DE102023004481A1

DE102023004481A1 - Device for testing test objects, in particular electronic modules

Info

Publication number: DE102023004481A1
Application number: DE102023004481.4A
Authority: DE
Inventors: Friedrich Manz; Marco Hoffmann; Bastian Freitag; Patrick Meier
Original assignee: SEW Eurodrive GmbH and Co KG
Current assignee: SEW Eurodrive GmbH and Co KG
Priority date: 2022-12-13
Filing date: 2023-11-07
Publication date: 2024-06-13

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Prüfung von Prüflingen, insbesondere von elektronischen Modulen, umfassend eine Basiseinheit (10), welche eine digitale Datenverarbeitungseinheit (12) aufweist, mehrere Prüfeinheiten (31, 32, 33), welche elektronische Schaltungen zur Interaktion mit zu prüfenden Prüflingen aufweisen, mehrere Anschlusselemente (60), an welche die zu prüfenden Prüflinge elektrisch anschließbar sind, und ein Gehäuse (20), in welchem die Prüfeinheiten (31, 32, 33) und die Basiseinheit (10) angeordnet sind, wobei die Datenverarbeitungseinheit (12) über mindestens ein Bussystem (41, 42) mit den Prüfeinheiten (31, 32, 33) kommuniziert, und innerhalb des Gehäuses (20) mehrere Aufnahmebereiche (30) zur Aufnahme von jeweils einer Prüfeinheit (31, 32, 33) vorgesehen sind, und jede der Prüfeinheiten (31, 32, 33) mit mindestens einem der Anschlusselemente (60) elektrisch verbunden ist.

The invention relates to a device for testing test objects, in particular electronic modules, comprising a base unit (10) which has a digital data processing unit (12), a plurality of test units (31, 32, 33) which have electronic circuits for interacting with test objects to be tested, a plurality of connection elements (60) to which the test objects to be tested can be electrically connected, and a housing (20) in which the test units (31, 32, 33) and the base unit (10) are arranged, wherein the data processing unit (12) communicates with the test units (31, 32, 33) via at least one bus system (41, 42), and a plurality of receiving areas (30) for each receiving a test unit (31, 32, 33) are provided within the housing (20), and each of the test units (31, 32, 33) is electrically connected to at least one of the connection elements (60).

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Prüfung von Prüflingen, insbesondere von elektronischen Modulen.The invention relates to a device for testing test objects, in particular electronic modules.

Elektrische Geräte weisen eine Mehrzahl von elektronischen Modulen auf. Bei einem Defekt eines elektrischen Geräts ist eine Fehlerdiagnose erforderlich, um herauszufinden, welches der elektronischen Module defekt ist, um einen aufgetretenen Fehler zu lokalisieren. Auch zu Wartungszwecken sowie bei der Inbetriebnahme komplexer elektrischer Geräte ist häufig eine Prüfung der elektronischen Module vorgesehen, um defekte elektronische Module rechtzeitig zu erkennen. Zur Prüfung von Prüflingen, insbesondere zur Prüfung von elektronischen Modulen, sind entsprechende Vorrichtungen bekannt.Electrical devices have a number of electronic modules. If an electrical device is defective, a fault diagnosis is required to find out which of the electronic modules is defective in order to localize an error that has occurred. Testing of the electronic modules is also often required for maintenance purposes and when putting complex electrical devices into operation in order to identify defective electronic modules in good time. Appropriate devices are known for testing test items, in particular for testing electronic modules.

Aus den Dokumenten CN 115389831 A , CN 112822905 A , US 2019/0033373 A1 , CN 205982552 U sowie KR 101915458 B1 sind Vorrichtungen und Verfahren zur Prüfung von Prüflingen, unter anderem von elektronischen Modulen, bekannt.From the documents CN115389831A , CN112822905A , US 2019/0033373 A1 , CN 205982552 U as well as KR 101915458 B1 Devices and methods for testing test objects, including electronic modules, are known.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zur Prüfung von Prüflingen, insbesondere zur Prüfung von elektronischen Modulen, weiterzubilden.The invention is based on the object of developing a device for testing test objects, in particular for testing electronic modules.

Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Vorrichtung zur Prüfung von Prüflingen mit den in Anspruch 1 angegebenen Merkmalen gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen sind Gegenstand der Unteransprüche.The object is achieved according to the invention by a device for testing test objects with the features specified in claim 1. Advantageous embodiments and further developments are the subject of the subclaims.

Eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur Prüfung von Prüflingen, insbesondere zur Prüfung von elektronischen Modulen, umfasst eine Basiseinheit, welche eine digitale Datenverarbeitungseinheit aufweist, mehrere Prüfeinheiten, welche elektronische Schaltungen zur Interaktion mit zu prüfenden Prüflingen aufweisen, mehrere Anschlusselemente, an welche die zu prüfenden Prüflinge elektrisch anschließbar sind, und ein Gehäuse, in welchem die Prüfeinheiten und die Basiseinheit angeordnet sind. Die Datenverarbeitungseinheit kommuniziert über mindestens ein Bussystem mit den Prüfeinheiten. Innerhalb des Gehäuses sind mehrere Aufnahmebereiche zur Aufnahme von jeweils einer Prüfeinheit vorgesehen. Jede der Prüfeinheiten ist mit mindestens einem der Anschlusselemente elektrisch verbunden. A device according to the invention for testing test objects, in particular for testing electronic modules, comprises a base unit which has a digital data processing unit, several test units which have electronic circuits for interaction with test objects to be tested, several connection elements to which the test objects to be tested can be electrically connected, and a housing in which the test units and the base unit are arranged. The data processing unit communicates with the test units via at least one bus system. Several receiving areas for each receiving a test unit are provided within the housing. Each of the test units is electrically connected to at least one of the connection elements.

