JP2000321039A - Paint defect inspection apparatus and method - Google Patents
Paint defect inspection apparatus and methodInfo
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- JP2000321039A JP2000321039A JP11134563A JP13456399A JP2000321039A JP 2000321039 A JP2000321039 A JP 2000321039A JP 11134563 A JP11134563 A JP 11134563A JP 13456399 A JP13456399 A JP 13456399A JP 2000321039 A JP2000321039 A JP 2000321039A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 塗装欠陥の大きさを正確に測定できる塗装欠
陥検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】 CCDカメラ6の画角に合わせて2台の
距離計20a,20bをセットし、CCDカメラ6とC
CDカメラ6の画角方向にある被検査面上の2点との間
の距離を計測する。そして、計測された距離データに基
づいて、所定の計算式により、被検査面に対する撮影距
離と傾きの変化によるCCDカメラ6の視野、ひいては
撮像された画像の1画素当たりの面積の大きさの変化を
補正し、検出された塗装欠陥の大きさ(面積)を補正す
る。
(57) [Problem] To provide a coating defect inspection apparatus and method capable of accurately measuring the size of a coating defect. SOLUTION: Two rangefinders 20a and 20b are set according to the angle of view of the CCD camera 6, and the CCD cameras 6 and C
The distance between two points on the surface to be inspected in the direction of the angle of view of the CD camera 6 is measured. Then, based on the measured distance data, a predetermined calculation formula is used to calculate the field of view of the CCD camera 6 due to the change in the shooting distance and the inclination with respect to the surface to be inspected, and thus the change in the area of each imaged pixel per pixel. Is corrected, and the size (area) of the detected paint defect is corrected.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、自動車工
場において自動車の車体の塗装面の状態(塗装欠陥)を
光学的に検査するのに用いられる塗装欠陥検査装置及び
方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus and method for inspecting a paint defect used for optically inspecting the state of a paint surface of a vehicle body (paint defect) in an automobile factory, for example.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の塗装欠陥検査装置としては、例え
ば、特開平9−184713号公報や特開平10−96
615号公報などに記載されたものがある。2. Description of the Related Art Conventional paint defect inspection apparatuses are disclosed, for example, in JP-A-9-184713 and JP-A-10-96.
No. 615, for example.
【0003】同公報に記載された装置では、ラインを流
れる自動車の車体の塗装面を固定カメラとストライプ照
明を用いて撮像し、時系列的に撮像された複数のストラ
イプ画像(明暗パターン画像)を処理して、塗装面の欠
陥を検出し、その位置と大きさなどをモニタやプリンタ
に出力するようにしている。In the apparatus described in the publication, a painted surface of an automobile body flowing through a line is imaged using a fixed camera and stripe illumination, and a plurality of stripe images (light and dark pattern images) taken in time series are taken. Processing is performed to detect a defect on the painted surface, and output the position and size of the defect to a monitor or a printer.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の塗装欠陥検査装置にあっては、検査用のカメ
ラが固定式であるため、ラインを流れる車体の被検査面
に対する撮影距離と傾きが逐次変化し、その結果、カメ
ラの視野、ひいては撮像された画像の1画素当たりの面
積の大きさも逐次変化するため、欠陥の大きさの判定に
誤差を生じるおそれがあった。すなわち、撮影距離と傾
きが変化すると、同じ大きさの欠陥を撮影しても、同じ
大きさにはならず、撮影距離が近くなるほど欠陥は大き
く撮影され、撮影距離が遠くなるほど欠陥は小さく撮影
されるため、欠陥の大きさを正確に測定することができ
ず、その判定に誤差を生じるおそれがあった。However, in such a conventional paint defect inspection apparatus, since the inspection camera is of a fixed type, the shooting distance and inclination of the vehicle body flowing along the line with respect to the inspection surface are reduced. As a result, since the field of view of the camera and, consequently, the size of the area per pixel of the captured image also change sequentially, an error may occur in the determination of the size of the defect. In other words, when the shooting distance and the inclination change, even if a defect of the same size is photographed, it does not become the same size, and the defect is photographed larger as the photographing distance is shorter, and smaller as the photographing distance is longer. Therefore, the size of the defect cannot be accurately measured, and there is a possibility that an error may occur in the determination.
【0005】本発明は、従来の塗装欠陥検査装置におけ
る上記課題に着目してなされたものであり、カメラの視
野の変化を考慮に入れて、欠陥の大きさを正確に測定す
ることができる塗装欠陥検査装置及び方法を提供するこ
とを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems in a conventional paint defect inspection apparatus, and is capable of accurately measuring the size of a defect in consideration of a change in the field of view of a camera. An object of the present invention is to provide a defect inspection apparatus and method.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、下
記の手段によって達成される。The above object of the present invention is achieved by the following means.
【0007】(1)本発明に係る塗装欠陥検査装置は、
被検査物の被検査面の塗装欠陥を光学的に検出する塗装
欠陥検査装置において、被検査面上に所定の明暗パター
ンを形成する照明手段と、被検査物との間で相対移動し
ながら、前記照明手段によって被検査面上に形成された
明暗パターンを撮像する撮像手段と、前記撮像手段と該
撮像手段の画角方向にある被検査面上の二以上の点との
間の距離を測定する測距手段と、前記撮像手段によって
時系列的に撮像された複数の明暗パターンの画像データ
を処理して、被検査面の塗装欠陥を検出する処理手段
と、前記測距手段によって測定された距離データに基づ
いて、所定の計算式により、前記処理手段によって検出
された塗装欠陥の大きさを補正する補正手段と、前記処
理手段及び前記補正手段の結果を出力する出力手段とを
有することを特徴とする。(1) The coating defect inspection apparatus according to the present invention comprises:
In a coating defect inspection device that optically detects a coating defect on a surface to be inspected of an object to be inspected, an illumination unit that forms a predetermined light and dark pattern on the surface to be inspected, while relatively moving between the object to be inspected, An imager for imaging a light-dark pattern formed on the surface to be inspected by the illuminator; and a distance between the imager and two or more points on the surface to be inspected in the direction of the angle of view of the imager. Distance measuring means, processing means for processing image data of a plurality of light and dark patterns imaged in time series by the imaging means, and detecting a coating defect on a surface to be inspected; Based on the distance data, a predetermined calculation formula, a correction unit that corrects the size of the coating defect detected by the processing unit, and an output unit that outputs a result of the processing unit and the correction unit. Features and That.
【0008】(2)本発明に係る塗装欠陥検査装置は、
被検査物の被検査面の塗装欠陥を光学的に検出する塗装
欠陥検査装置において、被検査面上に所定の明暗パター
ンを形成する照明手段と、被検査物との間で相対移動し
ながら、前記照明手段によって被検査面上に形成された
明暗パターンを撮像する撮像手段と、被検査物の三次元
CADデータと被検査物に対する前記撮像手段の動的相
対位置情報とに基づいてあらかじめ計算された各撮影時
点ごとの前記撮像手段と該撮像手段の画角方向にある被
検査面上の二以上の点との間の距離のデータを記憶する
記憶手段と、前記撮像手段によって時系列的に撮像され
た複数の明暗パターンの画像データを処理して、被検査
面の塗装欠陥を検出する処理手段と、前記記憶手段に記
憶されている距離データに基づいて、所定の計算式によ
り、前記処理手段によって検出された塗装欠陥の大きさ
を補正する補正手段と、前記処理手段及び前記補正手段
の結果を出力する出力手段とを有することを特徴とす
る。(2) The coating defect inspection apparatus according to the present invention
In a coating defect inspection device that optically detects a coating defect on a surface to be inspected of an object to be inspected, an illumination unit that forms a predetermined light and dark pattern on the surface to be inspected, while relatively moving between the object to be inspected, An imager for imaging a light-dark pattern formed on the surface to be inspected by the illuminator; and three-dimensional CAD data of the object to be inspected and dynamic relative position information of the imager with respect to the object to be inspected, which are calculated in advance. A storage unit for storing data of a distance between the imaging unit and each of two or more points on a surface to be inspected in a direction of an angle of view of the imaging unit for each photographing time; Processing means for processing image data of a plurality of imaged light and dark patterns to detect a coating defect on a surface to be inspected; and a processing method using a predetermined calculation formula based on distance data stored in the storage means. means Therefore a correction means for correcting the magnitude of the detected painted defect, and having an output means for outputting the results of said processing means and said correcting means.
