JP5226449B2 - 半導体発光装置 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体発光装置に関し、特に蛍光体を使用して白色光を得る半導体発光装置における発光色の色ムラを防止する技術に関する。
発光ダイオード(以下LEDと称する)は、主に自動車のテールランプ、各種表示機器および携帯電話等のモバイル機器のバックライト等に用いられている。今後、自動車のヘッドライト、液晶ディスプレイのバックライト、一般照明等への需要が大幅に伸びることが予想される。自動車のヘッドライトや一般照明用途においては白色光が望ましい。LEDの光の色は、半導体層のバンドギャップの大きさによって決まり、使用する半導体結晶に固有のものとなる。そのため、LEDの光の色は赤や緑や青等の単色となる。このような発光特性を有するLEDを用いて白色光を得るための方法としては、以下のようなものがある。
1つ目は、赤色LED、緑色LED、青色LEDを並べて、これらを同時に発光させる方法である。しかしながら、この方法の場合、LED特有の指向性の強さゆえに、見る方向によって色ムラが生じやすい。また、それぞれの色のLEDで温度等の環境に対する変化の割合が異なったり、劣化の速度等も異なるため、白色を維持することが困難である。
2つ目は、青色LEDとYAG(イットリウムアルミニウムガーネット)系蛍光体とを組み合わせて白色光を得る方法である。蛍光体は、青色光を吸収して波長のより長い黄色光を発する。青色LEDが放射する青色光の一部は蛍光体によって黄色光に変換され、それ以外の光は青色を維持したまま蛍光体層を透過する。蛍光体から発せられる黄色光は赤色と緑色の混色光であり、これにLEDからの青色光が混ざることにより白色光を得ることができる。かかる方法によれば、単一の青色LEDチップで白色光を得ることができるので、構成が単純であり、RGBの発光色のLEDを並べる上記第1の方法と比較して安価に製造することができる。
特許文献1には、成長基板、バッファ層、n層、発光層、p層、コンタクト層、電極層が順次積層され、発光層から放射される紫外光を受光してこれを可視光に変換する蛍光体含有層を電極層の上に形成した半導体発光素子の構成が開示されている。
特開平9−153645号公報
半導体発光素子の上面に蛍光体含有層を形成する方法としては、例えば図1に示すように、半導体発光素子を支持するベース部200の中央部にカップ状の凹部201を形成し、この凹部200の底部に半導体発光素子100を搭載した後、凹部201を蛍光体が分散された透明樹脂で充たすことにより半導体発光素子100を覆う蛍光体含有層300を形成する方法が一般的である。しかしながら、この方法によれば、半導体発光素子の直上に位置する発光面の中央部とその外周に位置する外周部とでは、発光色が異なるといった色ムラの問題があった。これは、発光面の中央部と外周部とでは、蛍光体含有層300を通過する光の光路長が異なることに起因する。すなわち、発光面中央部においては、蛍光体含有層内部における光路長が短いため、蛍光体による波長変換を受けずに放射される光の量が多くなる。その結果、発光面中央部は青色光の量が相対的に多くなる。一方、発光面外周部においては、蛍光体含有層内部における光路長が長いため、蛍光体によって波長変換されて放射される光の量が多くなる。その結果、発光面外周部は黄色光の量が相対的に多くなる。このように、図1に示す如き構造では、発光色に色ムラが生じるため、一般照明や自動車のヘッドライトの用途には使いにくいといった問題があった。
半導体発光素子の上面に蛍光体層を形成する他の方法としては、半導体発光素子の上面にエポキシ樹脂やシリコーン樹脂等の透明樹脂に蛍光体粒子を分散させたもの(以下波長変換部材と称する)をディスペンサで塗布する方法が考えられる。このとき、半導体発光素子の上面から漏れないように波長変換部材を塗布することで、図1に示す構造と比較して色ムラを格段に抑えることが可能となる。しかしながら、半導体発光素子の上面にディスペンス方式によって波長変換部材を塗布する方法においては、波長変換部材が半導体発光素子の各コーナ部にまで十分に濡れ広がらないといった問題がある。この場合、半導体発光素子の各コーナ部から放射される光は、蛍光体による黄色光を殆ど含むことができず、青色光として認識されるものとなっていた。このように、波長変換部材を半導体発光素子の上面に塗布することによって蛍光体含有層を形成する方法においては、その膜厚の不均一性に起因して色ムラが生じることとなっていた。
本発明は、上記した点に鑑みてなされたものであり、その表面に波長変換部材を塗布することによって所望の発光色を得る半導体発光装置において、波長変換部材の膜厚の不均一性に起因して生じる色ムラを防止することができる半導体発光装置を提供することを目的とする。
本発明の半導体発光装置は、発光層を含む半導体層と、前記半導体層を支持する支持基板と、前記半導体層の表面に形成された蛍光体含有層と、を含む半導体発光装置であって、前記半導体層の発光面は少なくとも1つのコーナ部を有し、前記蛍光体含有層は、前記半導体層の中央部から外縁部に向けてその膜厚が薄くなっており、前記少なくとも1つのコーナ部に光を放射しない非放射部を有することを特徴としている。
