JP2003247809A - 距離情報入力装置 - Google Patents
距離情報入力装置Info
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
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- G01S7/483—Details of pulse systems
- G01S7/486—Receivers
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、クロストークの低減された高精度な
距離情報を取得可能にする距離情報入力装置を提供す
る。 【解決手段】本発明の一態様によると、輝度変調光源に
よって輝度変調された光が照射された前記対象物からの
反射光を受光し、光電変換を行うと共に、前記輝度変調
光源と同期して感度変調可能な受光素子を備えた距離情
報入力装置において、前記受光素子は、光電変換部と、
二つの電荷蓄積部と、二つの電荷振り分けゲートと、二
つの電荷検出部と、二つの電荷転送部とを有し、前記受
光素子のリセット動作と前記電荷蓄積部に蓄積された電
荷を読み出す読み出し動作との間に、前記電荷振り分け
ゲートをオフして前記電荷蓄積部のポテンシャルを上げ
ることによって飽和電荷量以上の余剰電子を排出する動
作を少なくとも一回行なうことを特徴とする距離情報入
力装置が提供される。
距離情報を取得可能にする距離情報入力装置を提供す
る。 【解決手段】本発明の一態様によると、輝度変調光源に
よって輝度変調された光が照射された前記対象物からの
反射光を受光し、光電変換を行うと共に、前記輝度変調
光源と同期して感度変調可能な受光素子を備えた距離情
報入力装置において、前記受光素子は、光電変換部と、
二つの電荷蓄積部と、二つの電荷振り分けゲートと、二
つの電荷検出部と、二つの電荷転送部とを有し、前記受
光素子のリセット動作と前記電荷蓄積部に蓄積された電
荷を読み出す読み出し動作との間に、前記電荷振り分け
ゲートをオフして前記電荷蓄積部のポテンシャルを上げ
ることによって飽和電荷量以上の余剰電子を排出する動
作を少なくとも一回行なうことを特徴とする距離情報入
力装置が提供される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、対象物に向けて光
を照射し、その反射光を受光することにより対象物まで
の距離を検出する距離情報入力装置に関わり、対象物の
距離情報を画像としてリアルタイムに取り込む距離情報
入力装置に関する。
を照射し、その反射光を受光することにより対象物まで
の距離を検出する距離情報入力装置に関わり、対象物の
距離情報を画像としてリアルタイムに取り込む距離情報
入力装置に関する。
【0002】
【従来の技術】周知のように、対象物までの距離を検出
する測距方法の一つに光の空間伝搬時間計測(Time
of Flight法;TOF法)がある。
する測距方法の一つに光の空間伝搬時間計測(Time
of Flight法;TOF法)がある。
【0003】このTOF法に基づいて、対象物の距離情
報を2次元的に表現するには、輝度変調したスポット光
を2次元的に走査して1つの感度変調素子で受光する
か、あるいは輝度変調光をエリア照明して一括して感度
変調素子アレイで受光するといった方法がとられる。
報を2次元的に表現するには、輝度変調したスポット光
を2次元的に走査して1つの感度変調素子で受光する
か、あるいは輝度変調光をエリア照明して一括して感度
変調素子アレイで受光するといった方法がとられる。
【0004】以下、輝度変調光源と感度変調素子を用い
てリアルタイムに距離情報(対象物の奥行きに関する情
報を2次元的に並べたもの)を取得する方法について、
R.Miyagawaらによる発表(1995 IEE
E Workshop onCharge−Coupl
ed Devices and AdvancedIm
age Sensors,April20−22;”I