Somit ist ein zu prüfender Prüfling, welcher an eines der Anschlusselemente elektrisch angeschlossen ist, auch mit einer der Prüfeinheiten elektrisch verbunden. Die Datenverarbeitungseinheit enthält Prüfprogramme in Form von Software, welche auf die zu prüfenden Prüflinge abgestimmt ist. Die Prüfprogramme sind an andere zu prüfende Prüflinge anpassbar. Die Vorrichtung ermöglicht eine vollautomatisierte Prüfung von elektronischen Modulen, beispielweise Versorgungsmodulen, I/O-Modulen oder Navigationsmodule sowie von Kabelbäumen. Die besagten elektronischen Module sind insbesondere Komponenten Fahrzeugs, beispielsweise eines autonom fahrenden mobilen Transportsystems. Die Basiseinheit ist dabei flexibel um erforderliche Komponenten erweiterbar. Die Prüfeinheiten sind flexibel an zu prüfende Prüflinge anpassbar. Ferner sind die Prüfeinheiten innerhalb des Gehäuses austauschbar.Thus, a test object to be tested that is electrically connected to one of the connection elements is also electrically connected to one of the test units. The data processing unit contains test programs in the form of software that is tailored to the test objects to be tested. The test programs can be adapted to other test objects to be tested. The device enables fully automated testing of electronic modules, for example supply modules, I/O modules or navigation modules, as well as cable harnesses. The electronic modules in question are in particular vehicle components, for example an autonomously driving mobile transport system. The base unit can be flexibly expanded to include the required components. The test units can be flexibly adapted to the test objects to be tested. Furthermore, the test units are interchangeable within the housing.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung weist die Vorrichtung mehrere unterschiedliche Bussysteme auf, und die Datenverarbeitungseinheit weist mehrere an die Bussysteme angeschlossene Busschnittstellen zur Kommunikation über die Bussysteme aufweist, und jede der Prüfeinheiten weist mindestens eine an eines der Bussysteme angeschlossene Busschnittstelle zur Kommunikation über das Bussystem auf.According to an advantageous embodiment of the invention, the device has a plurality of different bus systems, and the data processing unit has a plurality of bus interfaces connected to the bus systems for communication via the bus systems, and each of the test units has at least one bus interface connected to one of the bus systems for communication via the bus system.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung umfasst die Basiseinheit eine Netzwerkschnittstelle zur Datenübertragung über ein Netzwerk, welche mit der Datenverarbeitungseinheit verbunden ist.According to an advantageous embodiment of the invention, the base unit comprises a network interface for data transmission via a network, which is connected to the data processing unit.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung umfasst die Basiseinheit einen GPS-Empfänger, welcher mit der Datenverarbeitungseinheit verbunden ist. Der GPS-Empfänger gestattet eine Lokalisierung der Vorrichtung, insbesondere, während eine Prüfung von Prüflingen durchgeführt wird.According to an advantageous embodiment of the invention, the base unit comprises a GPS receiver which is connected to the data processing unit. The GPS receiver allows the device to be located, in particular while a test of test objects is being carried out.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung umfasst die Basiseinheit einen Kartenleser, welcher mit der Datenverarbeitungseinheit verbunden ist. Der Kartenleser gestattet die Identifizierung eines Prüfers, welcher vor Beginn einer Prüfung von Prüflingen seine persönliche Smart-Card in den Kartenleser einführt.According to an advantageous embodiment of the invention, the base unit comprises a card reader which is connected to the data processing unit. The card reader allows the identification of an examiner who inserts his personal smart card into the card reader before starting an examination of test subjects.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung umfasst die Basiseinheit mehrere Spannungsquellen, welche voneinander verschiedene Spannungen liefern, und jede der Prüfeinheiten ist mit mindestens einer der Spannungsquellen elektrisch verbunden. Beispielsweise liefern die Spannungsquellen voneinander verschiedene Gleichspannungen. Beispielsweise liefert mindestens eine Spannungsquelle eine Gleichspannung, und mindestens eine Spannungsquelle liefert eine Wechselspannung. Ebenfalls ist denkbar, dass die Spannungsquellen voneinander verschiedene Wechselspannungen liefern.According to an advantageous embodiment of the invention, the base unit comprises several voltage sources which supply different voltages from one another, and each of the test units is electrically connected to at least one of the voltage sources. For example, the voltage sources supply different direct voltages from one another. For example, at least one voltage source supplies a direct voltage and at least one voltage source supplies an alternating voltage. It is also conceivable that the voltage sources supply different alternating voltages from one another.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung umfasst die Datenverarbeitungseinheit eine Steuereinheit zur Steuerung der Prüfeinheiten. Die Steuereinheit enthält Steuerprogramme in Form von Software, welche auf die zu prüfenden Prüflinge abgestimmt ist. Die Steuerprogramme sind an andere zu prüfende Prüflinge anpassbar.According to an advantageous embodiment of the invention, the data processing unit comprises a control unit for controlling the test units. The control unit contains control programs in the form of software which is tailored to the test items to be tested. The control programs can be adapted to other test items to be tested.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung umfasst die Datenverarbeitungseinheit eine Auswerteeinheit zur Auswertung von von den Prüfeinheiten aufgenommenen Messergebnissen. Die Auswerteeinheit enthält Auswerteprogramme in Form von Software, welche auf die zu prüfenden Prüflinge abgestimmt ist. Die Auswerteprogramme sind an andere zu prüfende Prüflinge anpassbar.According to an advantageous embodiment of the invention, the data processing unit comprises an evaluation unit for evaluating measurement results recorded by the test units. The evaluation unit contains evaluation programs in the form of software that is tailored to the test items to be tested. The evaluation programs can be adapted to other test items to be tested.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung sind die Aufnahmebereiche als Steckplätze ausgebildet, und jede der Prüfeinheiten weist einen Steckverbinder auf, welcher in einen der Aufnahmebereiche eingesteckt ist. Die Prüfeinheiten sind somit innerhalb des Gehäuses verhältnismäßig einfach austauschbar.According to an advantageous embodiment of the invention, the receiving areas are designed as slots, and each of the test units has a connector which is plugged into one of the receiving areas. The test units are thus relatively easy to replace within the housing.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung sind die Aufnahmebereiche mit der Basiseinheit elektrisch verbunden, und jede der Prüfeinheiten ist über den Steckverbinder und den Aufnahmebereich, in welchen der Steckverbinder eingesteckt ist, mit der Basiseinheit elektrisch verbunden. Beim Einstecken einer Prüfeinheit in einem Aufnahmebereich erfolgt somit automatisch die elektrische Verbindung mit der Basiseinheit. Eine separate Verkabelung der Prüfeinheit mit der Basiseinheit ist damit nicht erforderlich.According to an advantageous embodiment of the invention, the receiving areas are electrically connected to the base unit, and each of the test units is electrically connected to the base unit via the plug connector and the receiving area into which the plug connector is plugged. When a test unit is plugged into a receiving area, the electrical connection to the base unit is thus automatically established. Separate cabling of the test unit to the base unit is therefore not necessary.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung weist jedes der Anschlusselemente eine Platte, welche lösbar mit dem Gehäuse verbunden ist, und einen externen Stecker zum Anschluss eines Prüflings auf. Der externe Stecker ist dabei derart codierbar, dass nur eine definierte Art von Prüflingen anschließbar sind. Ein Anschluss von Prüflingen, welche nicht zu der mit einem Anschlusselement verbundenen Prüfeinheit passen, ist damit verhindert. According to an advantageous embodiment of the invention, each of the connection elements has a plate which is detachably connected to the housing and an external plug for connecting a test object. The external plug can be coded in such a way that only a defined type of test object can be connected. This prevents the connection of test objects which do not fit the test unit connected to a connection element.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist mindestens eine der Platten der Anschlusselemente magnetisch an dem Gehäuse gehalten. Die Anschlusselemente sind damit ebenfalls flexibel austauschbar.According to an advantageous embodiment of the invention, at least one of the plates of the connection elements is held magnetically to the housing. The connection elements are thus also flexibly interchangeable.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist mindestens eine der Platten der Anschlusselemente mittels eines Schnappverschlusses an dem Gehäuse gehalten. Die Anschlusselemente sind damit ebenfalls flexibel austauschbar.According to an advantageous embodiment of the invention, at least one of the plates of the connection elements is held on the housing by means of a snap lock. The connection elements are thus also flexibly interchangeable.

