JP6510502B2 - 旋回スタンドを備えたデジタル顕微鏡、そのようなデジタル顕微鏡のための較正方法ならびに焦点および画像中心の自動追跡方法 - Google Patents
旋回スタンドを備えたデジタル顕微鏡、そのようなデジタル顕微鏡のための較正方法ならびに焦点および画像中心の自動追跡方法Info
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Description
このデジタル顕微鏡は、まずは既知のように、少なくとも1つの対物レンズと画像処理ユニットとを含む光学ユニットを含んでいる。対物レンズの縦軸が光軸(Z軸)をなす。
デジタル顕微鏡は、光学ユニット、旋回スタンド、およびステージを制御するための制御ユニットをさらに備えている。
旋回アームを第1の旋回角度に調節する工程と、
支持体を光軸(OA)に沿って変位させることにより、またはステージを鉛直方向に変位させることにより、ステージ上に置かれた較正マークに焦点を合わせる工程と、
旋回アーム(07)の直立姿勢において光軸(OA)に対して垂直な2つの軸(X、Y)に沿ってステージを変位させることにより、較正マークを光軸と心合わせする工程と、
ステージおよび支持体の全ての第1の軸位置、ならびに第1の旋回角度を捕捉および保存する工程と、
旋回アームを第2の旋回角度に旋回させる工程と、
較正マークの2回目の焦点合わせを行う工程と、
較正マークの2回目の心合わせを行う工程と、
ステージおよび支持体の全ての第2の軸位置、ならびに第2の旋回角度を捕捉および保存する工程と、
第1および第2の軸位置から、相対的焦点差異dFおよび相対的旋回軸差異dxを決定する工程と、
相対的焦点差異および相対的旋回軸差異を補正するために、デジタル顕微鏡の制御ユニットを制御するための旋回角度に依存した関数を決定する工程と、を含んでいる。
選択的に、顧客側でさらなる較正過程が可能である。
また、旋回機能にとって重要な全ての構成部品の追加的な調整箇所、厳しい公差、またはその両方を不要とすることができるので、旋回スタンドをより安定的に、より低コストで製造することができる。
好適には支持体およびステージはモータ駆動で走行可能である。代替的に、軸駆動装置の符号化が与えられている限り、電気駆動装置を省略することもできる。その場合、この符号化も、焦点合わせのために設けられた少なくとも1つの軸およびステージのX軸においてのみ必要であり、これらの軸はいずれも補正過程のために設けられている(上方、下方、または両方のZ軸)。その際、モータ駆動がその場合欠落しているので、ずれ補償のための調節はもはや自動的に行えなくなり、その場合、目標値として表示されるXおよびZ座標に基づいてユーザがこの調節を行うことになる。
本発明の好ましい一実施形態が図面に示されている。
図1は、旋回スタンド01を備えたデジタル顕微鏡の、ユーザから見た正面図を含んでいる。図2には、旋回スタンド01を左側から見た側面図が示されている。
旋回スタンド01は、軸受台03が取り付けられたスタンド脚02を含んでおり、この軸受台03には、旋回アーム07が固定配置された、旋回軸04周りを旋回可能な関節部06用の軸受が一体化されている。旋回アーム07には、好適にはモータ駆動の上部Zガイド08が配置されており、このガイドを介して、光学ユニット11を収容する支持体09のZ位置を参照位置ZRoに対して調節することができる。(モータ駆動の)上部Zガイド08の参照位置ZRoは、旋回軸04に対して示され、(モータ駆動の)上部Zガイド08の初期化作業中に、適切なセンサ装置を介してこの参照位置への定義された動きによって生じる。このセンサ装置は、例えば、Z方向の動作の際に伴って動くターゲットと、不動に取り付けられるハイブリッド結合器(光電子遮断柵)と、によって形成される。このハイブリッド結合器は、ハイブリッド結合器の内部に進入したターゲットを通してハイブリッド結合器の切替状態が変化するとすぐに、初期化作業中にZ方向の動作を停止させる。代替的に、当業者に知られており、十分に良好な再現性を有するその他の技術的解決手段もセンサ装置として使用することができる。例えば、ホール・センサおよび磁石を使用することができ、その場合、ホール・センサがハイブリッド結合器の代わりとなり、磁石がターゲットの代わりとなる。センサ装置を用いて達成可能な、実際の参照位置からの最大のずれとしての再現性は、調整作業によって、またはコストが最適化された製造における典型的な製造精度によって確保されるであろう再現性よりはるかに低い。
(モータ駆動の)ステージ18のY軸には、第1のY位置Y1>0が参照位置YRに対して設定されている。この第1のY位置Y1では、旋回アーム07の垂直姿勢においてステージ18の走行範囲全体に対してY方向の中央に位置付けられた、反射光挿入板20の表面21上に置かれた試料14の試料細部13が、画像中心に位置しているはずである。ここでも、実際に生じるずれが本発明による考察にとって重要ではないので、図2にはずれが示されておらず、図2によればY1=−YRが成立する。
図3による図示とは異なり、焦点ずれ距離dFがモータ駆動の上部Zガイド08の走行によって、参照位置ZRoに対してZ位置Zo2へ補償されている。まだ再焦点合わせ前の旋回後のZ位置Zo1と再焦点合わせ後の位置Zo2との間の差から、焦点ずれ距離dFを符号付きの1次元の値として容易に決定することができ、dF=Zo1−Zo2が成立する。
DZ=−MIZ
Zu1=DZ−ZRu<0
これらより、
ZRu=−MIZ−Zu1