ntegration−Time Based Com
putational Image Sensor
s”)を例にとって説明する。
てリアルタイムに距離情報(対象物の奥行きに関する情
報を2次元的に並べたもの)を取得する方法について、
R.Miyagawaらによる発表(1995 IEE
E Workshop onCharge−Coupl
ed Devices and AdvancedIm
age Sensors,April20−22;”I
ntegration−Time Based Com
putational Image Sensor
s”)を例にとって説明する。
【0005】図8の(a),(b)は、上記したR.M
iyagawaらが用いた感度変調素子の受光部につい
て、1画素分の断面構造(a)とポテンシャルダイアグ
ラム(b)を示したものである。
iyagawaらが用いた感度変調素子の受光部につい
て、1画素分の断面構造(a)とポテンシャルダイアグ
ラム(b)を示したものである。
【0006】入射光が遮光層808の開口部から感度変
調素子の光電変換部805に入射すると、この光電変換
部805で入射光の光量に応じた光生成電子が発生す
る。
調素子の光電変換部805に入射すると、この光電変換
部805で入射光の光量に応じた光生成電子が発生す
る。
【0007】ここで、光電変換部805は、MOSフォ
トゲート800の下に形成されている。
トゲート800の下に形成されている。
【0008】そして、この光電変換部805で生成され
た電子は、電荷振り分けゲート801及び802を介し
て、それぞれ電荷蓄積ゲート803下の電荷蓄積部80
6及び電荷蓄積ゲート804下の電荷蓄積部807に転
送されるように構成されている。
た電子は、電荷振り分けゲート801及び802を介し
て、それぞれ電荷蓄積ゲート803下の電荷蓄積部80
6及び電荷蓄積ゲート804下の電荷蓄積部807に転
送されるように構成されている。
【0009】このとき、電荷蓄積ゲート803及び80
4には、フォトゲート800よりも高い電圧が印加さ
れ、かつ電荷振り分けゲート801及び802には、相
補的、すなわち電荷振り分けゲート801に転送パルス
を印加するときには電荷振り分けゲート802がオフす
るような、逆に電荷振り分けゲート802に転送パルス
を印加するときには電荷振り分けゲート802がオフす
るようなパルスが入力される。
4には、フォトゲート800よりも高い電圧が印加さ
れ、かつ電荷振り分けゲート801及び802には、相
補的、すなわち電荷振り分けゲート801に転送パルス
を印加するときには電荷振り分けゲート802がオフす
るような、逆に電荷振り分けゲート802に転送パルス
を印加するときには電荷振り分けゲート802がオフす
るようなパルスが入力される。
【0010】このように駆動することにより、入射光の
光量に応じて光電変換部800で発生した電子を時間的
に選択し、振り分けながら電荷蓄積部806及び807
に蓄積することができる。
光量に応じて光電変換部800で発生した電子を時間的
に選択し、振り分けながら電荷蓄積部806及び807
に蓄積することができる。
【0011】そして、電荷蓄積部806及び807に蓄
積された電荷は、それぞれ読みだしゲート808及び8
09を介して増幅器(AMP1及び2)からOut1及
び2として出力される。
積された電荷は、それぞれ読みだしゲート808及び8
09を介して増幅器(AMP1及び2)からOut1及
び2として出力される。
【0012】次に、図9により、上記感度変調素子を用
いた測距原理について説明する。
いた測距原理について説明する。
【0013】図9は、送光時の輝度変調光と受光時の対
象物からの反射光の光強度、電荷振り分けゲート801
及び802の印加電圧、受光部805で生成される信号
電荷量及び電荷蓄積部806、807の電荷蓄積量の時
間変化を表している。
象物からの反射光の光強度、電荷振り分けゲート801
及び802の印加電圧、受光部805で生成される信号
