JPH06313850A - 顕微鏡の像ズレ補正装置 - Google Patents
顕微鏡の像ズレ補正装置Info
- Publication number
- JPH06313850A JPH06313850A JP5102130A JP10213093A JPH06313850A JP H06313850 A JPH06313850 A JP H06313850A JP 5102130 A JP5102130 A JP 5102130A JP 10213093 A JP10213093 A JP 10213093A JP H06313850 A JPH06313850 A JP H06313850A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- objective lens
- microscope
- stage
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 44
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 16
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 10
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 10
- 238000003754 machining Methods 0.000 abstract description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
ペアが行えるレーザーリペア装置を提供することを目的
とする。 【構成】レーザーリペアを行う加工用特殊対物レンズ3
1と液晶板の不具合を発見するための対物レンズ32
と、これらの対物レンズ及びその他の光学素子の切り換
えによる検鏡視野の像ズレ量を予め記憶するCPU36
と、このCPU36からの情報に基づきステージの移動
量を制御するステージコントローラ38、ステージドラ
イバ39、40、及びステージ駆動用モーター41、4
2とを備えた顕微鏡の像ズレ補正装置
Description
て、光学素子を交換挿脱したときに生ずる像のズレ量を
補正するための補正装置に関する。殊に、レーザーリペ
ア装置に好適に使用できる補正装置である。
ペア装置について説明する。まず、低倍率の対物レンズ
を用いて液晶版の電極の不具合のある箇所を見つける。
次に、対物レンズを赤外線レーザーを透過する作動距離
の長い高倍率の加工用特殊対物レンズに切り換える。そ
して、拡大されたステージ上の液晶版の電極の不具合の
ある箇所に向けて、赤外線レーザーを照射して修復する
ものである。
として使用されるアルミ線1及びアルミ線2が、顕微鏡
観察視野3か、もしくは顕微鏡に接続された図示しない
テレビモニターに写し出される。この写し出されたアル
ミ線1及びアルミ線2は、液晶板の機能に不具合をもた
らすショート部4を有しており、レーザーによる切断を
必要とする。上記ショート部4を加工用特殊対物レンズ
によって投影されるリペアスリット像5に重ねた後に、
ショート部4にレーザーを照射してリペアスリット像範
囲内を切断する。
高倍率の観察を行うために、対物レンズ交換装置を供え
たものを使用する。交換装置は使用したい対物レンズを
マニュアル又は電動にて指定位置に移動させる。また、
レーザーリペア等の装置においては、前記交換装置に検
鏡用対物レンズと共に、加工用特種対物レンズを装着
し、交換装置を用いて検鏡および加工を交互に行う。
いる顕微鏡においては、変換装置の各対物レンズ取付け
位置間の誤差、変換停止位置精度また対物レンズ固有の
光軸偏心により、対物レンズ変換前後の観察視野内の像
にズレが生じる。また、標本の種類によっては、特殊な
光学系を用いて観察を行うが、それらの特殊検鏡を行う
ための各種光学素子は、顕微鏡にシステム化され、顕微
鏡本体に容易に挿脱可能となっている。そして、これら
の光学素子の挿脱により、光軸がズレ、挿脱前後で観察
視野の像にズレが生じる。
る像の移動量を数値的に解析する。対物レンズ個々の偏
心量10μ〜30μ、変換機の停止位置精度10μ、変
換機の対物取付け位置の光軸タオレによるズレ量50
μ、ノマルスキープリズムの像ズレ量30μとなり、0
〜120μ程のズレ量が現れる可能性がある。前記範囲
で像にズレが生じた場合、検鏡時に起こる障害を具体的
にあげると、例えば、10×対物レンズで視野中心に合
わせた像が100×対物レンズでは実視野が狭いことか
ら、接眼レンズ視野の周辺に移ったり、まれに消えるこ
とがある。
は、この傾向がひどくなる。何故なら、一般的に用いら
れる2/3″の撮像管を中間像面に置いた場合、8.8
×6.6mmの像しか取り込まず、一般観察では像の移動
が酷くなければ大きな障害はないが、レーザーリペアの
ような装置では、対物レンズ変換毎に像の位置合わせを
精度良く行う必要がある。
のような機構がある。この装置は、二重リングの内側リ
ングを対物レンズに、外側リングを変換機に接続し、外
側リングから内側リングを押圧することにより、内側リ
ングを任意の位置に固定するものである。図4(a)
(b)は上記像ズレ補正装置を示で、図4(a)は像ズ
レ補正装置の縦断面図であり、図4(b)はA−A断面
図である。
像ズレ補正装置について説明をする。加工用特殊対物レ
ンズ6の上部はネジ部7を有しおり、対物レンズ固定側
リング9に切られているメネジ8に接続している。更
に、対物レンズ固定側リング9には溝10が刻設されて
おり、リング押圧つまみ11,12のリング押圧部1
3,14,15が当接している。
ー21にネジで接続しているレボルバー固定用リング2
