によれば、パラメータとして帯電量、露光量の他
に、ディザパターンも考慮するようにしたので、階調性
が重要となるカラー電子写真プロセスに効果的なものと
することができる。
According to the present invention, since the photoconductor surface potential estimating means or the photoconductor surface potential γ estimating means formed by the neural network in which the latent image potential characteristic of the photoconductor is learned is provided, the neural network has Due to the generalization ability, it is possible to perform highly accurate control in consideration of the characteristics of the photoconductor with less experiments, and thus it is possible to shorten the development period for obtaining the same function as compared with the table reference method and the like. The cost can also be reduced significantly. In particular, according to the invention described in claims 2 to 6, the past latent image potentials sampled in time series, or the inclinations γ of the latent image potentials created by combining a plurality of charge amounts and exposure amounts.
Therefore, since the latent image potential or its inclination is estimated using the neural network, the latent image potential can be estimated more accurately while monitoring the past history.
In addition, since the next latent image potential is estimated from the latent image potential characteristics of the photoconductor from the past to the present, it is possible to detect not only long-term photoconductor fatigue but also short-term photoconductor fatigue. According to the invention of claims 4 to 6, the gradient γ of the latent image potential obtained from a plurality of potentials is estimated instead of the potential of each latent image. The control time can be shortened as compared with the case where each latent image potential is estimated and controlled. Further, according to the invention of claims 7 and 8, in addition to the charge amount and the exposure amount as parameters, Since the dither pattern is also taken into consideration, the dither pattern can be effectively used in the color electrophotographic process in which gradation is important.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第一の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】そのニューラルネットワーク構成を示す模式図
である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of the neural network.

【図3】複写機全体を示す概略構成図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing the entire copying machine.

【図4】ネガ・ポジ現像方式の電位関係を示す説明図で
ある。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a potential relationship of a negative / positive developing system.

【図5】感光体表面電位と露光量との関係を示す特性図
である。
FIG. 5 is a characteristic diagram showing a relationship between a photosensitive member surface potential and an exposure amount.

【図6】書込みレベルに対して露光量を適切に選定した
場合の特性図である。
FIG. 6 is a characteristic diagram when an exposure amount is appropriately selected for a writing level.

【図7】書込みレベルに対して露光量を不適切に選定し
た場合の特性図である。
FIG. 7 is a characteristic diagram when the exposure amount is inappropriately selected with respect to the writing level.

【図8】本発明の第二の実施例を示すニューラルネット
ワーク構成の模式図である。
FIG. 8 is a schematic diagram of a neural network configuration showing a second embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第三の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 9 is a block diagram showing a third embodiment of the present invention.

【図10】そのニューラルネットワーク構成を示す模式
図である。
FIG. 10 is a schematic diagram showing the configuration of the neural network.

【図11】複数の書込みレベルで構成された電位測定用
のパターン例を示す説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram showing an example of a pattern for potential measurement which is configured by a plurality of write levels.

【図12】本発明の第四の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 12 is a block diagram showing a fourth embodiment of the present invention.

【図13】そのニューラルネットワーク構成を示す模式
図である。
FIG. 13 is a schematic diagram showing the configuration of the neural network.

【図14】本発明の第五の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 14 is a block diagram showing a fifth embodiment of the present invention.

【図15】そのニューラルネットワーク構成を示す模式
図である。
FIG. 15 is a schematic diagram showing the configuration of the neural network.

【図16】本発明の第六の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 16 is a block diagram showing a sixth embodiment of the present invention.

【図17】そのニューラルネットワーク構成を示す模式
図である。
FIG. 17 is a schematic diagram showing the configuration of the neural network.

【図18】本発明の第七の実施例を示すニューラルネッ
トワーク構成の模式図である。
FIG. 18 is a schematic diagram of a neural network configuration showing a seventh embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第八の実施例を示すニューラルネッ
トワーク構成の模式図である。
FIG. 19 is a schematic diagram of a neural network configuration showing an eighth embodiment of the present invention.

