DE1037171B - Vergleichsmikroskop - Google Patents

Vergleichsmikroskop

Info

Publication number
DE1037171B
DE1037171B DEL24572A DEL0024572A DE1037171B DE 1037171 B DE1037171 B DE 1037171B DE L24572 A DEL24572 A DE L24572A DE L0024572 A DEL0024572 A DE L0024572A DE 1037171 B DE1037171 B DE 1037171B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
diaphragms
microscope according
common
comparative
comparison
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEL24572A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Erich Stach
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ernst Leitz Wetzlar GmbH filed Critical Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority to DEL24572A priority Critical patent/DE1037171B/de
Publication of DE1037171B publication Critical patent/DE1037171B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0016Technical microscopes, e.g. for inspection or measuring in industrial production processes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Vergleichsmikroskop Die Erfindung bezieht sich auf ein Vergleichsmikroskop mit in einem optischen Mischglied zusammengeführten Vergleichsstrählengängen und in Zwischenbildebenen dieser Vergleichsstrahlengänge angeordneten und zu gemeinsamer Bewegung miteinander verbundenen Blenden mit gegengleichen Durchlaßöffnungen.
  • Derartige Vergleichsmikroskope dienen. zur vergleichenden Beobachtung zweier Objekte in einem Gesichtsfeld. Um mit derartigen Vergleichsmikroskopen die Vergleichsbeobachtung und das Durchmustern der zu vergleichenden Objekte ohne Objektverschiebung durchführen zu können, ist gemäß dem Hauptpatent 938 271 bereits vorgeschlagen worden, in zweckentsprechender Lage zwischen den Objektiven und dem optischen Mischglied miteinander gekuppelte, drehbare Blenden mit gegengleichen, symmetrisch zu den Blendendrehachsen angeordneten Abblend- und Durchlaßteilen zu versehen, wobei die Drehachsen der Blenden mit den optischen Achsen der zugehörigen Teile der Vergleichsstrahlengänge zusammenfallend angeordnet sind. Im Rahmen dieser Lösung sind verschiedene Blendenformen möglich, die im einzelnen im Hauptpatent näher beschrieben sind.
  • Bei der Ausbildung eines Vergleichsmikroskops nach dem Hauptpatent ist jedoch nachteilig, daß die Blendendrehachsen mit den optischen Achsen der zugehörigen Vergleichsstrahlengänge zusammenfallen müssen und daß nur Blendenformen möglich sind, welche die an die Drehbarkeit der Blenden geknüpfte Symmetriebedingung erfüllen.
  • Zur Vermeidung dieser Nachteile und um leicht herstellhare und einfach justierbare Blendenanordnungen zu ermöglichen, wird daher gemäß der Erfindung vorgeschlagen, die miteinander zu gemeinsamer Bewegung verbundenen Blenden mit beliebig geformten Durchlaßöffnungen zu versehen und deren im Objektfeld als gemeinsame Trennkante erscheinenden Begrenzungskanten im Abstand der optischen Achsen der Vergleichsstrahlengänge zueinander anzuordnen.
  • In vorteilhafter Ausführung sind die Blenden in mindestens einer, vorzugsweise in zwei zueinander senkrechten Richtrungen geradlinig verschiebbar gelagert. Zweckmäßig sind die Blenden auf einem gemeinsamen Träger angeordnet, wobei sie sowohl zueinander als auch gegenüber ihrem gemeinsamen Träger justierbar sein können.
  • Im Rahmen der Erfindung besteht auch die Möglichkeit, die Blendenanordnung in gleicher Weise wie gemäß dem Hauptpatent mit photometrischen oder colorimetrischen Vergleichsflächen, z. B. Grau- bzw. Farbstufen oder -keilen, zu versehen.
  • Eine weitere vorteilhafte Ausführung der Erfindung besteht darin, daß mehrere Systeme von Blenden auf einem gemeinsamen Träger angeordnet sind und dieser Träger in zwei zueinander senkrechten Richtungen verschiebbar angeordnet ist, so daß man nach Wunsch die Trennkanten durch das Gesichtsfeld führen oder das Blendensystem wechseln kann.
  • Durch die erfindungsgemäße Ausbildung und Anordnung der Blenden ist man in der Wahl der Blendenformen und in der Wahl der Bewegungsrichtung der Blenden unabhängig. Außerdem ergeben sich bei derartigen Blendenanordnungen und -führungen Erleichterungen in bezug auf die Justierung der Blenden gegenüber den Vergleichsstrahlengängen.
  • Schließlich wird durch die neue Anordnung das Auswechseln von dem jeweiligen Untersuchungszweck angepaßten Blendenformen in einfacher Weise ermöglicht.
  • An Hand der Zeichnungen ist eine beispielsweise Ausführung des Erfindungsgegenstandes dargestellt. Es zeigt Fig. 1 eine Darstellung eines Vergleichsmikroskops mit gemeinsamem Blendenträger, Fig. 2 ein Blendensystem mit eurer Trennkante, Fig.3 ein Blendensystem mit zwei Trennstreifen, Fig. 4 ein Blendensystem mit einem Trennstreifen parallel zur Verschiebungsrichtung des Schiebers, Fig. 5 drei verschiedene Blendensysteme auf einem gemeinsamen Träger.
  • Gemäß Fig. 1 besteht das Vergleichsmikroskop beispielsweise aus den beiden Objekttischen 1 d und 1 b, den beiden Objektiven 2 a und 2 b, den zwei Feldlinsen 3 a und 3 b und den über den beiden Feldlinsen angeordneten beiden Blenden 4 a und 4 b auf einem gemeinsamen Blendenträger 5. Die beiden Umlenkprismen 6 a und 6 b lenken die beiden Strahlenbündel in das Prismensystem 7 mit der teildurchlässig verspiegelten Fläche B. Zwei Linsensysteme 9 a und 9 b erzeugen zwischen dem Prismensystem 8 und dem Okular 10 eine weitere Zwischenbildehene. In Fig. 2 ist der Träger 5 mit einemi Blendensystem 11 a und 11 b zu sehen, bei dem jede der beiden Blenden 11 a und 11 b aus einer lichtundurchlässigen und einer lichtdurchlässigen Fläche besteht, so daß man nur eine einzige Trennlinie im Gesichtsfeld hat.
  • Fig. 3 zeigt auf dem Schieber 5 ein Blendensystem aus den beiden Blenden 12a und 12b, die so beschaffen sind, daß nur zwei schmale Streifen des Gesichtsfeldes das eine Objekt zeigen, während das ganze übrige Gesichtsfeld von dem Bild des anderen Objektes ausgefüllt wird.
  • Die Blenden 13a und 13 b der Fig: 4 lassen von dem einen Objekt nur einen einzigen Streifen erkennen. der parallel zu der in Fig. 1 eingezeichneten Verschiebungsrichtungdes Trägers5 liegt. Diese Blendenanordnung ist besonders geeignet, um in dem Streifen einen Graukeil oder einen Farbvergleichsstreifen anzubringen und damit das Vergleichsmikroskop für besondere photometrische oder colorimetrische Zwecke verwendbar zu machen.
  • In Fig.5 -sind drei verschiedene Blendensysteme 14 a, 14 b, 15 a, 15 b und 16 a, 16 b auf einem gemeinsamen Träger 17 angeordnet. Der Träger ist in zwei Richtungen in der Zwischenbildebene verschiebbar. Man kann dann die Trennlinien in jeder beliebigen Richtung durch das Gesichtsfeld wandern lassen und mühelos von einem Blendensystem zu einem anderen übergehen.