2に螺合され、対物レンズ固定側リング9を押圧する押
圧用ネジ部16,17設けられている。さらに、リング
押圧部23は、レボルバー固定用リング22に設けた貫
通孔18と、その貫通孔18の内側に設けたバネ20を
押さえるためのバネ押さえネジ19により構成される。
ず、低倍率の対物レンズを使用した検鏡で、液晶板上の
電極の不具合箇所を発見し、低倍率の対物レンズ上のリ
ペアスリット像と電極の不具合位置を重ねる。次いで、
対物レンズを高倍率の加工用特殊対物レンズ21に切換
える。しかしながら、上述した対物レンズ取付け位置、
対物レンズ切換え後の停止位置、また、対物レンズ固有
の光軸偏心などにより、電極の不具合箇所がリペアスリ
ット像から外れてしまう場合がある。
まみ14,15を回転させ、押圧用ネジ部16,17を
介してリング押圧部11,12を進退させて、加工用特
殊対物レンズ21上のリペアスリット像と電極の不具合
箇所を重ね、ズレ量を補正する。この操作を行えば、そ
れ以後のレボルバーの回転により対物レンズの切換えを
行う度に像ズレの補正をする必要がなく、赤外線レーザ
ーからの照射によりリペア作業が可能である。
た従来技術によれば、レボルバーと対物レンズのズレに
よる不具合は解決されるが、レーザーリペアを行うため
に、対物レンズをレボルバーから外し交換するごとに使
用者が手動でリペアスリット像を重ね直す必要があり、
この操作は煩雑である上、正確さに欠けるという問題点
がある。
るレーザーリペア装置において、低倍対物レンズによる
観察時の検鏡方法が明らかでない場合がある。具体的に
は、低倍率の検鏡方法が、一般観察,微分干渉観察,ま
たは偏光観察等のように種々異なり、像ズレ量が特定で
きない。言い換えれば、同一の対物レンズによる検鏡で
も、光軸にプリズム,ミラー等の光学素子の挿脱が行わ
れた場合の像ズレに関しては、この補正装置を使用でき
ないという問題点がある。
対物レンズの交換や、光学素子の挿脱に伴う標本の像ズ
レを自動的に補正することができる光学顕微鏡の補正装
置を提供することを目的とする。
に請求項1に対応する発明は、光路内に複数の光学素子
が挿脱及び交換可能に設けられた顕微鏡装置において、
各光学素子の挿脱または交換による検鏡視野のズレ量を
記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された各光学
素子の挿脱または交換に対応する顕鏡視野のズレ量を演
算することによりステージ位置の補正移動を制御する制
御手段とを備えた顕微鏡装置である。
に複数の光学素子が挿脱及び交換可能に設けられた顕微
鏡装置において、顕鏡視野を画像として検出する画像検
出手段と、前記画像検出手段により検出された第一の画
像及び各光学素子の挿脱または交換により画像検出の条
件が前記第一の画像とは異なる第二の画像を記憶する記
憶手段と、前記記憶手段により記憶された第一の画像と
第二の画像の検鏡視野のズレ量を演算により検出する演
算手段と、前記演算手段により求められた検鏡視野のズ
レ量によりステージ位置の補正移動を制御するステージ
制御手段とを備えた顕微鏡装置である。
または交換の情報を記憶手段が検出すると、そのときに
挿脱または交換された光学素子による観察視野のズレ量
が記憶手段より引き出される。更に、記憶手段より引き
出された観察視野のズレ量はステージ制御手段を介し
て、その観察視野のズレ量分ステージを移動することで
顕鏡視野を元の位置に戻す。
一の画像情報を記憶手段が記憶する。次に、各光学素子
の挿脱または交換が行われ、そのときの検鏡視野の第二
の画像情報を記憶手段に記憶する。これら第一の画像情
報と第二の画像情報は比較演算され観察視野のズレ量が
求められる。更に、求められた観察視野のズレ量はステ
ージ制御手段を介して、その観察視野のズレ量分ステー
ジを移動することで顕鏡視野を元の位置に戻す。
基づき説明する。図1は本考案の第一実施例である。レ
ボルバー30には、図示しない四眼鏡筒のカメラマウン
トに設けられた赤外線レーザー光源からのレーザーによ
りレーザーリペアを行う加工用特殊対物レンズ31と、
低倍率の検鏡により液晶板上の電極の不具合箇所を発見
するための対物レンズ32が取り付けられている。
2は、レボルバー30を介してレボルバー駆動用モータ
ー33により駆動されるものである。レボルバー駆動用
モーター33は、ドライバ34からの信号により回転方
向及び回転角度が制御される。さらに、ドライバ34
は、レボルバーコントローラ35に接続されている。レ
ボルバーコントローラ35はCPU36に接続してお
り、CPU36からの情報に基づき、ドライバ34への
入力信号を制御し、レボルバー駆動用モーター33の回
転方向と回転数を制御することによって、レボルバー3
0の回転方向及び回転角度を決定している。
ら入力される情報をメモリする機能を持っている。この
CPU36にメモリされる内容は、検鏡方法(微分干渉
観察,偏光観察,明暗視野観察等)の違いや使用する対
物レンズの倍率の切換えによる像のズレ量、もしくは図
示しない光学素子(ノマルスキープリズム,偏光プリズ
ム,明暗視野切換えプリズム等)の挿脱による像のズレ
量である。そして、CPU36は、前述したズレ量に基
づいて、ステージ37,38の移動量を演算により、予
めレーザーリペア装置を使用する前に作成する。
ントローラ39は、ステージ37,38の移動量と移動
時のスピードを制御する。更に、ステージコントローラ
39には、ステージドライバ40,41が接続されてお
り、ステージコントローラ39からの出力信号によりス
テージ駆動用モーター42,43の回転数を制御して、
ステージ37,38を移動させる。
対物レンズ32が交換された時に光軸中に挿入される対
物レンズの種類、検鏡方法の種類及び、光学素子の挿脱