【図20】本発明の第九の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 20 is a block diagram showing a ninth embodiment of the present invention.

【図21】そのニューラルネットワーク構成を示す模式
図である。
FIG. 21 is a schematic diagram showing the configuration of the neural network.

【図22】本発明の第十の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 22 is a block diagram showing a tenth embodiment of the present invention.

【図23】そのニューラルネットワーク構成を示す模式
図である。
FIG. 23 is a schematic diagram showing the configuration of the neural network.

【図24】本発明の第十一の実施例を示すブロック図で
ある。
FIG. 24 is a block diagram showing an eleventh embodiment of the present invention.

【図25】そのニューラルネットワーク構成を示す模式
図である。
FIG. 25 is a schematic diagram showing the configuration of the neural network.

【図26】本発明の第十二の実施例を示すブロック図で
ある。
FIG. 26 is a block diagram showing a twelfth embodiment of the present invention.

【図27】そのニューラルネットワーク構成を示す模式
図である。
FIG. 27 is a schematic diagram showing the configuration of the neural network.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 感光体 26 感光体表面電位推定手段を形成するニュ
ーラルネットワーク 28 センサ手段 29 感光体表面電位推定手段を形成するニュ
ーラルネットワーク 30 記憶装置 31〜34 感光体表面電位推定手段を形成するニュ
ーラルネットワーク 35〜40 感光体表面電位γ推定手段を形成するニ
ューラルネットワーク
1 Photoconductor 26 Neural Network Forming Photoconductor Surface Potential Estimating Means 28 Sensor Means 29 Neural Network Forming Photoconductor Surface Potential Estimating Means 30 Storage Device 31-34 Neural Network Forming Photoconductor Surface Potential Estimating Means 35-40 Neural network forming a means for estimating photoreceptor surface potential γ

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成6年1月12日[Submission date] January 12, 1994

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0013[Correction target item name] 0013

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0013】[0013]

【作用】本発明においては、感光体の潜像電位特性を学
習させたニューラルネットワークにより感光体表面電位
推定手段又は感光体表面電位γ推定手段を形成している
ので、ニューラルネットワークの持つ汎化能力により、
より少ない実験で感光体の特性を考慮した高精度な制御
を行うことができる。よって、テーブル参照方式等に比
して、開発期間を短縮し得るとともに、コストも大幅に
低減させ得るものとなる。また、ニューラルネットワー
クを用いた計算によるシミュレーションを行うので、フ
ィードバック制御法に比して、短時間で目標の電位が得
られる帯電量、露光量などの組合せを見い出し得るもの
となる。
In the present invention, since the photoreceptor surface potential estimating means or the photoreceptor surface potential γ estimating means is formed by the neural network which learned the latent image potential characteristics of the photoreceptor, the generalization ability of the neural network is obtained. Due to
It is possible to perform highly accurate control in consideration of the characteristics of the photoconductor with less experiments . Therefore, as compared with the table reference method, etc., together we can reduce development time, that as the Do cost may be greatly reduced. Also, the neural network
Since the simulation is performed by calculation using
The target potential can be obtained in a shorter time than the feedback control method.
That can find a combination of the amount of electrification, the amount of exposure, etc.
Becomes

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0045[Name of item to be corrected] 0045