【0009】(3)本発明に係る塗装欠陥検査方法は、
被検査物の被検査面の塗装欠陥を光学的に検出する塗装
欠陥検査方法において、被検査面上に所定の明暗パター
ンを形成する工程と、被検査物との間で相対移動させな
がら、撮像手段により被検査面上に形成された明暗パタ
ーンを撮像すると共に、前記撮像手段と該撮像手段の画
角方向にある被検査面上の二以上の点との間の距離を測
定する工程と、時系列的に撮像された複数の明暗パター
ンの画像データを処理して、被検査面の塗装欠陥を検出
する工程と、測定された距離データに基づいて、所定の
計算式により、検出された塗装欠陥の大きさを補正する
工程と、補正後の検出された塗装欠陥を出力する工程と
を有することを特徴とする。(3) The coating defect inspection method according to the present invention comprises:
In a coating defect inspection method for optically detecting a coating defect on a surface to be inspected of an object to be inspected, a step of forming a predetermined light and dark pattern on the surface to be inspected and imaging while moving relative to the object to be inspected. Imaging the light and dark pattern formed on the surface to be inspected by the means, and measuring a distance between the imager and two or more points on the surface to be inspected in the angle of view direction of the imager; Processing the image data of a plurality of light-dark patterns taken in chronological order to detect a coating defect on the surface to be inspected; and, based on the measured distance data, a predetermined calculation formula to detect the coating. The method includes a step of correcting the size of the defect and a step of outputting the detected coating defect after the correction.
【0010】(4)本発明に係る塗装欠陥検査方法は、
被検査物の被検査面の塗装欠陥を光学的に検出する塗装
欠陥検査方法において、被検査面上に所定の明暗パター
ンを形成する工程と、被検査物との間で相対移動させな
がら、撮像手段により被検査面上に形成された明暗パタ
ーンを撮像する工程と、時系列的に撮像された複数の明
暗パターンの画像データを処理して、被検査面の塗装欠
陥を検出する工程と、被検査物の三次元CADデータと
被検査物に対する前記撮像手段の動的相対位置情報とに
基づいてあらかじめ計算された各撮影時点ごとの前記撮
像手段と該撮像手段の画角方向にある被検査面上の二以
上の点との間の距離のデータに基づいて、所定の計算式
により、検出された塗装欠陥の大きさを補正する工程
と、補正後の検出された塗装欠陥を出力する工程とを有
することを特徴とする。(4) The coating defect inspection method according to the present invention comprises:
In a coating defect inspection method for optically detecting a coating defect on a surface to be inspected of an object to be inspected, a step of forming a predetermined light and dark pattern on the surface to be inspected and imaging while moving relative to the object to be inspected. Means for imaging a light and dark pattern formed on the surface to be inspected by the means; processing image data of a plurality of light and dark patterns imaged in time series to detect a coating defect on the surface to be inspected; The imaging means for each photographing time calculated in advance based on the three-dimensional CAD data of the inspection object and the dynamic relative position information of the imaging means with respect to the inspection object, and the inspection surface in the direction of the angle of view of the imaging means Based on the data of the distance between the two or more points above, by a predetermined formula, a step of correcting the size of the detected paint defect, and a step of outputting the corrected paint defect detected Characterized by having .
【0011】[0011]
【発明の効果】本発明によれば、撮像手段と該撮像手段
の画角方向にある被検査面上の二以上の点との間の距離
のデータに基づいて、所定の計算式により、被検査面に
対する撮影距離と傾きの変化によるカメラの視野、ひい
ては撮像された画像の1画素当たりの面積の大きさの変
化を補正することで、検出された塗装欠陥の大きさを補
正するようにしたので、塗装欠陥の大きさを正確に測定
することができる。したがって、欠陥の修正レベルを検
査装置によって判定できるようになり、人による判定の
ばらつきがなくなるため、塗装品質の向上を図ることが
できる。According to the present invention, based on data of the distance between the imaging means and two or more points on the surface to be inspected in the direction of the field of view of the imaging means, the object to be inspected is calculated by a predetermined calculation formula. The size of the detected paint defect is corrected by correcting a change in the field of view of the camera due to a change in the photographing distance and the inclination with respect to the inspection surface, and a change in the size of the area per pixel of the captured image. Therefore, the size of the coating defect can be accurately measured. Therefore, the defect correction level can be determined by the inspection device, and there is no variation in determination by a person, so that the coating quality can be improved.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】以下、図面を使って、本発明の実
施の形態を説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0013】図1は、本発明の一実施の形態に係る塗装
欠陥検査装置の光学系の構成図であり、同図(A)は、
ストライプ光源の設置例を示し、同図(B)は、CCD
カメラの設置例を示している。また、図2は、ストライ
プ光源とCCDカメラとの位置関係を示す図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an optical system of a coating defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG.
An example of installation of a stripe light source is shown, and FIG.
An example of camera installation is shown. FIG. 2 is a diagram showing a positional relationship between the stripe light source and the CCD camera.
【0014】被測定物である自動車の車体1は、台車2
の上に載置された状態で、塗装ブースから検査ステージ
にコンベアによって搬送されてくる。検査ステージに
は、搬送されてきた車体1を取り囲むようにトンネル状
の取付スタンド3に複数の照明装置4が並べて設けられ
ており、これら各照明装置4の内側には同じくトンネル
状のストライプシートスタンド5が配置されている。ス
タンド3に取り付ける照明装置4の個数は、車体1の全
外周面1a上にくまなく明暗パターンが映し出されるよ
うな適当な値に設定されている。照明装置4とストライ
プシートスタンド5からストライプ光源(照明手段)が
構成されている。The vehicle body 1 of the vehicle to be measured is a bogie 2
While being placed on the table, it is conveyed from the painting booth to the inspection stage by a conveyor. In the inspection stage, a plurality of lighting devices 4 are arranged side by side on a tunnel-shaped mounting stand 3 so as to surround the transported vehicle body 1, and inside each of the lighting devices 4, a tunnel-shaped striped sheet stand is also provided. 5 are arranged. The number of the illuminating devices 4 attached to the stand 3 is set to an appropriate value such that a light and dark pattern is projected all over the entire outer peripheral surface 1a of the vehicle body 1. The illumination device 4 and the stripe sheet stand 5 constitute a stripe light source (illumination means).
【0015】各照明装置4には、例えば、直管型の蛍光
ランプが複数本取り付けられている。また、ストライプ
シートスタンド5は、例えば、蛍光ランプの光を散乱拡
散させて面光源と同様の光源を作り出す拡散板と、スト
ライプ(明暗縞)パターンを形成させるストライプシー
トとをスタンドに取り付けて構成されている。ストライ
プシートは、縦方向の黒色のストライプを横方向に所定
の間隔で施したものである(図2参照)。Each lighting device 4 is provided with, for example, a plurality of straight tube type fluorescent lamps. The stripe sheet stand 5 is configured such that, for example, a diffusion plate that scatters and diffuses the light of a fluorescent lamp to create a light source similar to a surface light source, and a stripe sheet that forms a stripe (light and dark stripes) pattern are attached to the stand. ing. The stripe sheet is formed by applying black stripes in the vertical direction at predetermined intervals in the horizontal direction (see FIG. 2).
【0016】各照明装置4からの光は、ストライプシー
トスタンド5によって拡散されて面状のストライプ(明
暗)パターンの光(ストライプ光)となって、車体1の
外周面(塗装面である被検査面)1a上に照射される。
その結果、車体1の外周面1a上にはストライプシート
スタンド5のストライプシートと同様のストライプ状の
明暗パターン(明暗模様)が映し出されることになる。Light from each of the lighting devices 4 is diffused by the stripe sheet stand 5 to become light (stripe light) having a planar stripe (bright and dark) pattern. Surface) 1a.
As a result, on the outer peripheral surface 1a of the vehicle body 1, a stripe-like light-dark pattern (light-dark pattern) similar to the stripe sheet of the stripe sheet stand 5 is projected.
【0017】車体1の外周面1a上に形成された明暗パ
ターンは、複数(ここでは、N台)のカラーCCDカメ
ラ(撮像手段)(以下単に「CCDカメラ」という)6
によって撮像される。CCDカメラ6もまた車体1を取
り囲むようにトンネル状のカメラスタンド7に取り付け
られている。CCDカメラ6の取付け個数と位置は、車
体1の全外周面1aをくまなく撮像できるよう適当に設
定されている。すなわち、各CCDカメラ6は視野とし
て所定の撮像領域(部位)Aを持っており、隣り合うC
CDカメラ6の撮像領域Aは連続していることになる。
したがって、設置されているすべてのCCDカメラ6に
よって車体1の全外周面1aがくまなく映し出されるこ
とになる。The light and dark pattern formed on the outer peripheral surface 1a of the vehicle body 1 includes a plurality (here, N) of color CCD cameras (imaging means) (hereinafter simply referred to as "CCD cameras") 6
Is imaged. The CCD camera 6 is also attached to a tunnel-shaped camera stand 7 so as to surround the vehicle body 1. The number and position of the CCD cameras 6 are appropriately set so that the entire outer peripheral surface 1a of the vehicle body 1 can be imaged throughout. That is, each CCD camera 6 has a predetermined imaging area (part) A as a visual field, and the adjacent C
The imaging area A of the CD camera 6 is continuous.