Die Erfindung ist nicht auf die Merkmalskombination der Ansprüche beschränkt. Für den Fachmann ergeben sich weitere sinnvolle Kombinationsmöglichkeiten von Ansprüchen und/oder einzelnen Anspruchsmerkmalen und/oder Merkmalen der Beschreibung und/oder der Figuren, insbesondere aus der Aufgabenstellung und/oder der sich durch Vergleich mit dem Stand der Technik stellenden Aufgabe.The invention is not limited to the combination of features in the claims. Other useful combination options of claims and/or individual claim features and/or features of the description and/or the figures will arise for the person skilled in the art, in particular from the task and/or the task arising from a comparison with the prior art.

Die Erfindung wird nun anhand von Abbildungen näher erläutert. Die Erfindung ist nicht auf die in den Abbildungen dargestellten Ausführungsbeispiele beschränkt. Die Abbildungen stellen den Gegenstand der Erfindung nur schematisch dar. Es zeigen:

1: eine schematische Darstellung einer Vorrichtung zur Prüfung von Prüflingen,
2: eine beispielhafte schematische Darstellung einer ersten Prüfeinheit,
3: eine beispielhafte schematische Darstellung einer zweiten Prüfeinheit,
4: eine beispielhafte schematische Darstellung einer dritten Prüfeinheit,
5: eine schematische Frontansicht eines Gehäuses,
6: eine schematische Darstellung eines Anschlusselements gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel und
7: eine schematische Darstellung eines Anschlusselements gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel.

The invention will now be explained in more detail with reference to figures. The invention is not limited to the embodiments shown in the figures. The figures only represent the subject matter of the invention schematically. They show:

1 : a schematic representation of a device for testing test specimens,
2 : an exemplary schematic representation of a first test unit,
3 : an exemplary schematic representation of a second test unit,
4 : an exemplary schematic representation of a third test unit,
5 : a schematic front view of a housing,
6 : a schematic representation of a connection element according to a first embodiment and
7 : a schematic representation of a connection element according to a second embodiment.

1 zeigt eine schematische Darstellung einer Vorrichtung zur Prüfung von Prüflingen. Die Vorrichtung ist zum Prüfen von elektronischen Modulen von elektrischen Geräten vorgesehen. Derartige elektrische Geräte sind beispielsweise autonom fahrende mobile Transportsysteme. Zu prüfende elektronische Module sind beispielsweise Antriebseinheiten, Sensoren, Versorgungsmodule, Navigationsmodule oder Steuergeräte. 1 shows a schematic representation of a device for testing test objects. The device is intended for testing electronic modules of electrical devices. Such electrical devices are, for example, autonomous mobile transport systems. Electronic modules to be tested are, for example, drive units, sensors, supply modules, navigation modules or control units.

Die Vorrichtung umfasst mehrere Prüfeinheiten 31, 32, 33, vorliegend eine erste Prüfeinheit 31, eine zweite Prüfeinheit 32 und eine dritte Prüfeinheit 33. Die Prüfeinheiten 31, 32, 33 weisen jeweils elektronische Schaltungen zur Interaktion mit zu prüfenden Prüflingen auf. Die Vorrichtung umfasst mehrere Aufnahmebereiche 30 zur Aufnahme von jeweils einer Prüfeinheit 31, 32, 33.The device comprises a plurality of test units 31, 32, 33, in this case a first test unit 31, a second test unit 32 and a third test unit 33. The test units 31, 32, 33 each have electronic circuits for interaction with test objects to be tested. The device comprises a plurality of receiving areas 30 for receiving one test unit 31, 32, 33 each.

Die Vorrichtung umfasst mehrere Anschlusselemente 60, an welche die zu prüfenden Prüflinge elektrisch anschließbar sind. Jede der Prüfeinheiten 31, 32, 33 ist mit einem Anschlusselement 60 oder mit mehreren Anschlusselementen 60 elektrisch verbunden. Jede der Prüfeinheiten 31, 32, 33 weist einen Konnektor 58 oder mehrere Konnektoren 58 auf, an welche jeweils ein Kabel 63 eines Anschlusselements 60 angeschlossen ist. Ein zu prüfender Prüfling, welcher an eines der Anschlusselemente 60 elektrisch angeschlossen ist, ist somit über das entsprechende Kabel 63 auch mit einer der Prüfeinheiten 31, 32, 33 elektrisch verbunden. Die Prüfeinheiten 31, 32, 33 nehmen Messergebnisse von den angeschlossenen Prüflingen auf.The device comprises several connection elements 60 to which the test objects to be tested can be electrically connected. Each of the test units 31, 32, 33 is electrically connected to one connection element 60 or to several connection elements 60. Each of the test units 31, 32, 33 has a connector 58 or several connectors 58, to each of which a cable 63 of a connection element 60 is connected. A test object to be tested, which is electrically connected to one of the connection elements 60, is thus also electrically connected to one of the test units 31, 32, 33 via the corresponding cable 63. The test units 31, 32, 33 record measurement results from the connected test objects.