前記蛍光体含有層は、蛍光体を含んだ透明樹脂からなる波長変換部材を前記半導体層の上に滴下し、これを硬化させることによって形成される。
前記非放射部は、前記少なくとも1つのコーナ部において前記発光層から放射される光を遮断する遮光部によって構成することができる。
また、前記非放射部は、前記少なくとも1つのコーナ部において前記発光層が除去された非発光部によって構成することができる。
また、前記非放射部は、前記少なくとも1つのコーナ部において前記発光層に注入される電流を遮断する電流狭窄部によって構成することができる。
発明を実施するための形態
以下、本発明の実施例について図面を参照しつつ説明する。尚、以下に示す図において、実質的に同一又は等価な構成要素、部分には同一の参照符を付している。
図2(a)は、本発明の実施例1に係る半導体発光装置の上面図、図2(b)は、図2(a)における2b−2b線に沿った断面図、図2(c)は、半導体発光素子上面に形成される蛍光体含有層の膜厚の薄い部分、すなわち波長変換部材の欠乏領域を示す上面図である。尚、図2(a)および(c)においては、説明のため蛍光体含有層は省略して描かれている。
半導体発光装置は、主に支持基板11と、支持基板11の上に形成された半導体層12と、半導体層12の上面を覆うように形成された蛍光体含有層30と、により構成され、半導体層12上の各コーナ部には、半導体層12内部の発光層から放射された光を遮る遮光部40が設けられている。尚、半導体発光素子は、主に支持基板11と支持基板11上に形成された半導体層12とにより構成されている。
支持基板11は、膜厚100μm程度のSi又はGe等の半導体基板からなり、半導体層12を支持するとともに、半導体層12内部の発光層に電流注入を行うための電流経路を形成する。支持基板11は、半導体層12の発光層から放射される光に対して不透明であり、支持基板11の側面からは光が放射されないようになっている。半導体層12と支持基板11は、例えばAuSn半田を含む複数の金属膜が積層されて構成される金属層13を介して両者を貼り合わせることで接合される。金属層13は、支持基板11と半導体層12の接着層としての役割を果たす他、光反射層としても機能する。支持基板11の裏面側には、例えばPt等からなる裏面電極42が設けられている。
半導体層12は、n型半導体層、発光層、p型半導体層が順次積層された矩形状の積層構造体を構成している。n型半導体層は、例えばSiがドープされたn型GaN層によって構成される。発光層は、InGaN/GaNからなる多重量子井戸構造を有する。p型半導体層は例えばMgがドープされたp型GaN層によって構成される。かかる構造を有する半導体層12の発光層からはピーク波長が約460nmの青色光が放射される。半導体層12の上には、Au、Ag又はAl等の金属からなる電極パッド41が設けられている。支持基板11、半導体発光層12、半導体発光素子は、いずれも上面視において矩形状をなしており、約1mm角で形成されている。
蛍光体含有層30は、エポキシ樹脂やシリコーン樹脂等の透明樹脂に蛍光体を分散させた波長変換部材により構成される。蛍光体としては、例えばYAGに付活剤としてCe(セリウム)を導入したYAG:Ce蛍光体を用いることができる。蛍光体は、発光層から放射されるピーク波長が約460nmの青色光を吸収してこれを波長560nm前後に発光ピークを持つ黄色光に変換する。半導体発光装置の発光面からは、蛍光体から発せられた黄色光と、波長変換されずに蛍光体含有層30を透過した青色光が混ざることにより白色光が得られるようになっている。
蛍光体含有層30は、ゲル状の波長変換部材を半導体層12の上面に滴下した後、硬化することによって形成される。波長変換部材は、ディスペンサを用いて半導体層12の上面を半導体層12の外縁を超えない範囲でノズルを走査させて滴下塗布する。蛍光体含有層30は、矩形状をなす半導体層12の中央部の上方に最頂部を有するドーム形状をなしており、半導体層12の周縁部における膜厚は、中央部に比べ薄くなっている。すなわち、蛍光体含有層30は、半導体発光素子10の外縁から内側に向けて上方に傾斜した略弧を描く傾斜面(凸状曲面)を有している。蛍光体含有層30は半導体層12の中央部の上方の最頂部における膜厚は約300μmである。蛍光体含有層30は、約68°の接触角で半導体層12上に形成されている。尚、本願において、半導体層と蛍光体含有層と外部雰囲気の接触点から引いた樹脂層の接線と素子基板表面のなす樹脂層側の角度を「接触角」と称する。蛍光体含有層30をかかる構造とすることにより、半導体発光装置の発光部と外部雰囲気との界面における輝度差が急峻な正面輝度分布を得ることができる。従って、本実施例の半導体発光装置は、発光部と外部雰囲気との界面における正面輝度分布が急峻であることが要求される照明器具(例えば、自動車のヘッドライト、街路灯、一般照明等)に好適である。
