JP2001349731A - マイクロマシンデバイスおよび角加速度センサおよび加速度センサ - Google Patents
マイクロマシンデバイスおよび角加速度センサおよび加速度センサInfo
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P2015/0805—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
- G01P2015/0808—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate
- G01P2015/0811—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass
- G01P2015/0814—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass for translational movement of the mass, e.g. shuttle type
Landscapes
- Gyroscopes (AREA)
- Micromachines (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ボンディング方向とボンディング面を単一化
し、実装時のワイヤーボンディングを容易化する。 【解決手段】 シリコン基板側にコンタクト部を設け、
ガラス基板側電極のリード線端部をコンタクト部で挟み
込むことにより、シリコン側電極とガラス側電極のボン
ディングパットを全てシリコン上に配置する。上記の対
策により、電極の方向に関わらず、外部回路と接続する
ためのボンディングパットを同一平面上に形成できるた
め、ワイヤーボンディングが非常に容易に出来、量産時
のコスト削減に大きく寄与する。
し、実装時のワイヤーボンディングを容易化する。 【解決手段】 シリコン基板側にコンタクト部を設け、
ガラス基板側電極のリード線端部をコンタクト部で挟み
込むことにより、シリコン側電極とガラス側電極のボン
ディングパットを全てシリコン上に配置する。上記の対
策により、電極の方向に関わらず、外部回路と接続する
ためのボンディングパットを同一平面上に形成できるた
め、ワイヤーボンディングが非常に容易に出来、量産時
のコスト削減に大きく寄与する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば車両の姿勢
制御、進行方向の算出、ハンドカメラの手ぶれ防止、携
帯電話の移動方向算出などに用いられる角速度センサ及
び加速度センサに関するものである。
制御、進行方向の算出、ハンドカメラの手ぶれ防止、携
帯電話の移動方向算出などに用いられる角速度センサ及
び加速度センサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、角速度を検出するセンサとして様
々なジャイロスコープ(以下、ジャイロと称す)が開発
されている。その種類を大別すると、機械式のコマジャ
イロ、光学式の光ファイバージャイロ、流体式のガスレ
ートジャイロ、音叉等の振動ジャイロがある。
々なジャイロスコープ(以下、ジャイロと称す)が開発
されている。その種類を大別すると、機械式のコマジャ
イロ、光学式の光ファイバージャイロ、流体式のガスレ
ートジャイロ、音叉等の振動ジャイロがある。
【0003】近年は、製品の小型化・省電力化・低コス
ト化の要求に対し、単結晶シリコンや水晶などの素材に
マイクロマシニング微細加工技術を適用して形成した超
小型な角速度センサの開発も進められている。マイクロ
マシンによる角速度センサの大半は振動ジャイロに属す
る。検出原理は以下の通りである。
ト化の要求に対し、単結晶シリコンや水晶などの素材に
マイクロマシニング微細加工技術を適用して形成した超
小型な角速度センサの開発も進められている。マイクロ
マシンによる角速度センサの大半は振動ジャイロに属す
る。検出原理は以下の通りである。
【0004】振動している錘が振動方向と垂直な軸周り
に錘を回転すると、振動方向と回転の軸の互いに垂直な
方向の力が錘に働く。この力による錘の力方向の変位を
検出し、そこから角速度を算出するのである。このセン
サには振動を励起する駆動力と、錘の変位を検出する機
構が必要である。センサの材料が圧電体もしくは一部に
圧電体部分を設けたものでは、圧電体への電圧印加によ
る歪みを駆動に利用したり、圧電体に加わる歪みにより
発生する電荷を検出したりする。
に錘を回転すると、振動方向と回転の軸の互いに垂直な
方向の力が錘に働く。この力による錘の力方向の変位を
検出し、そこから角速度を算出するのである。このセン
サには振動を励起する駆動力と、錘の変位を検出する機
構が必要である。センサの材料が圧電体もしくは一部に
圧電体部分を設けたものでは、圧電体への電圧印加によ
る歪みを駆動に利用したり、圧電体に加わる歪みにより
発生する電荷を検出したりする。
【0005】別の方法では、磁気を用いたり、静電気力
を用いたりする。これらの中で圧電体を用いるものは、
バルクの圧電体を用いると微細加工が困難なことや、例
えばシリコン上に圧電体を形成する場合、形成自体に多
大な労力を必要とする。磁気の利用では、マグネットの
使用による周辺回路への影響や高効率な微細コイルの形
成が困難なことなど、実用に向けて越えなければならな
いハードルは高い。これらの意味から、材料にはシリコ
ンウエハを用い、駆動・検出両方に静電気力を用いるタ
イプの開発が、実用段階にまできている。静電気力の利
用した駆動とは、異なる電荷を蓄えた平行平板電極が互
いに引き合う力を応用する。従って、電極の総面積が大
きいほど有利である。
を用いたりする。これらの中で圧電体を用いるものは、
バルクの圧電体を用いると微細加工が困難なことや、例
えばシリコン上に圧電体を形成する場合、形成自体に多
大な労力を必要とする。磁気の利用では、マグネットの
使用による周辺回路への影響や高効率な微細コイルの形
成が困難なことなど、実用に向けて越えなければならな