電荷量及び電荷蓄積部806、807の電荷蓄積量の時
間変化を表している。
【0014】ここで、パルス変調された輝度変調光は、
一方の電荷振り分けゲート801に印加される電圧とは
同位相であり、他方の電荷振り分けゲート802に印加
される電圧とは180度位相がずれている。
一方の電荷振り分けゲート801に印加される電圧とは
同位相であり、他方の電荷振り分けゲート802に印加
される電圧とは180度位相がずれている。
【0015】また、反射光は、送光時の輝度変調光に対
して、対象物までの距離Rを往復するのにかかる時間△
tだけ位相が遅れている。
して、対象物までの距離Rを往復するのにかかる時間△
tだけ位相が遅れている。
【0016】この反射光が、受光部805に達すると、
その光強度に比例した量の電荷Qが生成される。
その光強度に比例した量の電荷Qが生成される。
【0017】この電荷Qは、電荷振り分けゲート801
及び802のオン/オフに対応して、それぞれの位相と
揃った成分ごとに電荷振り分けゲート801及び802
を介し、電荷蓄積部806及び807にそれぞれ振り分
けられ、電荷Q1、電荷Q2が蓄積される。
及び802のオン/オフに対応して、それぞれの位相と
揃った成分ごとに電荷振り分けゲート801及び802
を介し、電荷蓄積部806及び807にそれぞれ振り分
けられ、電荷Q1、電荷Q2が蓄積される。
【0018】このとき対象物までの距離Rは、光速c、
変調パルス幅Tとすると、 R=c・△t/2 =(cT/2)・{Q2/(Q1+Q2)} =(cT/4)・[1−{(Q1−Q2)/(Q1+Q2)}]…(1) と表される。
変調パルス幅Tとすると、 R=c・△t/2 =(cT/2)・{Q2/(Q1+Q2)} =(cT/4)・[1−{(Q1−Q2)/(Q1+Q2)}]…(1) と表される。
【0019】したがって、電荷蓄積部806及び807
の電荷を各々検出し、式(1)に基づいて処理すること
により、対象物までの距離を検出することが可能とな
る。
の電荷を各々検出し、式(1)に基づいて処理すること
により、対象物までの距離を検出することが可能とな
る。
【0020】このように、TOF法に基づく測距におい
て、電荷振り分けゲート801及びゲート802のオン
/オフにより、電荷を振り分けるタイプの感度変調画素
(以下、電荷振り分け方式画素)を用いると、対象物ま
での距離は振り分けられた電荷Q1とQ2の比から求め
られるので、一度の検出で距離情報を得ることができ
る。
て、電荷振り分けゲート801及びゲート802のオン
/オフにより、電荷を振り分けるタイプの感度変調画素
(以下、電荷振り分け方式画素)を用いると、対象物ま
での距離は振り分けられた電荷Q1とQ2の比から求め
られるので、一度の検出で距離情報を得ることができ
る。
【0021】また、電荷振り分け方式は、対象物までの
距離Rが電荷蓄積部806及び807に蓄えられた電荷
量の比Q1とQ2により定められるから、入射光の強度
に影響されにくいという利点がある。
距離Rが電荷蓄積部806及び807に蓄えられた電荷
量の比Q1とQ2により定められるから、入射光の強度
に影響されにくいという利点がある。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】上記の電荷振り分け方
式において、飽和光量を超える入射光や外光成分の増大
などにより、電荷蓄積部から溢れだした余剰電子が引き
起こすクロストークについて、図10を用いて説明す
る。
式において、飽和光量を超える入射光や外光成分の増大
などにより、電荷蓄積部から溢れだした余剰電子が引き
起こすクロストークについて、図10を用いて説明す
る。
【0023】図10の(a),(b)は、1画素分の断
面構造に対応したポテンシャルダイヤグラムを示してい
る。
面構造に対応したポテンシャルダイヤグラムを示してい
る。
【0024】まず、図10の(a)に示すように、電荷
蓄積部1003に過剰に溜まった状態から電荷振り分け
のためにゲートの印加電圧をオンすると、余剰電子が電
