DE202004012665U1 - Light-emitting diode arrangement based on a gallium nitride semiconductor compound - Google Patents

Light-emitting diode arrangement based on a gallium nitride semiconductor compound Download PDF

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Abstract

Leuchtdiodenanordnung auf Basis einer Galliumnitrid-Halbleiterverbindung, wenigstens aufweisend:
ein Substrat (31);
eine Epitaxieschicht, die auf dem Substrat (31) aufliegt und von unten nach oben eine n-Typ-GaN-Schicht (32), eine Emissionsschicht (33) und eine p-Typ-GaN-Schicht (34) umfasst;
eine texturierte Schicht (36), die oberhalb der p-Typ-GaN-Schicht (34) vorgesehen ist;
eine leitende, lichtdurchlässige Oxidationsschicht, die sich auf der texturierten Schicht (36) befindet und mit der texturierten Schicht (36) einen ohmschen Kontakt bildet;
eine erste Elektrode (38), die an die leitende, lichtdurchlässige Oxidationsschicht elektrisch angekoppelt ist; und
eine zweite Elektrode (39), die an die n-Typ-GaN-Schicht (32) der Epitaxieschicht elektrisch angekoppelt ist.
Light-emitting diode arrangement based on a gallium nitride semiconductor compound, comprising at least:
a substrate (31);
an epitaxial layer resting on the substrate (31) and comprising, from bottom to top, an n-type GaN layer (32), an emission layer (33), and a p-type GaN layer (34);
a textured layer (36) provided above the p-type GaN layer (34);
a conductive translucent oxidation layer disposed on the textured layer (36) and making an ohmic contact with the textured layer (36);
a first electrode (38) electrically coupled to the conductive, light-transmissive oxidation layer; and
a second electrode (39) electrically coupled to the n-type GaN layer (32) of the epitaxial layer.

Figure 00000001
Figure 00000001

Description

Die Erfindung betrifft eine Leuchtdiodenanordnung auf Basis einer Galliumnitrid-Halbleiterverbindung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.The The invention relates to a light emitting diode array based on a gallium nitride semiconductor compound according to the preamble of claim 1.

Eine herkömmliche Leuchtdiodenanordnung 10 auf Basis einer Galliumnitrid-Halbleiterverbindung, wie aus 1 ersichtlich, umfasst ein Substrat 11, eine Galliumnitrid-Pufferschicht (GaN-Pufferschicht) 12, eine n-Typ-GaN-Schicht 13, eine Indium-Gallium-Nitrid-Schicht (InGaN-Schicht) 14, eine p-Typ-GaN-Schicht 15, eine p-Typ-GaN-Kontaktschicht 16 und eine transparente leitende Schicht 17. Die Schichten von 12 bis 16 bilden eine Epitaxieschicht. Eine metallische p-Typ-Elektrode 18 liegt auf der transparenten leitenden Schicht 17 auf, während eine metallische n-Typ-Elektrode 19 auf der n-Typ-GaN-Schicht 13 aufliegt.A conventional light emitting diode array 10 based on a gallium nitride compound semiconductor, such as 1 can be seen, comprises a substrate 11 , a gallium nitride buffer layer (GaN buffer layer) 12 , an n-type GaN layer 13 , an indium gallium nitride (InGaN) layer 14 , a p-type GaN layer 15 , a p-type GaN contact layer 16 and a transparent conductive layer 17 , The layers of 12 to 16 form an epitaxial layer. A metallic p-type electrode 18 lies on the transparent conductive layer 17 on while a metallic n-type electrode 19 on the n-type GaN layer 13 rests.