いハードルは高い。これらの意味から、材料にはシリコ
ンウエハを用い、駆動・検出両方に静電気力を用いるタ
イプの開発が、実用段階にまできている。静電気力の利
用した駆動とは、異なる電荷を蓄えた平行平板電極が互
いに引き合う力を応用する。従って、電極の総面積が大
きいほど有利である。
【0006】一方、検出は一定の電荷を蓄えた平行平板
コンデンサにおいて、その電極間距離が変化による電極
間電圧の変化を検出することにより、変位量を求める。
やはり検出側でも電極の総面積が大きいほど有利であ
る。特に、検出側の変位量は、駆動振動の変位量に比し
て、遙かに小さい(二桁〜三桁小さい)ため、より高精
度加工と検出効率向上が必要である。この種のマイクロ
マシン角速度センサでは、例えば、P.Greiff他により発
表された論文(Silicon monolithic micromechanical
gyroscope, Transducers'99, P966-969)や、近年では
村田製作所から発表された論文(MEMS'99)が一例であ
る。また、特開平5−312576号公報「角速度セン
サ」にも一例が記載されている。
コンデンサにおいて、その電極間距離が変化による電極
間電圧の変化を検出することにより、変位量を求める。
やはり検出側でも電極の総面積が大きいほど有利であ
る。特に、検出側の変位量は、駆動振動の変位量に比し
て、遙かに小さい(二桁〜三桁小さい)ため、より高精
度加工と検出効率向上が必要である。この種のマイクロ
マシン角速度センサでは、例えば、P.Greiff他により発
表された論文(Silicon monolithic micromechanical
gyroscope, Transducers'99, P966-969)や、近年では
村田製作所から発表された論文(MEMS'99)が一例であ
る。また、特開平5−312576号公報「角速度セン
サ」にも一例が記載されている。
【0007】上記のように、振動型マイクロマシンジャ
イロでは、駆動効率・検出効率を高めるには電極面積を
増やす必要がある。そこで、錘の表面全体を電極として
用いたり、空間効率を高めるため、櫛形や梯子型、フィ
ッシュボーンなどの構造が採用されている。効率を向上
するためには、電極面積増加と共に電極間距離を小さく
構成精度加工することも重要である。これらの要求に対
応するため、最近では半導体プロセスであり、プラズマ
エッチングの一種である、反応性イオンエッチング(以
下RIEと称す)を用いる。この技術による超微細加工
により、数ミクロンピッチのシリコンによる構造物の作
製が可能である。しかし、本体が数mm角の角速度セン
サ実現には、2μmピッチ程度の櫛形電極構造を多用し
なければならず、このRIE技術を持ってしても容易で
はない。
イロでは、駆動効率・検出効率を高めるには電極面積を
増やす必要がある。そこで、錘の表面全体を電極として
用いたり、空間効率を高めるため、櫛形や梯子型、フィ
ッシュボーンなどの構造が採用されている。効率を向上
するためには、電極面積増加と共に電極間距離を小さく
構成精度加工することも重要である。これらの要求に対
応するため、最近では半導体プロセスであり、プラズマ
エッチングの一種である、反応性イオンエッチング(以
下RIEと称す)を用いる。この技術による超微細加工
により、数ミクロンピッチのシリコンによる構造物の作
製が可能である。しかし、本体が数mm角の角速度セン
サ実現には、2μmピッチ程度の櫛形電極構造を多用し
なければならず、このRIE技術を持ってしても容易で
はない。
【0008】困難を伴う超微細加工を回避する手だてと
して、振動体と平行に絶縁基板を配置し、この基板上形
成された金属電極とシリコン振動体の間の静電容量を検
出する方法がある。この方法では振動体全体を櫛形電極
化する必要もなく、加工的には比較的容易であるため、
この構造のセンサ開発も盛んである。
して、振動体と平行に絶縁基板を配置し、この基板上形
成された金属電極とシリコン振動体の間の静電容量を検
出する方法がある。この方法では振動体全体を櫛形電極
化する必要もなく、加工的には比較的容易であるため、
この構造のセンサ開発も盛んである。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】シリコン振動体と平行
に絶縁基板を配し、基板上に形成された金属電極と振動
体間の静電駆動や静電容量検出を用いるセンサでは、超
微細加工からは免れる反面、端子取り出しに際しては、
シリコン基板上と絶縁体基板上の複数基板から行わなけ
ればならなかった。この端子取り出しには、ワイヤーボ
ンディングを用いるため、複数基板上からの取り出しは
ボンディング段差の複数化による自動化の工数アップ
や、基板間でボンディング方向が異なるためSOIウェ
ハーの使用が困難、変換コネクタが必要等の制限から、
量産性の課題となっていた。
に絶縁基板を配し、基板上に形成された金属電極と振動
体間の静電駆動や静電容量検出を用いるセンサでは、超
微細加工からは免れる反面、端子取り出しに際しては、
シリコン基板上と絶縁体基板上の複数基板から行わなけ
ればならなかった。この端子取り出しには、ワイヤーボ
ンディングを用いるため、複数基板上からの取り出しは
ボンディング段差の複数化による自動化の工数アップ
や、基板間でボンディング方向が異なるためSOIウェ
ハーの使用が困難、変換コネクタが必要等の制限から、
量産性の課題となっていた。
【0010】本発明は、このような問題点を鑑みて、単
一方向・単一段差間のボンディングを実現し、自動化・
量産化の容易な端子取り出し方法を提供することを目的
とする。
一方向・単一段差間のボンディングを実現し、自動化・
量産化の容易な端子取り出し方法を提供することを目的
とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本願の請求項1の発明
は、金属薄膜パターンを有する絶縁体基板と、絶縁層の
片側が導電性を示す活性層であり他方が絶縁性もしくは
高比抵抗性を示す支持層で構成される複合基板を有し、
前記活性層に構造体が形成され、前記絶縁体基板の一部
と前記活性層の一部が接合された接合面を有するマイク