荷振り分けゲート1001へと溢れる。
蓄積部1003に過剰に溜まった状態から電荷振り分け
のためにゲートの印加電圧をオンすると、余剰電子が電
荷振り分けゲート1001へと溢れる。
【0025】さらに、図10の(b)に示すように、電
荷振り分けゲート1001に溢れた電子は、電荷振り分
けゲート1001がオフするのに合わせてフォトゲート
1000へと流れ込む。
荷振り分けゲート1001に溢れた電子は、電荷振り分
けゲート1001がオフするのに合わせてフォトゲート
1000へと流れ込む。
【0026】このフォトゲート1000へと送られた電
子は、電荷振り分け動作により入射光によりフォトゲー
トの下に生成された光生成電子とともに、反対側の電荷
振り分けゲート1002を介して反対側の電荷蓄積部1
004へと送られる。
子は、電荷振り分け動作により入射光によりフォトゲー
トの下に生成された光生成電子とともに、反対側の電荷
振り分けゲート1002を介して反対側の電荷蓄積部1
004へと送られる。
【0027】この結果、一旦、電荷蓄積部1003に振
り分けられた電子が反対側の蓄積部1004へと混入し
てしまうことになり、いわゆる、クロストークが起こ
る。
り分けられた電子が反対側の蓄積部1004へと混入し
てしまうことになり、いわゆる、クロストークが起こ
る。
【0028】このクロストークは、信号のS/Nの低下
あるいは測定誤差の増大を招く原因につながる。
あるいは測定誤差の増大を招く原因につながる。
【0029】ここに、上記電荷振り分け方式による問題
がある。
がある。
【0030】本発明は、この点に着目し、クロストーク
の低減された高精度な距離情報を取得可能にする距離情
報入力装置を提供することを目的とする。
の低減された高精度な距離情報を取得可能にする距離情
報入力装置を提供することを目的とする。
【0031】
【課題を解決するための手段】まず、本発明の電荷振り
分け方式におけるクロストークの軽減方法の考え方を図
11にて説明する。
分け方式におけるクロストークの軽減方法の考え方を図
11にて説明する。
【0032】図11の(a),(b)は、1画素分の断
面構造に対応したポテンシャルダイヤグラムを示してい
る。
面構造に対応したポテンシャルダイヤグラムを示してい
る。
【0033】すなわち、本発明による電荷振り分け方式
においては、図11の(a)に示すように電荷振り分け
ゲート1101及び1102のオンオフを繰り返すこと
により電荷を振り分けながら蓄積する合間に、図11の
(b)に示すように、間欠的に蓄積動作を休止して両方
の電荷振り分けゲート1101及び1102をオフして
電荷蓄積部1103及び1104の電位を上げることに
より、電子がフォトゲート1100へ逆流するのを防止
する。
においては、図11の(a)に示すように電荷振り分け
ゲート1101及び1102のオンオフを繰り返すこと
により電荷を振り分けながら蓄積する合間に、図11の
(b)に示すように、間欠的に蓄積動作を休止して両方
の電荷振り分けゲート1101及び1102をオフして
電荷蓄積部1103及び1104の電位を上げることに
より、電子がフォトゲート1100へ逆流するのを防止
する。
【0034】また、本発明による電荷振り分け方式にお
いては、上述と同時に、電荷蓄積部1103及び110
4の電位を上げるのに合わせて信号転送ゲート1105
及び1106の電位を下げて、余剰電子を画素ドレイン
電極1107及び1108にオーバーフローさせる。
いては、上述と同時に、電荷蓄積部1103及び110
4の電位を上げるのに合わせて信号転送ゲート1105
及び1106の電位を下げて、余剰電子を画素ドレイン
電極1107及び1108にオーバーフローさせる。
【0035】このオーバーフロー動作を電荷振り分け蓄
積期間中に間欠的に設けることにより、電荷振り分け時
にフォトゲート1100へ電子が逆流するのを防止す
る。
積期間中に間欠的に設けることにより、電荷振り分け時
にフォトゲート1100へ電子が逆流するのを防止す
る。