Therefore, all the outer peripheral surfaces 1a of the vehicle body 1 are completely projected by all the installed CCD cameras 6.
【0018】各CCDカメラ6(カメラスタンド7)
は、例えば、車体1の移動方向Bのストライプシートス
タンド5の前方に配置されている(図2参照)。Each CCD camera 6 (camera stand 7)
Are arranged, for example, in front of the stripe seat stand 5 in the moving direction B of the vehicle body 1 (see FIG. 2).
【0019】また、本実施の形態では、各CCDカメラ
6に対して1組(2台)の非接触計測式の距離計(測距
手段)20a,20bが取り付けられている。2台の距
離計20a,20bは、対応するCCDカメラ6の画角
に合わせてセットされており、被検査面1aとCCDカ
メラ6との画角方向の距離を計測する。より詳細には、
対応するCCDカメラ6とこのCCDカメラ6の画角方
向にある被検査面1a上の2点P1 ,P2 との間の距離
L1 ,L2 をそれぞれ計測する(図4、図6参照)。こ
こで、P1 は、CCDカメラ6の一番手前側の横視野の
中央位置、P2は、CCDカメラ6の一番奥側の横視野
の中央位置、L1 は、CCDカメラ6と被検査面1a上
の点P1 との間の計測距離、L2 は、CCDカメラ6と
被検査面1a上の点P2 との間の計測距離である。すな
わち、距離計20aによって手前側の距離L1 が計測さ
れ、距離計20bによって奥側の距離L2 が計測され
る。なお、CCDカメラ6の画角は、レンズとCCD素
子の大きさとであらかじめ幾何学的に決まっている。例
えば、35ミリレンズと1/3インチCCD素子を使用
した場合、CCDカメラの画角は、横7.8度、縦5.9
度となる。In this embodiment, one set (two) of non-contact measurement type rangefinders (distance measuring means) 20a and 20b are attached to each CCD camera 6. The two distance meters 20a and 20b are set in accordance with the angle of view of the corresponding CCD camera 6, and measure the distance between the surface 1a to be inspected and the CCD camera 6 in the angle of view. More specifically,
The distances L1 and L2 between the corresponding CCD camera 6 and the two points P1 and P2 on the inspected surface 1a in the direction of the angle of view of the CCD camera 6 are measured (see FIGS. 4 and 6). Here, P1 is the center position of the horizontal field of view at the foremost side of the CCD camera 6, P2 is the center position of the horizontal field of view at the farthest side of the CCD camera 6, and L1 is the position on the CCD camera 6 and the inspection surface 1a. L2 is the measurement distance between the CCD camera 6 and the point P2 on the inspection surface 1a. That is, the distance L1 on the near side is measured by the distance meter 20a, and the distance L2 on the far side is measured by the distance meter 20b. The angle of view of the CCD camera 6 is geometrically determined in advance by the size of the lens and the CCD element. For example, when a 35 mm lens and a 1/3 inch CCD element are used, the angle of view of the CCD camera is 7.8 degrees horizontally and 5.9 degrees vertically.
Degree.
【0020】なお、各CCDカメラ6は、一定の時間間
隔(例えば、1/30秒)ごとに、撮像領域Aのストラ
イプ画像(明暗パターン画像ともいう)のデータを、後
述するカメラコントロールユニットを介して画像処理装
置に送るようになっている。このとき、車体1は一定の
ラインスピードで一定の方向に移動しているので、CC
Dカメラ6によって一定時間ごとに撮像されるストライ
プ画像は、車体1の外周面1a上の撮像部位Aが一定時
間ごとにずれた画像となる。また、各CCDカメラ6に
取り付けられた2台の距離計20a,20bは、対応す
るCCDカメラ6の撮像動作と連動して、同じタイミン
グで被検査面1aとの距離L1 ,L2 をそれぞれ計測
し、結果を画像処理装置に送るようになっている。すな
わち、各撮影時点ごとにそれぞれストライプ画像のデー
タと計測距離L1 ,L2 のデータとが同時に画像処理装
置に取り込まれるようになっている。Each CCD camera 6 transmits data of a stripe image (also referred to as a light / dark pattern image) of the image pickup area A at a predetermined time interval (for example, 1/30 second) via a camera control unit to be described later. To the image processing device. At this time, since the vehicle body 1 is moving in a certain direction at a certain line speed, CC
The stripe image captured by the D camera 6 at regular intervals is an image in which the imaging portion A on the outer peripheral surface 1a of the vehicle body 1 is shifted at regular intervals. Further, the two rangefinders 20a and 20b attached to each CCD camera 6 measure the distances L1 and L2 to the surface 1a to be inspected at the same timing in conjunction with the imaging operation of the corresponding CCD camera 6, respectively. The result is sent to the image processing apparatus. That is, the data of the stripe image and the data of the measurement distances L1 and L2 are simultaneously taken into the image processing device at each photographing time.
【0021】また、照明装置取付け用スタンド3の幅C
は、車体の大きさが異なるいろいろな車種に対応できる
ようにするため、一定の範囲で調整可能である(ストラ
イプシートスタンド5及びカメラスタンド7についても
同様)。The width C of the lighting device mounting stand 3
Can be adjusted within a certain range so as to be able to cope with various types of vehicles having different vehicle sizes (the same applies to the stripe seat stand 5 and the camera stand 7).
【0022】また、ここでは、車体1を移動させる形態
を示したが、これに限定されるわけではない。例えば、
ストライプ光源(照明装置4(取付スタンド3)及びス
トライプシートスタンド5)とCCDカメラ6(カメラ
スタンド7)を動かして車体1の外周面1a上の撮像部
位Aを時間と共に変化させるようにしてもよい。Further, here, the form in which the vehicle body 1 is moved has been described, but the present invention is not limited to this. For example,
The stripe light source (illumination device 4 (mounting stand 3) and stripe seat stand 5) and the CCD camera 6 (camera stand 7) may be moved to change the imaging region A on the outer peripheral surface 1a of the vehicle body 1 with time. .
【0023】図3は、本装置の信号処理系の全体構成を
示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing the overall configuration of the signal processing system of the present apparatus.
【0024】N台のCCDカメラ6はおのおの対応する
カメラコントロールユニット8に接続され、各カメラコ
ントロールユニット8はおのおの対応する画像処理装置
9に接続されている。また、各CCDカメラ6に取り付
けられた2台の距離計20a,20bは、対応するCC
Dカメラ6のカメラコントロールユニット8と画像処理
装置9に接続されている。CCDカメラ6と距離計20
a,20bの動作は、どちらも、対応するカメラコント
ロールユニット8によって制御される。上記のように、
CCDカメラ6によって一定時間ごとに撮像された車体
外周面1a上のストライプ画像(明暗パターン画像)の
データは、ビデオ信号としてカメラコントロールユニッ
ト8を介して画像処理装置9に送られ、また、距離計2
0a,20bによって計測された距離L1 ,L2 のデー
タは、撮像されたストライプ画像のデータと同時に同じ
タイミングで直接画像処理装置9に送られる。画像処理
装置9に取り込まれた同一時点のストライプ画像のデー
タと計測距離L1 ,L2 のデータは、互いに関連付けら
れて一時保存され、処理される。Each of the N CCD cameras 6 is connected to a corresponding camera control unit 8, and each camera control unit 8 is connected to a corresponding image processing device 9. Further, the two distance meters 20a and 20b attached to each CCD camera 6 correspond to the corresponding CCs.
The camera control unit 8 of the D camera 6 and the image processing device 9 are connected. CCD camera 6 and rangefinder 20
The operations of a and 20b are both controlled by the corresponding camera control unit 8. As described above,
Data of a stripe image (light and dark pattern image) on the outer peripheral surface 1a of the vehicle body taken at regular intervals by the CCD camera 6 is sent as a video signal to the image processing device 9 via the camera control unit 8, and the distance meter 2
The data of the distances L1 and L2 measured by 0a and 20b are sent directly to the image processing device 9 at the same time and at the same time as the data of the captured stripe image. The data of the stripe image at the same time and the data of the measurement distances L1 and L2 taken into the image processing device 9 are temporarily stored in association with each other and processed.
【0025】各画像処理装置9は、処理手段及び補正手
段として機能するもので、CCDカメラ6によって撮像
された時系列の複数の静止ストライプ画像を処理して、
塗装欠陥の候補点を検出するとともに、距離計20a,
20bによって計測された距離L1 ,L2 のデータに基
づいて、検出された欠陥候補点の大きさを補正する機能
を有している。検出された欠陥候補点の位置と大きさ
(補正後の大きさ)などのデータは、内蔵メモリ(RA
Mなど)に記憶される。Each of the image processing devices 9 functions as a processing unit and a correction unit, and processes a plurality of time-series still stripe images captured by the CCD camera 6.
