JP2011119291A - BLUE/ULTRAVIOLET LIGHT DETECTION DEVICE USING SINGLE-CRYSTAL ZnSe NANOBELT, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME - Google Patents

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メイヨン リャオ
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ガウダム ウジャル
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Abstract

【課題】青色及び紫外線領域において高感度で暗電流が極小である新規な光検出器を得る。
【解決手段】光検知デバイスは以下の構成要素を有している。(a)絶縁層に覆われたSi基板、(b)前記絶縁層上に置かれた単結晶ZnSeナノベルト、及び(c)前記ZnSeナノベルトの上に形成された2つの分離された金属電極。前記絶縁層は、SiO又はAlで、厚さは、200nmから600nmの範囲である。
【選択図】図1
A novel photodetector having high sensitivity and minimal dark current in the blue and ultraviolet regions is obtained.
The light detection device has the following components. (A) a Si substrate covered with an insulating layer; (b) a single crystal ZnSe nanobelt placed on the insulating layer; and (c) two separate metal electrodes formed on the ZnSe nanobelt. The insulating layer is made of SiO 2 or Al 2 O 3 and has a thickness in the range of 200 nm to 600 nm.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は単結晶ZnSeナノベルトを使用した新規で高性能な単結晶青色/紫外線光検知デバイスすなわち光センサ、及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a novel and high performance single crystal blue / ultraviolet light sensing device or photosensor using a single crystal ZnSe nanobelt, and a method for manufacturing the same.

1次元ナノ構造は、その大きな表面積対体積比(SVR)と合理的に設計された表面により、基本的な特性及びそのナノスケールデバイスへの応用の可能性について広範な研究がなされている。個別の1次元ナノ構造を使って製造されたナノスケールデバイスは、商業用途と研究室での試験の両面で広い範囲のガス、化学物質及び生物医学的な種を検出するための超高感度ナノセンサとして実証された。ナノワイヤ及びナノベルトはナノ科学及びナノテクノロジーの最前線に立つ1次元ナノ構造の重要かつ広いクラスを代表している。2001年にZ.L.Wangのグループによって最初に報告されたナノベルトは、明確な化学組成、結晶学的性質及びそれを囲む表面を有する、1次元の構造的に制御されたナノ材料である(非特許文献1を参照)。大表面積が光に露出されるので、各種のナノベルト/ナノリボンからナノメートルスケールのマルチバンド光センサが組み立てられてきた(非特許文献2を参照)。   One-dimensional nanostructures have been extensively studied for their basic properties and potential applications in nanoscale devices due to their large surface area to volume ratio (SVR) and reasonably designed surfaces. Nanoscale devices fabricated using individual one-dimensional nanostructures are ultrasensitive nanosensors for detecting a wide range of gases, chemicals and biomedical species for both commercial use and laboratory testing. As demonstrated. Nanowires and nanobelts represent an important and broad class of one-dimensional nanostructures that are at the forefront of nanoscience and nanotechnology. In 2001, Z. L. The nanobelt first reported by Wang's group is a one-dimensional structurally controlled nanomaterial with a well-defined chemical composition, crystallographic properties and surrounding surface (see Non-Patent Document 1). . Since the large surface area is exposed to light, nanometer-scale multiband optical sensors have been assembled from various nanobelts / nanoribbons (see Non-Patent Document 2).

重要なII−VI属化合物半導体であり室温で2.70eV(約460nm)という広い直接バンドギャップを持つセレン化亜鉛(ZnSe)は、長いあいだ光電子工学の有望な材料であると考えられてきた(非特許文献3を参照)。ZnSeは青色領域で動作するII−VI発光ダイオード(LED)及びダイオードレーザー中に使用されている。SiやGaAsと比較して、ZnSeは青色/紫外線(UV)に対する感度が高い。各種の形態の1次元ZnSeナノ構造の成長及び工学的性質についての研究は多数あるが、現在のところ、これらについての光電特性面での研究はわずかしかなされていないことは注目すべきである。報告にあるZnSeナノ構造は暗電流が大きいか、あるいは安定性が乏しいという問題を抱えている(非特許文献4〜6を参照)。安定性が高くまた再現性のある光電流、大きな光電流対暗電流比及び時間応答が早いなどの高性能を有する効率的な光検出器を開発することは依然として解決すべき課題である。   Zinc selenide (ZnSe), which is an important II-VI compound semiconductor and has a wide direct band gap of 2.70 eV (about 460 nm) at room temperature, has long been considered a promising material for optoelectronics ( (Refer nonpatent literature 3). ZnSe is used in II-VI light emitting diodes (LEDs) and diode lasers operating in the blue region. Compared to Si and GaAs, ZnSe is more sensitive to blue / ultraviolet light (UV). It should be noted that there are many studies on the growth and engineering properties of various forms of one-dimensional ZnSe nanostructures, but currently only a few studies have been made on the photoelectric properties of these. The reported ZnSe nanostructures have the problem that the dark current is large or the stability is poor (see Non-Patent Documents 4 to 6). The development of efficient photodetectors with high performance such as highly stable and reproducible photocurrent, large photocurrent to dark current ratio and fast time response remains a problem to be solved.

単結晶ZnSeナノベルトについては、Z.D.Hu他は、ZnSeナノベルト及びナノワイヤはキャリアガスを使用しない閉空間蒸気輸送技術により同時に合成されることを報告した(非特許文献7を参照)。
また、F.Wang他は、セレン化亜鉛ナノリボンは高純度ZnSe粉末の簡単な熱蒸発によってシリコンウェファー上に合成されることを報告した(非特許文献8を参照)。
For single crystal ZnSe nanobelts, see Z. D. Hu et al. Reported that ZnSe nanobelts and nanowires were synthesized simultaneously by a closed space vapor transport technique that does not use a carrier gas (see Non-Patent Document 7).
F.F. Wang et al. Reported that zinc selenide nanoribbons were synthesized on silicon wafers by simple thermal evaporation of high purity ZnSe powder (see Non-Patent Document 8).

単結晶ZnSeナノベルトの上述の報告の以前に、S.Xiong他は、混合ソルボサーマルルートにより合成されたリボン状の前駆物質(ZnSe・3エチレンジアミン)をアルゴン雰囲気中で熱処理することによって、直径が15〜20nmの範囲で長さが最大数10μmのZnSeナノワイヤの多数の1次元の束を作製したことを報告した(非特許文献9を参照)。   Prior to the above report of single crystal ZnSe nanobelts, Xiong et al. Describe a ZnSe nanowire having a diameter in the range of 15 to 20 nm and a maximum length of several 10 μm by heat-treating a ribbon-like precursor (ZnSe · 3 ethylenediamine) synthesized by a mixed solvothermal route in an argon atmosphere. (See Non-Patent Document 9).

ナノ材料及びナノ構造を合成する方法は、作製中に使用される反応媒体に基づいて2つの大きなアプローチ、すなわち溶液を使ったプロセスと気体を使ったプロセス、に分類することができる。溶液を使ったプロセスは、気体を使ったプロセスと比較して、以下のような際立った利点を有する。
(1)反応温度が低い。これはナノ材料を低コストで合成するための重要な条件である。
(2)大規模のZnSeナノベルト合成の収量が多い。これはZnSeナノベルトの実用化のために非常に重要である。
最近、S.Xiong他は、後述の実施例で述べるように簡単な溶液ベースのプロセスによりZnSeナノベルトの作製を試み、単結晶ZnSeナノベルトの新しい製造方法の開発に成功している。
Methods of synthesizing nanomaterials and nanostructures can be divided into two major approaches based on the reaction medium used during fabrication: a process using a solution and a process using a gas. The process using a solution has the following distinct advantages over the process using a gas.
(1) The reaction temperature is low. This is an important condition for synthesizing nanomaterials at low cost.
(2) The yield of large-scale ZnSe nanobelt synthesis is high. This is very important for the practical application of ZnSe nanobelts.
Recently, S.M. Xiong et al. Attempted to fabricate a ZnSe nanobelt by a simple solution-based process as described in Examples below, and succeeded in developing a new method for producing a single crystal ZnSe nanobelt.

本発明の課題は、簡単な溶液プロセスにより作製された上記ZnSeナノベルトを利用した高性能青色/紫外線光検知デバイス(光センサ)を提供することである。本発明の他の課題は、青色/紫外線光検知デバイス(光センサ)の製造方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a high-performance blue / ultraviolet light detection device (photosensor) using the ZnSe nanobelt manufactured by a simple solution process. Another object of the present invention is to provide a method for producing a blue / ultraviolet light detecting device (photosensor).

上記課題を達成するため、本願発明者ら鋭意研究開発を進めた結果、本発明を完成したものである。   The present inventors have completed the present invention as a result of intensive research and development to achieve the above object.

本発明によれば、以下の構成要素を設けた、ZnSeナノベルトベースの青色/紫外線光検知デバイスが提供される。
(a) 絶縁層に覆われたSi基板、
(b) 前記絶縁層上に置かれた単結晶ZnSeナノベルト、及び
(c) 前記ZnSeナノベルトの上に形成された2つの分離された金属電極。
According to the present invention, there is provided a blue / ultraviolet light detection device based on ZnSe nanobelt, provided with the following components.
(A) a Si substrate covered with an insulating layer;
(B) a single crystal ZnSe nanobelt placed on the insulating layer, and (c) two separated metal electrodes formed on the ZnSe nanobelt.

本発明はまた以下のステップを有するZnSeナノベルトベースの青色/紫外線光検知デバイスの製造方法を提供する。
(i) 絶縁層で覆われたSi基板上にZnSeナノベルトを分散させる。
(ii) 光リソグラフィーを用いて前記Si基板上にレジストパターンを形成し、金属電極用の金属材料を前記Si基板及び前記レジストパターン上に電子ビームデポジションし、その後にリフトオフプロセスを行うことにより、前記ナノベルトの上に金属電極をパターン形成する。
The present invention also provides a method of manufacturing a ZnSe nanobelt based blue / ultraviolet light sensing device having the following steps.
(I) A ZnSe nanobelt is dispersed on a Si substrate covered with an insulating layer.
(Ii) forming a resist pattern on the Si substrate using photolithography, depositing a metal material for a metal electrode on the Si substrate and the resist pattern, and then performing a lift-off process; A metal electrode is patterned on the nanobelt.

本発明によるデバイスは高いスペクトル選択性と光電流即時減少比(photocurrent immediate decay ratio)(>99%)、及び高速の時間応答を示す。これはZnSeナノベルトを青色/紫外線(λ<460nm)光検知デバイス(光検出器)として効果的に使用できることを示している。
また、本発明の製造方法を使用することにより、本発明による青色/紫外線光検知デバイス(光検出器)を再現性良く製造することができる。
The device according to the present invention exhibits high spectral selectivity, photocurrent immediate decay ratio (> 99%), and fast time response. This indicates that the ZnSe nanobelt can be effectively used as a blue / ultraviolet (λ <460 nm) light sensing device (light detector).
Further, by using the manufacturing method of the present invention, the blue / ultraviolet light detecting device (photodetector) according to the present invention can be manufactured with good reproducibility.

(a)は個別のナノベルトを使った本発明の光検出器の構造を示す説明図、(b)は本発明の単結晶ZnSeナノベルト光検出器の代表的な走査型電子顕微鏡(SEM)像。(A) is explanatory drawing which shows the structure of the photodetector of this invention using an individual nanobelt, (b) is a typical scanning electron microscope (SEM) image of the single crystal ZnSe nanobelt photodetector of this invention. (a)は本発明のZnSeナノベルト光検出器で400nmの波長の光を照射した場合と暗黒下のI−V特性の比較グラフ、(b)は本発明のZnSeナノベルト光検出器で30Vのバイアスをかけて250nmから630nmの波長範囲で各種の光を照射した場合のスペクトル応答を示す図。(A) is a comparison graph of IV characteristics in the case of irradiating 400 nm wavelength light with the ZnSe nanobelt photodetector of the present invention, and (b) is a bias voltage of 30 V with the ZnSe nanobelt photodetector of the present invention. The spectrum response at the time of irradiating various light in the wavelength range of 250 nm to 630 nm over time. (a)は30Vのバイアスをかけて400nmの光照射を約50秒サイクルのオン・オフ条件の場合の本発明のZnSeナノベルト光検出器の再現性の高いオン/オフ切り替えを示すグラフ、(b)及び(c)は(a)のグラフ中の消灯状態から点灯状態へ、また点灯状態から消灯状態への切り替えに対応する240秒〜260秒の部分と490秒〜510秒の範囲の部分を拡大したグラフ。(A) is a graph showing on / off switching with high reproducibility of the ZnSe nanobelt photodetector of the present invention when 400 nm light irradiation is applied with a bias of 30 V under an on / off condition of about 50 seconds cycle; ) And (c) show a portion of 240 to 260 seconds and a portion of the range of 490 to 510 seconds corresponding to switching from the light-off state to the light-on state and from the light-on state to the light-off state in the graph of (a). Enlarged graph.

すでに述べたように、本発明はZnSeナノベルトベースの青色/紫外線光検知デバイス(光検出器)を提供する。このデバイスは以下の(a)から(c)の要素を含む。
(a) 絶縁体層に覆われたSi基板、
(b) 絶縁体層上に置かれた単結晶ZnSeナノベルト、及び
(c) 前記ZnSeナノベルトの上に形成された2つの分離された金属電極。
As already mentioned, the present invention provides a ZnSe nanobelt based blue / ultraviolet light sensing device (photodetector). This device includes the following elements (a) to (c).
(A) a Si substrate covered with an insulator layer;
(B) a single crystal ZnSe nanobelt placed on the insulator layer, and (c) two separate metal electrodes formed on the ZnSe nanobelt.

ここにおいて、要素(a)の単結晶ZnSeナノベルトとして、好ましくは後述の実施例で述べる方法で製造されたZnSeナノベルト中から良品として選択された単結晶ZnSeナノベルトを使用することができる。なぜなら、このようなナノベルトには双晶や欠陥がほとんどなく、それによりそれらは高性能の青色/紫外線光検知ZnSeナノベルト光検出器のようなデバイスとして適切に使用することができるからである。   Here, as the single-crystal ZnSe nanobelt of the element (a), a single-crystal ZnSe nanobelt selected as a non-defective product from among the ZnSe nanobelts manufactured by the method described in the following examples can be preferably used. This is because such nanobelts have few twins and defects, so that they can be used appropriately as devices such as high performance blue / ultraviolet light sensitive ZnSe nanobelt photodetectors.

ここにおいて、絶縁体層として、たとえばSiO層あるいはAl層を使用することができ、その好ましい厚さは約200nmから約600nmである。 Here, for example, a SiO 2 layer or an Al 2 O 3 layer can be used as the insulator layer, and a preferable thickness thereof is about 200 nm to about 600 nm.

金属電極としては、好ましくは厚さが50nmから150nmのAu電極を使用する。しかし、金はZnSeナノベルトと良好に接触しないため、ZnSeナノベルトが電極と良好に接触するようにするため、好ましくは厚さが5nmから15nmのCrの下地層を使用する。Crの代わりにTiを使用することもできる。   As the metal electrode, an Au electrode having a thickness of 50 nm to 150 nm is preferably used. However, since gold does not make good contact with the ZnSe nanobelts, a Cr underlayer, preferably 5 nm to 15 nm in thickness, is preferably used in order for the ZnSe nanobelts to make good contact with the electrodes. Ti can also be used instead of Cr.

ZnSeナノベルトを使用した青色/紫外線光検知デバイス(光検出器)の典型的な製造方法を下の[実施例1]に示す。
ZnSeナノベルトを使用した青色/紫外線光検知デバイス(光検出器)の特徴を従来のZnSeナノ構造光検出器と比較した。比較結果を表1に示す。
A typical method for producing a blue / ultraviolet light detection device (photodetector) using a ZnSe nanobelt is shown in [Example 1] below.
The characteristics of a blue / ultraviolet light detection device (photodetector) using a ZnSe nanobelt were compared with a conventional ZnSe nanostructure photodetector. The comparison results are shown in Table 1.

表1に示すように、他の従来技術のZnSeナノ構造光検出器に比べ、本発明では最高の光電流即時減少比(>99%)及び光電流/暗電流比(2桁以上の大きさの改善)が達成された。立ち上がりと立ち下がりの両方について記録された光応答速度(<0.3s)は全ての従来のZnSe光検出器のうちで最速であるというだけではなく、本発明の検出器はこれまで報告された1次元ナノ構造に基づくほとんどの光検出器を上回ってさえいる。これらの独自の特徴は、製造されたZnSeナノベルトの大きなSVR、化学物質の純粋性、単結晶性、またそれから作られた光デバイスの両電極間の設計された短いチャネル距離に起因する。これらの結果は、青色/紫外線光検知光検出器(λ<460nm)に対してこのZnSeナノベルトを効果的に利用できることを十分に示している。   As shown in Table 1, compared with other prior art ZnSe nanostructure photodetectors, the present invention has the highest immediate photocurrent reduction ratio (> 99%) and the photocurrent / dark current ratio (more than two orders of magnitude) Improvement) was achieved. Not only is the optical response speed (<0.3 s) recorded for both rising and falling the fastest of all conventional ZnSe photodetectors, the detector of the present invention has been reported so far. It even surpasses most photodetectors based on one-dimensional nanostructures. These unique features are due to the large SVR of the manufactured ZnSe nanobelts, chemical purity, single crystallinity, and the designed short channel distance between the electrodes of the optical device made therefrom. These results sufficiently indicate that this ZnSe nanobelt can be effectively used for a blue / ultraviolet light detection photodetector (λ <460 nm).

本発明の実施例で使用したZnSeナノベルトは、Dr.S.Xiongから提供を受けたものである。そのZnSeナノベルトの典型的な製造方法は以下の通りである。
先ず、ZnSe前駆物質を、非特許文献9に説明されている改良された方法に従ってエチレンジアミン支援三元溶液中で作製する。簡単に説明すれば、2mモルの硫酸亜鉛(ZnSO・2HO)と2mモルのSeOを40mlの蒸留水に加え、混合物を連続した強い攪拌によって一様な溶液を形成するように分散させる。その後、所与の量(0.36mg)のエチレンジアミンと5mLのヒドラジン水和物を室温でこの溶液に添加し、それを10分間連続して攪拌し、出来上がった混合物を内側をテフロン(登録商標)被覆したステンレス性のオートクレーブ(容量60mL)に移す。オートクレーブを封止して20時間200℃に維持する。系が自然に室温まで冷えた後、中間産物(ZnSe前駆物質)を集めて蒸留水と純アルコールで数回洗浄し、真空乾燥する。
The ZnSe nanobelts used in the examples of the present invention are Dr. S. Provided by Xiong. A typical method for producing the ZnSe nanobelt is as follows.
First, a ZnSe precursor is made in an ethylenediamine assisted ternary solution according to an improved method described in [9]. Briefly, 2 mmol of zinc sulfate (ZnSO 4 .2H 2 O) and 2 mmol of SeO 2 are added to 40 ml of distilled water and the mixture is dispersed to form a uniform solution by continuous vigorous stirring. Let Thereafter, a given amount (0.36 mg) of ethylenediamine and 5 mL of hydrazine hydrate were added to this solution at room temperature, and it was continuously stirred for 10 minutes, and the resulting mixture was teflon on the inside. Transfer to a coated stainless steel autoclave (capacity 60 mL). The autoclave is sealed and maintained at 200 ° C. for 20 hours. After the system has cooled naturally to room temperature, the intermediate product (ZnSe precursor) is collected, washed several times with distilled water and pure alcohol, and vacuum dried.

最後に、得られたZnSe前駆物質を従来の環状炉中で、純粋アルゴン雰囲気中で3時間500℃で加熱する。系が自然に室温まで冷えた後、最終産物を集める。収量:約0.2mg。   Finally, the resulting ZnSe precursor is heated in a conventional annular furnace for 3 hours at 500 ° C. in a pure argon atmosphere. After the system naturally cools to room temperature, the final product is collected. Yield: about 0.2 mg.

[実施例1]
デバイス製造及び特性測定
(a) デバイス製造
個々のZnSeナノベルトを、マイクロ加工プロセスを使用してナノスケールの光検出器として組み立てた。このやりかたは、本願発明者が個別ZnSナノベルトベースの紫外線光センサについて以前報告したものと類似している(非特許文献10を参照)。すなわち、ZnSeナノベルトをエタノール中に分散して300nmのSiO層に覆われた熱酸化されたSi基板上に滴下した。Au/Cr電極(上層のAuが100nm厚、下層のCrが10nm厚)を、予め設計されたマスク、電子ビームデポジション、更にその後のリフトオフプロセスの支援で、光リソグラフィーを用いて、ナノベルトの上にパターン形成した。具体的なデバイス製造プロセスとその詳細な条件は以下の通りである。
[Example 1]
Device Fabrication and Characterization (a) Device Fabrication Individual ZnSe nanobelts were assembled as nanoscale photodetectors using a microfabrication process. This is similar to what the inventor previously reported for individual ZnS nanobelt-based ultraviolet light sensors (see Non-Patent Document 10). That is, ZnSe nanobelts were dispersed in ethanol and dropped onto a thermally oxidized Si substrate covered with a 300 nm SiO 2 layer. An Au / Cr electrode (the upper Au layer is 100 nm thick and the lower Cr layer is 10 nm thick) is applied to the nanobelt using photolithography with the help of a pre-designed mask, electron beam deposition, and subsequent lift-off process. A pattern was formed. The specific device manufacturing process and its detailed conditions are as follows.

<光リソグラフィー>
使用した方法:AZ5214E逆現像法(reverse developing method)
使用したフォトレジスト:クラリアントジャパン株式会社AZ5214E
コーティング手順
1. 東京応化工業株式会社製OAP(1,1,3,3,3−ヘキサメチル)をスピンコーティングする
2.ZA5214Eをスピンコーティングする
3.事前ベーキングを行う
90℃、180秒間、ホットプレート上でベーキング
4.フォトマスクを使って露光を行う
SUSSアライナを使用して2秒間露光
5.2次ベーキングを行う
120℃で180秒間、ホットプレート上でベーキング
6.水に浸漬する
30秒間浸漬
7.フォトマスクを使って露光を行う
20秒間露光
8.現像を行う
現像剤:東京応化工業株式会社製NMD−3(水酸化テトラメチルアンモニウム2.38%水溶液)
浸漬:120秒間
水洗:30秒間を3回
9.後ベーキング
120℃で120秒間、ホットプレート上でベーキング
<Optical lithography>
Method used: AZ5214E reverse developing method
Used photoresist: Clariant Japan AZ5214E
Coating procedure 1. Spin coat OAP (1,1,3,3,3-hexamethyl) manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. 2. Spin coat ZA5214E Perform pre-baking Bake on hot plate at 90 ° C for 180 seconds 4. Exposure using a photomask Exposure for 2 seconds using a SUSS aligner 5. Secondary baking performed 120 ° C for 180 seconds, baking on a hot plate 6. Immerse in water Immerse for 30 seconds 7. 7. Use a photomask to expose 20 seconds exposure Developer: NMD-3 (tetramethylammonium hydroxide 2.38% aqueous solution) manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.
Immersion: 120 seconds Washing water: 30 seconds 3 times 9. Post-bake Bake on a hot plate at 120 ° C for 120 seconds

<薄膜金属デポジション>
上記基板上に、電子ビームデポジションを使用してCr膜(10nm)をデポジットした。次に、電子ビームデポジションを使用して薄いAu膜をデポジットした。
<リフトオフプロセス>
A2剥離剤(A2 remover)を使用、12時間(一晩)処理
<Thin metal deposition>
A Cr film (10 nm) was deposited on the substrate using electron beam deposition. Next, a thin Au film was deposited using electron beam deposition.
<Lift-off process>
A2 stripper (A2 remover), treatment for 12 hours (overnight)

図1(a)は光検出器として構成された個別のナノベルトの概略図である。図中、「ZnSenanobelt」と記載された箇所がナノベルトであり、「Silicon oxide」及び「Silicon backgate」と記載された箇所がSiO/Si基板である。図1(b)は単結晶ZnSeナノベルトデバイスの代表的な走査型電子顕微鏡(SEM)像である。ナノベルトを分散させたSiO/Si基板上に、互いに2.6μm離間した、Au/Cr(それぞれの厚さは100nm/10nm)電極をデポジットした。ナノベルトのうちの覆われていない部分を光に露出した。図1(b)のナノベルトは典型的な長さと幅がそれぞれ約5μmと約250nmであり、Au/Cr電極に接続された。 FIG. 1 (a) is a schematic diagram of an individual nanobelt configured as a photodetector. In the figure, the portion described as “ZnSenanobelt” is a nanobelt, and the portions described as “Silicon oxide” and “Silicon background” are SiO 2 / Si substrates. FIG. 1 (b) is a representative scanning electron microscope (SEM) image of a single crystal ZnSe nanobelt device. Au / Cr (each thickness is 100 nm / 10 nm) electrodes separated by 2.6 μm from each other were deposited on a SiO 2 / Si substrate in which nanobelts were dispersed. An uncovered portion of the nanobelt was exposed to light. The nanobelts in FIG. 1 (b) have typical lengths and widths of about 5 μm and about 250 nm, respectively, and were connected to Au / Cr electrodes.

(b)特性解析
ZnSeナノベルトを使用した電流−電圧(I−V)特性を大気中・室温で、各種の波長の光及び暗黒条件下で、アドバンテスト社のピコアンメーターR8340A及び直流電圧源R6144を使用して測定した。30Vのバイアスについての、250nmから630nmまでの各種の波長におけるスペクトル光応答を、500Wキセノンランプを使用して記録した。400nm光照明下で、30Vの電圧を印加した状態で、点灯及び消灯状態についての時間依存光電流応答を検出し、入射光パワーは紫外線強化Siフォトダイオードによって校正した。
(B) Characteristic analysis Advantest Picoammeter R8340A and DC voltage source R6144 were measured under light and dark conditions at various wavelengths in the atmosphere and at room temperature using current-voltage (IV) characteristics using ZnSe nanobelts. Measured using. Spectral photoresponse at various wavelengths from 250 nm to 630 nm for a bias of 30 V was recorded using a 500 W xenon lamp. Under the illumination of 400 nm, a time-dependent photocurrent response for the lighting and extinguishing states was detected with a voltage of 30 V applied, and the incident light power was calibrated with an ultraviolet enhanced Si photodiode.

図2(a)は、400nmの光を照射した場合と暗黒条件に置いた場合とを比較したZnSeナノベルト光検出器のI−V特性を示す。この比較結果では、光検出器の暗電流は電流計の検出限界(10−14A)を下回っていることが特に注目される。また、光電流カーブはほぼリニアであり、ナノベルト構造と電極の間の物理的接触が良好であることを示している。30Vの印加電圧において、約1.7pAの光電流が記録された。暗電流との、あるいは他のサブバンド照射(500nmより上の波長)との比較では、300nmの可視光のようなEg(約2.70eV、460nm)より高いエネルギーの光で本デバイスを照射した場合、光電流の大きさは2桁よりももっと増大する。 FIG. 2A shows the IV characteristics of a ZnSe nanobelt photodetector comparing the case of irradiation with light of 400 nm and the case of being placed in a dark condition. In this comparison result, it is particularly noted that the dark current of the photodetector is below the detection limit (10 −14 A) of the ammeter. In addition, the photocurrent curve is almost linear, indicating that the physical contact between the nanobelt structure and the electrode is good. At an applied voltage of 30 V, a photocurrent of about 1.7 pA was recorded. In comparison with dark current or other sub-band irradiation (wavelengths above 500 nm), the device was irradiated with light of higher energy than Eg (about 2.70 eV, 460 nm) such as 300 nm visible light In some cases, the magnitude of the photocurrent increases more than two orders of magnitude.

図2(b)は、30Vのバイアスをかけた場合の、250nmから630nmまでの各種の波長でのスペクトル光応答を示す。この光応答は、ZnSeのバンドギャップエネルギーに近い約460nm(約2.7eV)の閾値刺激エネルギーより上では顕著な増大を示している。250nmの遠紫外線(DUV)光と600nmの可視光の間の約3桁の大きさの判別比は明らかである。これは開発された光検出器が紫外線光の照射下で有益であるだけではなく、短波長の青色光に感度を持つ光検出器(460nm未満)にも応用できることを示している。   FIG. 2 (b) shows the spectral photoresponse at various wavelengths from 250 nm to 630 nm when biased at 30V. This photoresponse shows a significant increase above the threshold stimulation energy of about 460 nm (about 2.7 eV), close to the band gap energy of ZnSe. A discriminating ratio of about three orders of magnitude between 250 nm deep ultraviolet (DUV) light and 600 nm visible light is evident. This indicates that the developed photodetector is not only useful under the irradiation of ultraviolet light, but can also be applied to a photodetector (less than 460 nm) sensitive to short-wavelength blue light.

図3(a)は30Vの電圧を印加したときの、約50秒周期で点灯及び消灯を行うという条件について、400nm光照明の場合のZnSeナノベルト光検出器の電流応答を示す。240秒から260秒の範囲及び490秒から510秒の範囲の拡大部分は、それぞれ消灯から点灯へ、また点灯から消灯への遷移に対応し、図3(b)及び図3(c)に示されている。これらの図は、立ち上がり時間と立ち下がり時間の両方が、我々の測定の設備の限界(0.3秒)よりも速いことを示している。本光検出器はまた非常に良好な光電流の再現性及び安定性を有している。   FIG. 3A shows the current response of the ZnSe nanobelt photodetector in the case of 400 nm light illumination under the condition of turning on and off at a period of about 50 seconds when a voltage of 30 V is applied. The enlarged portions in the range of 240 to 260 seconds and the range of 490 to 510 seconds correspond to the transition from off to on and from on to off, respectively, and are shown in FIGS. 3 (b) and 3 (c). Has been. These figures show that both rise time and fall time are faster than the limit of our measurement equipment (0.3 seconds). The photodetector also has very good photocurrent reproducibility and stability.

以上詳細に説明したように、本発明によれば青色及び紫外線領域において高感度で暗電流が極小である光検出器を得ることができるので、本発明はこの波長域用の光検出器技術として利用価値が高いものである。   As described above in detail, according to the present invention, it is possible to obtain a photodetector having high sensitivity and minimal dark current in the blue and ultraviolet regions. Therefore, the present invention is a photodetector technology for this wavelength region. The utility value is high.