旋回軸04に対する参照位置ZRuが示されるので、この参照位置ZRuに対して示される(モータ駆動の)下部Zガイド16の他の全てのZ位置を、旋回軸04に対するZ位置に換算することができる。図7によれば、試料細部13は今では知られている値DZ<0だけ下方へ偏っている。すなわち、観察される試料細部13が旋回軸04の高さに配置されるように、この値分だけ(モータ駆動の)ステージ18を(モータ駆動の)下部Zガイド16を介して上方へ走行させなければならない。
02 スタンド脚
03 軸受台
04 旋回軸
05 −
06 関節部
07 旋回アーム
08 上部Zガイド
09 支持体
10 −
11 光学ユニット
12 対物レンズ
13 試料細部
14 試料
15 −
16 下部Zガイド
17 カバー
18 ステージ
19 上部テーブル面
20 反射光挿入板
21 表面
22 端面
23 押しボタン
24 領域
25 グリップ面
26 理想旋回軸
27 通過点
Claims (9)
- デジタル顕微鏡であって、
少なくとも1つの対物レンズ(12)と画像処理ユニットとを含み、該対物レンズの縦軸が光軸(OA)を画定する、光学ユニット(11)と、
旋回軸(04)周りを旋回可能な旋回アーム(07)を有し、該旋回アーム(07)に該光学ユニット(11)を保持するための支持体(09)が配置されている、旋回スタンドと、
互いに対して垂直な少なくとも2つの変位軸(X、Y)において位置調節可能であり、該変位軸の一方が旋回軸(Y)に対して平行に向けられている、試料ステージ(18)と、
該光学ユニット(11)、該旋回アーム(07)、および該試料ステージ(18)の制御および位置決めのための制御ユニットとを備え、
該支持体(09)および該試料ステージ(18)のうちの少なくとも一方が変位可能であり、
該旋回スタンドが、該旋回アーム(07)の現在の旋回角度を測定するための角度センサを含んでおり、前記角度センサが2つの慣性センサを含んでおり、該慣性センサがそれぞれプレート上に互いに対して可動に配置されており、
該旋回アーム(07)の操作の際に自動的な焦点追跡および画像中心追跡のうちの少なくとも一方を実行するために、該現在の旋回角度が該制御ユニットにおいて処理されることを特徴とする、デジタル顕微鏡。 - 前記支持体(09)がモータ駆動機構で前記光軸(OA)の方向に移動可能である、請求項1に記載のデジタル顕微鏡。
- 前記試料ステージ(18)がモータ駆動機構で鉛直方向に移動可能であることを特徴とする、請求項1または2に記載のデジタル顕微鏡。
- 前記旋回アーム(07)が第1の姿勢においてゼロの旋回角度で係止して配置されていることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のデジタル顕微鏡。
- 前記旋回スタンド(01)が高トルク磁気ブレーキを含んでおり、該高トルク磁気ブレーキを用いて前記旋回アーム(07)を任意の旋回姿勢において固定可能であることを特徴とする、請求項1乃至4のいずれか1項に記載のデジタル顕微鏡。
- 請求項1に記載のデジタル顕微鏡において旋回軸(4)および画像中心を較正するための方法であって、
前記旋回アーム(07)の第1の旋回角度を調節する工程と、
前記支持体(09)を前記光軸(OA)に沿って変位させることにより、または前記試料ステージ(18)を鉛直方向に変位させることにより、前記試料ステージ(18)上に置かれた較正マークに焦点を合わせる工程と、
前記旋回アーム(07)の直立姿勢において前記光軸(OA)に対して垂直な2つの軸(X、Y)に沿って前記試料ステージを移動させることにより、該較正マークを前記光軸(OA)と心合わせする工程と、
前記試料ステージ(18)および前記支持体(09)の全ての第1の軸位置、ならびに該第1の旋回角度を捕捉および保存する工程と、
前記旋回アーム(07)を第2の旋回角度(w2)に旋回させる工程と、
該較正マークの2回目の焦点合わせを行う工程と、
該較正マークの2回目の心合わせを行う工程と、
前記試料ステージ(18)および前記支持体(09)の全ての第2の軸位置、ならびに該第2の旋回角度(w2)を捕捉および保存する工程と、
該第1の軸位置と第2の軸位置との間の差から、相対的焦点差異(dF)および相対的旋回軸差異(dx)を決定する工程と、
該相対的焦点差異(dFK)および該相対的旋回軸差異(dxK)を補正するために、前記デジタル顕微鏡の制御ユニットを制御するための前記第1の旋回角度に対する前記第2の旋回角度に依存した関数を決定する工程と、を含む方法。 - 前記第1の旋回角度に対する前記第2の旋回角度(w2)を決定し、前記第1の旋回角度を参照位置として定義することを特徴とする、請求項6に記載の方法。
- 前記制御ユニットが前記試料ステージ(18)および前記支持体(09)のうちの少なくとも一方を作動することによって、前記旋回アーム(07)の直立姿勢における前記光軸(OA)と前記変位軸(X、Y)とから形成される直角座標系の座標原点を、前記較正マークの位置と一致するように変位させることを特徴とする、請求項6または7に記載の方法。
- 請求項1の特徴を備えたデジタル顕微鏡において前記旋回アーム(07)の操作の際に焦点および画像中心を自動追跡するための方法であって、前記旋回アーム(07)の旋回角度を捕捉し、捕捉した該旋回角度に応じて焦点距離および画像中心位置を自動的に調節する、方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102013222295.5 | 2013-11-04 | ||