In addition to detecting candidate points for paint defects, the distance meter 20a,
It has a function of correcting the size of the detected defect candidate point based on the data of the distances L1 and L2 measured by 20b. Data such as the position and size of the detected defect candidate point (the size after correction) is stored in a built-in memory (RA
M).
【0026】各画像処理装置9には、ホストコンピュー
タ10が接続されている。ホストコンピュータ10は、
処理手段として機能するもので、各画像処理装置9から
送られてくる欠陥候補点のデータを処理して、被検査面
1aにおける塗装欠陥を最終的に認識(検出)するとと
もに、最終認識された塗装欠陥を集計して、所定の表示
形式に編集する(例えば、検出した欠陥の位置と大きさ
を対応する車種の展開図に表示する)機能を有してい
る。ホストコンピュータ10の処理結果は、出力手段と
してのカラーモニタ11やカラープリンタ12に出力さ
れる。A host computer 10 is connected to each image processing device 9. The host computer 10
It functions as a processing means and processes the data of the defect candidate points sent from each of the image processing devices 9 to finally recognize (detect) the coating defect on the inspected surface 1a and to finally recognize the coating defect. It has a function of totalizing the paint defects and editing the paint defects into a predetermined display format (for example, displaying the positions and sizes of the detected defects on a development view of the corresponding vehicle type). The processing result of the host computer 10 is output to a color monitor 11 and a color printer 12 as output means.
【0027】また、ホストコンピュータ10には、コン
ベアを駆動するコンベアモータ13の回転数に応じた数
のパルスを出力するパルスジェネレータ14が接続され
ている。パルスジェネレータ14から出力されるパルス
数はラインスピード(車体1の移動速度)に対応してお
り、これにより車体1の移動量を認識することができ
る。The host computer 10 is connected to a pulse generator 14 for outputting a number of pulses corresponding to the number of rotations of a conveyor motor 13 for driving the conveyor. The number of pulses output from the pulse generator 14 corresponds to the line speed (moving speed of the vehicle body 1), whereby the moving amount of the vehicle body 1 can be recognized.
【0028】さらに、ホストコンピュータ10には、車
体1が検査ステージに入ったこと(車体IN)を検知す
るためのリミットスイッチ15と、車体1が検査ステー
ジから出たこと(車体OUT)を検知するためのリミッ
トスイッチ16とが接続されている。ホストコンピュー
タ10は、各リミットスイッチ15,16から車体IN
情報又は車体OUT情報を入力すると、各画像処理装置
9に対して画像処理のON/OFF信号(開始指令又は
終了指令)を出力する。Further, the host computer 10 detects a limit switch 15 for detecting that the vehicle body 1 has entered the inspection stage (vehicle IN) and detects that the vehicle body 1 has left the inspection stage (vehicle OUT). Switch 16 is connected. The host computer 10 sends the vehicle body IN from each of the limit switches 15 and 16.
When the information or the vehicle body OUT information is input, an ON / OFF signal (a start command or an end command) for image processing is output to each image processing device 9.
【0029】なお、ここでは、リミットスイッチ16を
設けて車体1が検査ステージから出たことを検知するよ
うにしているが、これに限られるわけではない。例え
ば、各CCDカメラ6からの画像情報をもとに、車体1
が検査ステージから出たことを検出するようにしてもよ
い。Here, the limit switch 16 is provided to detect that the vehicle body 1 has left the inspection stage, but the invention is not limited to this. For example, based on image information from each CCD camera 6,
May come out of the inspection stage.
【0030】以上のように構成された本装置における欠
陥検出処理は、下記のようにして行われる。The defect detection processing in the present apparatus configured as described above is performed as follows.
【0031】まず、塗装欠陥の検出原理は、次のとおり
である。First, the principle of detecting a coating defect is as follows.
【0032】塗装面に明暗パターンを形成すると、欠陥
部で光が乱反射し孤立点となって見える。そこで、これ
をCCDカメラ6で撮像し、高速画像処理して、孤立点
(欠陥候補点)とその動きから欠陥の検出を行う。When a light-dark pattern is formed on a painted surface, light is irregularly reflected at a defective portion and appears as an isolated point. Therefore, the image is captured by the CCD camera 6 and subjected to high-speed image processing to detect a defect from an isolated point (a defect candidate point) and its movement.
【0033】次に、処理の手順について説明すると、C
CDカメラ6から被検査面1aの撮像部位Aの画像を取
り込み、欠陥部分を検出しやすくするため、所定の強調
処理(例えば、面積判定など)を行って、欠陥候補点を
抽出する。これを撮像時刻の異なる複数の明暗パターン
画像のすべてについて行う。この画像処理を一定時間ご
とに行うと実際の欠陥は車体1と共に移動するが誤検出
した点は動かないため、各画像から抽出した欠陥候補点
の追跡を行い、欠陥かどうか判定する。具体的には、抽
出した欠陥候補点の移動量がパルスジェネレータ14の
出力から得られる車体1(撮像部位A)の実際の移動量
と等しい場合に限り、その欠陥候補点が車体1の被検査
面1a上に実際に存在する欠陥であると決定する。この
ように欠陥候補点の動きを追跡処理することによって、
塗装欠陥を高精度に検出することができる。なお、ここ
では、各静止画像に対する上記の強調処理及び欠陥候補
点抽出処理は、画像処理装置9で行われ、また、時系列
の複数の画像に対する上記の最終的な欠陥決定処理は、
ホストコンピュータ10で行われる。Next, the processing procedure will be described.
An image of the imaged portion A of the surface 1a to be inspected is captured from the CD camera 6, and a predetermined emphasis process (for example, area determination) is performed to facilitate detection of a defective portion, thereby extracting a defect candidate point. This is performed for all of the plurality of light and dark pattern images having different imaging times. When this image processing is performed at regular time intervals, the actual defect moves together with the vehicle body 1 but the erroneously detected point does not move. Therefore, the defect candidate points extracted from each image are tracked to determine whether the defect is a defect. Specifically, the defect candidate point is not subject to the inspection of the vehicle body 1 only when the movement amount of the extracted defect candidate point is equal to the actual movement amount of the vehicle body 1 (imaging part A) obtained from the output of the pulse generator 14. It is determined that the defect actually exists on the surface 1a. By tracking the movement of the defect candidate point in this way,
Coating defects can be detected with high accuracy. Here, the above-described enhancement processing and defect candidate point extraction processing for each still image are performed by the image processing device 9, and the above-described final defect determination processing for a plurality of time-series images is
This is performed by the host computer 10.
【0034】また、検出された塗装欠陥の大きさの補正
は、次のようにして行われる。なお、ここでは、塗装欠
陥の大きさの補正は、欠陥候補点が抽出された段階で行
われる。The correction of the size of the detected paint defect is performed as follows. Here, the correction of the size of the coating defect is performed at the stage when the defect candidate point is extracted.
【0035】CCDカメラ6で正方格子を撮影した場
合、CCDカメラ6が被検査面1aに対して傾いている
と、図6に示すように、手前側はCCDカメラ6と被検
査面1a上の点P1 との距離L1 が短いため視野が小さ
く、奥側はCCDカメラ6と被検査面1a上の点P2 と
の距離L2 が長いため視野が広くなる。その結果、手前
側では、画像の1画素当たりの面積が奥側よりも小さく
なる。また、CCDカメラ6で撮像された画像は、図7
に示すように、画像処理において、横画素数×縦画素数
の細かいピクセル(画素)ごとのデータとして扱われ
る。このとき、欠陥の大きさ(面積)は、欠陥画像に含
まれる画素数と1画素当たりの面積とを掛け算して求め
られるため、同じ大きさの欠陥であっても、手前側の欠
陥はより大きく撮影され、奥側の欠陥はより小さく撮影
されることになる。したがって、欠陥の大きさを正確に
測定するためには、CCDカメラ6の視野の変化を考慮
して、検出された欠陥面積を補正する必要がある。When the square lattice is photographed by the CCD camera 6, if the CCD camera 6 is tilted with respect to the inspection surface 1a, as shown in FIG. The field of view is small because the distance L1 to the point P1 is short, and the field of view is wide on the far side because the distance L2 between the CCD camera 6 and the point P2 on the inspected surface 1a is long. As a result, the area per pixel of the image is smaller on the near side than on the far side. The image captured by the CCD camera 6 is shown in FIG.