蛍光体含有層30は、半導体層12の上面のみを覆い、側面には形成されていない。半導体層12の側面にまで蛍光体含有層30を形成すると、半導体層12の周縁部から黄色光を多く含んだ光が放射され、色ムラの原因となる場合があるからである。従って、蛍光体含有層30を半導体層12の上に形成する際には、波長変換部材が半導体層12の上面から漏れないように塗布量等を厳重に管理する必要がある。しかしながら、波長変換部材を半導体層12の上面から漏れないように塗布量を制限すると、図2(c)に示すように、半導体層12の上面の各コーナ部において波長変換部材が塗れ拡がらず、蛍光体含有層30の厚みが薄い波長変換部材の欠乏領域が生じる。この波長変換部材の欠乏領域から放射される光は、蛍光体による黄色光を殆ど含むことができず、青色光として認識されるものとなってしまい、色ムラの原因となる。尚、青色光として認識される波長変換部材の欠乏領域における蛍光体含有層30の厚みは約75μm以下、最頂部における厚みの約1/4以下となっている。本実施例においては、波長変換部材の欠乏領域を含む半導体層12の上面の各コーナ部に遮光部40を設け、この部分から放射される青色光を遮ることにより、上記色ムラの問題を解消している。
遮光部40は、半導体層12上に金からなる金属膜を半導体層12のコーナ部に沿った一辺150μmの矩形に形成することで、蛍光体含有層30の厚み約80μm以下となる領域を覆い、上記蛍光体含有層30の厚み約75μm以下となる領域を完全に覆って、色ムラを解消することができた。ここで、蛍光体含有層30は20°〜90°の接触角で半導体層12上に形成されることが上記急峻な正面輝度分布が得られる点で好ましいが、上面視において矩形の半導体層12上に形成する場合には、コーナ部に蛍光体含有層30の膜厚の薄い部分が存在してしまい、波長変換部材の欠乏領域が生じてしまう。そして、矩形の(頂角90°の)半導体層12上に一定の接触角で蛍光体含有層30を形成する場合においては、この波長変換部材の欠乏領域は、各コーナ部からほぼ同範囲に形成され、半導体発光素子の面積によっては大きな影響を受けない。これは、半導体発光素子の大きさに関わらず、半導体発光素子上でディスペンサのノズルを走査して蛍光体を含有した樹脂を滴下することで、半導体発光素子の端部まで塗布することができるためと考えられる。そのため、半導体発光素子のチップサイズによらず、矩形の半導体層12上に20°〜90°の接触角で蛍光体含有層30を形成する場合、各コーナ部に一辺120μm以上の矩形の遮光部を配置することで色ムラを解消することができる。
遮光部40は、発光層よりも投光方向前方である上層に設けられていればよく、例えば半導体層12上に金属膜を堆積し、パターニングを施すことで形成することができる。金属膜としてはAu、Ag又はAl等を使用することができ、発光層から放射される光を遮ることができれば反射率が低い材料であっても構わない。このように、遮光部40を半導層12の最表面に金属膜を用いて形成した場合には、遮光部40を電極パッドとして用いることも可能である。この場合、半導体層12の各コーナ部に形成された遮光部40の全てを電極パッドとして使用する必要はなく、パッケージ構成等に応じて適宜選択すればよい。また、半導体層12の各コーナ部に配置された遮光部40は、互いに形状および寸法が異なっていても構わない。例えば、電極パッドとしても使用する遮光部は、他の遮光部と比較して寸法を大きめに形成するようにしてもよい。
また、遮光部40は、その面積が大きくなると光取り出し効率を低下させてしまうことになるため色ムラが解消できる最低限の大きさで形成することが好ましい。遮光部40は、半導体発光素子のチップサイズによらず、半導体層12のコーナ部に沿った一辺150μm以上の辺を有する矩形状の金属膜を半導体層12上面の各コーナ部に配置することが、色ムラ解消の観点からは好ましい。しかし、光取り出し効率の低下を抑えることも考慮して色ムラを解消するためには、120μm以上の辺を有する矩形状の金属膜を半導体層12上面の各コーナ部に配置すればよく、一辺120μm〜150μmとするのが好ましい。尚、遮光部40の形状は、矩形状に限定されず、例えば半導体層12のコーナ部に沿った三角形状又は、扇形状であってもよく、図2(c)に示す波長変換部材の欠乏領域に対応した形状としてもよい。半導体層12のコーナ部に沿った矩形状とすれば電極パッドとして好適に用いられ、三角形状又は扇形状であれば、波長変換部材の欠乏領域に対応した形状、つまり、光取り出し効率の低下を抑えた形状として好適に用いられる。
また、遮光部40は、図3に示すように、半導体層12上面の各コーナ部に配置するだけでなく、半導体層12上面の少なくとも一辺に沿うように形成してもよい。遮光部40をこのように形成することにより、遮光部40によって覆われた部分の発光形状が直線になるので、このような直線状の配光を利用する光学設計において有利となる。例えば、直線状の配光は、自動車のヘッドライトに利用する場合に好適に利用することができる。ここで、図4に理想的な自動車のヘッドライトの配光パターンを示す。半導体発光素子の少なくとも一辺を遮光部40で覆うことにより、色ムラの問題を解消するとともに、理想的な配光パターンに一致した水平方向における明暗境界線を形成することが可能となる。