ロマシンデバイスにおいて、前記接合面上に形成された
前記金属薄膜パターンの一部に対応する前記活性層部上
の位置に、前記金属薄膜パターンの厚みよりも浅く窪ん
だコンタクト部を有し、前記絶縁体基板と前記活性層が
接合されている状態に於いて、前記接合面上に形成され
た前記金属薄膜パターンの一部と前記コンタクト部が、
電気的に接続されていることを特徴とするものである。
は、金属薄膜パターンを有する絶縁体基板と、絶縁層の
片側が導電性を示す活性層であり他方が絶縁性もしくは
高比抵抗性を示す支持層で構成される複合基板を有し、
前記活性層に構造体が形成され、前記絶縁体基板の一部
と前記活性層の一部が接合された接合面を有するマイク
ロマシンデバイスにおいて、前記接合面上に形成された
前記金属薄膜パターンの一部に対応する前記活性層部上
の位置に、前記金属薄膜パターンの厚みよりも浅く窪ん
だコンタクト部を有し、前記絶縁体基板と前記活性層が
接合されている状態に於いて、前記接合面上に形成され
た前記金属薄膜パターンの一部と前記コンタクト部が、
電気的に接続されていることを特徴とするものである。
【0012】本願の請求項2の発明は、請求項1記載の
マイクロマシンデバイスにおいて、前記金属薄膜パター
ンに対応した前記コンタクト部の周囲に溝部を設けたこ
とを特徴とするものである。
マイクロマシンデバイスにおいて、前記金属薄膜パター
ンに対応した前記コンタクト部の周囲に溝部を設けたこ
とを特徴とするものである。
【0013】本願の請求項3の発明は、請求項1または
2記載のマイクロマシンデバイスに於いて、前記金属薄
膜パターンが電極であり、前記接合面上に形成された前
記金属電極の一部と電気的に接合されている前記活性層
の一部が、ボンディングパッドを有し電気的に活性層の
他の部分と絶縁された島状部であり、前記絶縁体基板上
の前記金属電極と外部との接続が、前記島状部に設けら
れた前記ボンディングパッドを介して行われることを特
徴とするものである。
2記載のマイクロマシンデバイスに於いて、前記金属薄
膜パターンが電極であり、前記接合面上に形成された前
記金属電極の一部と電気的に接合されている前記活性層
の一部が、ボンディングパッドを有し電気的に活性層の
他の部分と絶縁された島状部であり、前記絶縁体基板上
の前記金属電極と外部との接続が、前記島状部に設けら
れた前記ボンディングパッドを介して行われることを特
徴とするものである。
【0014】本願の請求項4の発明は、請求項1または
2記載のマイクロマシンデバイスに於いて、前記絶縁基
板上に形成された前記金属薄膜パターンがボンディング
パッドと前記ボンディングパッドに接続されたリード線
部を形成し、前記活性層に構成された前記構造体の一部
が前記接合面上にて前記リード線部と電気的に接合さ
れ、前記構造体と外部との電気的接続が前記金属薄膜パ
ターンにより構成された前記ボンディングパッドを介し
て行われることを特徴とするものである。
2記載のマイクロマシンデバイスに於いて、前記絶縁基
板上に形成された前記金属薄膜パターンがボンディング
パッドと前記ボンディングパッドに接続されたリード線
部を形成し、前記活性層に構成された前記構造体の一部
が前記接合面上にて前記リード線部と電気的に接合さ
れ、前記構造体と外部との電気的接続が前記金属薄膜パ
ターンにより構成された前記ボンディングパッドを介し
て行われることを特徴とするものである。
【0015】本願の請求項5の発明は、請求項1から4
のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスに於いて、
活性層及び支持層がシリコンであり、前記活性層と支持
層の間の絶縁層がSiO2により構成されたSOIを用
いることを特徴とするものである。
のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスに於いて、
活性層及び支持層がシリコンであり、前記活性層と支持
層の間の絶縁層がSiO2により構成されたSOIを用
いることを特徴とするものである。
【0016】本願の請求項6の発明は、請求項1から5
のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスに於いて、
絶縁体基板がガラス基板により構成されていることを特
徴とするものである。
のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスに於いて、
絶縁体基板がガラス基板により構成されていることを特
徴とするものである。
【0017】本願の請求項7の発明は、請求項1から5
のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスに於いて、
絶縁体基板が表面にSiO2層を有するシリコン基板に
より構成されていることを特徴とするものである。
のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスに於いて、
絶縁体基板が表面にSiO2層を有するシリコン基板に
より構成されていることを特徴とするものである。
【0018】本願の請求項8の発明は、請求項6または
7記載のマイクロマシンデバイスに於いて、絶縁体基板
と活性層の接合が陽極接合であることを特徴とするもの
である。
7記載のマイクロマシンデバイスに於いて、絶縁体基板
と活性層の接合が陽極接合であることを特徴とするもの
である。
【0019】本願の請求項9の発明は、請求項1から8
のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスが角速度セ
ンサであることを特徴とするものである。
のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスが角速度セ
ンサであることを特徴とするものである。
【0020】本願の請求項10の発明は、請求項1から
8のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスが、加速
度センサであることを特徴とするものである。