などの情報が外部からCPU36に入力される。予めC
PU36には、検鏡方法などの変更による像のズレ量が
メモリされているので、入力された情報に基づき像のズ
レ量を演算する。その像のズレ量の情報はステージコン
トローラ39に入力され、X軸、Y軸それぞれに対応し
たステージドライバ40,41及び、ステージ駆動用モ
ーター42,43を介して、ステージ37,38を所定
量移動させる。以上により、リペアスリット像と液晶板
上の電極のショート部を重ね合わせることができる。
定するだけで、レーザリペアを行うにあたり、その都度
リペアスリット像とショート部を手動により重ね合わせ
る必要がなく、過剰な労力を使わずに、正確なレーザリ
ペア作業を行うことができる。図2は本願発明の第二実
施例の概念図である。図1と同一部材には同一符号を付
与し、詳細な説明は省略する。
CDで構成した撮像カメラ44が取付けられている。撮
像カメラ43はCPU36に接続しており、撮像カメラ
44に取込まれた画像信号はCPU36に入力される。
次に、この構成による作用を説明する。レーザリペア作
業を行う前、対物レンズ32による液晶板上の電極像
は、撮像カメラ43により画像として取込まれて、CP
U36に入力されて記憶される。一方、対物レンズ32
が交換された時に光軸中に挿入される対物レンズの種
類、検鏡方法の種類及び、光学素子の挿脱などによるず
れた電極像も同様にして、撮像カメラ43に画像として
取込まれて、CPU36に入力されて記憶される。
を比較して、電極像のズレ量を画像から演算して求め
て、ズレ量の情報はステージコントローラ39に入力さ
れ、X軸、Y軸それぞれに対応したステージドライバ4
0,41及び、ステージ駆動用モーター42,43を介
して、ステージ37,38をズレ量移動させる。このス
テージ37,38の移動によりリペアスリット像とショ
ート部は重ね合わせることができる。
直前の画像が取込まれさえすれば、リペアスリット像と
ショート部を自動的に重ね合わせることができて、正確
なレーザリペア作業を行うことができる。上記実施例
は、レーザーリペア装置について説明したが、一般の光
学顕微鏡についても適用できる。即ち、一般的な光学検
鏡においても複数の検鏡方法を用いて観察することがあ
り、光学素子の切換え及び対物レンズの切換えを行うこ
とが必要となる。このような場合にも検鏡視野の像ズレ
が起こることは明らかである。そこで、本願発明に係る
顕微鏡の像ズレ補正装置を一般の光学顕微鏡に適用す
る。これによれば、一般の光学顕微鏡においても、上記
実施例のレーザーリペア装置と同様に像ズレを自動的、
且つ容易に補正できる。
且つ容易に補正することができるという効果を有する。
スリット像。
Claims (2)
- 【請求項1】 光路内に複数の光学素子が挿脱及び交換
可能に設けられた顕微鏡装置において、 各光学素子の挿脱または交換による検鏡視野のズレ量を
記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された各光学
素子の挿脱または交換に対応する検鏡視野のズレ量を演
算することによりステージ位置の補正移動を制御する制
御手段と、を具備したことを特徴とする顕微鏡装置。 - 【請求項2】 光路内に複数の光学素子が挿脱及び交換
可能に設けられた顕微鏡装置において、 顕鏡視野を画像として検出する画像検出手段と、前記画
像検出手段により検出された第一の画像及び各光学素子
の挿脱または交換により画像検出の条件が前記第一の画
像とは異なる第二の画像を記憶する記憶手段と、前記記
憶手段により記憶された第一の画像と第二の画像の検鏡
視野のズレ量を演算により検出する演算手段と、前記演
算手段により求められた検鏡視野のズレ量によりステー
ジ位置の補正移動を制御する制御手段と、を具備したこ
とを特徴とする顕微鏡装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10213093A JP3423349B2 (ja) | 1993-04-28 | 1993-04-28 | 顕微鏡装置及び像ズレ補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10213093A JP3423349B2 (ja) | 1993-04-28 | 1993-04-28 | 顕微鏡装置及び像ズレ補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06313850A true JPH06313850A (ja) | 1994-11-08 |
| JP3423349B2 JP3423349B2 (ja) | 2003-07-07 |
Family
ID=14319198
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10213093A Expired - Fee Related JP3423349B2 (ja) | 1993-04-28 | 1993-04-28 | 顕微鏡装置及び像ズレ補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3423349B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002090633A (ja) * | 2000-09-19 | 2002-03-27 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
| JP2005189298A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-07-14 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