Es ist längst bekannt, dass die p-Typ-GaN-Kontaktschicht 16 eine schlechte Leitfähigkeit aufweist. Das heißt, dass der elektrisch Strom unterhalb der metallischen p-Typ-Elektrode 18 beschränkt ist. Um eine gleichmäßige Emission zu ermöglichen, indem der elektrische Strom effektiv gestreut wird, muss die transparente leitende Schicht 17 an der p-Typ-GaN-Kontaktschicht 16 in flächendeckender Weise angebracht sein. Um die Lichtdurchlässigkeit zu erhöhen, muss die transparente leitende Schicht 17 aber sehr dünn sein. Herkömmlich verwendete, transparente leitende Schicht 17 ist aus Nickel oder Gold (Au) hergestellt. Um den Wirkungsgrad der Lichtgewinnung zu erhöhen, muss sich eine texturierte Konfiguration auf der Oberfläche der Leuchtdiode bilden. Unter Verwendung der dünnen, transparenten leitenden Schicht 17 aus Nickel oder Gold ergibt sich jedoch eine Ungleichmäßigkeit der Stromverteilung in quer verlaufender Richtung. Insbesondere ist von Nachteil, dass eine örtliche Emission auftritt, was eine Steigerung der Betriebsspannung bewirkt (siehe 4).It has long been known that the p-type GaN contact layer 16 has a poor conductivity. This means that the electric current is below the metallic p-type electrode 18 is limited. In order to enable uniform emission by effectively scattering the electric current, the transparent conductive layer must 17 on the p-type GaN contact layer 16 be applied in a nationwide way. In order to increase the light transmission, the transparent conductive layer must 17 but be very thin. Conventionally used, transparent conductive layer 17 is made of nickel or gold (Au). In order to increase the efficiency of light extraction, a textured configuration must form on the surface of the light emitting diode. Using the thin, transparent conductive layer 17 nickel or gold, however, results in unevenness of the current distribution in the transverse direction. In particular, it is disadvantageous that a local emission occurs, which causes an increase in the operating voltage (see 4 ).

Das bekannte Indiumzinnoxid (ITO) ist ein Material mit großer Energielücke zwischen 2,9 und 3,8 Volt. Im Bereich des sichtbaren Lichtes weist ITO einen Durchdringungsgrad über 95% auf. Außerdem ist ITO ein hoch leitfähiges n-Typ-Material, und der Brechungskoeffizienz von ITO liegt im Bereich von 1,7 bis 2,2. Aufgrund des Brechungskoeffizienten (n=2,4) der Epitaxieschicht und des Brechungskoeffizienten (n=1,5) des Verpackungsharzmaterials wird gemäß Snell-Gesetz und Anti-Reflexionsgrundsatz eine Verringerung der Lichtreflexion und somit eine Erhöhung der Lichtgewinnung gewährleistet, wenn ein Mittel mit einer Brechungskoeffizienz von n=1,9 hinzugefügt werden kann. Daher kann dieses Mittel (ITO) als Fensterschicht der Leuchtdiode dienen.The known indium tin oxide (ITO) is a material with a large energy gap between 2.9 and 3.8 volts. In the field of visible light, ITO has one Penetration degree over 95% up. Besides that is ITO a highly conductive n-type material, and the refractive index of ITO is in the range from 1.7 to 2.2. Due to the refractive index (n = 2,4) of the Epitaxial layer and the refractive index (n = 1.5) of the packaging resin material becomes in accordance with Snell law and anti-reflection principle a reduction of light reflection and thus an increase ensures the light, if an agent with a refractive index of n = 1.9 is added can. Therefore, this means (ITO) as a window layer of the light emitting diode serve.