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0045】この表面電位推定用NN33の学習につい
て説明する。表面電位推定用NN33の学習データをと
る実験では、帯電量(帯電チャージャ電圧、帯電グリッ
ド電圧等)、露光量(露光ランプ等の露光用光源の駆動
電圧やパルス変調幅等)のパラメータや、環境条件(温
度,湿度等)、帯電電位の組合せを変更しながら、様々
な感度(総コピー枚数又は感光体回転時間が異なる)の
感光体1で電位測定用のパターンをとることにより、帯
電部、露光部の表面電位を(n+1)回分サンプリング
する(この場合、必ずしもコピー毎にサンプリングする
必要はなく、例えば、2枚以上コピーする毎に1回サン
プリングするようにしてもよい)。この電位測定用のパ
ターンは2つ以上の書込みレベルで潜像が書込まれてお
り、図11に示した場合と同様に、2つ以上の潜像電位
レベルが存在することになる。各書込みレベルは、レベ
ル毎に異なる露光量で成り立っている。表面電位推定用
NN33の入力層のニューロンには、1〜n回目の帯電
量Vg 、各書込みレベルでの露光量(駆動電圧Ld ,パ
ルス変調幅Pwm)、電位測定用のパターンの電位の傾き
γ、環境条件(温度T,湿度H)、帯電電位Vd 、(n
+1)回目の帯電量、ある書込みレベルでの露光量,環
境条件,帯電電位の内の1つ又は複数を入力し、電位測
定用のパターンの中の入力層の(n+1)回目の書込み
レベルでの潜像電位を教師値として出力層のニューロン
に与えることで、誤差逆伝播法により学習する。つま
り、前述した第三の実施例の学習であれば、潜像電位測
定用のパターンの各レベルを1つ1つ入力しているが、
本実施例の学習によれば、パターンの電位の傾きγ(線
形近似、その他の方法で求めた傾きを代表するパラメー
タ)を入力とすることにより、入力データ数を減らすこ
とができる。
The learning of the surface potential estimating NN 33 will be described. In the experiment for acquiring the learning data of the surface potential estimation NN33, parameters such as charge amount (charge charger voltage, charge grid voltage, etc.), exposure amount (drive voltage of exposure light source such as exposure lamp, pulse modulation width, etc.), environment By changing the combination of conditions (temperature, humidity, etc.) and charging potential, the pattern of potential measurement is taken by the photoconductors 1 with various sensitivities (total number of copies or photoconductor rotation time is different). The surface potential of the exposure section is sampled (n + 1) times (in this case, it is not always necessary to sample every copy, and for example, it may be sampled once every two or more copies). In this potential measurement pattern, a latent image is written at two or more writing levels, and as in the case shown in FIG. 11, there are two or more latent image potential levels. Each writing level has a different exposure amount for each level. For the neurons in the input layer of the surface potential estimation NN33, the charge amount Vg at the first to nth times, the exposure amount at each writing level (driving voltage Ld, pulse modulation width Pwm), and the potential gradient γ of the potential measurement pattern. , Environmental conditions (temperature T, humidity H), charging potential Vd, (n
+1) Input one or more of the amount of charge, the amount of exposure at a certain writing level, environmental conditions, and the charging potential, and at the (n + 1) th writing level of the input layer in the potential measurement pattern. By applying the latent image potential of as a teacher value to the neurons in the output layer, learning is performed by the back propagation method. That is, in the case of the learning of the above-described third embodiment, each level of the latent image potential measurement pattern is input one by one,
According to the learning of the present embodiment, the number of input data can be reduced by inputting the gradient γ of the potential of the pattern (a parameter representing the gradient obtained by the linear approximation or other method).

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0055[Correction target item name] 0055