Claims (6)

  1. PATENTAVSYR(1CtIE: 1. `Tergleichsmikroskop mit in einem optischen Mischglied zusammengeführten Vergleichsstrahlengängen und in Zwischenbildebenen dieser Vergleichsstrahlengänge angeordneten und zu gemeinsaurer. Beewegung in ihren Ebenen miteinander verbundenen Blenden mit gegengleichen Durchlaßöffnungen, insbesondere nach deutschem Patent 938 271, dadurch gekennzeichnet, daß die Blenden mit beliebig geformten Durchlaßöffnungen versehen sind, deren im Objektfeld als gemeinsame Trennkante erscheinenden Begrenzungskanten im Abstand der optischen Achsen der Vergleichsstrahlengänge zueinander angeordnet sind.
  2. 2. Vergleichsmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, da,ß die Blenden in mindestens einer, vorzugsweise in zwei zueinander senkrechten Richtungen verschiebbar gelagert sind.
  3. 3. Vergleichsmikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Blenden auf einem gemeinsamen Träger angeordnet sind.
  4. 4. Vergleichsmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3. dadurch gekennzeichnet, daß die Blenden zueinander und gegebenenfalls gegenüber ihrem gemeinsamen Träger justierbar angeordnet sind.
  5. 5. Vergleichsmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Blendenanordnung mit photometrischen oder colorimetrischen Vergleichsflächen, z. B. Grau- bzw. Farbstufen oder -keilen. versehen ist.
  6. 6. Vergleichsmikroskop nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Systeme von Blenden auf einem gemeinsamen Träger angeordnet sind und dieser Träger in zwei zueinander senkrechten Richtungen verschiebbar angeordnet ist, so daß man nach Wunsch die Trennkanten durch das Gesichtsfeld führen oder das B'lendensystem wechseln kann.
DEL24572A 1956-04-10 1956-04-10 Vergleichsmikroskop Pending DE1037171B (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEL24572A DE1037171B (de) 1956-04-10 1956-04-10 Vergleichsmikroskop