Bei einer taiwanesischen Patentanmeldung (TW 461126) ist ein Gedanke vorgeschlagen worden, dass ITO als transparente leitende Schicht verwendet wird. Wie in 2 gezeigt, weist eine Diodenanordnung 20 ein Substrat 21, eine GaN-Pufferschicht 22, eine n-Typ-GaN-Schicht 23, eine InGaN-Aktivschicht 24, eine p-Typ-GaN-Schicht 25, eine p-Typ-GaN-Kontaktschicht 26, eine transparente leitende Oxidationsschicht 27, eine p-Typ-Elektrode 24 und eine n-Typ-Elektrode 29 auf. Die transparente leitende Oxidationsschicht 27 gehört zwar zu ITO für die Erleichterung der Lichtgewinnung, es ist jedoch kaum möglich, einen guten ohmschen Kontakt mit ITO herzustellen, wenn die Oberfläche der unten befindlichen p-Typ-GaN-Kontaktschicht 26 eine flache Ga-polarisierte Fläche ist. Dies resultiert dann in einem hohen Kontaktwiderstand und führt zu einem schlechten ohmschen Kontakt, wodurch die Betriebsspannung der Leuchtdioden nur schwierig reduzierbar ist.In a Taiwanese patent application (TW 461126), an idea has been proposed that ITO be used as a transparent conductive layer. As in 2 shown has a diode array 20 a substrate 21 , a GaN buffer layer 22 , an n-type GaN layer 23 , an InGaN active layer 24 , a p-type GaN layer 25 , a p-type GaN contact layer 26 , a transparent conductive oxidation layer 27 , a p-type electrode 24 and an n-type electrode 29 on. The transparent conductive oxidation layer 27 While it is an ITO for facilitating light harvesting, it is hardly possible to make a good ohmic contact with ITO when the surface of the p-type GaN contact layer located below 26 is a flat Ga-polarized surface. This then results in a high contact resistance and leads to a bad ohmic contact, whereby the operating voltage of the LEDs is difficult to reduce.

Aus diesem Grund hat der Erfinder in Anbetracht der Nachteile herkömmlicher Lösungen, basierend auf langjähriger Erfahrung in diesem Bereich, nach langem Studium, zahlreichen Versuchen und unentwegten Verbesserungen die vorliegende Erfindung entwickelt.Out For this reason, in view of the disadvantages of the present inventor Solutions, based on longtime Experience in this area, after a long study, numerous experiments and unceasing improvements to the present invention.

Durch die Erfindung wird eine Leuchtdiodenanordnung auf Basis einer Galliumnitrid-Halbleiterverbindung geschaffen, bei der eine leitende, lichtdurchlässige Oxidationsschicht an einer oben mit einer texturierten Schicht versehenen Galliumnitrid-Schicht angebracht ist und als Fensterschicht dient, wobei die texturierte Schicht als ohmsche Kontaktschicht zur leitenden, lichtdurchlässigen Oxidationsschicht verwendbar ist, was eine effektive Herabsetzung des Kontaktwiderstands und der Betriebsspannung bewirkt, wobei die texturierte Schicht für die Unterbrechung der Lichtleitwirkung sorgt, um den Wirkungsgrad der Lichtgewinnung zu erhöhen und somit die Quantenausbeute zu verbessern.By The invention will be a light emitting diode array based on a gallium nitride semiconductor compound created in the case of a conductive, transparent oxidation layer a gallium nitride layer provided with a textured layer above is attached and serves as a window layer, wherein the textured Layer as ohmic contact layer to the conductive, transparent oxidation layer usable, resulting in effective reduction of contact resistance and the operating voltage causes the textured layer for the Interruption of the light guiding ensures the efficiency of the Increase light production and thus to improve the quantum yield.

Die Erfindung weist insbesondere die in Anspruch 1 angegebenen Merkmale auf. In den Unteransprüchen sind Ausgestaltungen der Erfindung angegeben.The Invention has in particular the features specified in claim 1 on. In the dependent claims embodiments of the invention are given.