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0055】このニューラルネットワーク35の学習に
ついて説明する。ニューラルネットワーク35の学習デ
ータをとる実験では、帯電量(帯電チャージャ電圧,帯
電グリッド電圧等)、露光量(露光ランプ等の露光用光
源の駆動電圧やパルス変調幅等)のパラメータや、環境
条件(温度,湿度等)、帯電電位の組合せを変更しなが
ら、様々な感度(総コピー枚数又は感光体回転時間が異
なる)の感光体1で電位測定用のパターンをとることに
より、帯電部、露光部の表面電位を測定する。この電位
測定用のパターンは2つ以上の書込みレベルで潜像が書
込まれており、図11に示した場合と同様に、2つ以上
の潜像電位レベルが存在することになる。各書込みレベ
ルは、レベル毎に異なる露光量で成り立っている。ニュ
ーラルネットワーク35の入力層のニューロンには、帯
電量Vg ,各書込みレベルでの露光量(駆動電圧Ld ,
パルス変調幅Pwm),環境条件(温度T,湿度H),帯
電電位Vd 、感光体疲労度(総コピー枚数、感光体総回
転時間などに基づき得られた値)、環境条件の内の1つ
又は複数を入力し、潜像電位の傾きγ(線形近似、その
他の方法で求めた傾きを代表するパラメータ)を教師値
として出力層のニューロンに与えることで、誤差逆伝播
法により学習する。つまり、前述した第一の実施例のニ
ューラルネットワーク26の場合のように、潜像電位を
1つ1つ推定するのではなく、潜像電位の傾きγを一度
に推定するようにしたものである。
The learning of the neural network 35 will be described. In an experiment in which the learning data of the neural network 35 is taken, parameters such as charge amount (charge charger voltage, charge grid voltage, etc.), exposure amount (driving voltage of exposure light source such as an exposure lamp, pulse modulation width, etc.) and environmental conditions ( By changing the combination of temperature, humidity, etc.) and charging potential while taking a pattern for potential measurement with the photoconductors 1 of various sensitivities (total number of copies or photoconductor rotation time is different), the charging unit, the exposure unit Measure the surface potential of. In this potential measurement pattern, latent images are written at two or more writing levels, and as in the case shown in FIG. 11, there are two or more latent image potential levels. Each writing level has a different exposure amount for each level. In the neurons of the input layer of the neural network 35, the charge amount Vg, the exposure amount at each writing level (driving voltage Ld,
Pulse modulation width Pwm), environmental conditions (temperature T, humidity H), charging potential Vd, photoconductor fatigue level (value obtained based on total number of copies, total photoconductor rotation time, etc.), one of environmental conditions Alternatively, by inputting a plurality of latent image potential gradients γ (parameters representing the gradients obtained by linear approximation or other methods) to the neurons in the output layer as a teacher value, learning is performed by the error back propagation method. That is, instead of estimating the latent image potentials one by one as in the case of the neural network 26 of the first embodiment described above, the gradient γ of the latent image potential is estimated at one time. .

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0060[Correction target item name] 0060

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0060】このニューラルネットワーク36の学習に
ついて説明する。この学習は、前記実施例のニューラル
ネットワーク35の学習と殆ど同じであるが、ディザパ
ターンを含む点で異なる。ニューラルネットワーク36
の学習データをとる実験では、帯電量、露光量、ディザ
パターン(ディザパターンは各々のパターンに番号を付
ける)等のパラメータや、環境条件、帯電電位の組合せ
を変更しながら、様々な感度の感光体1で電位測定用の
パターンをとることにより、帯電部、露光部の表面電位
を測定する。この電位測定用のパターンは2つ以上の書
込みレベルで潜像が書込まれており、図11に示した場
合と同様に、2つ以上の潜像電位レベルが存在すること
になる。各書込みレベルは、レベル毎に異なる露光量と
ディザパターンとの組合せで成り立っている。ニューラ
ルネットワーク36の入力層のニューロンには、帯電量
Vg ,各書込みレベルでの露光量及びディザパターン,
環境条件,帯電電位、感光体疲労度の内の1つ又は複数
を入力し、潜像電位の傾きγを教師値として出力層のニ
ューロンに与えることで、誤差逆伝播法により学習す
る。
The learning of the neural network 36 will be described. This learning is almost the same as the learning of the neural network 35 of the above-mentioned embodiment, but is different in that the dither pattern is included. Neural network 36
In the experiment of learning data, the exposure amount of various sensitivities was changed while changing the parameters such as charge amount, exposure amount, dither pattern (dither patterns are numbered for each pattern), environmental conditions, and charging potential. By taking a pattern for potential measurement on the body 1, the surface potential of the charged and exposed parts
To measure. In this potential measurement pattern, latent images are written at two or more writing levels, and as in the case shown in FIG. 11, there are two or more latent image potential levels. Each writing level is made up of a combination of an exposure amount and a dither pattern which are different for each level. The neurons in the input layer of the neural network 36 have a charge amount Vg, an exposure amount and a dither pattern at each writing level,
By inputting one or more of environmental conditions, charging potential, and photoreceptor fatigue, and applying the gradient γ of the latent image potential to the neurons in the output layer as a teacher value, learning is performed by the error back propagation method.