8のいずれかに記載のマイクロマシンデバイスが、加速
度センサであることを特徴とするものである。
【0021】
【発明の実施の形態】(実施の形態1)本発明の実施の
形態1である単結晶シリコンSOIウェハとガラスから
なる角速度センサについて、図1を用いて説明する。図
1は実施の形態1における角速度センサの分解斜視図で
ある。
形態1である単結晶シリコンSOIウェハとガラスから
なる角速度センサについて、図1を用いて説明する。図
1は実施の形態1における角速度センサの分解斜視図で
ある。
【0022】センサはSOI基板101とガラス基板1
20からなる。SOI基板101は電導性の高い活性層
102と電導性の低い支持層104と活性層102と支
持層104の間に挟まれ両者を絶縁する絶縁層103の
3層構造をなす。絶縁層103はSiO2よりなる。活
性層102の中央には、プラズマエッチングの一種であ
るRIEにより、振動体110が構成されている。振動
体110の中央には角速度を検出するための錘105が
あり、その周囲には振動体110を駆動するための駆動
電極107,108が配されている。
20からなる。SOI基板101は電導性の高い活性層
102と電導性の低い支持層104と活性層102と支
持層104の間に挟まれ両者を絶縁する絶縁層103の
3層構造をなす。絶縁層103はSiO2よりなる。活
性層102の中央には、プラズマエッチングの一種であ
るRIEにより、振動体110が構成されている。振動
体110の中央には角速度を検出するための錘105が
あり、その周囲には振動体110を駆動するための駆動
電極107,108が配されている。
【0023】駆動電極は左側部107と右側部108に
別れ、それぞれスリットの開いた簀の子上の構造であ
る。錘105は厚みの薄い4本の片持ち梁状の検出梁1
06を介して、駆動電極107,108により支持さ
れ、錘105は基板厚み方向にのみ自由度を持ってい
る。また、駆動電極107,108は両端支持梁状の2
本の駆動梁109を介してフレーム117に支持され、
振動体の左右方向にのみ自由度を持っている。
別れ、それぞれスリットの開いた簀の子上の構造であ
る。錘105は厚みの薄い4本の片持ち梁状の検出梁1
06を介して、駆動電極107,108により支持さ
れ、錘105は基板厚み方向にのみ自由度を持ってい
る。また、駆動電極107,108は両端支持梁状の2
本の駆動梁109を介してフレーム117に支持され、
振動体の左右方向にのみ自由度を持っている。
【0024】また、駆動梁109外側にはフレーム11
7と電気的に絶縁されたモニタ電極111が構成され、
駆動梁109の中央部付近を対向電極とする平行平板コ
ンデンサを構成している。活性層102にはフレーム1
17と電気的に絶縁され、ボンディングパット116を
有した島状部113が形成されている。この島状部11
3にはフレーム117上面よりエッチングされ窪んだコ
ンタクト部114と、このコンタクト部114周囲には
更に深くエッチングされた溝部115が形成されてい
る。
7と電気的に絶縁されたモニタ電極111が構成され、
駆動梁109の中央部付近を対向電極とする平行平板コ
ンデンサを構成している。活性層102にはフレーム1
17と電気的に絶縁され、ボンディングパット116を
有した島状部113が形成されている。この島状部11
3にはフレーム117上面よりエッチングされ窪んだコ
ンタクト部114と、このコンタクト部114周囲には
更に深くエッチングされた溝部115が形成されてい
る。
【0025】活性層102の上方(支持層104とは反
対側)には絶縁基板であるところのガラス基板120が
配され、Si側のフレーム117の一部であるSi側接
合面112と対応するガラス側接合面125は、陽極接
合にて強固に固定されている。陽極接合とはガラス基板
とSi基板の清浄でフラットな面同士を接触させ、高温
下で高電圧を印加することで、接触面間に静電気力を発
生させ固定する技術である。
対側)には絶縁基板であるところのガラス基板120が
配され、Si側のフレーム117の一部であるSi側接
合面112と対応するガラス側接合面125は、陽極接
合にて強固に固定されている。陽極接合とはガラス基板
とSi基板の清浄でフラットな面同士を接触させ、高温
下で高電圧を印加することで、接触面間に静電気力を発
生させ固定する技術である。
【0026】ガラス側の接合面125の内側は、エッチ
ングにより窪んだギャップ部126が構成され、ギャッ
プ部126の底面には金属薄膜により構成された電極パ
ターンが形成されている。電極パターンの中央には検出
電極123が錘105と対向するように配され、検出電
極123の周囲にはガラス側駆動電極121,122が
配されている。ガラス側駆動電極121,122は、そ
れぞれSi側の左側駆動電極107,右側駆動電極10
8に対応している。ガラス側の電極パターンからそれぞ
れリード線部124が、ガラス側接合面125まで引き
出され、Si側のコンタクト部と電気的に接続されてい
る。
ングにより窪んだギャップ部126が構成され、ギャッ
プ部126の底面には金属薄膜により構成された電極パ
ターンが形成されている。電極パターンの中央には検出
電極123が錘105と対向するように配され、検出電
極123の周囲にはガラス側駆動電極121,122が
配されている。ガラス側駆動電極121,122は、そ
れぞれSi側の左側駆動電極107,右側駆動電極10
8に対応している。ガラス側の電極パターンからそれぞ
れリード線部124が、ガラス側接合面125まで引き
出され、Si側のコンタクト部と電気的に接続されてい
る。
【0027】ここで、コンタクト部114の詳細な構造
を、図2を用いて説明する。Si基板側の島状部113
中央に配されたコンタクト部114は、接合面112よ
りt2だけエッチングされ低くなっている。ここで、ガ
ラス基板120上の金属薄膜によるリード線部124の
膜厚をt1とすると、t1>t2の関係が成り立つよう
に、それぞれt1,t2を決める。このとき、t1−t
2だけ押さえ代が発生し、ガラス側の接合面125とS
i側の接合面112の間に透き間が空くことになるが、