Die Vorrichtung umfasst eine Basiseinheit 10. Die Basiseinheit 10 weist eine digitale Datenverarbeitungseinheit 12 auf. Die Datenverarbeitungseinheit 12 umfasst eine Steuereinheit zur Steuerung der Prüfeinheiten 31, 32, 33. Die Datenverarbeitungseinheit 12 umfasst auch eine Auswerteeinheit zur Auswertung von Messergebnissen, welche die Prüfeinheiten 31, 32, 33 von den Prüflingen aufgenommenen haben.The device comprises a base unit 10. The base unit 10 has a digital data processing unit 12. The data processing unit 12 comprises a control unit for controlling the test units 31, 32, 33. The data processing unit 12 also comprises an evaluation unit for evaluating measurement results which the test units 31, 32, 33 have recorded from the test objects.

Die Vorrichtung umfasst mehrere Bussysteme 41, 42, vorliegend ein erstes Bussystem 41 und ein zweites Bussystem 42. Über die Bussysteme 41, 42 kommuniziert die Datenverarbeitungseinheit 12 mit den Prüfeinheiten 31, 32, 33. Das erste Bussystem 41 ist beispielsweise als CAN-Bus ausgebildet. Das zweite Bussystem 42 ist beispielsweise als EtherCAT-Bus ausgebildet.The device comprises several bus systems 41, 42, in this case a first bus system 41 and a second bus system 42. The data processing unit 12 communicates with the test units 31, 32, 33 via the bus systems 41, 42. The first bus system 41 is designed as a CAN bus, for example. The second bus system 42 is designed as an EtherCAT bus, for example.

Die Datenverarbeitungseinheit 12 weist mehrere Busschnittstellen 51, 52, vorliegend eine erste Busschnittstelle 51 und eine zweite Busschnittstelle 52, auf. Die erste Busschnittstelle 51 der Datenverarbeitungseinheit 12 ist dabei an das erste Bussystem 41 angeschlossen, und die zweite Busschnittstelle 52 der Datenverarbeitungseinheit 12 ist an das zweite Bussystem 42 angeschlossen.The data processing unit 12 has a plurality of bus interfaces 51, 52, in the present case a first bus interface 51 and a second bus interface 52. The first bus interface 51 of the data processing unit 12 is connected to the first bus system 41, and the second bus interface 52 of the data processing unit 12 is connected to the second bus system 42.

Jede der Prüfeinheiten 31, 32, 33 weist mindestens eine Busschnittstelle 51, 52 auf. Vorliegend weist die erste Prüfeinheit 31 eine erste Busschnittstelle 51 auf. Die zweite Prüfeinheit 32 und die dritte Prüfeinheit 33 weisen jeweils eine zweite Busschnittstelle 52 auf. Die erste Busschnittstelle 51 der ersten Prüfeinheit 31 ist an das erste Bussystem 41 angeschlossen. Die zweiten Busschnittstellen 52 der zweiten Prüfeinheit 32 und der dritten Prüfeinheit 33 sind an das zweite Bussystem 42 angeschlossen.Each of the test units 31, 32, 33 has at least one bus interface 51, 52. In the present case, the first test unit 31 has a first bus interface 51. The second test unit 32 and the third test unit 33 each have a second bus interface 52. The first bus interface 51 of the first test unit 31 is connected to the first bus system 41. The second bus interfaces 52 of the second test unit 32 and the third test unit 33 are connected to the second bus system 42.

Die Basiseinheit 10 umfasst mehrere Spannungsquellen 45, 46, vorliegend eine erste Spannungsquelle 45 und eine zweite Spannungsquelle 46. Die Spannungsquellen 45, 46 liefern voneinander verschiedene Gleichspannungen. Beispielsweise liefert die erste Spannungsquelle 45 eine Gleichspannung von 24 V, und die zweite Spannungsquelle 46 liefert eine Gleichspannung von 360 V. Es ist auch denkbar, dass mindestens eine der Spannungsquellen 45, 46 eine Wechselspannung liefert.The base unit 10 comprises several voltage sources 45, 46, in this case a first voltage source 45 and a second voltage source 46. The voltage sources 45, 46 supply different direct voltages from one another. For example, the first voltage source 45 supplies a direct voltage of 24 V, and the second voltage source 46 supplies a direct voltage of 360 V. It is also conceivable that at least one of the voltage sources 45, 46 supplies an alternating voltage.

Jede der Prüfeinheiten 31, 32, 33 weist mindestens einen Spannungseingang 55, 56 auf. Vorliegend weist jede der Prüfeinheiten 31, 32, 33 einen ersten Spannungseingang 55 auf, und die dritte Prüfeinheit 33 weist zusätzlich einen zweiten Spannungseingang 56 auf. Die ersten Spannungseingänge 55 der Prüfeinheiten 31, 32, 33 sind dabei an die erste Spannungsquelle 45 angeschlossen, und der zweite Spannungseingang 56 der dritten Prüfeinheit 33 ist an die zweite Spannungsquelle 46 angeschlossen. Somit ist jede der Prüfeinheiten 31, 32, 33 mit mindestens einer der Spannungsquellen 45, 46 elektrisch verbunden.Each of the test units 31, 32, 33 has at least one voltage input 55, 56. In the present case, each of the test units 31, 32, 33 has a first voltage input 55, and the third test unit 33 additionally has a second voltage input 56. The first voltage inputs 55 of the test units 31, 32, 33 are connected to the first voltage source 45, and the second voltage input 56 of the third test unit 33 is connected to the second voltage source 46. Thus, each of the test units 31, 32, 33 is electrically connected to at least one of the voltage sources 45, 46.

Die Basiseinheit 10 umfasst eine Netzwerkschnittstelle 14. Die Netzwerkschnittstelle 14 ist mit der Datenverarbeitungseinheit 12 verbunden. Die Netzwerkschnittstelle 14 gestattet eine Datenübertragung der Vorrichtung über ein externes Netzwerk, beispielsweise zu einem Server. Die Netzwerkschnittstelle 14 ist beispielsweise als kabelgebundene LAN-Schnittstelle, als WLAN-Schnittstelle oder als Mobilfunk-Schnittstelle, insbesondere nach 5G-Standard, ausgebildet.The base unit 10 comprises a network interface 14. The network interface 14 is connected to the data processing unit 12. The network interface 14 allows data transmission of the device via an external network, for example to a server. The network interface 14 is designed, for example, as a wired LAN interface, as a WLAN interface or as a mobile radio interface, in particular according to the 5G standard.