As shown in (1), in image processing, it is handled as data for each fine pixel (pixel) of the number of horizontal pixels × the number of vertical pixels. At this time, since the size (area) of the defect is obtained by multiplying the number of pixels included in the defect image by the area per pixel, even if the defect has the same size, the defect on the front side is more A large image is taken, and a defect on the far side is taken smaller. Therefore, in order to accurately measure the size of the defect, it is necessary to correct the detected defect area in consideration of the change in the field of view of the CCD camera 6.
【0036】図4と図5は、本実施の形態に係る、距離
計を2個使用した場合の面積変換(補正)の原理を説明
するための図面である。FIGS. 4 and 5 are diagrams for explaining the principle of area conversion (correction) when two rangefinders are used according to the present embodiment.
【0037】CCDカメラ6に取り付けられた2台の距
離計20a,20bによって被検査面1aとCCDカメ
ラ6との画角方向の距離(手前側:L1 、奥側:L2 )
が計測される。ここでは、横視野をX、縦視野をYでそ
れぞれ表す。The distance between the surface 1a to be inspected and the CCD camera 6 in the direction of the angle of view (front side: L1, rear side: L2) by two rangefinders 20a, 20b attached to the CCD camera 6.
Is measured. Here, the horizontal field of view is represented by X, and the vertical field of view is represented by Y.
【0038】まず、計測距離L1 から、下記の式によ
り、手前側の視野(X1 ,Y1 )を求める。First, the visual field (X1, Y1) on the near side is obtained from the measured distance L1 by the following equation.
【0039】Y1 =L1 ×sin(縦画角/2)×2 X1 =L1 ×sin(横画角/2)×2 なお、計測距離L1 が規定値以外であれば(例えば、視
野が窓などにかかる場合)、当該計算は行わず、欠陥
(欠陥候補点)の面積は、後述するS2 のみで計算す
る。Y1 = L1.times.sin (vertical angle of view / 2) .times.2 X1 = L1.times.sin (horizontal angle of view / 2) .times.2 If the measured distance L1 is other than the specified value (for example, if the field of view is In this case, the calculation is not performed, and the area of the defect (defect candidate point) is calculated only in S2 described later.
【0040】また、計測距離L2 から、下記の式によ
り、奥側の視野(X2 ,Y2 )を求める。From the measured distance L2, the visual field (X2, Y2) on the far side is obtained by the following equation.
【0041】Y2 =L2 ×sin(縦画角/2)×2 X2 =L2 ×sin(横画角/2)×2 なお、計測距離L2 が規定値以外であれば(例えば、視
野が窓などにかかる場合)、当該計算は行わず、欠陥
(欠陥候補点)の面積は、後述するS1 のみで計算す
る。Y2 = L2 × sin (vertical angle of view / 2) × 2 X2 = L2 × sin (horizontal angle of view / 2) × 2 If the measured distance L2 is other than the specified value (for example, if the field of view is a window, etc.) ), The calculation is not performed, and the area of the defect (defect candidate point) is calculated only in S1 described later.
【0042】次に、上記で求めた各視野の値X1 ,Y1 ,
X2 ,Y2 により、下記の式を用いて、 S1 =(X1 /横画素数)×(Y1 /縦画素数) S2 =(X2 /横画素数)×(Y2 /縦画素数) 手前側と奥側の1画素当たりの大きさ(面積)S1 ,S2
をそれぞれ求める。Next, the values X 1, Y 1,
Using X2 and Y2, S1 = (X1 / number of horizontal pixels) * (Y1 / number of vertical pixels) S2 = (X2 / number of horizontal pixels) * (Y2 / number of vertical pixels) Size (area) per pixel on the side S1, S2
Respectively.
【0043】そして、欠陥(欠陥候補点)が存在する重
心座標(画素位置)(x,y)(図7参照)と、欠陥
(欠陥候補点)に含まれる画素数の検出値Qと、上記1
画素当たりの面積S1 ,S2 とから、下記の比例計算に
より、 欠陥真面積=Q×{(S1 ×(縦画素数−y)/縦画素
数+S2 ×(y/縦画素数)} 欠陥(欠陥候補点)の大きさを画素数から面積に変換し
て、補正された真の面積を得る。The barycentric coordinates (pixel position) (x, y) (see FIG. 7) where the defect (defect candidate point) exists, the detection value Q of the number of pixels included in the defect (defect candidate point), 1
From the areas S1 and S2 per pixel, the true area of the defect = Q × {(S1 × (number of vertical pixels−y) / number of vertical pixels + S2 × (y / number of vertical pixels)} defect (defect) The size of the candidate point) is converted from the number of pixels to the area to obtain a corrected true area.
【0044】なお、上記の計算式において、Y1 とY2
を求める式は、CCDカメラ6に対して撮像部位(被検
査面1a)が横視野方向に直角時の視野になる場合を前
提としており、傾きがある実際の視野とは異なるため、
近似式となる。したがって、その傾きによる補正を加え
れば、もっと正確に欠陥(欠陥候補点)の大きさ(面
積)を求めることができる。In the above formula, Y1 and Y2
Is based on the assumption that the imaging region (the surface 1a to be inspected) is perpendicular to the horizontal field of view with respect to the CCD camera 6, which is different from the actual field of view having an inclination.
It becomes an approximate expression. Therefore, the size (area) of the defect (defect candidate point) can be obtained more accurately by performing correction based on the inclination.
【0045】また、ここでは、各CCDカメラ6に対し
て2台の距離計20a,20bを使用しているが、使用
する距離計の個数はこれに限定されない。距離計の個数
を増やして同様な処理を行うことで、きめ細かな距離計
測や被検査面の形状予測が可能となり、被検査面が複雑
な形状になっても、各部位での1画素当たりの面積を正
確に求めることができる。例えば、図6において、4台
の距離計を使用して視野の4隅の点とCCDカメラとの
距離を計測することで、より一層正確に欠陥の大きさ
(面積)を求めることができる。In this case, two rangefinders 20a and 20b are used for each CCD camera 6, but the number of rangefinders used is not limited to this. By increasing the number of rangefinders and performing the same processing, it is possible to perform detailed distance measurement and shape prediction of the surface to be inspected, and even if the surface to be inspected has a complicated shape, the per-pixel The area can be determined accurately. For example, in FIG. 6, the size (area) of the defect can be obtained more accurately by measuring the distance between the four corner points of the field of view and the CCD camera using four rangefinders.
【0046】また、ここでは、距離計20を用いて各撮
影時点ごとにCCDカメラ6と被検査面1aとの距離を
計測するようにしているが、これに限定されるわけでは
ない。例えば、車体1の三次元CADデータと、各撮影
時点におけるCCDカメラ6と被検査面1aとの相対位
置情報とに基づいて、あらかじめ、各撮影時点における
CCDカメラ6と被検査面1aとの距離を求めておくこ
とで、距離計20を使用する場合と同様の効果を得るこ
とができる。この場合、あらかじめ求めた距離データ
は、対応する画像処理装置9の内蔵メモリ(ROMな
ど)(記憶手段)に記憶しておく。Further, here, the distance between the CCD camera 6 and the surface 1a to be inspected is measured at each photographing time using the distance meter 20, but the present invention is not limited to this. For example, based on three-dimensional CAD data of the vehicle body 1 and relative position information between the CCD camera 6 and the inspection surface 1a at each imaging time, the distance between the CCD camera 6 and the inspection surface 1a at each imaging time is determined in advance. Is obtained, the same effect as when the distance meter 20 is used can be obtained. In this case, the distance data obtained in advance is stored in a built-in memory (such as a ROM) (storage means) of the corresponding image processing device 9.
【0047】更には、車体1の三次元CADデータと、
各撮影時点におけるCCDカメラ6と被検査面1aとの
相対位置情報とに基づいて、各撮影時点ごとにリアルタ
イムでCCDカメラ6と被検査面1aとの距離を計算す
るようにしてもよい。Further, three-dimensional CAD data of the vehicle body 1 and
The distance between the CCD camera 6 and the inspection surface 1a may be calculated in real time for each imaging time based on the relative position information between the CCD camera 6 and the inspection surface 1a at each imaging time.
【0048】図8と図9は、上記した欠陥検出処理の具
体的な手順を示すフローチャートである。FIGS. 8 and 9 are flowcharts showing a specific procedure of the above-described defect detection processing.