| US7102815B2 (en) | 2003-06-27 | 2006-09-05 | Olympus Corporation | Optical microscope system and optical axis correcting method |
| JP2008026568A (ja) * | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Olympus Corp | 光学顕微鏡 |
-
1993
- 1993-04-28 JP JP10213093A patent/JP3423349B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002090633A (ja) * | 2000-09-19 | 2002-03-27 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
| US7102815B2 (en) | 2003-06-27 | 2006-09-05 | Olympus Corporation | Optical microscope system and optical axis correcting method |
| JP2005189298A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-07-14 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
| JP2008026568A (ja) * | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Olympus Corp | 光学顕微鏡 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3423349B2 (ja) | 2003-07-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2925647B2 (ja) | 顕微鏡変倍装置 | |
| US5260825A (en) | Microscope | |
| JP5199407B2 (ja) | 顕微鏡システム及び観察方法 | |
| JPS58181005A (ja) | 自動焦点位置合せ及び測定装置並びに方法 | |
| JP2005128493A (ja) | 顕微鏡システム | |
| JP4493115B2 (ja) | 光学素子切り換え装置及びその装置を搭載する光学顕微鏡 | |
| JP3423349B2 (ja) | 顕微鏡装置及び像ズレ補正方法 | |
| JP2891739B2 (ja) | 顕微鏡 | |
| JP2001091821A (ja) | 顕微鏡用オートフォーカスシステム | |
| EP1972982B1 (en) | Microscope equipped with automatic focusing mechanism and method of adjusting the same | |
| JPH0516566B2 (ja) | ||
| JP4388298B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
| JP4477181B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
| JP2919017B2 (ja) | 顕微鏡 | |
| JPH09189849A (ja) | 顕微鏡用焦点検出装置 | |
| JP2007333987A (ja) | カメラモジュールの製造方法 | |
| JP3396070B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
| JP3750259B2 (ja) | 画像検査・測定装置 | |
| JPH05127068A (ja) | 双眼実体顕微鏡 | |
| JP3644997B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
| US8125708B2 (en) | Lens changer for a stereomicroscope | |
| JPH1068888A (ja) | 顕微鏡装置 | |
| JP3831451B2 (ja) | 光学式測定装置 | |
| JP2000075216A (ja) | 手動変倍機構を備えた光学的観察装置 | |
| JP3250537B2 (ja) | 位置合わせ方法及びこれに使用する装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20021106 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20030415 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090425 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090425 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100425 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110425 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |