JP2003282681A - Substrate holding device and substrate processing device - Google Patents

Substrate holding device and substrate processing device

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JP2003282681A
JP2003282681A JP2002085448A JP2002085448A JP2003282681A JP 2003282681 A JP2003282681 A JP 2003282681A JP 2002085448 A JP2002085448 A JP 2002085448A JP 2002085448 A JP2002085448 A JP 2002085448A JP 2003282681 A JP2003282681 A JP 2003282681A
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JP
Japan
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substrate
holding
shape memory
memory alloy
alloy wire
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Application number
JP2002085448A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Kitazawa
裕之 北澤
Tsutomu Kamiyama
勉 上山
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡易な構成で基板の保持および解除を切り換
える。 【解決手段】 可動保持部材11の第1腕部13の先端
部15には、コイルばね51および形状記憶合金ワイヤ
ー61の一方端がそれぞれ接続されており、コントロー
ラによりワイヤー61を通電加熱するとワイヤー61が
収縮し、コイルばね51に抗する張力がワイヤー61に
より可動保持部材11に印加されて、可動保持部材11
は保持解除位置に移動する。ワイヤー61への通電を停
止するとワイヤー61は自然冷却されて元の弛緩状態に
戻り、コイルばね51の付勢力により可動保持部材11
は保持位置に移動する。
(57) [Summary] To switch between holding and release of a substrate with a simple configuration. SOLUTION: A coil spring 51 and one end of a shape memory alloy wire 61 are connected to a distal end portion 15 of a first arm portion 13 of a movable holding member 11, respectively. Is contracted, and a tension against the coil spring 51 is applied to the movable holding member 11 by the wire 61, and the movable holding member 11
Moves to the holding release position. When the power supply to the wire 61 is stopped, the wire 61 is naturally cooled and returns to the original relaxed state.
Moves to the holding position.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体ウエハ、
フォトマスク用ガラス基板、液晶表示用ガラス基板、プ
ラズマ表示用ガラス基板、光ディスク用基板などの各種
基板(以下、単に「基板」という)に、処理液や処理ガ
スなどの処理流体を供給して所定の処理を施す基板処理
装置などに適用され、特に簡易な構成で基板の保持およ
び当該保持の解除が可能な基板保持装置および基板処理
装置に関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a semiconductor wafer,
A process fluid such as a process liquid or a process gas is supplied to various substrates such as a photomask glass substrate, a liquid crystal display glass substrate, a plasma display glass substrate, and an optical disc substrate (hereinafter simply referred to as “substrate”) to perform a predetermined process The present invention relates to a substrate holding apparatus and a substrate processing apparatus which are applied to a substrate processing apparatus that performs the above process and can hold and release the substrate with a particularly simple structure.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、基板に処理液や処理ガスなどの処
理流体を供給して所定の処理を施すべく、基板保持部材
によって基板を保持して鉛直軸周りに回転させて基板に
適宜の処理を施すように構成された基板処理装置が知ら
れている(例えば特開平10−135172号公報参
照)。
2. Description of the Related Art Conventionally, in order to supply a processing fluid such as a processing liquid or a processing gas to a substrate to perform a predetermined process, the substrate is held by a substrate holding member and rotated about a vertical axis to appropriately process the substrate. There is known a substrate processing apparatus configured to perform the above (see, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 10-135172).

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記特開平10−13
5172号公報に記載されている従来の基板処理装置で
は、基板保持部材により基板を回転可能に、かつ確実に
保持するためにリンク機構を備え、このリンク機構は、
基板保持部材を回転付勢して基板を保持させるリンク部
材と、このリンク部材による回転付勢力を解除するため
の解除機構を備えており、その構成が複雑なものとなっ
ている。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
The conventional substrate processing apparatus described in Japanese Patent No. 5172 is provided with a link mechanism for rotatably and surely holding a substrate by a substrate holding member.
The link member for rotating the substrate holding member to hold the substrate and the release mechanism for releasing the rotation biasing force by the link member are provided, and the structure thereof is complicated.

【0004】リンク部材については基板とともに回転す
ることになるため、小型の部材であることが望ましい。
また、解除機構については、複雑な構成を有すると部品
点数が増加するとともに塵の発生源が増加し、ひいては
塵の発生量が増加することになるため、特に基板処理装
置としては、可能な限り簡易な構成を有するものが望ま
れる。
Since the link member rotates together with the substrate, it is desirable that the link member is a small member.
Further, regarding the release mechanism, if the complicated structure is used, the number of parts increases and the number of dust generation sources increases, which in turn increases the generation amount of dust. What has a simple structure is desired.

【0005】この発明は上記課題に鑑みなされたもので
あり、簡易な構成で基板の保持および解除を切り換える
ことが可能な基板保持装置および基板処理装置を提供す
ることを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a substrate holding apparatus and a substrate processing apparatus capable of switching between holding and releasing a substrate with a simple structure.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明にかかる基板保
持装置は、上記目的を達成するために、複数の基板保持
部材を基板の外周端部に係合させて前記基板を保持する
基板保持装置において、前記複数の基板保持部材のうち
少なくとも1つの基板保持部材が可動保持部材として前
記基板の外周端部に係合する保持位置と、前記基板の外
周端部から離れた保持解除位置との間を移動自在に設け
られるとともに、前記可動保持部材ごとに接続されて、
前記可動保持部材を前記保持位置または前記保持解除位
置に移動する方向に付勢する付勢部材と、前記可動保持
部材ごとに接続された形状記憶合金ワイヤーと、前記形
状記憶合金ワイヤーの温度を制御することで前記形状記
憶合金ワイヤーを収縮または伸張させて前記可動保持部
材を前記付勢部材の付勢力に抗しながら前記付勢部材に
より付勢される方向と反対方向に移動させるコントロー
ラとを備えている。
In order to achieve the above object, a substrate holding device according to the present invention holds a plurality of substrate holding members by engaging the outer peripheral ends of the substrates to hold the substrate. Between a holding position in which at least one substrate holding member of the plurality of substrate holding members engages with the outer peripheral end of the substrate as a movable holding member and a holding release position separated from the outer peripheral end of the substrate. Is movably provided and is connected to each of the movable holding members,
A biasing member that biases the movable holding member in a direction of moving to the holding position or the holding release position, a shape memory alloy wire connected to each of the movable holding members, and a temperature of the shape memory alloy wire is controlled. A controller for contracting or expanding the shape memory alloy wire to move the movable holding member in a direction opposite to the direction biased by the biasing member while resisting the biasing force of the biasing member. ing.

【0007】また、この発明にかかる基板処理装置は、
請求項1ないし3のいずれかに記載の基板保持装置から
なる基板保持手段と、前記基板保持手段により保持され
た前記基板を回転させる基板回転手段とを備えている。
Also, the substrate processing apparatus according to the present invention is
A substrate holding means comprising the substrate holding device according to any one of claims 1 to 3, and a substrate rotating means for rotating the substrate held by the substrate holding means.

【0008】このように構成された発明(基板保持装置
および基板処理装置)では、基板の外周端部に係合させ
て基板を保持する複数の基板保持部材のうち、少なくと
も1つの基板保持部材が可動保持部材として基板の外周
端部に係合する保持位置と、基板の外周端部から離れた
保持解除位置との間を移動自在に設けられている。ま
た、可動保持部材を保持位置または保持解除位置に移動
する方向に付勢する付勢部材が可動保持部材ごとに接続
され、形状記憶合金ワイヤーが可動保持部材ごとに接続
されている。
In the invention thus constructed (substrate holding device and substrate processing device), at least one of the plurality of substrate holding members that holds the substrate by engaging the outer peripheral edge of the substrate is at least one substrate holding member. The movable holding member is movably provided between a holding position that engages the outer peripheral end of the substrate and a holding release position that is separated from the outer peripheral end of the substrate. Further, a biasing member that biases the movable holding member in the direction of moving to the holding position or the holding release position is connected to each movable holding member, and the shape memory alloy wire is connected to each movable holding member.

【0009】そして、コントローラにより形状記憶合金
ワイヤーの温度を制御することでワイヤーの収縮または
伸張が生じて、可動保持部材が付勢部材の付勢力に抗し
ながら付勢部材により付勢される方向と反対方向に移動
する。具体的には、例えば付勢部材により可動保持部材
が保持位置に移動する方向に付勢される場合には、形状
記憶合金ワイヤーの収縮または伸張により可動保持部材
が保持解除位置に移動し、例えば付勢部材により可動保
持部材が保持解除位置に移動する方向に付勢される場合
には、形状記憶合金ワイヤーの収縮または伸張により可
動保持部材が保持位置に移動する。
Then, the controller controls the temperature of the shape memory alloy wire to cause contraction or extension of the wire, and the movable holding member is biased by the biasing member while resisting the biasing force of the biasing member. And move in the opposite direction. Specifically, for example, when the movable holding member is biased in the direction of moving to the holding position by the biasing member, the movable holding member moves to the holding release position due to contraction or extension of the shape memory alloy wire, and When the movable holding member is biased by the biasing member in the direction of moving to the holding release position, the movable holding member moves to the holding position due to contraction or extension of the shape memory alloy wire.

【0010】これによって、可動保持部材の保持位置と
保持解除位置との間の移動が簡易な構成で行えることと
なり、基板を保持するための装置を構成する部品点数の
削減が可能になる。
As a result, the movable holding member can be moved between the holding position and the holding release position with a simple structure, and the number of parts constituting the apparatus for holding the substrate can be reduced.