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEL24572A DE1037171B (de) 1956-04-10 1956-04-10 Vergleichsmikroskop

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1037171B true DE1037171B (de) 1958-08-21

Family

ID=7263132

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEL24572A Pending DE1037171B (de) 1956-04-10 1956-04-10 Vergleichsmikroskop

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1037171B (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3709579A (en) * 1970-03-19 1973-01-09 Ibm Optical system for focusing spaced object planes in a common image plane
US8054561B2 (en) 2008-09-04 2011-11-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Optical system for merging a first and a second partial image beam, each proceeding from a specimen, into a resultant image beam
DE102008041818B4 (de) * 2008-09-04 2013-10-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Optisches System zum Zusammenführen eines ersten und eines zweiten jeweils von einem Objekt ausgehenden Teilbildstrahls zu einem Ergebnisbildstrahl

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3709579A (en) * 1970-03-19 1973-01-09 Ibm Optical system for focusing spaced object planes in a common image plane
US8054561B2 (en) 2008-09-04 2011-11-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Optical system for merging a first and a second partial image beam, each proceeding from a specimen, into a resultant image beam
DE102008041818B4 (de) * 2008-09-04 2013-10-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Optisches System zum Zusammenführen eines ersten und eines zweiten jeweils von einem Objekt ausgehenden Teilbildstrahls zu einem Ergebnisbildstrahl

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2819152C3 (de) Optische Kollimatorvorrichtung insbesondere zur Verwendung in Luftfahrzeugen
DE2939940C2 (de) Augenprüfgerät zur Darbietung von Sehtests
DE1074284B (de) Optisches System veränderlicher Brenn weite
DE1037171B (de) Vergleichsmikroskop
DE1813743B2 (de) Anordnung zur Abtastung eines Feldes in zwei Richtungen
DE2128365C3 (de) Einrichtung zur vergrößerten Darstellung des Querschnittes von unzerstörten Contactlinsen oder dgl
DE2226137A1 (de) Mikroskop mit variabler vergroesserung
DE2727886C3 (de) Optische KoUimatorvorrichtung insbesondere zur Verwendung in Luftfahrzeugen
DE217769C (de)
DE938271C (de) Vergleichsmikroskop
DE969453C (de) Photographische Kamera mit Auswechselobjektiven und mit diesen zusammenwirkendem Entfernungsmesser oder Messsucher
DE886229C (de) Fernrohr mit Sucher
DE217543C (de)
DE975962C (de) Anwendung einer optischen Einrichtung zum Ablesen von Messstellen an Metallbearbearbeitungsmaschinen
DE210985C (de)
DE1009821B (de) Zielfernrohr
DE1920921B2 (de) Zeicheneinrichtung
DE589045C (de) Messgeraet
DE840313C (de) Sextant fuer direkte und indirekte Visur
DE175900C (de)
DE1960502C (de) Symmetrisches Objektiv zur Abbildung im Maßstab 1:1
DE350397C (de) Instrument zur Ermittlung einer Seite und eines dieser Seite anliegenden Winkels eines Gelaendedreiecks, von dem die beiden anderen Seiten und der von ihnen eingeschlossene Winkel bekannt sind
DE194480C (de)
DE1032557B (de) Komparator
DE7305091U (de) Spaltlampenmikroskop mit Einrichtung zur Neigung des Beobachtungsstrahlenganges