Im Folgenden werden Aufgaben, Merkmale und Funktionsweise der Erfindung anhand eines bevorzugten Ausführungsbeispiels und der beigefügten Zeichnungen näher erläutert werden. Es zeigen:in the Following are objects, features and operation of the invention based on a preferred embodiment and the accompanying drawings be explained in more detail. Show it:

1 eine Schnittansicht einer herkömmlichen Leuchtdiodenanordnung auf Basis einer Galliumnitrid-Halbleiterverbindung; 1 a sectional view of a conventional light emitting diode array based on a gallium nitride compound semiconductor;

2 eine Schnittansicht einer herkömmlichen Leuchtdiodenanordnung auf Basis einer Indiumgalliumnitrid-Halbleiterverbindung; 2 a sectional view of a conventional light emitting diode array based on a Indiumgalliumnitrid semiconductor compound;

3 eine Schnittansicht einer erfindungsgemäßen Leuchtdiodenanordnung auf Basis einer Galliumnitrid-Halbleiterverbindung; 3 a sectional view of a light emitting diode array based on a gallium nitride semiconductor compound according to the invention;

4 eine Strom-Spannungs-Kurve der Kombination einer leitenden, lichtdurchlässigen Nickel/Au-Schicht und einer texturierten Oberfläche; und 4 a current-voltage curve of the combination of a conductive translucent nickel / Au layer and a textured surface; and

5 eine Strom-Spannungs-Kurve einer Kombination einer leitenden, lichtdurchlässigen ITO-Schicht und einer texturierten Oberfläche. 5 a current-voltage curve of a combination of a conductive, translucent ITO layer and a textured surface.

Bezugnehmend auf 3 umfasst die erfindungsgemäße Leuchtdiodenanordnung auf Basis einer Galliumnitrid-Halbleiterverbindung von unten nach oben ein Substrat 31, eine n-Typ-GaN-Schicht 32, eine Emissionsschicht 33, eine p-Typ-GaN-Schicht 34, eine p-Typ-Kontaktschicht 35, eine texturierte Schicht 36, eine Fensterschicht 37, eine erste Elektrode 38 und eine zweite Elektrode 39. Außerdem liegt eine Pufferschicht 31' auf dem Substrat 31.Referring to 3 The light-emitting diode arrangement according to the invention based on a gallium nitride semiconductor compound comprises a substrate from bottom to top 31 , an n-type GaN layer 32 , an emission layer 33 , a p-type GaN layer 34 , a p-type contact layer 35 , a textured layer 36 , a window layer 37 , a first electrode 38 and a second electrode 39 , There is also a buffer layer 31 ' on the substrate 31 ,

Die n-Typ-GaN-Schicht 32, die Emissionsschicht 33 und die p-Typ-GaN-Schicht 34 bilden eine erfindungsgemäß vorgesehene Epitaxieschicht, die an das Substrat 31 angekoppelt ist. Außerdem befindet sich die texturierte Schicht 36 oberhalb der p-Typ-GaN-Schicht 34 und der p-Typ-Kontaktschicht 35. Eine leitende, lichtdurchlässige Oxidationsschicht oberhalb der texturierten Schicht 36 wird als Fensterschicht 37 verwendet und bildet mit der texturierten Schicht 36 einen ohmschen Kontakt. Darüber hinaus sind die erste und die zweite Elektrode 38, 39 an die leitende, lichtdurchlässige Oxidationsschicht bzw. an die n-Typ-GaN-Schicht 32 der Epitaxieschicht elektrisch angekoppelt.The n-type GaN layer 32 , the emission layer 33 and the p-type GaN layer 34 form an epitaxial layer provided according to the invention, which is attached to the substrate 31 is coupled. In addition, there is the textured layer 36 above the p-type GaN layer 34 and the p-type contact layer 35 , A conductive, translucent oxidation layer above the textured layer 36 is called a window layer 37 used and forms with the textured layer 36 an ohmic contact. In addition, the first and second electrodes 38 . 39 to the conductive, translucent oxidation layer or to the n-type GaN layer 32 the epitaxial layer is electrically connected.