陽極接合が高温下で行われるので、ガラスが僅かに軟化
するため、リード線部124周囲にスロープが発生し、
接合面112と125は正常に接合される。コンタクト
部114周囲の溝部115の幅内で、このスロープ幅が
収まるように溝部115の幅を設定することにより、接
合面112,125間にくさび形隙間の発生を防止で
き、接合面の強度を向上させることが出来る。
を、図2を用いて説明する。Si基板側の島状部113
中央に配されたコンタクト部114は、接合面112よ
りt2だけエッチングされ低くなっている。ここで、ガ
ラス基板120上の金属薄膜によるリード線部124の
膜厚をt1とすると、t1>t2の関係が成り立つよう
に、それぞれt1,t2を決める。このとき、t1−t
2だけ押さえ代が発生し、ガラス側の接合面125とS
i側の接合面112の間に透き間が空くことになるが、
陽極接合が高温下で行われるので、ガラスが僅かに軟化
するため、リード線部124周囲にスロープが発生し、
接合面112と125は正常に接合される。コンタクト
部114周囲の溝部115の幅内で、このスロープ幅が
収まるように溝部115の幅を設定することにより、接
合面112,125間にくさび形隙間の発生を防止で
き、接合面の強度を向上させることが出来る。
【0028】この様に、ガラス側の電極のリード線部1
24を接合面112,125に挟み込むことにより、電
極方向に関わらず同一シリコン基板上のボンディングパ
ット116を配置できるので、ワイヤーボンディングが
非常に容易に出来、量産時のコスト削減に大きく寄与す
る。
24を接合面112,125に挟み込むことにより、電
極方向に関わらず同一シリコン基板上のボンディングパ
ット116を配置できるので、ワイヤーボンディングが
非常に容易に出来、量産時のコスト削減に大きく寄与す
る。
【0029】次に、実施の形態1における角速度センサ
の動作について説明する。活性層102には、例えばS
bやAs等の元素をドープさせることで導電性を持た
せ、その電位をGNDとしている。回路側(図示せず)
のGNDとは、フレーム117上に形成されたボンディ
ングパット116を介して、ワイヤーボンディングによ
り接続されている。
の動作について説明する。活性層102には、例えばS
bやAs等の元素をドープさせることで導電性を持た
せ、その電位をGNDとしている。回路側(図示せず)
のGNDとは、フレーム117上に形成されたボンディ
ングパット116を介して、ワイヤーボンディングによ
り接続されている。
【0030】また、ガラス側の駆動電極121,122
には、ボンディングパット116,コンタクト部114
を介して、それぞれバイアス電圧Vbの掛かった振幅V
a,周波数fの交流電圧が印加されている。交流電圧の
バイアス分Vbと交流振幅Vaの関係は、Vb>Vaの
関係があり、駆動電極121に印加されている駆動信号
がVb+Va・Sin(2πft)の時、駆動電極12
2に印加される駆動信号はVb−Va・Sin(2πf
t)となる。
には、ボンディングパット116,コンタクト部114
を介して、それぞれバイアス電圧Vbの掛かった振幅V
a,周波数fの交流電圧が印加されている。交流電圧の
バイアス分Vbと交流振幅Vaの関係は、Vb>Vaの
関係があり、駆動電極121に印加されている駆動信号
がVb+Va・Sin(2πft)の時、駆動電極12
2に印加される駆動信号はVb−Va・Sin(2πf
t)となる。
【0031】従って、駆動電極121−107の間と、
駆動電極122−108の間に働く静電気力は、位相が
180°異なった振動的な引力となるため、振動体11
0は図1の130の方向に振動する。このとき131の
方向を軸とする回転運動が振動体110に加わると、1
32の方向にコリオリ力が発生する。駆動梁109は1
30の方向には軟らかいが、132の方向には堅いた
め、132の方向に軟らかい検出梁106が変形し、振
動体110の中で錘105のみが132の方向に移動す
る。すると、錘105と検出電極123で構成される平
板コンデンサの静電容量が変化するため、この容量変化
をCV変換回路(図示せず)により検出し、コリオリ力
を算出する事により振動体110に加わった回転速度を
検知する。この際、振動体110の130方向の駆動振
動を制御するため、モニタ電極111の信号を用いる。
モニタ電極111が振動体110の振動を検出する原理
も、検出電極123による錘105の移動量検出と同様
静電方式である。
駆動電極122−108の間に働く静電気力は、位相が
180°異なった振動的な引力となるため、振動体11
0は図1の130の方向に振動する。このとき131の
方向を軸とする回転運動が振動体110に加わると、1
32の方向にコリオリ力が発生する。駆動梁109は1
30の方向には軟らかいが、132の方向には堅いた
め、132の方向に軟らかい検出梁106が変形し、振
動体110の中で錘105のみが132の方向に移動す
る。すると、錘105と検出電極123で構成される平
板コンデンサの静電容量が変化するため、この容量変化
をCV変換回路(図示せず)により検出し、コリオリ力
を算出する事により振動体110に加わった回転速度を
検知する。この際、振動体110の130方向の駆動振
動を制御するため、モニタ電極111の信号を用いる。
モニタ電極111が振動体110の振動を検出する原理
も、検出電極123による錘105の移動量検出と同様
静電方式である。
【0032】(実施の形態2)本発明の実施の形態2で
ある単結晶シリコンとガラスからなる角速度センサにつ
いて、図3を用いて説明する。構造的には図1に示した
実施の形態1の角速度センサと同様、SOI基板101
とガラス基板120を、接合面112と125で陽極接
合することにより構成されている。さらに、SOI基板
101の活性層102に、錘105、検出梁106、駆
動電極107,108、駆動梁109からなる振動体1
10が形成されているのも図1に示す実施の形態1と同
様であり、駆動梁109の横にはモニタ電極111も形
成されている。
ある単結晶シリコンとガラスからなる角速度センサにつ
いて、図3を用いて説明する。構造的には図1に示した