【手続補正5】[Procedure Amendment 5]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図2[Name of item to be corrected] Figure 2

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図2】 [Fig. 2]

【手続補正6】[Procedure correction 6]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図8[Correction target item name] Figure 8

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図8】 [Figure 8]

【手続補正7】[Procedure Amendment 7]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図11[Name of item to be corrected] Fig. 11

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図11】 FIG. 11

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 感光体上に静電潜像を形成するプロセス
を含む電子写真プロセス機構を有する画像形成装置に対
する電子写真プロセス制御装置において、 帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピー枚数,感
光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プロセスに影
響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段と、 このセンサ手段の出力データ、帯電チャージャ電圧,帯
電グリッド電圧等の帯電量、及び、露光用光源の駆動電
圧,パルス変調幅等の露光量等の前記感光体の表面電位
に影響を及ぼすパラメータの内の少なくとも1つを入力
とし、予め実験等に基づき得られた前記感光体の前記パ
ラメータとこの感光体の表面電位との関係を教師値とし
て、前記感光体の潜像電位特性を学習済みのニューラル
ネットワークにより形成されて感光体表面電位を推定す
る感光体表面電位推定手段とを設けたことを特徴とする
電子写真プロセス制御装置。
1. An electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, wherein a charging potential, an exposure portion potential, a temperature, a humidity, and a total number of copies. Sensor means for acquiring information that influences the electrophotographic process such as photoconductor rotation time and photoconductor deterioration degree, and output data of the sensor means, charge amount such as charging charger voltage and charging grid voltage, and The drive voltage of the exposure light source, at least one of the parameters such as the exposure amount such as the pulse modulation width that affects the surface potential of the photoconductor is input, and The latent image potential characteristic of the photoconductor is formed by a learned neural network by using the relationship between the parameter and the surface potential of the photoconductor as a teacher value. Electrophotographic process control apparatus characterized by comprising a photosensitive member surface potential estimating means for estimating a surface potential.
【請求項2】 感光体上に静電潜像を形成するプロセス
を含む電子写真プロセス機構を有する画像形成装置に対
する電子写真プロセス制御装置において、 帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピー枚数,感
光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プロセスに影
響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段と、 帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の帯電量、及
び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等の露光量等
の感光体表面電位に影響を及ぼすパラメータの複数の組
合せで帯電・露光された複数の感光体表面電位を測定し
た時の前記センサ手段の出力データ、帯電量及び露光量
等を時系列でサンプリングしたデータを記憶しておく記
憶装置と、 時系列でサンプリングされた前記センサ手段の出力デー
タ及び前記パラメータの内の少なくとも1つを入力と
し、予め実験等に基づき得られた前記感光体の前記パラ
メータとこの感光体の表面電位との関係を教師値とし
て、前記感光体の潜像電位特性を学習済みのニューラル
ネットワークにより形成されて感光体表面電位を推定す
る感光体表面電位推定手段とを設けたことを特徴とする
電子写真プロセス制御装置。
2. An electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process for forming an electrostatic latent image on a photoconductor, wherein a charging potential, an exposure portion potential, a temperature, a humidity, and a total copy number. Sensor means for obtaining information that affects the electrophotographic process such as photoconductor rotation time and photoconductor deterioration degree, charging amount such as charging charger voltage and charging grid voltage, and driving voltage of the exposure light source, Output data, charge amount and exposure of the sensor means when measuring the surface potentials of a plurality of photoconductors charged / exposed by a plurality of combinations of parameters that affect the surface potential of the photoconductor such as exposure amount such as pulse modulation width A storage device for storing data obtained by time-sequentially sampling the amount and the like; and output data of the sensor means sampled in time-series and Of the latent image potential characteristic of the photoconductor, using as a teaching value the relationship between the parameter of the photoconductor and the surface potential of the photoconductor obtained based on an experiment or the like in advance. An electrophotographic process control device, comprising: a photoconductor surface potential estimating means which is formed by a network and estimates a photoconductor surface potential.
【請求項3】 感光体上に静電潜像を形成するプロセス
を含む電子写真プロセス機構を有する画像形成装置に対
する電子写真プロセス制御装置において、 帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピー枚数,感
光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プロセスに影
響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段と、 帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の帯電量、及