Die Basiseinheit 10 umfasst eine GPS-Empfänger 16. Der GPS-Empfänger 16 ist mit der Datenverarbeitungseinheit 12 verbunden. Der GPS-Empfänger 16 gestattet eine Lokalisierung der Vorrichtung, insbesondere, während eine Prüfung von Prüflingen durchgeführt wird.The base unit 10 comprises a GPS receiver 16. The GPS receiver 16 is connected to the data processing unit 12. The GPS receiver 16 allows localization of the device, in particular while testing of test objects is being carried out.

Die Basiseinheit 10 umfasst einen Kartenleser 18. Der Kartenleser 18 ist mit der Datenverarbeitungseinheit 12 verbunden. Der Kartenleser 18 gestattet die Identifizierung eines Prüfers, welcher vor Beginn einer Prüfung von Prüflingen seine persönliche Smart-Card in den Kartenleser 18 einführt.The base unit 10 comprises a card reader 18. The card reader 18 is connected to the data processing unit 12. The card reader 18 allows the identification of an examiner who inserts his personal smart card into the card reader 18 before starting an examination of examinees.

Die Vorrichtung umfasst ein Gehäuse 20. Die Prüfeinheiten 31, 32, 33, die Aufnahmebereiche 30 und die Basiseinheit 10 sind in dem Gehäuse 20 angeordnet. Jedes der Anschlusselemente 60 weist eine Platte 61 auf, welche lösbar mit dem Gehäuse 20 verbunden ist. Das Gehäuse 20 weist auch Rollen auf und ist somit beweglich. Ferner weist die Vorrichtung auch Platten 61 auf, welche leere Öffnungen abdecken, die zur Aufnahme von Anschlusselementen 60 vorgesehen sind.The device comprises a housing 20. The test units 31, 32, 33, the receiving areas 30 and the base unit 10 are arranged in the housing 20. Each of the connection elements 60 has a plate 61 which is detachably connected to the housing 20. The housing 20 also has rollers and is thus movable. Furthermore, the device also has plates 61 which cover empty openings which are provided for receiving connection elements 60.

Die Aufnahmebereiche 30 zur Aufnahme der Prüfeinheiten 31, 32, 33 sind als Steckplätze ausgebildet. Jede der Prüfeinheiten 31, 32, 33 weist einen Steckverbinder auf, welcher in einen der Aufnahmebereiche 30 eingesteckt ist. Vorliegend umfasst die Vorrichtung fünf solcher Aufnahmebereiche 30. Dabei ist vorliegend in drei der Aufnahmebereiche 30 jeweils eine der Prüfeinheiten 31, 32, 33 eingesteckt, und die beiden übrigen Aufnahmebereiche 30 sind leer und bilden eine Reserve.The receiving areas 30 for receiving the test units 31, 32, 33 are designed as plug-in locations. Each of the test units 31, 32, 33 has a connector which is plugged into one of the receiving areas 30. In the present case, the device comprises five such receiving areas 30. In the present case, in three of the receiving areas 30, one of the test units 31, 32, 33 is plugged in, and the two remaining receiving areas 30 are empty and form a reserve.

Vorliegend sind die Aufnahmebereiche 30 mit der Basiseinheit 10 elektrisch verbunden. Jede der Prüfeinheiten 31, 32, 33 ist über den Steckverbinder und den Aufnahmebereich 30, in welchen der Steckverbinder eingesteckt ist, mit der Basiseinheit 10 elektrisch verbunden. Die elektrische Verbindung der Aufnahmebereiche 30 mit der Basiseinheit 10 umfasst beispielsweise die Bussysteme 41, 42 sowie die Verbindungen zu den Spannungsquellen 45, 46.In the present case, the receiving areas 30 are electrically connected to the base unit 10. Each of the test units 31, 32, 33 is electrically connected to the base unit 10 via the plug connector and the receiving area 30 into which the plug connector is plugged. The electrical connection of the receiving areas 30 to the base unit 10 includes, for example, the bus systems 41, 42 and the connections to the voltage sources 45, 46.

Alternativ ist es auch denkbar, dass die Prüfeinheiten 31, 32, 33 unter Umgehung der Aufnahmebereiche 30 mittels Steckverbindungen mit den Bussystemen 41, 42 sowie mit den Spannungsquellen 45, 46 verbunden sind.Alternatively, it is also conceivable that the test units 31, 32, 33 are connected to the bus systems 41, 42 and to the voltage sources 45, 46 by means of plug connections, bypassing the recording areas 30.

2 zeigt eine beispielhafte schematische Darstellung der in 1 gezeigten ersten Prüfeinheit 31. Die erste Prüfeinheit 31 weist einen ersten Spannungseingang 55 auf, welcher mit der ersten Spannungsquelle 45 der Basiseinheit 10 verbunden ist. Die erste Prüfeinheit 31 weist eine erste Busschnittstelle 51 auf, welche an das erste Bussystem 41 der Vorrichtung angeschlossen ist. Die erste Prüfeinheit 31 weist zwei Konnektoren 58 auf, welche über jeweils ein Anschlusselement 60 mit einem Prüfling verbunden sind. 2 shows an exemplary schematic representation of the 1 shown first test unit 31. The first test unit 31 has a first voltage input 55, which is connected to the first voltage source 45 of the base unit 10. The first test unit 31 has a first bus interface 51, which is connected to the first bus system 41 of the device. The first test unit 31 has two connectors 58, which are each connected to a test object via a connection element 60.