また、遮光部40は遮光率(=(1−透過率)×100)は必ずしも100%である必要はなく、例えば半導体発光装置を自動車のヘッドライトとして用いる場合には、製品規格を満たす程度に色ムラが解消されていればよい。また、遮光部40の遮光率は半導体発光装置から放射される光を適所に投影する手段によって異なってくる。例えば、半導体発光装置からの光を、反射面を複数の反射領域で構成し、反射面に配光制御機能を持たせたいわゆるマルチリフレクタによって複数の光源像として投影して、これらを重ねることにより、図4に示す如き配光を形成する場合は、遮光率は70%程度あれば青色光による色ムラは改善できる。一方、半導体発光装置からの光をレンズでそのまま投影するような光学系においては、半導体発光素子の各コーナ部における青色光はそのまま投影されるため、上記複数のリフレクタを使用する場合と比較して高い遮光性が必要となる。また、遮光部40は、必ずしも半導体発光素子の外縁と接していなくてもよく、色ムラが問題とならない範囲で若干内側に形成されていても構わない。
このように、本実施例の半導体発光装置においては、波長変換部材が十分に供給されない波長変換部材の欠乏領域に対応する半導体層12の上面の各コーナ部に発光層からの光を遮る遮光部40を設けたので、蛍光体含有層30の膜厚が薄いために波長変換が十分に行われない各コーナ部から放射される青色光は遮断され、色ムラの発生を効果的に防止することができる。
また、本実施例のように、支持基板11を不透明材料で構成することにより、支持基板の側面からの光放射をなくし、色ムラの発生を防止するとともに、投光方向前方に導かれる光量を増加させることが可能となる。
以下に本実施例に係る半導体発光装置の製造方法について図5を参照しつつ説明する。図5(a)〜(g)は、半導体発光装置の製造工程におけるプロセスステップ毎の断面図である。以下においては、半導体発光装置を実装基板に実装するまでの各工程について説明する。
はじめに、成長基板としてのサファイア基板50を用意する(図5(a))。その後、サファイア基板50をMOVPE装置に搬入し、サファイア基板50のサーマルクリーニングを行う。続いて、サファイア基板50上にMOVPE法(有機金属気相成長法)等により、半導体層12を成長させる。具体的には、TMG(トリメチルガリウム)およびNHを供給してGaN層からなるバッファ層(図示せず)を形成する。続いて、TMG、NHおよびドーパントガスとしてSiHを供給し、n型GaN層からなるn型半導体層12aを形成する。続いて、n型半導体層12aの上に発光層12bを形成する。本実施例では、発光層12bには、InGaN/GaNからなる多重量子井戸構造を適用した。すなわち、InGaN/GaNを1周期として5周期成長を行う。具体的には、TMG、TMI(トリメチルインジウム)、NHを供給しInGaN井戸層を形成し、続いてTMG、NHを供給してGaN障壁層を形成する。かかる処理を5周期分繰り返すことにより発光層12bが形成される。次に、TMG、TMA(トリメチルアルミニウム)、NHおよびドーパントとしてCP2Mg(bis-cyclopentadienyl Mg)を供給し、p型AlGaNクラッド層(図示せず)を形成する。続いて、TMG、NHおよびドーパントとしてCP2Mgを供給しp型GaN層からなるp型半導体層12cを形成する(図5(b))。
半導体層12の形成が完了したら、半導体層12と支持基板11との接合を行う。支持基板11は、Si基板又はGe基板等の発光波長に対して不透明な半導体基板が用いられる。半導体層12と支持基板11は、例えばAuSn半田を含む複数の金属膜が積層することによって構成される金属層13を介して両者を貼り合わせることで接合される。金属層13は、半導体層12と支持基板11の接合層としての役割を果たす他、光反射層としても機能する(図5(c))。
次に、サファイア基板50を半導体層12から剥離する。サファイア基板50の剥離には、LLO(レーザリフトオフ)法等の公知の手法を用いることができる。LLO法においては、照射されたレーザがサファイア基板50上に形成されているGaN層を金属GaとNに分解する。サファイア基板50を剥離した後には、n型半導体層12aが表出する(図5(d))。
次に、サファイア基板50を剥離することで表出したn型半導体層12aの上面に電極パッド41を形成する。また、これと同時にn型半導体層12aの上面に遮光部40を形成する。電極パッド41および遮光部40は、n型半導体層12a上にAu、Ag又はAl等の金属をスパッタリング法等により堆積した後、これをフォトリソグラフィー技術によりパターニングを施すことで形成される。上記パターニングによって、図2(c)に示す波長変換部材の欠乏領域を含む半導体層12上面の各コーナ部に遮光部40が形成される。尚、半導体層12の上面の各コーナ部に配置される遮光部40は、電極パッド41として使用することとしてもよい。電極パッド41は遮光部40とは独立に例えば半導体層12の上面の中央部に形成することも可能であるがこの場合、半導体発光素子の中央部に光が放射されない部分が生じることとなる。また、後の工程において半導体層12の上面に波長変換部材を塗布する際の作業性の観点からも、電極パッド41は、半導体層12の周縁部又はコーナ部に配置するのが好ましい。一方、裏面電極42は、支持基板11の裏面にPt等の金属を蒸着することにより形成される(図5(e))。