び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等の露光量等
の感光体表面電位に影響を及ぼすパラメータの複数の組
合せで帯電・露光された複数の感光体表面電位を測定し
た時の前記センサ手段の出力データ、帯電量及び露光量
等を時系列でサンプリングしたデータを記憶しておく記
憶装置と、 時系列でサンプリングされた前記センサ手段の出力デー
タ、帯電量及び露光量の複数の組合せで帯電・露光され
た複数の感光体表面電位から得られる傾きγ、及び前記
パラメータの内の少なくとも1つを入力とし、予め実験
等に基づき得られた前記感光体の前記パラメータとこの
感光体の表面電位との関係を教師値として、前記感光体
の潜像電位特性を学習済みのニューラルネットワークに
より形成されて感光体表面電位を推定する感光体表面電
位推定手段とを設けたことを特徴とする電子写真プロセ
ス制御装置。
3. An electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, comprising: charging potential, exposure portion potential, temperature, humidity, total number of copies. Sensor means for obtaining information that affects the electrophotographic process such as photoconductor rotation time and photoconductor deterioration degree, charging amount such as charging charger voltage and charging grid voltage, and driving voltage of the exposure light source, Output data, charge amount and exposure of the sensor means when measuring the surface potentials of a plurality of photoconductors charged / exposed by a plurality of combinations of parameters that affect the surface potential of the photoconductor such as exposure amount such as pulse modulation width A storage device for storing data obtained by time-sequentially sampling the amount and the like, and a storage device for storing the output data of the sensor means, the charge amount, and the exposure amount sampled in time series. Inputting at least one of the inclination γ obtained from the surface potentials of a plurality of photoconductors charged and exposed by a combination of a number and the parameters, and the parameters of the photoconductor obtained based on experiments in advance. A photoconductor surface potential estimating means for estimating the photoconductor surface potential formed by a neural network that has learned the latent image potential characteristics of the photoconductor using the relationship with the surface potential of the photoconductor as a teacher value is provided. Characteristic electrophotographic process control device.
【請求項4】 感光体上に静電潜像を形成するプロセス
を含む電子写真プロセス機構を有する画像形成装置に対
する電子写真プロセス制御装置において、 帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピー枚数,感
光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プロセスに影
響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段と、 このセンサ手段の出力データ、帯電チャージャ電圧,帯
電グリッド電圧等の帯電量、及び、露光用光源の駆動電
圧,パルス変調幅等の露光量等の前記感光体の表面電位
に影響を及ぼすパラメータの内の少なくとも1つを入力
とし、予め実験等に基づき得られた前記感光体の前記パ
ラメータとこの感光体の表面電位の傾きγとの関係を教
師値として、前記感光体の潜像電位特性を学習済みのニ
ューラルネットワークにより形成されて感光体表面電位
の傾きγを推定する感光体表面電位γ推定手段とを設け
たことを特徴とする電子写真プロセス制御装置。
4. An electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, wherein a charging potential, an exposure portion potential, a temperature, a humidity, and a total number of copies. Sensor means for acquiring information that influences the electrophotographic process such as photoconductor rotation time and photoconductor deterioration degree, and output data of the sensor means, charge amount such as charging charger voltage and charging grid voltage, and The drive voltage of the exposure light source, at least one of the parameters such as the exposure amount such as the pulse modulation width that affects the surface potential of the photoconductor is input, and The latent image potential characteristic of the photoconductor is formed by a learned neural network using the relationship between the parameter and the slope γ of the surface potential of the photoconductor as a teacher value. Electrophotographic process control apparatus characterized by comprising a photosensitive member surface potential γ estimation means for estimating the inclination γ of the surface potential of the photosensitive member.
【請求項5】 感光体上に静電潜像を形成するプロセス
を含む電子写真プロセス機構を有する画像形成装置に対
する電子写真プロセス制御装置において、 帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピー枚数,感
光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プロセスに影
響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段と、 帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の帯電量、及
び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等の露光量等
の感光体表面電位に影響を及ぼすパラメータの複数の組
合せで帯電・露光された複数の感光体表面電位を測定し
た時の前記センサ手段の出力データ、帯電量及び露光量
等を時系列でサンプリングしたデータを記憶しておく記
憶装置と、 時系列でサンプリングされた前記センサ手段の出力デー
タ及び前記パラメータの内の少なくとも1つを入力と
し、予め実験等に基づき得られた前記感光体の前記パラ
メータとこの感光体の表面電位の傾きγとの関係を教師
値として、前記感光体の潜像電位特性を学習済みのニュ
ーラルネットワークにより形成されて感光体表面電位の
傾きγを推定する感光体表面電位γ推定手段とを設けた
ことを特徴とする電子写真プロセス制御装置。