Die erste Prüfeinheit 31 weist mehrere elektronische Schaltungen zur Interaktion mit zu prüfenden Prüflingen auf. Die erste Prüfeinheit 31 weist ein digitales I/O-Modul 81 und vier Zählermodule 82 auf. Das digitale I/O-Modul 81 und die Zählermodule 82 sind zur Spannungsversorgung mit dem ersten Spannungseingang 55 verbunden. Das digitale I/O-Modul 81 und die Zählermodule 82 sind zur Kommunikation über das erste Bussystem 41 mit der ersten Busschnittstelle 51 verbunden. Das digitale I/O-Modul 81 und die Zählermodule 82 sind zur Interaktion mit dem angeschlossenen Prüfling mit den Konnektoren 58 verbunden.The first test unit 31 has several electronic circuits for interaction with test objects to be tested. The first test unit 31 has a digital I/O module 81 and four counter modules 82. The digital I/O module 81 and the counter modules 82 are connected to the first voltage input 55 for power supply. The digital I/O module 81 and the counter modules 82 are connected to the first bus interface 51 for communication via the first bus system 41. The digital I/O module 81 and the counter modules 82 are connected to the connectors 58 for interaction with the connected test object.

3 zeigt eine beispielhafte schematische Darstellung der in 1 gezeigten zweiten Prüfeinheit 32. Die zweite Prüfeinheit 32 weist einen ersten Spannungseingang 55 auf, welcher mit der ersten Spannungsquelle 45 der Basiseinheit 10 verbunden ist. Die zweite Prüfeinheit 32 weist eine zweite Busschnittstelle 52 auf, welche an das zweite Bussystem 42 der Vorrichtung angeschlossen ist. Die zweite Prüfeinheit 32 weist drei Konnektoren 58 auf, welche über jeweils ein Anschlusselement 60 mit einem Prüfling verbunden sind. 3 shows an exemplary schematic representation of the 1 shown second test unit 32. The second test unit 32 has a first voltage input 55, which is connected to the first voltage source 45 of the base unit 10. The second test unit 32 has a second bus interface 52, which is connected to the second bus system 42 of the device. The second test unit 32 has three connectors 58, which are each connected to a test object via a connection element 60.

Die zweite Prüfeinheit 32 weist mehrere elektronische Schaltungen zur Interaktion mit zu prüfenden Prüflingen auf. Die zweite Prüfeinheit 32 weist ein digitales I/O-Modul 81, ein analoges I/O-Modul 83, einen Signalkonverter 84 und einen Spannungsmessumformer 85 auf. Das digitale I/O-Modul 81 und das analoge I/O-Modul 83 sind zur Spannungsversorgung mit dem ersten Spannungseingang 55 verbunden. Das digitale I/O-Modul 81 und das analoge I/O-Modul 83 sind zur Kommunikation über das zweite Bussystem 42 mit der zweiten Busschnittstelle 52 verbunden.The second test unit 32 has several electronic circuits for interaction with test objects to be tested. The second test unit 32 has a digital I/O module 81, an analog I/O module 83, a signal converter 84 and a voltage transducer 85. The digital I/O module 81 and the analog I/O module 83 are connected to the first voltage input 55 for voltage supply. The digital I/O module 81 and the analog I/O module 83 are connected to the second bus interface 52 for communication via the second bus system 42.

Das digitale I/O-Modul 81 ist über den Signalkonverter 84 zur Interaktion mit dem angeschlossenen Prüfling mit einem der Konnektoren 58 verbunden. Der Signalkonverter 84 führt eine Pegelanpassung von beispielsweise 24 V auf 5 V durch. Das digitale I/O-Modul 81 über zur Interaktion mit dem angeschlossenen Prüfling mit einem weiteren der Konnektoren 58 verbunden.The digital I/O module 81 is connected to one of the connectors 58 via the signal converter 84 for interaction with the connected test object. The signal converter 84 carries out a level adjustment from, for example, 24 V to 5 V. The digital I/O module 81 is connected to another of the connectors 58 for interaction with the connected test object.

Das analoge I/O-Modul 83 über den Spannungsmessumformer 85 zur Interaktion mit dem angeschlossenen Prüfling mit einem der Konnektoren 58 verbunden. Der Spannungsmessumformer 85 führt eine Spannungsanpassung von beispielsweise 360 V auf 10 V durch.The analog I/O module 83 is connected to one of the connectors 58 via the voltage transducer 85 for interaction with the connected test object. The voltage transducer 85 carries out a voltage adjustment from, for example, 360 V to 10 V.

Die zweite Prüfeinheit 32 weist ferner eine kapazitive Last 86, eine resistive Last 87 und ein Schütz 88 auf. Die kapazitive Last 86 ist mit einem der Konnektoren 58 verbunden. Die resistive Last 87 ist über das Schütz 88 mit einem der Konnektoren 58 verbunden. Das Schütz 88 ist von dem digitalen I/O-Modul 81 ansteuerbar.The second test unit 32 further comprises a capacitive load 86, a resistive load 87 and a contactor 88. The capacitive load 86 is connected to one of the connectors 58. The resistive load 87 is connected to one of the connectors 58 via the contactor 88. The contactor 88 can be controlled by the digital I/O module 81.

4 zeigt eine beispielhafte schematische Darstellung der in 1 gezeigten dritten Prüfeinheit 33. Die dritte Prüfeinheit 33 dient beispielsweise zum Prüfen von 48V-Motoren, welche einen Drehgeber und eine Synchron-Serielle Schnittstelle aufweisen. 4 shows an exemplary schematic representation of the 1 shown third test unit 33. The third test unit 33 is used, for example, to test 48V motors which have a rotary encoder and a synchronous serial interface.

Die dritte Prüfeinheit 33 weist einen ersten Spannungseingang 55 auf, welcher mit der ersten Spannungsquelle 45 der Basiseinheit 10 verbunden ist. Die dritte Prüfeinheit 33 weist auch einen zweiten Spannungseingang 56 auf, welcher mit der zweiten Spannungsquelle 46 der Basiseinheit 10 verbunden ist. Die zweite Prüfeinheit 32 weist eine zweite Busschnittstelle 52 auf, welche an das zweite Bussystem 42 der Vorrichtung angeschlossen ist. Die zweite Prüfeinheit 32 weist zwei Konnektoren 58 auf, welche über jeweils ein Anschlusselement 60 mit einem Prüfling verbunden sind.The third test unit 33 has a first voltage input 55, which is connected to the first voltage source 45 of the base unit 10. The third test unit 33 also has a second voltage input 56, which is connected to the second voltage source 46 of the base unit 10. The second test unit 32 has a second bus interface 52, which is connected to the second bus system 42 of the device. The second test unit 32 has two connectors 58, which are each connected to a test object via a connection element 60.