Z. W. Pan, et al.: Science, 2001, vol.291, 1947Z. W. Pan, et al. : Science, 2001, vol. 291, 1947 J. S. Jie, et al.: Nano. Lett., 2006, vol.6, 1887J. et al. S. Jie, et al. : Nano. Lett. , 2006, vol. 6, 1887 S. H. Yu, et al.: Adv. Mater. 2002, vol.14, 296S. H. Yu, et al. : Adv. Mater. 2002, vol. 14, 296 J. Salfi, et al.: Appl. Phys. Lett., 2006, vol.89, 261112J. et al. Salfi, et al. : Appl. Phys. Lett. , 2006, vol. 89, 261112 C. H. Hsiao, et al.: J. Elecrochem. Soc. 2009, vol.156, J73C. H. Hsiao, et al. : J.M. Elecrochem. Soc. 2009, vol. 156, J73 X. Fan, et al.: J. Phys. Chem. C, 2009, vol.113, 834X. Fan, et al. : J.M. Phys. Chem. C, 2009, vol. 113, 834 D. H. Hu, et al.: J. Phys. Chem. C, 2007, vol.111, 2987D. H. Hu, et al. : J.M. Phys. Chem. C, 2007, vol. 111, 2987 F. Wang, et al.:Nanotechnology, 2007, vol.18, 305705F. Wang, et al. : Nanotechnology, 2007, vol. 18, 305705 S. Xiong, et al.: Adv. Funct. Mater. , 2005, vol.15, 1787S. Xiong, et al. : Adv. Funct. Mater. , 2005, vol. 15, 1787 X. S. Fang, et al.: Adv. Mater. , 2009, vol.21, 2034X. S. Fang, et al. : Adv. Mater. , 2009, vol. 21, 2034

Claims (6)

以下の(a)から(c)を設けた、ZnSeナノベルトベースの青色/紫外線光検知デバイス。
(a) 絶縁層に覆われたSi基板、
(b) 前記絶縁層上に置かれた単結晶ZnSeナノベルト、及び
(c) 前記ZnSeナノベルトの上に形成された2つの分離された金属電極。
A blue / ultraviolet light detection device based on a ZnSe nanobelt provided with the following (a) to (c):
(A) a Si substrate covered with an insulating layer;
(B) a single crystal ZnSe nanobelt placed on the insulating layer, and (c) two separated metal electrodes formed on the ZnSe nanobelt.
前記絶縁層はSiOまたはAlである、請求項1記載のデバイス。 The device of claim 1, wherein the insulating layer is SiO 2 or Al 2 O 3 . 前記絶縁層の厚さは200nmから600nmの範囲である、請求項2記載のデバイス。 The device of claim 2, wherein the thickness of the insulating layer ranges from 200 nm to 600 nm. 前記電極はAu/Cr構成であり、Crの層がAuの層の下に設けられる、請求項1から請求項3のいずれかに記載のデバイス。 4. A device according to any of claims 1 to 3, wherein the electrode is of Au / Cr configuration and a layer of Cr is provided below the layer of Au. 前記Auの層の厚さは50nmから150nmの範囲であり、前記Crの層の厚さは5nmから15nmの範囲である、請求項4記載のデバイス。 The device of claim 4, wherein the Au layer has a thickness in the range of 50 nm to 150 nm, and the Cr layer has a thickness in the range of 5 nm to 15 nm. 以下の(i)から(ii)のステップを有するZnSeナノベルトベースの青色/紫外線光検知デバイスの製造方法。
(i) 絶縁層で覆われたSi基板上にZnSeナノベルトを分散させる、
(ii)光リソグラフィーを用いて前記Si基板上にレジストパターンを形成し、金属電極用の金属材料を前記Si基板及び前記レジストパターン上に電子ビームデポジションし、その後にリフトオフプロセスを行うことにより、前記ナノベルトの上に金属電極をパターン形成する。
A method for producing a ZnSe nanobelt-based blue / ultraviolet light detecting device having the following steps (i) to (ii):
(I) dispersing a ZnSe nanobelt on a Si substrate covered with an insulating layer;
(Ii) forming a resist pattern on the Si substrate using photolithography, depositing a metal material for a metal electrode on the Si substrate and the resist pattern, and then performing a lift-off process; A metal electrode is patterned on the nanobelt.
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