5. An electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process of forming an electrostatic latent image on a photoconductor, comprising: charging potential, exposure portion potential, temperature, humidity, total number of copies. Sensor means for obtaining information that affects the electrophotographic process such as photoconductor rotation time and photoconductor deterioration degree, charging amount such as charging charger voltage and charging grid voltage, and driving voltage of the exposure light source, Output data, charge amount and exposure of the sensor means when measuring the surface potentials of a plurality of photoconductors charged / exposed by a plurality of combinations of parameters that affect the surface potential of the photoconductor such as exposure amount such as pulse modulation width A storage device for storing data obtained by time-sequentially sampling the amount and the like, and an output data of the sensor means sampled in time-series and the parameters. Of the latent image potential characteristic of the photoconductor by using at least one of the parameters as a teacher value the relationship between the parameter of the photoconductor and the slope γ of the surface potential of the photoconductor obtained based on an experiment or the like. And a photoconductor surface potential γ estimation means for estimating the slope γ of the photoconductor surface potential formed by a completed neural network.
【請求項6】 感光体上に静電潜像を形成するプロセス
を含む電子写真プロセス機構を有する画像形成装置に対
する電子写真プロセス制御装置において、 帯電電位,露光部電位,温度,湿度,総コピー枚数,感
光体回転時間,感光体劣化度等の電子写真プロセスに影
響を及ぼす情報を取得するためのセンサ手段と、 帯電チャージャ電圧,帯電グリッド電圧等の帯電量、及
び、露光用光源の駆動電圧,パルス変調幅等の露光量等
の感光体表面電位に影響を及ぼすパラメータの複数の組
合せで帯電・露光された複数の感光体表面電位を測定し
た時の前記センサ手段の出力データ、帯電量及び露光量
等を時系列でサンプリングしたデータを記憶しておく記
憶装置と、 時系列でサンプリングされた前記センサ手段の出力デー
タ、帯電量及び露光量の複数の組合せで帯電・露光され
た複数の感光体表面電位から得られる傾きγ、及び前記
パラメータの内の少なくとも1つを入力とし、予め実験
等に基づき得られた前記感光体の前記パラメータとこの
感光体の表面電位の傾きγとの関係を教師値として、前
記感光体の潜像電位特性を学習済みのニューラルネット
ワークにより形成されて感光体表面電位の傾きγを推定
する感光体表面電位γ推定手段とを設けたことを特徴と
する電子写真プロセス制御装置。
6. An electrophotographic process control apparatus for an image forming apparatus having an electrophotographic process mechanism including a process for forming an electrostatic latent image on a photoconductor, wherein a charging potential, an exposure portion potential, a temperature, a humidity, and a total number of copies. Sensor means for obtaining information that affects the electrophotographic process such as photoconductor rotation time and photoconductor deterioration degree, charging amount such as charging charger voltage and charging grid voltage, and driving voltage of the exposure light source, Output data, charge amount and exposure of the sensor means when measuring the surface potentials of a plurality of photoconductors charged / exposed by a plurality of combinations of parameters that affect the surface potential of the photoconductor such as exposure amount such as pulse modulation width A storage device for storing data obtained by time-sequentially sampling the amount and the like; Inputting at least one of the inclination γ obtained from the surface potentials of a plurality of photoconductors charged and exposed by a combination of a number and the parameters, and the parameters of the photoconductor obtained based on experiments in advance. Estimating the photoconductor surface potential γ, which is formed by a neural network that has already learned the latent image potential characteristics of the photoconductor by using the relationship with the photoconductor surface potential γ as the teaching value. And an electrophotographic process control device.
【請求項7】 感光体の表面電位に影響を及ぼすパラメ
ータ中に、ディザパターンを含むことを特徴とする請求
項1,2,4又は5記載の電子写真プロセス制御装置。
7. The electrophotographic process control apparatus according to claim 1, wherein the parameter affecting the surface potential of the photoconductor includes a dither pattern.
【請求項8】 感光体の表面電位に影響を及ぼすパラメ
ータ中にディザパターンを含むとともに、傾きγを得る
ための複数の組合せ中に帯電量、露光量の他にディザパ
ターンを含むことを特徴とする請求項3又は6記載の電
子写真プロセス制御装置。
8. A dither pattern is included in the parameters that affect the surface potential of the photoconductor, and a dither pattern is included in addition to the charge amount and the exposure amount in a plurality of combinations for obtaining the inclination γ. 7. The electrophotographic process control device according to claim 3 or 6.
JP5306957A 1993-12-08 1993-12-08 Electrophotographic process control device Pending JPH07160074A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5306957A JPH07160074A (en) 1993-12-08 1993-12-08 Electrophotographic process control device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5306957A JPH07160074A (en) 1993-12-08 1993-12-08 Electrophotographic process control device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07160074A true JPH07160074A (en) 1995-06-23