実施の形態1の角速度センサと同様、SOI基板101
とガラス基板120を、接合面112と125で陽極接
合することにより構成されている。さらに、SOI基板
101の活性層102に、錘105、検出梁106、駆
動電極107,108、駆動梁109からなる振動体1
10が形成されているのも図1に示す実施の形態1と同
様であり、駆動梁109の横にはモニタ電極111も形
成されている。
【0033】また、SOI基板101に接合されている
ガラス基板120には、実施の形態1と同様ギャップ部
126がエッチングされ、ギャップ部126の底面には
実施の形態1で説明したのと同様の電極パターン127
が構成されている。実施の形態2が実施の形態1と異な
る点は、端子取り出し用のボンディングパットをガラス
基板側に設置した点である。ギャップ部126の底面に
形成された電極パターン127から延びたリード線部1
24は、接合面125と同一面まで引き出され、端部に
はボンディングパット302が形成されている。
ガラス基板120には、実施の形態1と同様ギャップ部
126がエッチングされ、ギャップ部126の底面には
実施の形態1で説明したのと同様の電極パターン127
が構成されている。実施の形態2が実施の形態1と異な
る点は、端子取り出し用のボンディングパットをガラス
基板側に設置した点である。ギャップ部126の底面に
形成された電極パターン127から延びたリード線部1
24は、接合面125と同一面まで引き出され、端部に
はボンディングパット302が形成されている。
【0034】また、活性層102側にはリード線部12
4が活性層102と接触しないように、逃げ部309が
設けてある。ガラス基板120上にはフレーム117の
電位をGNDに接続するためのボンディングパット30
1とそれに続くリード線部303や、モニター電極11
1の信号を取り出すボンディングパット304やリード
線部305も形成されている。SOI基板101とガラ
ス基板120を陽極接合した際に、リード線部303,
305は活性層102に設けられたコンタクト部30
8,306とそれぞれ接続される。
4が活性層102と接触しないように、逃げ部309が
設けてある。ガラス基板120上にはフレーム117の
電位をGNDに接続するためのボンディングパット30
1とそれに続くリード線部303や、モニター電極11
1の信号を取り出すボンディングパット304やリード
線部305も形成されている。SOI基板101とガラ
ス基板120を陽極接合した際に、リード線部303,
305は活性層102に設けられたコンタクト部30
8,306とそれぞれ接続される。
【0035】図4によりコンタクト部306とリード線
部305の接続状態を説明する。コンタクト部306の
周囲には、実施の形態1で説明したように溝部が設けて
あり、ガラス基板に発生するスロープは溝部の幅で吸収
され、強固な陽極接合が実現する。また、コンタクト部
306の窪み深さとリード線部305の厚みの関係は、
実施の形態1で述べた図2の関係と同様である。
部305の接続状態を説明する。コンタクト部306の
周囲には、実施の形態1で説明したように溝部が設けて
あり、ガラス基板に発生するスロープは溝部の幅で吸収
され、強固な陽極接合が実現する。また、コンタクト部
306の窪み深さとリード線部305の厚みの関係は、
実施の形態1で述べた図2の関係と同様である。
【0036】前述のように活性層102は導電性を有す
るため、モニタ電極111は他の活性層部分と絶縁され
ていなくてはならない。そこで、モニタ電極111がリ
ード線部305を介して、活性層102の他の部分と接
触しないように逃げ部307を設け、モニタ電極111
の絶縁性を確保している。
るため、モニタ電極111は他の活性層部分と絶縁され
ていなくてはならない。そこで、モニタ電極111がリ
ード線部305を介して、活性層102の他の部分と接
触しないように逃げ部307を設け、モニタ電極111
の絶縁性を確保している。
【0037】また、図3ではコンタクト部308の周囲
には溝部を設けていないが、これはフレーム117の接
合面積が大きく取れるためで有り、もちろん溝部を設け
ることで更に信頼性をアップすることが出来る。
には溝部を設けていないが、これはフレーム117の接
合面積が大きく取れるためで有り、もちろん溝部を設け
ることで更に信頼性をアップすることが出来る。
【0038】このように、ボンディングパット群を活性
層102上のみでなく、ガラス基板120上に全て配置
する事もでき、活性層102上に配置した場合と同様、
電極方向に関わらず同一シリコン基板上のボンディング
パット116を配置できるので、ワイヤーボンディング
が非常に容易に出来、量産時のコスト削減に大きく寄与
する。
層102上のみでなく、ガラス基板120上に全て配置
する事もでき、活性層102上に配置した場合と同様、
電極方向に関わらず同一シリコン基板上のボンディング
パット116を配置できるので、ワイヤーボンディング
が非常に容易に出来、量産時のコスト削減に大きく寄与
する。
【0039】実施の形態2における角速度センサの動き
についてであるが、振動体110の動きや駆動電極への
電圧印加方法まで、全く同様であるため、説明を割愛す
る。
についてであるが、振動体110の動きや駆動電極への
電圧印加方法まで、全く同様であるため、説明を割愛す
る。
【0040】(実施の形態3)本発明の実施の形態3で
ある単結晶シリコンとガラスからなる加速度センサにつ
いて、図5を用いて説明する。加速度センサの構成は、
基本的には実施の形態1の角速度センサから、駆動電極
と駆動梁を除いた形状である。
ある単結晶シリコンとガラスからなる加速度センサにつ
いて、図5を用いて説明する。加速度センサの構成は、
基本的には実施の形態1の角速度センサから、駆動電極
と駆動梁を除いた形状である。
【0041】SOI基板101の活性層102は導電性
を有し、中央部には錘401が構成され、錘401は周
囲から4本の厚みの薄い検出梁402を介してフレーム
117で支持され、フレーム117上には回路のGND
と接続するためのボンディングパット405が設けられ