Die dritte Prüfeinheit 33 weist mehrere elektronische Schaltungen zur Interaktion mit zu prüfenden Prüflingen auf. Die dritte Prüfeinheit 33 weist ein digitales I/O-Modul 81, einen Tiefsetzsteller 89, ein Leistungsmessmodul 90 und ein SSI-Modul 91 auf. Das digitale I/O-Modul 81, das Leistungsmessmodul 90 und das SSI-Modul 91 sind zur Spannungsversorgung mit dem ersten Spannungseingang 55 verbunden. Das digitale I/O-Modul 81, das Leistungsmessmodul 90 und das SSI-Modul 91 sind zur Kommunikation über das zweite Bussystem 42 mit der zweiten Busschnittstelle 52 verbunden. Das digitale I/O-Modul 81, das Leistungsmessmodul 90 und das SSI-Modul 91 sind zur Interaktion mit dem angeschlossenen Prüfling mit den Konnektoren 58 verbunden.The third test unit 33 has several electronic circuits for interaction with the test objects to be tested. The third test unit 33 has a digital I/O module 81, a buck converter 89, a Power measurement module 90 and an SSI module 91. The digital I/O module 81, the power measurement module 90 and the SSI module 91 are connected to the first voltage input 55 for power supply. The digital I/O module 81, the power measurement module 90 and the SSI module 91 are connected to the second bus interface 52 for communication via the second bus system 42. The digital I/O module 81, the power measurement module 90 and the SSI module 91 are connected to the connectors 58 for interaction with the connected test object.

Das SSI-Modul 91 empfängt Signale von dem Drehgeber des angeschlossenen Prüflings über die Synchron-Serielle Schnittstelle. Das SSI-Modul 91 überträgt die empfangenen Signale über die zweite Busschnittstelle 52 an das zweite Bussystem 42.The SSI module 91 receives signals from the rotary encoder of the connected test object via the synchronous serial interface. The SSI module 91 transmits the received signals via the second bus interface 52 to the second bus system 42.

Der Tiefsetzsteller 89 ist mit dem zweiten Spannungseingang 56 verbunden. Der Tiefsetzsteller 89 wandelt die von der zweiten Spannungsquelle 46 gelieferte Gleichspannung von 360 V in eine Gleichspannung von 48 V. Der Tiefsetzsteller 89 ist mit dem Leistungsmessmodul 90 verbunden und liefert die Gleichspannung von 48 V zu dem Leistungsmessmodul 90.The buck converter 89 is connected to the second voltage input 56. The buck converter 89 converts the DC voltage of 360 V supplied by the second voltage source 46 into a DC voltage of 48 V. The buck converter 89 is connected to the power measuring module 90 and supplies the DC voltage of 48 V to the power measuring module 90.

5 zeigt eine schematische Frontansicht eines Gehäuses 20, in welchem die Prüfeinheiten 31, 32, 33, die Aufnahmebereiche 30 und die Basiseinheit 10 angeordnet sind. Die Vorrichtung umfasst mehrere Anschlusselemente 60, welche jeweils eine Platte 61 aufweisen, sowie mehrere Platten 61 auf, welche leere Öffnungen abdecken. Die Platten 61 sind lösbar mit dem Gehäuse 20 verbunden. 5 shows a schematic front view of a housing 20 in which the test units 31, 32, 33, the receiving areas 30 and the base unit 10 are arranged. The device comprises several connection elements 60, each of which has a plate 61, as well as several plates 61 which cover empty openings. The plates 61 are detachably connected to the housing 20.

Die Platten 61 liegen dabei an einer Frontseite des Gehäuses 20 verhältnismäßig eng aneinander an. Zwischen den Platten 61 und dem Gehäuse 20 ist jeweils eine Flächendichtung vorgesehen. Das Gehäuse 20 hat, je nach Ausführung der Platten 61 und der Flächendichtung, beispielsweise eine Schutzklasse zwischen IP30 und IP54. Insbesondere ist das Innere des Gehäuses 20 berührungssicher ausgeführt.The plates 61 lie relatively close to one another on a front side of the housing 20. A surface seal is provided between the plates 61 and the housing 20. Depending on the design of the plates 61 and the surface seal, the housing 20 has, for example, a protection class between IP30 and IP54. In particular, the interior of the housing 20 is designed to be touch-safe.

6 zeigt eine schematische Darstellung eines Anschlusselements 60 gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel. Das Anschlusselement 60 weist eine Platte 61 und mehrere Magnete 65 auf. Mittels der Magnete 65 ist die Platte 61 magnetisch an dem Gehäuse 20 gehalten. Alternativ zu den Magneten 65 ist auch ein Schnappverschluss zum Halten der Platte 61 an dem Gehäuse 20 denkbar. Das Anschlusselement 60 weist ein Kabel 63 und einen internen Stecker 64 auf. Der interne Stecker 64 ist mit einem Konnektor 58 einer der Prüfeinheiten 31, 32, 33 verbunden. 6 shows a schematic representation of a connection element 60 according to a first embodiment. The connection element 60 has a plate 61 and several magnets 65. The plate 61 is held magnetically to the housing 20 by means of the magnets 65. As an alternative to the magnets 65, a snap lock for holding the plate 61 to the housing 20 is also conceivable. The connection element 60 has a cable 63 and an internal plug 64. The internal plug 64 is connected to a connector 58 of one of the test units 31, 32, 33.

Das Anschlusselement 60 weist auch einen externer Stecker 62 auf. Der interne Stecker 64 und der externe Stecker 62 sind mittels des Kabels 63 miteinander verbunden. Der interne Stecker 64 befindet sich innerhalb des Gehäuses 20. Der externe Stecker 62 befindet sich außerhalb des Gehäuses 20 und dient zum Anschluss des Prüflings. Der externe Stecker 62 ist an der Platte 61 befestigt.The connection element 60 also has an external connector 62. The internal connector 64 and the external connector 62 are connected to one another by means of the cable 63. The internal connector 64 is located inside the housing 20. The external connector 62 is located outside the housing 20 and is used to connect the test object. The external connector 62 is attached to the plate 61.