Das Substrat 31 ist aus einer Gruppe gewählt, die Saphir-, Zinkoxid-, Lithium-Gallium-Oxid-, Lithium-Aluminium-Oxid-, Spinell-, Siliciumcarbid-, Galliumarsenid- und Silicium-Substrat aufweist. Die n-Typ-GaN-Schicht 32 ist aus einer Gruppe gewählt, die eine n-dotierte Galliumnitrid-, AlInGaN- und InGaN-Schicht aufweist. Die p-Typ-GaN-Schicht 34 ist aus einer Gruppe gewählt, die eine p-dotierte Galliumnitrid-, AlInGaN- und InGaN-Schicht aufweist. Die Emissionsschicht 33 ist ein Nitrid-Halbleiter mit Indium. Die Fensterschicht 37 ist eine leitende, lichtdurchlässige Oxidationsschicht und aus einer Gruppe gewählt, die Indiumoxid-, Zinnoxid-, Indium-Molybdän-Oxid-, Zinkoxid-, Indium-Zinn-Oxid-Schicht aufweist.The substrate 31 is selected from a group comprising sapphire, zinc oxide, lithium gallium oxide, lithium aluminum oxide, spinel, silicon carbide, gallium arsenide and silicon substrates. The n-type GaN layer 32 is selected from a group comprising an n-doped gallium nitride, AlInGaN and InGaN layer. The p-type GaN layer 34 is selected from a group comprising a p-doped gallium nitride, AlInGaN and InGaN layer. The emission layer 33 is a nitride semiconductor with indium. The window layer 37 is a conductive, translucent oxidation layer selected from the group consisting of indium oxide, tin oxide, indium-molybdenum oxide, zinc oxide, indium-tin oxide layer.

Das Vorsehen der texturierten Schicht 36 zwischen der p-Typ-Kontaktschicht 35 und der Fensterschicht 37 bewirkt eine Steigerung der Lichtgewinnung. Aufgrund ihrer rauen Fläche ergibt sich eine Erhöhung der Emission sowie eine Unterbrechung der Lichtleitwirkung. Beim Aufwachsen der Halbleiterschichten kann deren Oberfläche in nitrogen-polarisiertem Zustand gehalten werden, was in der taiwanesischen Patentanmeldung (TW 92136888) offenbart worden ist und für eine Verringerung des Kontaktwiderstands zwischen der Fensterschicht 37 und der p-Typ-GaN-Schicht 34 sorgt, um eine Bildung der ausgezeichneten ohmschen Kontaktschicht zu ermöglichen.The provision of the textured layer 36 between the p-type contact layer 35 and the window layer 37 causes an increase in light production. Due to their rough surface results in an increase of the emission and an interruption of the light-guiding effect. When the semiconductor layers are grown, their surface can be maintained in the nitrogen polarized state as disclosed in the Taiwanese patent application (TW 92136888) and for the reduction of the contact resistance between the window layer 37 and the p-type GaN layer 34 ensures to allow formation of the excellent ohmic contact layer.

Darüber hinaus kann die Betriebsspannung der Dioden herabgesetzt werden (siehe 5). Des Weiteren kann die texturierte Schicht 36 aus einer Gruppe gewählt, die n-, p-dotierte und doppelt dotierte Galliumnitridschicht aufweist.In addition, the operating voltage of the diodes can be reduced (see 5 ). Furthermore, the textured layer 36 selected from a group comprising n-, p-doped and double-doped gallium nitride layer.

1010
LeuchtdiodenanordnungLED array
1111
Substratsubstratum
1212
GaN-PufferschichtGaN buffer layer
1313
n-Typ-GaN-Schichtn-type GaN layer
1414
InGaN-SchichtInGaN layer
1515
p-Typ-GaN-Schichtp-type GaN layer
1616
p-Typ-GaN-Kontaktschichtp-type GaN contact layer
1717
transparente leitende Schichttransparent conductive layer
1818
metallische p-Typ-Elektrodemetallic p-type electrode
1919
metallische n-Typ-Elektrodemetallic n-type electrode
2020
Diodenanordnungdiode array
2121
Substratsubstratum
2222
GaN-PufferschichtGaN buffer layer
2323
n-Typ-GaN-Schichtn-type GaN layer
2424
InGaN-AktivschichtInGaN active layer
2525
p-Typ-GaN-Schichtp-type GaN layer
2626
p-Typ-GaN-Kontaktschichtp-type GaN contact layer
2727
transparente leitende Oxidationsschichttransparent conductive oxidation layer
2828
p-Typ-Elektrodep-type electrode
2929
n-Typ-Elektroden-type electrode
3030
Leuchtdiodeled
3131
Substratsubstratum
31'31 '
Pufferschichtbuffer layer
3232
n-Typ-GaN-Schichtn-type GaN layer
3333
Emissionsschichtemission layer
3434
p-Typ-GaN-Schichtp-type GaN layer
3535
p-Typ-Kontaktschichtp-type contact layer
3636
texturierte Schichttextured layer
3737
Fensterschichtwindow layer
3838
erste Elektrodefirst electrode
3939
zweite Elektrodesecond electrode