ている。島状部113は周囲をエッチングによりフレー
ム117から絶縁され、ボンディングパッド116とコ
ンタクト部114を有し、コンタクト部114の周囲に
は溝部115がある。SOI基板101に対向するガラ
ス基板120にはギャップ部126があり、ギャップ部
126の底面には金属膜により検出電極403が設けて
ある。検出電極403からはリード線部404が引き出
され、その端は接合面125に置かれている。
を有し、中央部には錘401が構成され、錘401は周
囲から4本の厚みの薄い検出梁402を介してフレーム
117で支持され、フレーム117上には回路のGND
と接続するためのボンディングパット405が設けられ
ている。島状部113は周囲をエッチングによりフレー
ム117から絶縁され、ボンディングパッド116とコ
ンタクト部114を有し、コンタクト部114の周囲に
は溝部115がある。SOI基板101に対向するガラ
ス基板120にはギャップ部126があり、ギャップ部
126の底面には金属膜により検出電極403が設けて
ある。検出電極403からはリード線部404が引き出
され、その端は接合面125に置かれている。
【0042】SOI基板101とガラス基板120は接
合面112,125で陽極接合され、リード線部404
の端部はコンタクト部114と接続されている。この様
に、ガラス側の電極のリード線部404を接合面11
2,125に挟み込むことにより、電極方向に関わらず
同一シリコン基板上のボンディングパット116を配置
できるので、ワイヤーボンディングが非常に容易に出
来、量産時のコスト削減に大きく寄与する。
合面112,125で陽極接合され、リード線部404
の端部はコンタクト部114と接続されている。この様
に、ガラス側の電極のリード線部404を接合面11
2,125に挟み込むことにより、電極方向に関わらず
同一シリコン基板上のボンディングパット116を配置
できるので、ワイヤーボンディングが非常に容易に出
来、量産時のコスト削減に大きく寄与する。
【0043】次に、実施の形態3における加速度センサ
の動きを説明する。GND電位の錘401と検出電極4
03は平板コンデンサを形成する。錘401に501方
向の加速度が加わると、検出梁402がたわみ、錘40
1と検出電極403の間隔が変化し、静電容量が変化す
る。この容量変化は検出電極403に接合されたコンタ
クト部114、ボンディングパット116を介して、外
部回路(図示せず)にて検出される。
の動きを説明する。GND電位の錘401と検出電極4
03は平板コンデンサを形成する。錘401に501方
向の加速度が加わると、検出梁402がたわみ、錘40
1と検出電極403の間隔が変化し、静電容量が変化す
る。この容量変化は検出電極403に接合されたコンタ
クト部114、ボンディングパット116を介して、外
部回路(図示せず)にて検出される。
【0044】尚、実施の形態3ではボンディングパット
を活性層102上に配したが、実施の形態2で述べたよ
うに、ガラス基板上に配しても同じ効果が得られる。
を活性層102上に配したが、実施の形態2で述べたよ
うに、ガラス基板上に配しても同じ効果が得られる。
【0045】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、振動型角
速度センサ及び加速度センサにおいて、電極駆動の有効
面の方向に関わりなく、外部回路と接続するためのボン
ディングパットを同一平面上に形成できるため、ワイヤ
ーボンディングが非常に容易に出来、量産時のコスト削
減に大きく寄与する。
速度センサ及び加速度センサにおいて、電極駆動の有効
面の方向に関わりなく、外部回路と接続するためのボン
ディングパットを同一平面上に形成できるため、ワイヤ
ーボンディングが非常に容易に出来、量産時のコスト削
減に大きく寄与する。
【図1】実施の形態1における角速度センサの斜視図
【図2】実施の形態1における角速度センサのリード線
部拡大断面図
部拡大断面図
【図3】実施の形態2における角速度センサの斜視図
【図4】実施の形態2における角速度センサのリード線
部拡大断面図
部拡大断面図
【図5】実施の形態3における加速度センサの斜視図
【符号の説明】 101 SOI基板 102 活性層 103 絶縁層(SiO2層) 104 支持層 105 錘 106 検出梁 107 左駆動電極 108 右駆動電極 109 駆動梁 110 振動体 111 モニタ電極 112 接合面(シリコン側) 113 島状部 114 コンタクト部 115 溝部 116 ボンディングパット 117 フレーム 120 ガラス基板 121 ガラス側駆動電極(右側) 122 ガラス側駆動電極(左側) 123 検出電極 124 リード線部 125 接合面(ガラス基板側) 126 ギャップ部 301,302,304 ボンディングパット 303,305 リード線部 307,309 逃げ部 306,308 コンタクト部 401 錘 402 検出梁 403 検出電極 404 リード線部 405 ボンディングパット 501 加速度方向
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F105 AA02 AA08 AA10 BB15 CC04 CD03 CD05 CD13 4M112 AA02 BA07 CA24 CA26 CA31 CA33 DA03 DA18 EA03 EA13
Claims (10)
- 【請求項1】 金属薄膜パターンを有する絶縁体基板
と、導電性の活性層と絶縁性もしくは高比抵抗性の支持
層と前記活性層と前記支持層に挟まれた絶縁層で構成さ
れる複合基板から成り、構造体が形成された前記活性層
に、前記絶縁体基板の一部と前記活性層の一部が接合さ
れた接合面を有するマイクロマシンデバイスにおいて、
前記接合面上に形成された前記金属薄膜パターンの一部
に対応する前記活性層部上の位置に、前記金属薄膜パタ
ーンの厚みよりも浅く窪んだコンタクト部を有し、前記
絶縁体基板と前記活性層が接合されている状態に於い
て、前記接合面上に形成された前記金属薄膜パターンの
一部と前記コンタクト部が、電気的に接続されているこ