【0049】まず、ステップS11では、各画像処理装
置9で、対応するCCDカメラ6から、撮影時刻の早い
方から順に、ある時刻TN (Nは、後述する比較枚数の
設定値)における被検査面1aの撮像部位Aのストライ
プ画像データを取り込み、このストライプ画像データを
内蔵メモリにカラー画像データとして記憶する。なお、
最初の撮影時刻においては、CCDカメラ6の撮像部位
Aの位置を示すパルスジェネレータ14からのパルス数
のカウント値を0にリセットしておく。このリセット処
理は、画像処理装置9と同期して動作するホストコンピ
ュータ10によって行われる。First, in step S11, each image processing apparatus 9 inspects the corresponding CCD camera 6 in order from the earliest photographing time at a certain time T N (N is a set value of a comparison number to be described later). Stripe image data of the imaging portion A on the surface 1a is fetched, and the stripe image data is stored as color image data in a built-in memory. In addition,
At the first photographing time, the count value of the number of pulses from the pulse generator 14 indicating the position of the imaging part A of the CCD camera 6 is reset to zero. This reset processing is performed by the host computer 10 operating in synchronization with the image processing apparatus 9.
【0050】そして、ステップS12では、各画像処理
装置9で、対応する2台の距離計20a,20bから、
同じ時刻TN における被検査面1aとCCDカメラ6と
の画角方向の計測距離(手前側:L1 、奥側:L2 )の
データを取り込み、この計測距離データを内蔵メモリに
記憶する。Then, in step S12, each image processing device 9 sends two corresponding distance meters 20a, 20b
At the same time T N , data of the measurement distance (front side: L1, rear side: L2) between the inspection surface 1a and the CCD camera 6 at the same time T N is fetched, and the measured distance data is stored in the built-in memory.
【0051】なお、前述したように、距離計20a,2
0bで実際に距離計測を行うのではなく、あらかじめC
ADデータなどにより被検査面1aとCCDカメラ6と
の距離を計算して内蔵メモリに記憶しておき、当該ステ
ップS12でその距離データを読み出すようにしてもよ
い。あるいは、CADデータなどにより、リアルタイム
で被検査面1aとCCDカメラ6との距離を計算するよ
うにしてもよい。As described above, the distance meters 20a, 20a
0b instead of actually measuring the distance,
The distance between the inspection surface 1a and the CCD camera 6 may be calculated based on the AD data and stored in the built-in memory, and the distance data may be read in step S12. Alternatively, the distance between the inspection surface 1a and the CCD camera 6 may be calculated in real time based on CAD data or the like.
【0052】そして、ステップS13では、各画像処理
装置9で、ステップS12で取り込んだ計測距離L1 ,
L2 に基づいて、上記した所定の計算式により、対応す
るCCDカメラ6の視野X1 ,Y1 ,X2 ,Y2 を計算
し、更には手前側と奥側の1画素当たりの大きさ(面
積)S1 ,S2 を計算する。In step S13, each of the image processing devices 9 measures the measurement distances L1 and L1 acquired in step S12.
Based on L2, the corresponding fields of view X1, Y1, X2, Y2 of the CCD camera 6 are calculated by the above-mentioned predetermined formula, and furthermore, the size (area) S1, Calculate S2.
【0053】そして、ステップS14では、各画像処理
装置9で、ステップS11で取り込んだストライプ画
像、すなわち、原画像に対して、欠陥部(原画像に含ま
れている欠陥と思われる部分で、ここでは、欠陥候補点
とされる前段階の状態を意味する)を抽出しやすくする
ための所定の強調処理を行う。この強調処理によって、
原画像に含まれている欠陥と思われる部分(欠陥部)の
みが取り出されることになる。このような強調処理によ
る欠陥部の抽出は、周知の手法、例えば、面積判定、ス
ムージングなどによって行われる。そして、抽出した欠
陥部の位置、面積(大きさ)、色(欠陥と背景のRGB
値)、xy大きさ(横幅と縦長さ)を求める。In step S14, each of the image processing devices 9 determines whether or not the striped image fetched in step S11, that is, the original image has a defective portion (a portion considered to be a defect included in the original image). In this case, a predetermined emphasis process is performed to make it easier to extract a state at a previous stage that is a defect candidate point. By this emphasis processing,
Only a portion (defect portion) considered to be a defect included in the original image is extracted. Extraction of a defective portion by such enhancement processing is performed by a known method, for example, area determination, smoothing, or the like. Then, the position, area (size), and color (RGB of the defect and the background) of the extracted defect portion
Value) and xy size (horizontal width and vertical length).
【0054】そして更には、特に、上記の欠陥抽出デー
タのうちの欠陥部の面積(大きさ)について、ステップ
S13のカメラ視野計算結果に基づいて、その面積(大
きさ)の補正を行う。具体的には、前述したように、欠
陥部が存在する重心座標(x,y)と、欠陥部に含まれ
る画素数の検出値Qと、ステップS13で求めた1画素
当たりの面積S1 ,S2 とから、上記した所定の計算式
(比例計算式)により、補正された真の面積を得る。Further, in particular, the area (size) of the defect portion in the above-described defect extraction data is corrected based on the camera view calculation result in step S13. Specifically, as described above, the coordinates (x, y) of the center of gravity at which the defect exists, the detection value Q of the number of pixels included in the defect, and the areas S1 and S2 per pixel obtained in step S13. From the above, a corrected true area is obtained by the above-mentioned predetermined formula (proportional formula).
【0055】したがって、ステップS14の処理結果と
して、欠陥部が抽出され、そしてその欠陥部の位置、面
積(視野で大きさ補正された真面積)、色(欠陥と背景
のRGB値)、xy大きさ(横幅と縦長さ)のデータ
(欠陥抽出データ)が取得される。これらのデータは、
各画像処理装置9の内蔵メモリに記憶される。Therefore, as a result of the processing in step S14, a defective portion is extracted, and the position, area (true area corrected in size in the visual field), color (RGB values of the defect and the background), and xy size of the defective portion are extracted. The data (defect extraction data) of the height (width and height) is obtained. These data are
It is stored in a built-in memory of each image processing device 9.
【0056】そして、ステップS15では、比較対象と
なる取込み済み原画像の枚数を数えるカウンタの値iを
1に設定する。In step S15, the value i of a counter for counting the number of captured original images to be compared is set to one.
【0057】そして、ステップS16では、ステップS
14の処理を既に受けているi枚手前の時刻TN-i の原
画像から抽出された欠陥部と、今回新たにステップS1
4の処理を受けた時刻TN の原画像から抽出された欠陥
部との比較を行う。なお、まだ1枚の原画像しか取り込
まれていない一番最初の段階では、この比較処理は実際
には行うことができないが、2枚以上の原画像を取り込
んだ段階では、直前に撮像された原画像との比較が行わ
れることになる。Then, in step S16, step S
The defect extracted from the original image at the time T Ni immediately before the i-th image which has already been subjected to the processing in step S 14 and the defect newly extracted in step S 1
Then, a comparison is made with the defective portion extracted from the original image at the time T N that has undergone the processing of Step 4. Note that at the very first stage where only one original image has been captured, this comparison process cannot be actually performed. However, at the stage where two or more original images have been captured, the image taken immediately before is captured. The comparison with the original image will be performed.
【0058】そして、ステップS17では、ホストコン
ピュータ10で、パルスジェネレータ14から出力され
るパルスをカウントし、このカウントされたパルス数に
基づいて撮像部位Aの現在位置を算出し、比較対象であ
る時刻TN-i の位置と比較して、時刻TN に撮像された
原画像と時刻TN-i に撮像された原画像との間における
撮像部位Aの移動量Dを算出する。In step S17, the host computer 10 counts the pulses output from the pulse generator 14, calculates the current position of the imaging region A based on the counted number of pulses, and compares the current position with the time to be compared. The movement amount D of the imaging part A between the original image captured at the time T N and the original image captured at the time T Ni is calculated by comparing with the position of T Ni .
【0059】そして、ステップS18では、ホストコン
ピュータ10で、S14において原画像から抽出された
欠陥部の一つについて、時刻TN-i の原画像から抽出さ
れた欠陥部の位置と比較して、当該欠陥部の移動量dを
算出する。In step S18, the host computer 10 compares one of the defective portions extracted from the original image in S14 with the position of the defective portion extracted from the original image at time T Ni , and The movement amount d of the unit is calculated.
【0060】そして、ステップS19では、ステップS
17で算出された撮像部位Aの移動量DとステップS1
8で算出された欠陥部の移動量dとを比較して、撮像部
位Aの移動量Dと欠陥部の移動量dとがほぼ等しいかど
うか判断する。欠陥部の移動量dが撮像部位Aの移動量
Dとほぼ等しい場合(S19:YES)には、ステップ
S20に進み、欠陥部の移動量dが撮像部位Aの移動量
Dとほぼ等しいとはいえない場合(S19:NO)に
は、直ちにステップS21に進む。Then, in step S19, step S
The movement amount D of the imaging region A calculated in step 17 and the step S1
By comparing the movement amount d of the defective part calculated in step 8, it is determined whether the movement amount D of the imaging region A is substantially equal to the movement amount d of the defective part. When the moving amount d of the defective portion is substantially equal to the moving amount D of the imaging region A (S19: YES), the process proceeds to step S20, and the moving amount d of the defective portion is substantially equal to the moving amount D of the imaging region A. If not (S19: NO), the process immediately proceeds to step S21.