次に、上記各工程を経て形成された支持基板11および半導体層12からなる半導体発光素子10をダイシングしてチップ状に個片化する。その後、個片化された半導体発光素子10を実装基板60上に搭載する。実装基板60と半導体発光素子10との接合には、例えばAuSn半田やAgペースト等の導電性接着剤を用いることができる。その後、半導体層12の上面に形成されている電極パッド41と、実装基板60上に形成されている給電用配線をボンディングワイヤー61によって接続する(図5(f))。
次に、半導体層12の上面にゲル状の波長変換部材をディスペンサで塗布する。波長変換部材は、エポキシ樹脂やシリコーン樹脂等からなる透明樹脂にYAG:Ce蛍光体を分散させたものを用いることができる。波長変換部材は、半導体層12の上面から漏れないように塗布量等を調節する。その後、波長変換部材を熱硬化させることにより半導体発光素子1の上面を覆う蛍光体含有層30を形成する。約1mm角の半導体層12の上面にディスペンス法によって波長変換部材を塗布することにより、最も厚みのある部分で約300μmの上面がドーム状の局面をなす蛍光体含有層30を形成できた。尚、蛍光体含有層30の厚みは、透明樹脂に分散させる蛍光体の濃度を高くすることで約100μm程度にまで薄くすることができる。また、透明樹脂内部に分散された蛍光体は、透明樹脂内部に均一に分布していてもよいし、沈降していてもよい(図5(g))。以上の各工程を経て本実施例の半導体発光装置が完成する。
図6(a)は、本発明の実施例2に係る半導体発光装置の上面図、図6(b)は、図6(a)における6b−6b線に沿った断面図である。尚、図6(a)においては、説明のため蛍光体含有層は省略して描かれている。
本実施例の半導体発光装置に基本構成は実施例1のものと同様である。すなわち、発光層を含む半導体層12は、Si又はGe等からなる不透明な支持基板11上に金属層13を介して接合される。金属層13は、支持基板11と半導体層12の接着層としての役割を果たす他、光反射層としても機能する。半導体素子10の上面には、透明樹脂内部に蛍光体を分散させた波長変換部材を滴下することによって形成されたドーム状の蛍光体含有層30が設けられている。半導体層12の上面には電極パッド41が設けられ、支持基板11の裏面には裏面電極42が設けられている。
本実施例に係る半導体発光装置においても実施例1の場合と同様、図2(c)に示すように、半導体素子10の上面の各コーナ部において波長変換部材が塗れ拡がらない波長変換部材の欠乏領域が生じている。従って、波長変換部材の欠乏領域から放射される光は、蛍光体による黄色光を殆ど含むことができず、青色光として認識されるものとなってしまい色ムラの原因となる。そこで、本実施例においては、半導体層12の波長変換部材の欠乏領域に対応する半導体層12の各コーナ部に非発光部14を設け、半導体層12の各コーナ部を非発光とすることにより、上記色ムラの問題を解消している。非発光部は、たとえば半導体層12の少なくとも発光層を除去することにより形成することができる。発光層が除去された部分からは、光は放射されないので、上記実施例1の如く遮光部を設けることなく半導体層12の各コーナ部における青色光の放射を防止することが可能となる。尚、非発光部14においては発光層以外のp型半導体層やn型半導体層が残存していても構わない。
非発光部14は、半導体層12の各コーナ部に沿った一辺120μmさらに好ましくは一辺150μmの辺を有する矩形状のとすることで、色ムラを解消することができた。尚、非発光部14の形状は、矩形状に限定されず、例えば半導体層12のコーナ部に沿った三角形状又は、扇形状であってもよく、図2(c)に示す波長変換部材の欠乏領域に対応した形状としてもよい。また、非発光部14は、半導体層12上面の各コーナ部に配置するだけでなく、半導体層12の少なくとも一辺に沿って形成することも可能である。
実施例1では、波長変換部材の欠乏領域に対応する半導体層12上の各コーナ部に遮光部40を形成することによって当該部分から発せられた発光層からの光を遮る構成としていたので、光取り出し効率の低下を伴うものとなっていた。これに対し、本実施例では波長変換部材の欠乏領域に対応する各コーナ部において発光層を除去する等の方法によって非発光部14を形成し、当該部分を発光させない構造としたので、光取り出し効率の低下を伴わない。
以下に実施例2に係る半導体発光装置の製造方法について図7を参照しつつ説明する。図7(a)〜(g)は、実施例2に係る半導体発光装置の製造工程におけるプロセスステップ毎の断面図である。
サファイア基板50に半導体層12を形成する工程は、実施例1と同様であり、MOVPE法等によりサファイア基板50上に、バッファ層(図示せず)、n型半導体層12a、発光層12bおよびp型半導体層12cを順次形成する(図7(a)、(b))。