| DE102013222295.5A DE102013222295A1 (de) | 2013-11-04 | 2013-11-04 | Digitalmikroskop, Verfahren zur Kalibrierung und Verfahren zur automatischen Fokus- und Bildmittennachführung für ein solches Digitalmikroskop |
| PCT/EP2014/073039 WO2015063047A1 (de) | 2013-11-04 | 2014-10-28 | Digitalmikroskop mit schwenkstativ, verfahren zur kalibrierung und verfahren zur automatischen fokus- und bildmittennachführung für ein solches digitalmikroskop |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2016538581A JP2016538581A (ja) | 2016-12-08 |
| JP6510502B2 true JP6510502B2 (ja) | 2019-05-08 |
Family
ID=51842514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016518203A Active JP6510502B2 (ja) | 2013-11-04 | 2014-10-28 | 旋回スタンドを備えたデジタル顕微鏡、そのようなデジタル顕微鏡のための較正方法ならびに焦点および画像中心の自動追跡方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9817223B2 (ja) |
| EP (1) | EP3066510A1 (ja) |
| JP (1) | JP6510502B2 (ja) |
| CN (1) | CN105683802B (ja) |
| DE (1) | DE102013222295A1 (ja) |
| WO (1) | WO2015063047A1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR101816886B1 (ko) | 2014-10-22 | 2018-01-09 | 사회복지법인 삼성생명공익재단 | 호흡 유도 시스템 및 방법 |
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| JP5893313B2 (ja) | 2011-09-27 | 2016-03-23 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム |
| JP5841398B2 (ja) * | 2011-10-07 | 2016-01-13 | 株式会社キーエンス | 拡大観察装置 |
| US8739627B2 (en) * | 2011-10-26 | 2014-06-03 | Freescale Semiconductor, Inc. | Inertial sensor with off-axis spring system |
-
2013
- 2013-11-04 DE DE102013222295.5A patent/DE102013222295A1/de not_active Ceased
-
2014
- 2014-10-28 WO PCT/EP2014/073039 patent/WO2015063047A1/de not_active Ceased
- 2014-10-28 US US15/021,809 patent/US9817223B2/en active Active
- 2014-10-28 EP EP14790577.2A patent/EP3066510A1/de not_active Ceased
- 2014-10-28 JP JP2016518203A patent/JP6510502B2/ja active Active
- 2014-10-28 CN CN201480060489.XA patent/CN105683802B/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20160231552A1 (en) | 2016-08-11 |
| CN105683802B (zh) | 2018-06-22 |
| CN105683802A (zh) | 2016-06-15 |
| WO2015063047A1 (de) | 2015-05-07 |
| US9817223B2 (en) | 2017-11-14 |
| JP2016538581A (ja) | 2016-12-08 |
| DE102013222295A1 (de) | 2015-05-07 |
| EP3066510A1 (de) | 2016-09-14 |
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| A977 | Report on retrieval |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
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