【0061】そして、ステップS20では、撮像部位A
の移動量Dとほぼ等しい移動量dを呈するステップS1
4で抽出された欠陥部を、可能性としてより確かな次の
段階を意味する欠陥候補点として登録する。この登録が
行われると、ステップS14で取得された欠陥抽出デー
タを読み出して、これらも登録する。したがって、各時
刻の欠陥候補点記録データもまた、その欠陥候補点の位
置、面積(視野で大きさ補正された真面積)、色(欠陥
と背景のRGB値)、xy大きさ(横幅と縦長さ)のデ
ータからなる。Then, in step S20, the imaging region A
Step S1 presenting a movement amount d substantially equal to the movement amount D of
The defect extracted in step 4 is registered as a defect candidate point indicating the next step which is more certain as a possibility. When this registration is performed, the defect extraction data obtained in step S14 is read out and registered. Therefore, the defect candidate point recording data at each time also includes the position, area (true area corrected in size in the visual field), color (RGB values of the defect and the background), and xy size (width and height) of the defect candidate point. Data).
【0062】そして、ステップS21では、ステップS
18〜ステップS20で処理の対象となった欠陥部が、
ステップS14で抽出された欠陥部の中の最後のものか
どうか、換言すれば、抽出された欠陥部の中に、ステッ
プS18〜ステップS20で処理の対象となっていない
ものが他にないかどうか判断する。最後の欠陥部であれ
ば(S21:YES)、ステップS22に進み、最後の
欠陥部でなければ(S21:NO)、ステップS18に
戻り、ステップS14において原画像から抽出された欠
陥部の他の一つについて移動量dを算出する。すなわ
ち、ステップS18〜ステップS20の処理は、S14
において原画像から抽出された欠陥部のすべてに対して
行われる。Then, in step S21, step S
The defective portion processed in step 18 to step S20 is
Whether it is the last defective part extracted in step S14, in other words, whether there is any other defective part that is not the target of processing in steps S18 to S20 to decide. If it is the last defective portion (S21: YES), the process proceeds to step S22. If it is not the last defective portion (S21: NO), the process returns to step S18, and the other defective portion extracted from the original image in step S14. The movement amount d is calculated for one of them. That is, the processing in steps S18 to S20 is performed in step S14.
Is performed on all of the defective portions extracted from the original image.
【0063】そして、ステップS22では、カウンタの
値iがNかどうか判断する。カウンタ値iがNであれば
(S22:YES)、ステップS24に進み、カウンタ
値iがNでなければ(S22:NO)、ステップS23
に進む。そして、ステップS23では、カウンタ値iを
1だけインクリメントして、ステップS16に戻る。し
たがって、ステップS16〜ステップS21の処理は、
新規に取り込んだ時刻TN の原画像に対して、N枚前ま
でのすべての原画像を比較の対象として行われる。例え
ば、N=5と設定されていた場合には、時刻TN におい
て撮像された原画像から抽出されたすべての欠陥部につ
いて、時刻TN-1 ,TN-2 ,TN-3 ,T N-4 ,TN-5 に
おいてそれぞれ撮像された原画像から抽出された欠陥部
との照合が行われ、おのおのの欠陥部について、欠陥候
補点とされた欠陥部の移動量dが各時刻における撮像部
位Aの移動量Dとほぼ等しいか否かが判断される。Then, in step S22, the counter
It is determined whether the value i is N. If the counter value i is N
(S22: YES), the process proceeds to step S24 and the counter
If the value i is not N (S22: NO), step S23
Proceed to. Then, in step S23, the counter value i is
The value is incremented by one, and the process returns to step S16. I
Therefore, the processing of steps S16 to S21 is
Time T newly taken inN N images before
All the original images at are compared. example
For example, if N = 5, the time TN smell
All the defects extracted from the original image
Time TN-1 , TN-2 , TN-3 , T N-4 , TN-5 To
Defects extracted from the original images captured
Are checked against each other, and
The moving amount d of the defective portion set as the supplementary point is determined by the imaging unit at each time.
It is determined whether the movement amount D of the position A is substantially equal to the movement amount D.
【0064】そして、ステップS24では、ステップS
20で登録された欠陥候補点のすべてに対して、各欠陥
候補点が登録された回数をカウントする。Then, in step S24, step S
The number of times each defect candidate point is registered is counted for all the defect candidate points registered in 20.
【0065】そして、ステップS25では、すべての欠
陥候補点に対して、ステップS24でカウントされた回
数があらかじめ設定されたカウント数M(ただし、N≧
M)以上であるかどうか判断する。そして、カウント数
が設定値M以上のものがあれば(S25:YES)、ス
テップS26で、そのカウント数が設定値M以上の欠陥
候補点を、最終的に、被検査面1aに存在する欠陥であ
ると決定し、ステップS27に進むが、設定値M以上の
ものがなければ、すなわち、すべて設定値M未満であれ
ば(S25:NO)、ステップS11に戻り、次の原画
像を取り込んで、同様の一連の処理を行う。Then, in step S25, the number counted in step S24 is set to a preset count number M (where N ≧ N) for all the defect candidate points.
M) It is determined whether it is not less than. If there is any one whose count number is equal to or larger than the set value M (S25: YES), in step S26, a defect candidate point whose count number is equal to or larger than the set value M is finally determined as a defect existing on the inspection surface 1a. Is determined, and the process proceeds to step S27. If there is no value equal to or greater than the set value M, that is, if all of the values are less than the set value M (S25: NO), the process returns to step S11 to fetch the next original image. Perform a similar series of processing.
【0066】そして、ステップS27では、終了指令が
出されているかどうか判断する。終了指令が有れば(S
27:YES)、以上の一連の処理を終了し、終了指令
が無ければ(S27:NO)、ステップS11に戻り、
次の原画像を取り込んで、以上の一連の処理を行う。す
なわち、以上の一連の処理は、終了指令が発せられるま
で継続される。Then, in a step S27, it is determined whether or not an end command has been issued. If there is an end command (S
27: YES), end the above series of processes, and if there is no end command (S27: NO), return to step S11,
The next original image is fetched and the above series of processing is performed. That is, the above series of processing is continued until an end command is issued.
【0067】そして、欠陥の識別は、ステップS26で
決定された欠陥に対応する各時刻の欠陥候補点記録デー
タをもとに、当該欠陥の色、大きさ(面積)、大きさ変
化度合い、縦横比を求め、これらの情報により欠陥の種
類を類推することで、行われる。The defect is identified based on the defect candidate point record data at each time corresponding to the defect determined in step S26, the color, size (area), size change degree, length and width of the defect. This is performed by calculating the ratio and estimating the type of the defect based on the information.
【0068】したがって、本実施の形態によれば、CC
Dカメラ6と該CCDカメラ6の画角方向にある被検査
面1a上の2点P1 ,P2 との間の距離L1 ,L2 の計
測データに基づいて、所定の計算式により、被検査面1
aに対する撮影距離と傾きの変化によるCCDカメラ6
の視野、ひいては撮像された画像の1画素当たりの面積
の大きさの変化を補正することで、検出された塗装欠陥
の大きさを補正するようにしたので、塗装欠陥の大きさ
を正確に測定することができる。そのため、欠陥の修正
レベルを検査装置によって判定できるようになり、人に
よる判定のばらつきがなくなるため、塗装品質の向上を
図ることができる。Therefore, according to the present embodiment, CC
Based on the measurement data of the distances L1 and L2 between the D camera 6 and the two points P1 and P2 on the inspection surface 1a in the direction of the field of view of the CCD camera 6, the inspection surface 1
CCD camera 6 based on changes in shooting distance and tilt with respect to a
The size of the detected paint defect is corrected by correcting the change in the size of the area per pixel of the captured image, and thus the captured image, so that the size of the paint defect can be accurately measured. can do. As a result, the defect correction level can be determined by the inspection device, and there is no variation in determination by a person, so that the coating quality can be improved.
【図1】 本発明の一実施の形態に係る塗装欠陥検査装
置の光学系の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an optical system of a paint defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】 ストライプ光源とCCDカメラとの位置関係
を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a positional relationship between a stripe light source and a CCD camera.
【図3】 図1の装置の信号処理系の全体構成を示すブ
ロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing an overall configuration of a signal processing system of the apparatus shown in FIG.
【図4】 本実施の形態に係る、距離計を2個使用した
場合の面積変換(補正)の原理を説明するための図面で
ある。FIG. 4 is a drawing for explaining the principle of area conversion (correction) when two distance meters are used according to the present embodiment.