7 zeigt eine schematische Darstellung eines Anschlusselements 60 gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel. Das Anschlusselement 60 weist eine Platte 61 und mehrere Magnete 65 auf. Mittels der Magnete 65 ist die Platte 61 magnetisch an dem Gehäuse 20 gehalten. Alternativ zu den Magneten 65 ist auch ein Schnappverschluss zum Halten der Platte 61 an dem Gehäuse 20 denkbar. Das Anschlusselement 60 weist ein Kabel 63 und einen internen Stecker 64 auf. Der interne Stecker 64 ist mit einem Konnektor 58 einer der Prüfeinheiten 31, 32, 33 verbunden. 7 shows a schematic representation of a connection element 60 according to a second embodiment. The connection element 60 has a plate 61 and several magnets 65. The plate 61 is held magnetically to the housing 20 by means of the magnets 65. As an alternative to the magnets 65, a snap lock for holding the plate 61 to the housing 20 is also conceivable. The connection element 60 has a cable 63 and an internal plug 64. The internal plug 64 is connected to a connector 58 of one of the test units 31, 32, 33.

Das Anschlusselement 60 weist auch einen externer Stecker 62 auf. Der interne Stecker 64 und der externe Stecker 62 sind mittels des Kabels 63 miteinander verbunden. Der interne Stecker 64 befindet sich innerhalb des Gehäuses 20. Der externe Stecker 62 befindet sich außerhalb des Gehäuses 20 und dient zum Anschluss des Prüflings. Das Kabel 63 durchragt die Platte 61. Der externe Stecker 62 befindet sich entfernt von der Platte 61.The connection element 60 also has an external plug 62. The internal plug 64 and the external plug 62 are connected to one another by means of the cable 63. The internal plug 64 is located inside the housing 20. The external plug 62 is located outside the housing 20 and is used to connect the test object. The cable 63 extends through the plate 61. The external plug 62 is located away from the plate 61.

BezugszeichenlisteList of reference symbols

1010: BasiseinheitBase unit
1212: DatenverarbeitungseinheitData processing unit
1414: NetzwerkschnittstelleNetwork interface
1616: GPS-EmpfängerGPS receiver
1818: KartenleserCard reader
2020: GehäuseHousing
3030: AufnahmebereichRecording area
3131: erste Prüfeinheitfirst test unit
3232: zweite Prüfeinheitsecond test unit
3333: dritte Prüfeinheitthird test unit
4141: erstes Bussystemfirst bus system
4242: zweites Bussystemsecond bus system
4545: erste Spannungsquellefirst voltage source
4646: zweite Spannungsquellesecond voltage source
5151: erste Busschnittstellefirst bus interface
5252: zweite Busschnittstellesecond bus interface
5555: erster Spannungseingangfirst voltage input
5656: zweiter Spannungseingangsecond voltage input
5858: KonnektorConnector
6060: AnschlusselementConnection element
6161: Platteplate
6262: externer Steckerexternal connector
6363: KabelCable
6464: interner Steckerinternal connector
6565: Magnetmagnet
8181: digitales I/O-Moduldigital I/O module
8282: ZählermodulCounter module
8383: analoges I/O-Modulanalog I/O module
8484: SignalkonverterSignal converter
8585: SpannungsmessumformerVoltage transducer
8686: kapazitive Lastcapacitive load
8787: resistive Lastresistive load
8888: SchützSchütz
8989: TiefsetzstellerBuck converter
9090: LeistungsmessmodulPower measurement module
9191: SSI-ModulSSI module

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDED IN THE DESCRIPTION

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Zitierte PatentliteraturCited patent literature

CN115389831A [0003]
CN112822905A [0003]
US 20190033373 A1 [0003]
CN 205982552 U [0003]
KR 101915458 B1 [0003]

Claims

Device for testing test objects, in particular electronic modules, comprising a base unit (10) which has a digital data processing unit (12), a plurality of test units (31, 32, 33) which have electronic circuits for interaction with test objects to be tested, a plurality of connection elements (60) to which the test objects to be tested can be electrically connected, and a housing (20) in which the test units (31, 32, 33) and the base unit (10) are arranged, wherein the data processing unit (12) communicates with the test units (31, 32, 33) via at least one bus system (41, 42), and a plurality of receiving areas (30) for receiving one test unit (31, 32, 33) each are provided within the housing (20), and each of the test units (31, 32, 33) is electrically connected to at least one of the connection elements (60).

Device according to Claim 1 , characterized in that the device has a plurality of different bus systems (41, 42), and that the data processing unit (12) has a plurality of bus interfaces (51, 52) connected to the bus systems (41, 42) for communication via the bus systems (41, 42), and that each of the test units (31, 32, 33) has at least one bus interface (51, 52) connected to one of the bus systems (41, 42) for communication via the bus system (41, 42).

Device according to one of the preceding claims, characterized in that the base unit (10) comprises a network interface (14) for data transmission via a network, which is connected to the data processing unit (12).

Device according to one of the preceding claims, characterized in that the base unit (10) comprises a GPS receiver (16) which is connected to the data processing unit (12).

Device according to one of the preceding claims, characterized in that the base unit (10) comprises a card reader (18) which is connected to the data processing unit (12).

Device according to one of the preceding claims, characterized in that the base unit (10) comprises a plurality of voltage sources (45, 46) which supply mutually different voltages, and that each of the test units (31, 32, 33) is electrically connected to at least one of the voltage sources (45, 46).

Device according to one of the preceding claims, characterized in that the data processing unit (12) comprises a control unit for controlling the testing units (31, 32, 33).

Device according to one of the preceding claims, characterized in that the data processing unit (12) comprises an evaluation unit for evaluating measurement results recorded by the test units (31, 32, 33).

Device according to one of the preceding claims, characterized in that the receiving areas (30) are designed as plug-in locations, and that each of the test units (31, 32, 33) has a plug connector which is plugged into one of the receiving areas (30).

Device according to Claim 9 , characterized in that the receiving areas (30) are electrically connected to the base unit (10), and that each of the test units (31, 32, 33) is electrically connected to the base unit (10) via the connector and the receiving area (30) into which the connector is plugged.

Device according to one of the preceding claims, characterized in that each of the connection elements (60) has a plate (61) which is detachably connected to the housing (20) and an external plug (62) for connecting a test object.

Device according to Claim 11 , characterized in that at least one of the plates (61) of the connection elements (60) is magnetically held on the housing (20).

Device according to Claim 11 , characterized in that at least one of the plates (61) of the connection elements (60) is held on the housing (20) by means of a snap closure.