とを特徴とするマイクロマシンデバイス。 - 【請求項2】 金属薄膜パターンを有する絶縁体基板
と、導電性の活性層と絶縁性もしくは高比抵抗性の支持
層と前記活性層と前記支持層に挟まれた絶縁層で構成さ
れる複合基板から成り、構造体が形成された前記活性層
に、前記絶縁体基板の一部と前記活性層の一部が接合さ
れた接合面を有するマイクロマシンデバイスにおいて、
前記接合面上に形成された前記金属薄膜パターンの一部
に対応する前記活性層部上の位置にコンタクト部を有
し、前記絶縁体基板と前記活性層が接合されている状態
に於いて、前記接合面上に形成された前記金属薄膜パタ
ーンの一部と前記コンタクト部が、電気的に接続されて
いるマイクロマシンデバイスにおいて、前記金属薄膜パ
ターンに対応した前記コンタクト部の周囲に溝部を設け
たことを特徴とするマイクロマシンデバイス。 - 【請求項3】 金属薄膜パターンが電極であり、前記接
合面上に形成された前記金属電極の一部と電気的に接合
されている前記活性層の一部が、ボンディングパッドを
有し電気的に活性層の他の部分と絶縁された島状部であ
り、前記絶縁体基板上の前記金属電極と外部との接続
が、前記島状部に設けられた前記ボンディングパッドを
介して行われることを特徴とする請求項1または2記載
のマイクロマシンデバイス。 - 【請求項4】 絶縁基板上に形成された前記金属薄膜パ
ターンがボンディングパッドと前記ボンディングパッド
に接続されたリード線部を形成し、前記活性層に構成さ
れた前記構造体の一部が前記接合面上にて前記リード線
部と電気的に接合され、前記構造体と外部との電気的接
続が前記金属薄膜パターンにより構成された前記ボンデ
ィングパッドを介して行われることを特徴とする請求項
1または2記載のマイクロマシンデバイス。 - 【請求項5】 活性層及び支持層がシリコンであり、前
記活性層と支持層の間の絶縁層がSi02により構成さ
れたSOIを用いることを特徴とする請求項1から4の
いずれかに記載のマイクロマシンデバイス。 - 【請求項6】 絶縁体基板がガラス基板により構成され
ていることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記
載のマイクロマシンデバイス。 - 【請求項7】 絶縁体基板が表面にSiO2層を有する
シリコン基板により構成されていることを特徴とする請
求項1から5のいずれかに記載のマイクロマシンデバイ
ス。 - 【請求項8】 絶縁体基板と活性層の接合が陽極接合で
あることを特徴とする請求項6または7に記載のマイク
ロマシンデバイス。 - 【請求項9】 請求項1から8のいずれかに記載のマイ
クロマシンデバイスが、角速度センサであることを特徴
とする角速度センサ。 - 【請求項10】 請求項1から8のいずれかに記載のマ
イクロマシンデバイスが、加速度センサであることを特
徴とする加速度センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000168541A JP2001349731A (ja) | 2000-06-06 | 2000-06-06 | マイクロマシンデバイスおよび角加速度センサおよび加速度センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000168541A JP2001349731A (ja) | 2000-06-06 | 2000-06-06 | マイクロマシンデバイスおよび角加速度センサおよび加速度センサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001349731A true JP2001349731A (ja) | 2001-12-21 |
Family
ID=18671531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000168541A Pending JP2001349731A (ja) | 2000-06-06 | 2000-06-06 | マイクロマシンデバイスおよび角加速度センサおよび加速度センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001349731A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005233926A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-09-02 | Seiko Instruments Inc | 容量型力学量センサ |
| JP2007279000A (ja) * | 2006-04-12 | 2007-10-25 | Hst Kk | 電位センサ |
| JP2013164301A (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-22 | Seiko Epson Corp | 電子デバイスおよびその製造方法、並びに電子機器 |
| JP2013164285A (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-22 | Seiko Epson Corp | 電子デバイスおよびその製造方法、並びに電子機器 |
| JP2015169492A (ja) * | 2014-03-06 | 2015-09-28 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイス、電子デバイスの信号検出方法、電子機器、および移動体 |
| JP2015217473A (ja) * | 2014-05-16 | 2015-12-07 | ローム株式会社 | Memsセンサおよびその製造方法、ならびにそれを備えたmemsパッケージ |
-
2000
- 2000-06-06 JP JP2000168541A patent/JP2001349731A/ja active Pending
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