半導体層12の形成が完了したら、半導体層12と支持基板11との接合を行う。支持基板11は、Si基板又はGe基板等の発光波長に対して不透明な半導体基板が用いられる。半導体層12と支持基板11は、例えばAuSn半田を含む複数の金属膜を積層することによって構成される金属層13を介して両者を貼り合わせることで接合される(図7(c))。
次に、サファイア基板50を半導体層12から剥離する。サファイア基板50の剥離には、LLO(レーザリフトオフ)法等の公知の手法を用いることができる。LLO法においては、照射されたレーザがサファイア基板50上に形成されているGaN層を金属GaとNに分解する。サファイア基板50を剥離した後には、n型半導体層12aが表出する(図7(d))。
次に、サファイア基板50を剥離することで表出したn型半導体層12aの上面に非発光部14の形成領域に対応する各コーナ部に開口部を有するレジストマスク70を形成する。続いて、塩素系ガスを用いたプラズマエッチング法によりレジストマスク70を介してn側半導体層12aおよび発光層12bをエッチングすることにより、これらを部分的に除去して半導体層12の各コーナ部に非発光部14を形成する。プラズマエッチングには、誘導結合プラズマ(ICP)ドライエッチング装置や平行平板ドライエッチング装置を用いることができる。尚、非発光部14においてp型半導体層12cはエッチングせずに残しても構わない(図7(e))。
次に、n型半導体層12aの上にAu、Ag又はAl等の金属をスパッタリング法等により堆積した後、これをフォトリソグラフィー技術によりパターニングを施すことにより電極パッド41を形成する。その後、支持基板11の表面にPt等の金属を蒸着することにより裏面電極42を形成する。
次に、上記各工程を経て形成された支持基板11および半導体層12からなる半導体発光素子10をダイシングしてチップ状に個片化する。その後、個片化された半導体発光素子10を実装基板60上に搭載する。実装基板60と半導体発光素子10との接合には、例えばAuSn半田やAgペースト等の導電性接着剤を用いることができる。その後、半導体層12の上面に形成されている電極パッド41と、実装基板60上に形成されている給電用配線をボンディングワイヤー61によって接続する(図7(f))。
次に、半導体層12の上面にゲル状の波長変換部材をディスペンサで塗布する。波長変換部材は、エポキシ樹脂やシリコーン樹脂等からなる透明樹脂にYAG:Ce蛍光体を分散させたものを用いることができる。波長変換部材は、半導体層12の上面から漏れないように塗布量等を調節する。その後、波長変換部材を熱硬化させることにより半導体層12の上面を覆う蛍光体含有層30を形成する。透明樹脂内部に分散された蛍光体は、透明樹脂内部に均一に分布していてもよいし、沈降していてもよい(図7(g))。以上の各工程を経て本実施例の半導体発光装置が完成する。尚、上記した実施例では、半導体層12を支持基板11に接合した後にn型半導体層12aおよび発光層12bをエッチングして非発光部14を形成することとしたが、半導体層12を支持基板11に接合する前に非発光部を形成することとしてもよい。
図8は、本発明の実施例3に係る半導体発光装置の断面図である。本実施例の半導体発光装置に基本構成は実施例1のものと同様である。すなわち、発光層を含む半導体層12は、Si又はGe等からなる発光波長に対して不透明な支持基板11上に金属膜13を介して接合される。金属層13は、支持基板11と半導体層12の接着層としての役割を果たす他、光反射層としても機能する。半導体層12の上面には、透明樹脂内部に蛍光体を分散させた波長変換部材を滴下することによって形成されたドーム状の蛍光体含有層30が設けられている。半導体層12の上には電極パッド41が設けられ、支持基板11の表面には裏面電極42が設けられている。
本実施例に係る半導体発光装置においても実施例1の場合と同様、図2(c)に示すように、半導体層12の上面の各コーナ部において波長変換部材が塗れ拡がらない波長変換部材の欠乏領域が生じている。従って、波長変換部材の欠乏領域から放射される光は、蛍光体による黄色光を殆ど含むことができず、青色光として認識されるものとなってしまい色ムラの原因となる。そこで、本実施例においては、波長変換部材の欠乏領域に対応する部分に電流狭窄部80を設け、半導体層12の各コーナ部を非発光とすることにより、上記色ムラの問題を解消している。電流狭窄部80は、例えば半導体層12表面又は支持基板11表面の少なくとも一方にSiO等の絶縁膜を形成することにより構成される。電流狭窄部80を形成した部分においては、発光層に対する電流注入が遮断されることから、当該部分においては非発光となる。従って、電流狭窄部80を波長変換部材の欠乏領域に対応して半導体発光素子の各コーナ部に配置することにより、色ムラの原因となる青色光の放射を防止することが可能となる。