【0011】ここで、付勢部材および形状記憶合金ワイ
ヤーの可動保持部材に対する接続形態については特に限
定されるものではないが、例えば、可動保持部材は、板
状のベース部材に立設された回動軸に回動可能に配設さ
れた本体部と、この本体部から延びる第1腕部および第
2腕部とを備え、前記第1腕部には、前記付勢部材およ
び前記形状記憶合金ワイヤーの一方端がそれぞれ接続さ
れ、前記保持位置において前記第2腕部が前記基板の外
周端縁を係合するとともに前記保持解除位置において前
記第2腕部の前記基板の外周端縁の係合が解除されるよ
うに構成されており、前記付勢部材および前記形状記憶
合金ワイヤーの他方端は、それぞれ前記ベース部材に固
定されているとすると、簡易な構成で、付勢部材および
形状記憶合金ワイヤーによる互いの対抗力を効率的に可
動保持部材に印加させることができ、好適である。
Here, the connection form of the biasing member and the shape memory alloy wire to the movable holding member is not particularly limited, but, for example, the movable holding member is provided on a plate-shaped base member in a standing manner. A main body portion rotatably disposed on the moving shaft and a first arm portion and a second arm portion extending from the main body portion are provided, and the first arm portion includes the biasing member and the shape memory alloy. One ends of the wires are connected to each other, the second arm portion engages the outer peripheral edge of the substrate at the holding position, and the second arm portion engages the outer peripheral edge of the substrate at the holding release position. Is configured to be released, and the other end of the biasing member and the shape memory alloy wire are fixed to the base member, respectively, with a simple configuration, the biasing member and the shape memory alloy. Wai Mutual opposing force by chromatography can be efficiently applied to the movable holding member, which is preferable.

【0012】また、前記コントローラは、電源と、前記
電源から出力される電流を前記形状記憶合金ワイヤーに
通電するタイミングを調整する通電制御部とを備える構
成とすると、形状記憶合金ワイヤーの収縮または伸張が
タイミング良く行えることとなる。
If the controller is provided with a power supply and an energization control unit that adjusts the timing of energizing the shape memory alloy wire with a current output from the power supply, the controller shrinks or expands the shape memory alloy wire. Can be done in good timing.

【0013】なお、形状記憶合金ワイヤーの収縮または
伸張とは、温度制御によってワイヤー長が収縮する状態
と伸張する状態とが切り換えられる場合に加えて、温度
制御によってワイヤー長が弛緩状態で収縮される状態
と、伸張する状態とが切り換えられる場合や、温度制御
によってワイヤー長が収縮する状態と、弛緩状態で伸張
される状態とが切り換えられる場合が含まれる。
The contraction or extension of the shape memory alloy wire means that the wire length is contracted in a relaxed state by temperature control, in addition to the case where the wire length is contracted or extended by temperature control. It includes a case where the state and the stretched state are switched, and a case where the state where the wire length is contracted by temperature control and the state where the wire is stretched in the relaxed state are switched.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】図1は本発明にかかる基板処理装
置の一実施形態である基板洗浄装置の要部を示す図で、
(a)は平面図、(b)は側面図である。また、図2は
同基板洗浄装置の電気的構成の要部を示すブロック図で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing a main part of a substrate cleaning apparatus which is an embodiment of a substrate processing apparatus according to the present invention.
(A) is a plan view and (b) is a side view. Further, FIG. 2 is a block diagram showing a main part of an electrical configuration of the substrate cleaning apparatus.

【0015】図1(b)において、この基板処理装置は
円筒状の回転軸部1を備え、この回転軸部1は、ベルト
からなる駆動力伝達機構2によりモータ3に連結され、
回転中心軸を中心に回転可能に立設されている。回転軸
部1の上端部には円板状のスピンベース4が固定され、
このスピンベース4上には基板保持機構5が配設されて
いる。そして、この基板洗浄装置は、基板保持機構5に
より保持された基板6を回転しつつ、ノズル7から洗浄
液を吐出して基板6の表面を洗浄するとともに、ノズル
7からの洗浄液の吐出を停止した状態で基板6を回転さ
せることで基板6を乾燥させるものである。なお、洗浄
液として使用される液体は、純水、酸、アルカリ、希釈
現像液およびオゾンを純水に溶解したオゾン水などの基
板洗浄処理に使用される液体であれば、特に限定されな
い。
In FIG. 1 (b), this substrate processing apparatus comprises a cylindrical rotary shaft portion 1, and this rotary shaft portion 1 is connected to a motor 3 by a driving force transmission mechanism 2 composed of a belt,
It is erected so as to be rotatable around the rotation center axis. A disc-shaped spin base 4 is fixed to the upper end of the rotary shaft portion 1,
A substrate holding mechanism 5 is arranged on the spin base 4. Then, this substrate cleaning apparatus rotates the substrate 6 held by the substrate holding mechanism 5 to discharge the cleaning liquid from the nozzle 7 to clean the surface of the substrate 6 and stop the discharge of the cleaning liquid from the nozzle 7. In this state, the substrate 6 is rotated to dry the substrate 6. The liquid used as the cleaning liquid is not particularly limited as long as it is a liquid used for the substrate cleaning process, such as pure water, acid, alkali, diluted developing solution, and ozone water in which ozone is dissolved in pure water.

【0016】基板保持機構5は、図1(a)に示すよう
に、基板保持部10,20,30を備えている。基板保
持部10は、可動保持部材11と、コイルばね51と、
形状記憶合金ワイヤー(以下、単に「ワイヤー」とい
う。)61とを備えている。
The substrate holding mechanism 5 is provided with substrate holding portions 10, 20, 30 as shown in FIG. 1 (a). The substrate holding unit 10 includes a movable holding member 11, a coil spring 51,
The shape memory alloy wire (hereinafter, simply referred to as “wire”) 61 is provided.

【0017】可動保持部材11は、スピンベース4に立
設された回動軸41に回動可能に配設された本体部12
と、この本体部12から延びる第1腕部13および第2
腕部14とを備えている。第1腕部13の先端部15に
は、コイルばね51およびワイヤー61の一方端がそれ
ぞれ接続されている。第2腕部14は、先端が鉛直方向
に延設され、その延設された先端に形成された係合部1
6を備えている。
The movable holding member 11 is a body portion 12 rotatably arranged on a rotation shaft 41 provided upright on the spin base 4.
And a first arm portion 13 and a second arm portion 13 extending from the body portion 12.
And an arm portion 14. One ends of the coil spring 51 and the wire 61 are connected to the tip portion 15 of the first arm portion 13, respectively. The second arm portion 14 has a tip extending vertically, and the engaging portion 1 formed at the extended tip.
6 is provided.

【0018】コイルばね51は、回動軸41を中心とし
て可動保持部材11を時計回りに付勢するもので、その
他方端は取付部17においてスピンベース4に固定され
ている。ワイヤー61は、例えばTi−Ni系形状記憶
合金からなり、その他方端は取付部18においてスピン
ベース4に固定されている。ワイヤー61の機能につい
ては後述する。
The coil spring 51 urges the movable holding member 11 clockwise around the rotation shaft 41, and the other end is fixed to the spin base 4 at the mounting portion 17. The wire 61 is made of, for example, a Ti—Ni-based shape memory alloy, and the other end is fixed to the spin base 4 at the mounting portion 18. The function of the wire 61 will be described later.

【0019】スピンベース4に立設されたストッパ71
は、コイルばね51による可動保持部材11の回転付勢
を適宜の位置(図1(a)中、実線)で停止させるため
のもので、基板6が無いときにコイルばね51によって
可動保持部材11が必要以上に回動されるのを防止する
ようにしている。
A stopper 71 provided upright on the spin base 4.
Is for stopping the rotational biasing of the movable holding member 11 by the coil spring 51 at an appropriate position (solid line in FIG. 1A), and when the substrate 6 is not present, the movable holding member 11 is stopped by the coil spring 51. Is prevented from being rotated more than necessary.

【0020】基板保持部20,30は、基板保持部10
と同一構成になっている。すなわち、基板保持部20
は、可動保持部材21と、コイルばね52と、形状記憶
合金ワイヤー(以下、単に「ワイヤー」という。)62
とを備えている。また、可動保持部材21は、可動保持
部材11と同一構成で、本体部22、先端部25を有す
る第1腕部23、係合部26を有する第2腕部24を備
えており、スピンベース4に立設された回動軸42を中
心として回動可能にされ、コイルばね52による回動範
囲がスピンベース4に立設されたストッパ72により規
制されている。コイルばね52の一方端は先端部25に
接続され、他方端はスピンベース4に固定されている。
ワイヤー62の一方端は先端部25に接続され、他方端
はスピンベース4に固定されている。
The substrate holders 20 and 30 are the substrate holder 10
It has the same structure as. That is, the substrate holding unit 20
Is a movable holding member 21, a coil spring 52, and a shape memory alloy wire (hereinafter, simply referred to as “wire”) 62.
It has and. The movable holding member 21 has the same structure as the movable holding member 11, and includes a main body portion 22, a first arm portion 23 having a tip portion 25, and a second arm portion 24 having an engaging portion 26. 4 is made rotatable about a rotation shaft 42 provided upright, and the range of rotation by a coil spring 52 is restricted by a stopper 72 provided upright on the spin base 4. One end of the coil spring 52 is connected to the tip portion 25, and the other end is fixed to the spin base 4.
One end of the wire 62 is connected to the tip portion 25, and the other end is fixed to the spin base 4.

【0021】また、基板保持部30は、可動保持部材3
1と、コイルばね53と、形状記憶合金ワイヤー(以
下、単に「ワイヤー」という。)63とを備えている。
また、可動保持部材31は、可動保持部材11と同一構
成で、本体部32、先端部35を有する第1腕部33、
係合部36を有する第2腕部34を備えており、スピン
ベース4に立設された回動軸43を中心として回動可能
にされ、コイルばね53による回動範囲がスピンベース
4に立設されたストッパ73により規制されている。コ
イルばね53の一方端は先端部35に接続され、他方端
はスピンベース4に固定されている。ワイヤー63の一
方端は先端部35に接続され、他方端はスピンベース4
に固定されている。ワイヤー62,63の機能について
は後述する。
Further, the substrate holding section 30 is a movable holding member 3.
1, a coil spring 53, and a shape memory alloy wire (hereinafter, simply referred to as “wire”) 63.
The movable holding member 31 has the same structure as the movable holding member 11, and has a body portion 32 and a first arm portion 33 having a tip portion 35.
The second arm portion 34 having the engaging portion 36 is provided, and the second arm portion 34 is rotatable about a rotation shaft 43 provided upright on the spin base 4, and the rotation range of the coil spring 53 is set up on the spin base 4. It is regulated by a stopper 73 provided. One end of the coil spring 53 is connected to the tip portion 35, and the other end is fixed to the spin base 4. One end of the wire 63 is connected to the tip portion 35, and the other end is connected to the spin base 4
It is fixed to. The functions of the wires 62 and 63 will be described later.

【0022】この基板処理装置は、図2に示すように、
電源部81およびCPU82を有するコントローラ80
を備え、このコントローラ80は、スリップリングや接
続端子などからなる接続部83を介してワイヤー61,
62,63の両端に接続されている。CPU82は、電
源部81から出力される電流をワイヤー61,62,6
3に通電するタイミングを調整するもので、この通電タ
イミングの調整によってワイヤー61,62,63の温
度を制御し、ワイヤー61,62,63を収縮させた
り、弛緩させる。
This substrate processing apparatus, as shown in FIG.
Controller 80 having power supply unit 81 and CPU 82
This controller 80 includes a wire 61, a connecting portion 83 including a slip ring and a connecting terminal, and the like.
It is connected to both ends of 62 and 63. The CPU 82 outputs the current output from the power supply unit 81 to the wires 61, 62, 6
The timing of energizing 3 is adjusted. By adjusting the energizing timing, the temperature of the wires 61, 62, 63 is controlled, and the wires 61, 62, 63 are contracted or relaxed.

【0023】次に、図3を参照しつつ、基板保持部1
0,20,30の動作について説明する。なお、基板保
持部10,20,30は上述したように同一構成になっ
ているため、ここでは基板保持部10の動作について詳
述する一方、基板保持部20,30については説明を省
略する。図3は基板保持部10を示す図で、(a)はワ
イヤー61が非通電状態の平面図、(b)は(a)のB
矢視図、(c)はワイヤー61が通電状態の平面図、
(d)は(c)のD矢視図である。なお、(a),
(c)では説明の便宜上、基板6の図示を省略してい
る。
Next, referring to FIG. 3, the substrate holder 1
The operations of 0, 20, and 30 will be described. Since the substrate holders 10, 20, and 30 have the same configuration as described above, the operation of the substrate holder 10 will be described in detail here, while description of the substrate holders 20 and 30 will be omitted. 3A and 3B are views showing the substrate holding unit 10. FIG. 3A is a plan view of the wire 61 in a non-energized state, and FIG. 3B is B of FIG.
View from the arrow, (c) is a plan view of the wire 61 in a conducting state,
(D) is a D arrow view of (c). In addition, (a),
In (c), the substrate 6 is not shown for convenience of description.

【0024】ワイヤー61が非通電状態のときは、図3
(a)に示すようにワイヤー61は弛緩状態で伸張され
た状態となっており、ワイヤー61が可動保持部材11
に与える張力はほぼゼロとなっている。従って、可動保
持部材11はコイルばね51による付勢力によって回動
軸41を中心に図中、時計回りに回動することで、図3
(b)に示すように、第2腕部14の係合部16が基板
6に係合する保持位置に移動し、基板6が保持される。
これによって、モータ3を駆動して基板6を回転するこ
とで基板6の洗浄および乾燥が可能になる。
When the wire 61 is in the non-energized state, as shown in FIG.
As shown in (a), the wire 61 is in a relaxed and stretched state, and the wire 61 is movable.
The tension applied to is almost zero. Therefore, the movable holding member 11 is rotated clockwise about the rotation shaft 41 by the urging force of the coil spring 51 in FIG.
As shown in (b), the engaging portion 16 of the second arm portion 14 moves to the holding position where it engages with the substrate 6, and the substrate 6 is held.
As a result, the substrate 6 can be washed and dried by driving the motor 3 and rotating the substrate 6.

【0025】そして、CPU82がワイヤー61に通電
し、ワイヤー61でジュール熱が発生してワイヤー61
の温度が上昇すると、図3(c)に示すようにワイヤー
61が収縮する。このように通電加熱によりワイヤー6
1が収縮するとワイヤー61が可動保持部材11に与え
る張力が上昇し、可動保持部材11はコイルばね51に
よる付勢力に抗して回動軸41を中心に図中、反時計回
りに回動することで、図3(d)に示すように、第2腕
部14の係合部16が基板6に係合しない保持解除位置
に移動し、基板6の保持が解除される。これによって基
板6の交換作業などが可能になる。そして、コントロー
ラ80による通電が停止されると、ワイヤー61は自然
冷却されて元の弛緩状態で伸張された状態に戻る。
Then, the CPU 82 energizes the wire 61, and Joule heat is generated in the wire 61 to generate the wire 61.
When the temperature rises, the wire 61 contracts as shown in FIG. In this way, the wire 6
When 1 is contracted, the tension applied to the movable holding member 11 by the wire 61 increases, and the movable holding member 11 rotates counterclockwise in the figure about the rotation shaft 41 against the biasing force of the coil spring 51. As a result, as shown in FIG. 3D, the engaging portion 16 of the second arm portion 14 moves to the holding release position where it does not engage with the substrate 6, and the holding of the substrate 6 is released. This makes it possible to replace the substrate 6, for example. Then, when the energization by the controller 80 is stopped, the wire 61 is naturally cooled and returns to the stretched state in the original relaxed state.

【0026】なお、可動保持部材11,21,31の保
持解除位置は、図1(a)では二点鎖線で示している。
The holding release positions of the movable holding members 11, 21, 31 are indicated by the two-dot chain line in FIG. 1 (a).

【0027】このように、この実施形態によれば、コン
トローラ80によりワイヤー61,62,63の温度を
制御することでワイヤー61,62,63を収縮または
伸張させて61,62,63が可動保持部材11,2
1,31に与える張力を変更可能となっている。従っ
て、可動保持部材11,21,31を基板6の保持位置
および保持解除位置に移動させる基板保持機構5が、ワ
イヤー61,62,63およびコイルばね51,52,
53を備えるだけの簡素な構成で実現できる。これによ
って、基板保持機構5を構成する部品点数を削減すると
ともに、モータ3に対する負荷も低減することができ
る。
As described above, according to this embodiment, the temperature of the wires 61, 62, 63 is controlled by the controller 80 so that the wires 61, 62, 63 are contracted or expanded and the 61, 62, 63 are movably held. Members 11 and 2
The tension applied to 1, 31 can be changed. Therefore, the substrate holding mechanism 5 that moves the movable holding members 11, 21, 31 to the holding position and the holding release position of the substrate 6 includes the wires 61, 62, 63 and the coil springs 51, 52 ,.
This can be realized with a simple configuration including only 53. As a result, the number of parts constituting the substrate holding mechanism 5 can be reduced and the load on the motor 3 can also be reduced.

【0028】なお、本発明は上記した実施形態に限定さ
れるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて
上述したもの以外に種々の変更を行うことが可能であ
る。例えば上記実施形態では基板6を洗浄する基板洗浄
装置としているが、これに限られず、例えばレジスト塗
布処理や現像処理など、基板6に対して所定の処理を施
す基板処理装置に適用することができる。
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications other than those described above can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, although the substrate cleaning apparatus that cleans the substrate 6 is used in the above-described embodiment, the present invention is not limited to this, and can be applied to a substrate processing apparatus that performs a predetermined process on the substrate 6, such as a resist coating process or a developing process. .

【0029】例えば、複数の基板を回転可能に保持し回
転乾燥を行う、いわゆるスピンドライヤーにおける基板
保持装置に適用することもできる。
For example, the present invention can be applied to a substrate holding device in a so-called spin dryer in which a plurality of substrates are rotatably held and are dried by rotation.

【0030】また、上記実施形態では基板6を回転可能
に保持する基板処理装置としているが、本発明はこれに
限られず、例えば基板6を単に保持したり、基板6を保
持することで基板6の中心を位置決めするための基板保
持装置に適用することができる。
In the above embodiment, the substrate processing apparatus that rotatably holds the substrate 6 is used. However, the present invention is not limited to this. For example, the substrate 6 may be simply held or the substrate 6 may be held. It can be applied to a substrate holding device for positioning the center of a substrate.

【0031】また、ワイヤー61,62,63を構成す
るワイヤーの本数については限定されず、1本でも複数
本でも必要な張力が得られるように構成しておけばよ
い。
Further, the number of wires constituting the wires 61, 62, 63 is not limited, and one wire or a plurality of wires may be constructed so that the required tension can be obtained.

【0032】また、上記実施形態ではワイヤー61,6
2,63は、通電時に収縮してコイルばね51,52,
53の付勢力に抗する対抗力を発生し、非通電時に弛緩
して上記対抗力を発生しないものとしているが、これに
限られず、通電時と非通電時とでコイルばね51,5
2,53の付勢力に対する対抗力の発生の有無が切り換
えられるものであればよい。この場合において、非通電
時に対抗力を発生しないものであれば、基板6の回転中
に通電する必要が無いので好ましい。
Further, in the above embodiment, the wires 61, 6 are
2, 63 contract when energized and coil springs 51, 52,
Although the counter force against the biasing force of 53 is generated and the counter force is not relaxed when the coil springs 51 and 5 are deenergized when they are de-energized, the coil springs 51 and 5 are not limited to this.
It suffices that the presence or absence of the generation of the opposing force against the biasing forces of 2, 53 can be switched. In this case, it is preferable if the counter force is not generated when the substrate 6 is not energized, because it is not necessary to energize it while the substrate 6 is rotating.

【0033】例えば、ワイヤー61,62,63とし
て、通電時に伸張し、非通電時では弛緩状態で収縮され
た状態となるものを採用してもよい。この場合には、例
えばコイルばね51の他方端をスピンベース4に固定す
る取付部17と、ワイヤー61の他方端をスピンベース
4に固定する取付部18とは、可動保持部材11の第1
腕部13の先端部15に対して同じ側に配設すればよ
い。この配置により、通電時にワイヤー61が伸張する
ことにより、コイルばね51の付勢力に抗する対抗力を
発生し、上記実施形態と同様に、可動保持部材11を保
持解除位置に移動させることができる。
For example, as the wires 61, 62, 63, it is possible to employ wires that expand when energized and contract in a relaxed state when not energized. In this case, for example, the mounting portion 17 that fixes the other end of the coil spring 51 to the spin base 4 and the mounting portion 18 that fixes the other end of the wire 61 to the spin base 4 are the first portion of the movable holding member 11.
It may be arranged on the same side of the tip portion 15 of the arm portion 13. With this arrangement, the wire 61 expands when energized to generate a counter force against the biasing force of the coil spring 51, and the movable holding member 11 can be moved to the holding release position as in the above embodiment. .

【0034】また、上記実施形態では、ワイヤー61,
62,63を通電加熱する一方、通電を停止させること
で自然冷却することでワイヤー61,62,63の温度
を制御しているが、ワイヤー61,62,63の温度制
御方法についてはこれに限定されるものではなく、例え
ばワイヤー61,62,63を外部から加熱冷却するよ
うに構成してもよい。
In the above embodiment, the wires 61,
The temperature of the wires 61, 62, 63 is controlled by cooling the wires 61, 62, 63 by energizing them while cooling them by energizing them. However, the temperature control method for the wires 61, 62, 63 is not limited to this. However, the wires 61, 62, 63 may be configured to be heated and cooled from the outside, for example.

【0035】さらに、上記実施形態において、基板6の
交換作業時に通電し係合部16の基板6との係合を解除
しているが、基板洗浄装置で保持された基板6を回転中
に通電し解除するようにしてもよい。具体的には、回転
処理中に回転駆動力を確実に伝達する挟持状態と、係合
部16上に保持するが挟持せずに回転駆動力が伝わらな
い滑動状態とに切り替える場合がある。すなわち、係合
部16による保持位置では基板6が挟持され、保持解除
位置では基板6は単に係合部16上に載置されている状
態である。このように基板回転中に通電を行うことで係
合部16の解除を行うように構成してもよい。こうする
ことで、回転中の可動保持部材の保持位置と保持解除位
置との間の移動を簡単な構成で行わせることができる。
Further, in the above embodiment, the current is applied during the replacement work of the substrate 6 to release the engagement of the engaging portion 16 with the substrate 6, but the current is applied to the substrate 6 held by the substrate cleaning device during rotation. May be canceled. Specifically, there may be a case where the pinching state in which the rotational driving force is surely transmitted during the rotation process and a sliding state in which the rotational driving force is not transmitted without being pinched but held on the engaging portion 16 may be switched. That is, the substrate 6 is clamped at the holding position by the engaging portion 16, and the substrate 6 is simply placed on the engaging portion 16 at the holding releasing position. As described above, the engaging portion 16 may be released by supplying electricity during the rotation of the substrate. By doing so, the movable holding member that is rotating can be moved between the holding position and the holding release position with a simple configuration.

【0036】さらに、上記実施形態において、スピンベ
ース4の上面に基板6と対面して基板保持機構5を配置
しているが、基板保持機構5と基板6との間にカバーを
配置するように構成してもよい。または、基板保持機構
5の主要部、少なくとも形状記憶合金ワイヤー61,6
2,63をスピンベース4の下方に配置するように構成
してもよい。こうすることで、基板保持機構5、すなわ
ち形状記憶合金ワイヤー61,62,63が処理液に晒
されることを極力抑制することができる。
Further, in the above embodiment, the substrate holding mechanism 5 is arranged on the upper surface of the spin base 4 so as to face the substrate 6, but a cover may be arranged between the substrate holding mechanism 5 and the substrate 6. You may comprise. Alternatively, the main part of the substrate holding mechanism 5, at least the shape memory alloy wires 61, 6
2, 63 may be arranged below the spin base 4. By doing so, exposure of the substrate holding mechanism 5, that is, the shape memory alloy wires 61, 62, 63 to the processing liquid can be suppressed as much as possible.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、コン
トローラにより形状記憶合金ワイヤーの温度を制御する
ことでワイヤーを収縮または伸張させて、可動保持部材
が付勢部材の付勢力に抗しながら付勢部材により付勢さ
れる方向と反対方向に移動させるようにしているので、
可動保持部材の保持位置と保持解除位置との間の移動を
簡易な構成で行わせることができ、基板を保持するため
の装置を構成する部品点数を削減することができる。
As described above, according to the present invention, by controlling the temperature of the shape memory alloy wire by the controller, the wire is contracted or expanded, and the movable holding member resists the urging force of the urging member. While moving in the direction opposite to the direction biased by the biasing member,
The movable holding member can be moved between the holding position and the holding release position with a simple structure, and the number of parts constituting the device for holding the substrate can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明にかかる基板処理装置の一実施形態であ
る基板洗浄装置の要部を示す図で、(a)は平面図、
(b)は側面図である。
FIG. 1 is a diagram showing a main part of a substrate cleaning apparatus which is an embodiment of a substrate processing apparatus according to the present invention, in which (a) is a plan view,
(B) is a side view.

【図2】図1に示す基板洗浄装置の電気的構成の要部を
示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a main part of an electrical configuration of the substrate cleaning apparatus shown in FIG.

【図3】基板保持部を示す図で、(a)はワイヤーが非
通電状態の平面図、(b)は(a)のB矢視図、(c)
はワイヤーが通電状態の平面図、(d)は(c)のD矢
視図である。
3A and 3B are diagrams showing a substrate holding portion, FIG. 3A is a plan view of a wire in a non-energized state, FIG. 3B is a view of arrow B in FIG. 3A, and FIG.
Is a plan view of the wire in the energized state, and (d) is a view as seen from the arrow D of (c).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…回転軸部(基板回転手段) 2…駆動力伝達機構(基板回転手段) 3…モータ(基板回転手段) 4…スピンベース(ベース部材、基板回転手段) 5…基板保持機構 6…基板 10,20,30…基板保持部 11,21,31…可動保持部材 12,22,32…本体部 13,23,33…第1腕部 14,24,34…第2腕部 51,52,53…コイルばね(付勢部材) 61,62,63…形状記憶合金ワイヤー 80…コントローラ 81…電源部 82…CPU(通電制御部) 1 ... Rotating shaft part (substrate rotating means) 2 ... Driving force transmission mechanism (substrate rotating means) 3 ... Motor (board rotating means) 4 ... Spin base (base member, substrate rotating means) 5 ... Substrate holding mechanism 6 ... Substrate 10, 20, 30 ... Substrate holding unit 11, 21, 31 ... Movable holding member 12, 22, 32 ... Main body 13, 23, 33 ... First arm 14, 24, 34 ... Second arm 51, 52, 53 ... Coil spring (biasing member) 61, 62, 63 ... Shape memory alloy wire 80 ... Controller 81 ... Power supply unit 82 ... CPU (energization control unit)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上山 勉 京都府京都市上京区堀川通寺之内上る4丁 目天神北町1番地の1 大日本スクリーン 製造株式会社内 Fターム(参考) 5F031 CA01 CA02 CA05 HA24 HA27 HA29 HA30 HA59 MA23 MA26 5F046 LA19    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Tsutomu Ueyama             4 Horikawa-dori Teranouchi, Kamigyo-ku, Kyoto City, Kyoto Prefecture             No. 1 at Tenjin Kitamachi             Manufacturing Co., Ltd. F-term (reference) 5F031 CA01 CA02 CA05 HA24 HA27                       HA29 HA30 HA59 MA23 MA26                 5F046 LA19

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の基板保持部材を基板の外周端部に
係合させて前記基板を保持する基板保持装置において、
前記複数の基板保持部材のうち少なくとも1つの基板
保持部材が可動保持部材として前記基板の外周端部に係
合する保持位置と、前記基板の外周端部から離れた保持
解除位置との間を移動自在に設けられるとともに、 前
記可動保持部材ごとに接続されて、前記可動保持部材を
前記保持位置または前記保持解除位置に移動する方向に
付勢する付勢部材と、 前記可動保持部材ごとに接続された形状記憶合金ワイヤ
ーと、 前記形状記憶合金ワイヤーの温度を制御することで前記
形状記憶合金ワイヤーを収縮または伸張させて前記可動
保持部材を前記付勢部材の付勢力に抗しながら前記付勢
部材により付勢される方向と反対方向に移動させるコン
トローラとを備えたことを特徴とする基板保持装置。
1. A substrate holding device for holding a substrate by engaging a plurality of substrate holding members with an outer peripheral end portion of the substrate,
At least one of the plurality of substrate holding members moves as a movable holding member between a holding position in which it engages with the outer peripheral end of the substrate and a holding release position separated from the outer peripheral end of the substrate. A biasing member that is freely provided and that is connected to each of the movable holding members and that biases the movable holding member to the holding position or the holding release position, and is connected to each of the movable holding members. Shape memory alloy wire, and the biasing member while controlling the temperature of the shape memory alloy wire to contract or expand the shape memory alloy wire to resist the biasing force of the biasing member to the movable holding member. A substrate holding device, comprising: a controller that moves in a direction opposite to the direction biased by the.
【請求項2】 前記可動保持部材は、板状のベース部材
に立設された回動軸に回動可能に配設された本体部と、
この本体部から延びる第1腕部および第2腕部とを備
え、前記第1腕部には、前記付勢部材および前記形状記
憶合金ワイヤーの一方端がそれぞれ接続され、前記保持
位置において前記第2腕部が前記基板の外周端縁と係合
するとともに、前記保持解除位置において前記第2腕部
の前記基板の外周端縁との係合が解除されるように構成
されており、 前記付勢部材および前記形状記憶合金ワイヤーの他方端
は、それぞれ前記ベース部材に固定されている請求項1
記載の基板保持装置。
2. The movable holding member includes a body portion rotatably arranged on a rotation shaft provided upright on a plate-shaped base member,
A first arm portion and a second arm portion extending from the main body portion are provided, and the biasing member and one end of the shape memory alloy wire are connected to the first arm portion, respectively, and the first arm portion and the shape memory alloy wire are connected to the first arm portion. The two arm portions are configured to engage with the outer peripheral edge of the substrate and the second arm portion is disengaged from the outer peripheral edge of the substrate at the holding release position. The biasing member and the other end of the shape memory alloy wire are fixed to the base member, respectively.
The substrate holding device described.
【請求項3】 前記コントローラは、電源と、前記電源
から出力される電流を前記形状記憶合金ワイヤーに通電
するタイミングを調整する通電制御部とを備える請求項
1または2記載の基板保持装置。
3. The substrate holding device according to claim 1, wherein the controller includes a power supply and an energization control unit that adjusts a timing of energizing the shape memory alloy wire with a current output from the power supply.
【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかに記載の基
板保持装置からなる基板保持手段と、前記基板保持手段
により保持された前記基板を回転させる基板回転手段と
を備えたことを特徴とする基板処理装置。
4. A substrate holding means comprising the substrate holding device according to claim 1, and a substrate rotating means for rotating the substrate held by the substrate holding means. Substrate processing equipment.
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