【図5】 図4と同様の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram similar to FIG. 4;
【図6】 正方格子を撮影した場合の視野を示す説明図
である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing a field of view when a square grid is photographed.
【図7】 画像処理用データの説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram of image processing data.
【図8】 図3の信号処理系における欠陥検出処理の具
体的な手順を示すフローチャートである。8 is a flowchart showing a specific procedure of a defect detection process in the signal processing system of FIG.
【図9】 図8に続くフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart following FIG. 8;
1…車体(被検査物)、 4…照明装置(照明手段)、 5…ストライプシートスタンド(照明手段)、 6…カラーCCDカメラ(撮像手段)、 9…画像処理装置(処理手段、補正手段)、 10…ホストコンピュータ(処理手段)、 11…モニタ(出力手段)、 12…プリンタ(出力手段)、 20a,20b…距離計(測距手段)。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Car body (inspected object), 4 ... Illumination device (illumination means), 5 ... Stripe sheet stand (illumination means), 6 ... Color CCD camera (imaging means), 9 ... Image processing apparatus (processing means, correction means) Reference numeral 10 host computer (processing means) 11 monitor (output means) 12 printer (output means) 20a, 20b distance meter (ranging means)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 清 神奈川県横浜市神奈川区宝町2番地 日産 自動車株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA02 AA22 AA58 AA61 BB05 BB24 CC11 DD03 EE11 FF04 GG03 GG15 GG17 HH02 JJ03 JJ16 JJ26 MM03 PP22 QQ23 QQ31 SS02 SS06 SS13 2G051 AA89 AB12 BA20 CA03 CA04 DA01 DA06 EA14 EA16 ED07 FA10 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Kiyoshi Yoshida 2nd Takaracho, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa F-term (reference) 2F065 AA02 AA22 AA58 AA61 BB05 BB24 CC11 DD03 EE11 FF04 GG03 GG15 GG17 HH02 JJ03 JJ16 JJ16 JJ26 MM03 PP22 QQ23 QQ31 SS02 SS06 SS13 2G051 AA89 AB12 BA20 CA03 CA04 DA01 DA06 EA14 EA16 ED07 FA10
Claims (4)
に検出する塗装欠陥検査装置において、 被検査面上に所定の明暗パターンを形成する照明手段
と、 被検査物との間で相対移動しながら、前記照明手段によ
って被検査面上に形成された明暗パターンを撮像する撮
像手段と、 前記撮像手段と該撮像手段の画角方向にある被検査面上
の二以上の点との間の距離を測定する測距手段と、 前記撮像手段によって時系列的に撮像された複数の明暗
パターンの画像データを処理して、被検査面の塗装欠陥
を検出する処理手段と、 前記測距手段によって測定された距離データに基づい
て、所定の計算式により 、前記処理手段によって検出された塗装欠陥の大きさを
補正する補正手段と、 前記処理手段及び前記補正手段の結果を出力する出力手
段と、 を有することを特徴とする塗装欠陥検査装置。A coating defect inspection apparatus for optically detecting a coating defect on a surface to be inspected of an object to be inspected, comprising: a lighting unit for forming a predetermined light and dark pattern on the surface to be inspected; Imaging means for imaging a light and dark pattern formed on the surface to be inspected by the illumination means while relatively moving; and two or more points on the surface to be inspected in the direction of the angle of view of the imaging means. A distance measuring unit that measures a distance between the plurality of light and dark patterns imaged in time series by the imaging unit, and a processing unit that detects a coating defect on a surface to be inspected; Correction means for correcting the size of the coating defect detected by the processing means by a predetermined calculation formula based on the distance data measured by the means, and output means for outputting the results of the processing means and the correction means When, Coating defect inspection apparatus characterized by having.
に検出する塗装欠陥検査装置において、 被検査面上に所定の明暗パターンを形成する照明手段
と、 被検査物との間で相対移動しながら、前記照明手段によ
って被検査面上に形成された明暗パターンを撮像する撮
像手段と、 被検査物の三次元CADデータと被検査物に対する前記
撮像手段の動的相対位置情報とに基づいてあらかじめ計
算された各撮影時点ごとの前記撮像手段と該撮像手段の
画角方向にある被検査面上の二以上の点との間の距離の
データを記憶する記憶手段と、 前記撮像手段によって時系列的に撮像された複数の明暗
パターンの画像データを処理して、被検査面の塗装欠陥
を検出する処理手段と、 前記記憶手段に記憶されている距離データに基づいて、
所定の計算式により、前記処理手段によって検出された
塗装欠陥の大きさを補正する補正手段と、 前記処理手段及び前記補正手段の結果を出力する出力手
段と、 を有することを特徴とする塗装欠陥検査装置。2. A coating defect inspection apparatus for optically detecting a coating defect on a surface to be inspected of an object to be inspected, comprising: a lighting unit for forming a predetermined light and dark pattern on the surface to be inspected; Imaging means for imaging the light and dark pattern formed on the surface to be inspected by the illumination means while moving relatively; three-dimensional CAD data of the object to be inspected; and dynamic relative position information of the imaging means with respect to the object to be inspected. Storage means for storing data of the distance between the imaging means and two or more points on the surface to be inspected in the direction of the field of view of the imaging means at each imaging time point calculated in advance based on the imaging means; Processing means for processing image data of a plurality of light and dark patterns imaged in chronological order by a processing means for detecting a coating defect on a surface to be inspected, based on distance data stored in the storage means,
A correction means for correcting the size of the coating defect detected by the processing means by a predetermined calculation formula; and an output means for outputting a result of the processing means and the correction means. Inspection equipment.
に検出する塗装欠陥検査方法において、 被検査面上に所定の明暗パターンを形成する工程と、 被検査物との間で相対移動させながら、撮像手段により
被検査面上に形成された明暗パターンを撮像すると共
に、前記撮像手段と該撮像手段の画角方向にある被検査
面上の二以上の点との間の距離を測定する工程と、 時系列的に撮像された複数の明暗パターンの画像データ
を処理して、被検査面の塗装欠陥を検出する工程と、 測定された距離データに基づいて、所定の計算式によ
り、検出された塗装欠陥の大きさを補正する工程と、 補正後の検出された塗装欠陥を出力する工程と、 を有することを特徴とする塗装欠陥検査方法。3. A coating defect inspection method for optically detecting a coating defect on a surface to be inspected of an object to be inspected, the method comprising: forming a predetermined light and dark pattern on the surface to be inspected; While moving, the light and dark pattern formed on the surface to be inspected is imaged by the imaging means, and the distance between the imaging means and two or more points on the surface to be inspected in the direction of the angle of view of the imaging means is increased. Measuring, processing image data of a plurality of light and dark patterns taken in time series to detect a coating defect on the surface to be inspected, based on the measured distance data, by a predetermined calculation formula A step of correcting the size of the detected coating defect, and a step of outputting the corrected detected coating defect.
に検出する塗装欠陥検査方法において、 被検査面上に所定の明暗パターンを形成する工程と、 被検査物との間で相対移動させながら、撮像手段により
被検査面上に形成された明暗パターンを撮像する工程
と、 時系列的に撮像された複数の明暗パターンの画像データ
を処理して、被検査面の塗装欠陥を検出する工程と、 被検査物の三次元CADデータと被検査物に対する前記
撮像手段の動的相対位置情報とに基づいてあらかじめ計
算された各撮影時点ごとの前記撮像手段と該撮像手段の
画角方向にある被検査面上の二以上の点との間の距離の
データに基づいて、所定の計算式により、検出された塗
装欠陥の大きさを補正する工程と、 補正後の検出された塗装欠陥を出力する工程と、 を有することを特徴とする塗装欠陥検査方法。4. A coating defect inspection method for optically detecting a coating defect on a surface to be inspected of an object to be inspected, the method comprising: forming a predetermined light and dark pattern on the surface to be inspected; A step of imaging a light and dark pattern formed on the surface to be inspected by the imaging means while moving, and processing image data of a plurality of light and dark patterns imaged in time series to detect a coating defect on the surface to be inspected The imaging means and the angle of view of the imaging means for each imaging point calculated in advance based on three-dimensional CAD data of the inspection object and dynamic relative position information of the imaging means with respect to the inspection object Correcting the size of the detected paint defect by a predetermined formula based on the data of the distance between the two or more points on the surface to be inspected, and the detected paint defect after the correction. And the process of outputting A coating defect inspection method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11134563A JP2000321039A (en) | 1999-05-14 | 1999-05-14 | Paint defect inspection apparatus and method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11134563A JP2000321039A (en) | 1999-05-14 | 1999-05-14 | Paint defect inspection apparatus and method |
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ID=15131268
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