電流狭窄部80は、半導体層12の各コーナ部に沿った一辺120μmさらに好ましくは一辺150μmの辺を有する矩形状のとすることで、色ムラを解消することができた。尚、電流狭窄部80の形状は、矩形状に限定されず、例えば半導体層12のコーナ部に沿った三角形状又は、扇形状であってもよく、図2(c)に示す波長変換部材の欠乏領域に対応した形状としてもよい。また、電流狭窄部80は、半導体層12上面の各コーナ部に配置するだけでなく、半導体層12の少なくとも一辺に沿って形成してもよい。
以下に実施例3に係る半導体発光装置の製造方法について図9を参照しつつ説明する。図9(a)〜(g)は、実施例3に係る半導体発光装置の製造工程におけるプロセスステップ毎の断面図である。
サファイア基板50に半導体層12を形成する工程は、実施例1と同様であり、MOVPE法等によりサファイア基板50上に、バッファ層(図示せず)、n型半導体層12a、発光層12bおよびp型半導体層12cを順次形成する。半導体層12の形成が完了したら、p型半導体層12cの上に例えばCVD法等により、SiO等からなる絶縁膜を形成する。その後この絶縁膜にフォトリソグラフィー技術によってパターニングを施して、半導体層12の各コーナ部に電流狭窄部80を形成する(図9(a)、(b))。
次に、半導体層12と支持基板11との接合を行う。支持基板11は、Si基板又はGe基板等の発光波長に対して不透明な半導体基板が用いられる。半導体層12と支持基板11は、例えばAuSn半田を含む複数の金属膜を積層することによって構成される金属層13を介して両者を貼り合わせることで接合される。このとき、電流狭窄部80が形成されたp型半導体層12cが接合面となる(図9(c))。尚、本実施例では、半導体層12の表面に電流狭窄部80を形成することとしたが、支持基板11の表面に同様の方法で電流狭窄部を形成しておき、これを半導体層12と貼り合わせることとしてもよい。
次に、サファイア基板50を半導体層12から剥離する。サファイア基板50の剥離には、LLO(レーザリフトオフ)法等の公知の手法を用いることができる。LLO法においては、照射されたレーザがサファイア基板50上に形成されているGaN層を金属GaとNに分解する。サファイア基板50を剥離した後には、n型半導体層12aが表出する(図9(d))。
次に、サファイア基板50を剥離することによって表出したn型半導体層12aの上にAu、Ag又はAl等の金属をスパッタリング法等により堆積した後、これをフォトリソグラフィー技術によりパターニングを施すことにより電極パッド41を形成する。その後、支持基板11の表面にPt等の金属を蒸着することにより裏面電極42を形成する(図9(e))。
次に、上記各工程を経て形成された支持基板11および半導体層12からなる半導体発光素子10をダイシングしてチップ状に個片化する。その後、個片化された半導体発光素子10を実装基板60上に搭載する。実装基板60と半導体発光素子10との接合には、例えばAuSn半田やAgペースト等の導電性接着剤を用いることができる。その後、半導体層12の上面に形成されている電極パッド41と、実装基板60上に形成されている給電用配線をボンディングワイヤー61によって接続する(図9(f))。
次に、半導体層12の上面にゲル状の波長変換部材をディスペンサで塗布する。波長変換部材は、エポキシ樹脂やシリコーン樹脂等からなる透明樹脂にYAG:Ce蛍光体を分散させたものを用いることができる。波長変換部材は、半導体層12の上面から漏れないように塗布量等を調節する。その後、波長変換部材を熱硬化させることにより半導体層12の上面を覆う蛍光体含有層30を形成する。透明樹脂内部に分散された蛍光体は、透明樹脂内部に均一に分布していてもよいし、沈降していてもよい(図9(g))。以上の各工程を経て本実施例の半導体発光装置が完成する。
上記した各実施例は、相互に組み合わせることが可能である。図10は、実施例1に係る遮光部と実施例2に係る非発光部を組み合わせて構成した半導体発光装置の上面図である。尚、図10においては、説明のため蛍光体含有層は省略して描かれている。同図に示すように、半導体層12の2つのコーナ部に遮光部40を形成し、他の2つのコーナ部には非発光部14を形成した場合でも、上記各実施例と同様の作用効果を得ることができる。2つのコーナ部に形成された遮光部40は、半導体層12の表面上に形成されたAu、Ag又はAl等の金属膜によって構成され、電極パッドとして利用することができる。このように、電極パッドが本発明の遮光部としても機能することにより発光部を遮る部分の面積を最小限に抑えることができ、光取り出し効率の低下を抑制することができる。また、他の2つのコーナ部に設けられた非発光部14は、当該コーナ部に沿った三角形状に発光層を除去することにより形成される。非発光部14を三角形状とすることにより、これを矩形状とする場合と比べ発光部の面積を大きくすることができる。