Claims (5)

Leuchtdiodenanordnung auf Basis einer Galliumnitrid-Halbleiterverbindung, wenigstens aufweisend: ein Substrat (31); eine Epitaxieschicht, die auf dem Substrat (31) aufliegt und von unten nach oben eine n-Typ-GaN-Schicht (32), eine Emissionsschicht (33) und eine p-Typ-GaN-Schicht (34) umfasst; eine texturierte Schicht (36), die oberhalb der p-Typ-GaN-Schicht (34) vorgesehen ist; eine leitende, lichtdurchlässige Oxidationsschicht, die sich auf der texturierten Schicht (36) befindet und mit der texturierten Schicht (36) einen ohmschen Kontakt bildet; eine erste Elektrode (38), die an die leitende, lichtdurchlässige Oxidationsschicht elektrisch angekoppelt ist; und eine zweite Elektrode (39), die an die n-Typ-GaN-Schicht (32) der Epitaxieschicht elektrisch angekoppelt ist.Light-emitting diode arrangement based on a gallium nitride semiconductor compound, comprising at least: a substrate ( 31 ); an epitaxial layer deposited on the substrate ( 31 ) and from bottom to top an n-type GaN layer ( 32 ), an emission layer ( 33 ) and a p-type GaN layer ( 34 ); a textured layer ( 36 ) above the p-type GaN layer ( 34 ) is provided; a conductive, translucent oxidation layer deposited on top of the textured layer ( 36 ) and with the textured layer ( 36 ) forms an ohmic contact; a first electrode ( 38 ) electrically coupled to the conductive, translucent oxidation layer; and a second electrode ( 39 ) attached to the n-type GaN layer ( 32 ) the epitaxial layer is electrically coupled. Leuchtdiodenanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die texturierte Schicht (36) aus einer Gruppe gewählt ist, die n-, p-dotierte und doppelt dotierte Galliumnitridschicht aufweist.Light-emitting diode arrangement according to claim 1, characterized in that the textured layer ( 36 ) is selected from a group comprising n-, p-doped and double-doped gallium nitride layers. Leuchtdiodenanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine leitende, lichtdurchlässige Oxidationsschicht aus einer Gruppe gewählt ist, die Indiumoxid-, Zinnoxid-, Indium-Molybdän-Oxid-, Zinkoxid-, Indium-Zinn-Oxid-Schicht aufweist.Light-emitting diode arrangement according to Claim 1, characterized that a conductive, translucent Oxidation layer is selected from the group consisting of indium oxide, tin oxide, Indium molybdenum oxide, Zinc oxide, indium tin oxide layer has. Leuchtdiodenanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Emissionsschicht (33) als Nitrid-Halbleiter mit Indium ausgebildet ist.Light-emitting diode arrangement according to claim 1, characterized in that the emission layer ( 33 ) is formed as a nitride semiconductor with indium. Leuchtdiodenanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die texturierte Schicht (36) als nitrogen-polarisierte Oberflächenschicht ausgebildet ist.Light-emitting diode arrangement according to claim 1, characterized in that the textured layer ( 36 ) is formed as a nitrogen-polarized surface layer.
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