Family

ID=17963312

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5306957A Pending JPH07160074A (en) 1993-12-08 1993-12-08 Electrophotographic process control device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07160074A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106680676A (en) * 2016-12-28 2017-05-17 重庆大学 Gas-solid discharge along surface test streamer monitoring and surface potential measuring system and method
CN115461611A (en) * 2020-05-20 2022-12-09 Ckd株式会社 Lighting device for appearance inspection, appearance inspection device, and blister packaging machine

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106680676A (en) * 2016-12-28 2017-05-17 重庆大学 Gas-solid discharge along surface test streamer monitoring and surface potential measuring system and method
CN115461611A (en) * 2020-05-20 2022-12-09 Ckd株式会社 Lighting device for appearance inspection, appearance inspection device, and blister packaging machine

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3026690B2 (en) Potential estimation device
JP3274200B2 (en) Image forming method and apparatus
JP3026630B2 (en) Electrophotographic process control equipment
US5666588A (en) Image forming apparatus for performing image density control
US6647219B2 (en) Electrophotographic recording process control method and apparatus
JPH07160074A (en) Electrophotographic process control device
JP2002214859A (en) Image forming apparatus and image forming method
JP2955237B2 (en) Latent image potential estimating apparatus and latent image potential estimating method
JPH07295312A (en) Electrophotographic process control device
JPH08286441A (en) Electrophotographic process control device
JPH07160073A (en) Electrophotographic process control device
JP3200121B2 (en) Electrophotographic process control equipment
JPH08110664A (en) Electrophotographic process control device
JP3260793B2 (en) Electrophotographic process control equipment
JPH0651599A (en) Image quality control device
JPH08123110A (en) Image forming device and image density control method thereof
JPH1090993A (en) Image forming device
JPH06258901A (en) Electrophotographic process control device
JP2003186262A (en) Electrophotographic equipment
JPH0611937A (en) Image density control device
JPH05107835A (en) Image forming device
JPH05336366A (en) Color image correcting device
JP4518486B2 (en) Image forming apparatus
JPH04296871A (en) Electrophotographic process control equipment
JP5151099B2 (en) Image forming apparatus