尚、上記各実施例においては、Si基板やGe基板等の不透明な支持基板を用いることとしたが、サファイア基板等の透明な基板を用いてもよい。この場合、サファイア基板の側面から青色光が放射され、色ムラの要因となり得るが、サファイア基板の厚みを薄くすること、又はサファイア基板側面を高反射部材や遮光部材で覆うことで対応が可能である。このように、透明な支持基板を用いた場合には、n型およびp型半導体層を同じ側の面に表出させてフリップチップ構造とすることができるので、ワイヤボンディングが不要となる。これにより、ゲル状の波長変換部材をディスペンサで塗布する際に、ワイヤを避けて塗布する必要がなくなり、作業性が向上する。
また、上記各実施例においては、半導体発光素子の全てのコーナ部に、遮光部又は非発光部又は電流狭窄部を設ける構成としたが、光学系の設計によって色ムラが解消されるような場合には、これらを全てのコーナ部に設けることを要しない。
また、上記各実施例においては、GaN系の青色発光素子とYAG系の黄色蛍光体を用いて白色光を得る半導体発光装置について説明したが、かかる組み合わせに限定されるものではない。例えば、オルトシリケート、硫化物系蛍光体、窒化物系蛍光体等であってもよい。
また、上記各実施例においては、矩形状の半導体層を有する半導体発光装置について説明したが、半導体層の形状は矩形状に限定されず、少なくとも1つのコーナ部を有する他の形状(例えば扇形等)であってもよい。
従来の半導体発光装置の構成を示す断面図である。 図2(a)は、本発明の実施例である半導体発光装置の上面図、図2(b) は、図2(a)における2b−2b線に沿った断面図、図2(c)は波長変換部材の欠乏領域を示す上面図である。 本発明の実施例1に係る半導体発光装置の上面図である。 理想的な自動車のヘッドライトの配光パターンを示す図である。 図5(a)〜(g)は、本発明の実施例である半導体発光装置の製造方法を示す図である。 図6(a)は、本発明の実施例2に係る半導体発光装置の上面図、図6(b)は、図6(a)における6b−6b線に沿った断面図である。 図7(a)〜(g)は、本発明の実施例2に係る半導体発光装置の製造方法を示す図である。 本発明の実施例3に係る半導体発光装置の断面図である。 図9(a)〜(g)は、本発明の実施例3に係る半導体発光装置の製造方法を示す図である。 本発明の他の実施例に係る半導体発光装置の上面図である。
符号の説明
11 支持基板
12 半導体層
14 非発光部
30 蛍光体含有層
40 遮光部
41 電極パッド
80 電流狭窄部

Claims (10)

  1. 発光層を含む半導体層と、
    前記半導体層を支持する支持基板と、
    前記半導体層の表面に形成された蛍光体含有層と、を含む半導体発光装置であって、
    前記蛍光体含有層は、前記半導体層の中央部から外縁部に向けてその膜厚が薄くなっており、
    前記半導体層の発光面は少なくとも1つのコーナ部を有し、
    前記少なくとも1つのコーナ部に光を放射しない非放射部を有し、
    前記非放射部は、前記少なくとも1つのコーナ部において前記発光層に注入される電流を遮断する電流狭窄部によって構成されていることを特徴とする半導体発光装置。
  2. 前記蛍光体含有層は、蛍光体を含んだ透明樹脂からなる波長変換部材を前記半導体層の上に滴下し、これを硬化させることによって形成されることを特徴とする請求項1に記載の半導体発光装置。
  3. 前記非放射部は、前記少なくとも1つのコーナ部上に設けられ、前記発光層から放射される光を遮断する遮光部によって構成されている部分を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体発光装置。
  4. 前記遮光部は、前記半導体層表面に設けられた金属膜からなることを特徴とする請求項3に記載の半導体発光装置。
  5. 前記非放射部は、前記少なくとも1つのコーナ部において前記発光層が除去された非発光部によって構成されている部分を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体発光装置。
  6. 前記電流狭窄部は、前記支持基板と前記半導体層との間に設けられた絶縁膜からなることを特徴とする請求項1に記載の半導体発光装置。
  7. 請求項1乃至6のいずれか1つに記載の前記非放射部は、前記半導体層の少なくとも1つの外縁部に沿って設けられていることを特徴とする半導体発光装置。
  8. 前記半導体層は矩形状であり、前記非放射部は前記半導体層の各コーナ部に設けられていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1つに記載の半導体発光装置。
  9. 前記支持基板は、前記発光層から発せられる光に対して不透明であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1つに記載の半導体発光装置。
  10. 前記蛍光体含有層は、前記半導体層の少なくとも1つのコーナ部及び外縁部に沿って、前記非放射部の上に設けられていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1つに記載の半導体発光装置。
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