【0036】このとき、信号転送ゲート1105及び1
106と電荷蓄積部1103及び1104のそれぞれの
電位差は、信号の飽和電荷量を決定する。
106と電荷蓄積部1103及び1104のそれぞれの
電位差は、信号の飽和電荷量を決定する。
【0037】この方法により、本発明による電荷振り分
け方式では、余剰電子が原因で引き起こされるクロスト
ークを防止することができる。
け方式では、余剰電子が原因で引き起こされるクロスト
ークを防止することができる。
【0038】本発明によると、上記課題を解決するため
に、(1) 対象物に輝度変調した光を照射する輝度変
調光源、前記輝度変調光源によって輝度変調された光が
照射された前記対象物からの反射光を受光し、光電変換
を行うと共に、前記輝度変調光源と同期して感度変調可
能な受光素子を備えた距離情報入力装置において、前記
受光素子は、前記対象物からの反射光を電荷に変換する
光電変換部と、前記光電変換部で変換された電荷を蓄積
記憶する二つの電荷蓄積部と、前記光電変換部と前記電
荷蓄積部との間に設けられ、前記光電変換部で変換され
た電荷を前記輝度変調光源と同期して前記二つの電荷蓄
積部に振り分ける二つの電荷振り分けゲートと、前記電
荷蓄積部に蓄積された電荷を検出する二つの電荷検出部
と、前記電荷蓄積部と前記電荷検出部との間に設けられ
るとともに、二つの信号振り分けゲートで構成され、前
記電荷蓄積部に蓄積された電荷を前記電荷蓄積部から前
記電荷検出部に転送する二つの電荷転送部と、を有し、
前記受光素子のリセット動作と前記電荷蓄積部に蓄積さ
れた電荷を読み出す読み出し動作との間に、前記電荷振
り分けゲートをオフして前記電荷蓄積部のポテンシャル
を上げることによって飽和電荷量以上の余剰電子を排出
する動作を少なくとも一回行なうことを特徴とする距離
情報入力装置が提供される。
に、(1) 対象物に輝度変調した光を照射する輝度変
調光源、前記輝度変調光源によって輝度変調された光が
照射された前記対象物からの反射光を受光し、光電変換
を行うと共に、前記輝度変調光源と同期して感度変調可
能な受光素子を備えた距離情報入力装置において、前記
受光素子は、前記対象物からの反射光を電荷に変換する
光電変換部と、前記光電変換部で変換された電荷を蓄積
記憶する二つの電荷蓄積部と、前記光電変換部と前記電
荷蓄積部との間に設けられ、前記光電変換部で変換され
た電荷を前記輝度変調光源と同期して前記二つの電荷蓄
積部に振り分ける二つの電荷振り分けゲートと、前記電
荷蓄積部に蓄積された電荷を検出する二つの電荷検出部
と、前記電荷蓄積部と前記電荷検出部との間に設けられ
るとともに、二つの信号振り分けゲートで構成され、前
記電荷蓄積部に蓄積された電荷を前記電荷蓄積部から前
記電荷検出部に転送する二つの電荷転送部と、を有し、
前記受光素子のリセット動作と前記電荷蓄積部に蓄積さ
れた電荷を読み出す読み出し動作との間に、前記電荷振
り分けゲートをオフして前記電荷蓄積部のポテンシャル
を上げることによって飽和電荷量以上の余剰電子を排出
する動作を少なくとも一回行なうことを特徴とする距離
情報入力装置が提供される。
【0039】(対応する発明の実施の形態)この本発明
に関する実施の形態は、後述する第1の実施の形態が対
応する。
に関する実施の形態は、後述する第1の実施の形態が対
応する。
【0040】(作用)本発明による電荷振り分け方式で
は、受光素子のリセット動作と前記電荷蓄積部に蓄積さ
れた電荷を読み出す読み出し動作との間に、前記電荷振
り分けゲートをオフして前記電荷蓄積部のポテンシャル
を上げることによって飽和電荷量以上の余剰電子を排出
する動作を少なくとも一回行なうことを特徴とする。
は、受光素子のリセット動作と前記電荷蓄積部に蓄積さ
れた電荷を読み出す読み出し動作との間に、前記電荷振
り分けゲートをオフして前記電荷蓄積部のポテンシャル
を上げることによって飽和電荷量以上の余剰電子を排出
する動作を少なくとも一回行なうことを特徴とする。
【0041】本発明によれば、余剰電子が引き起こすク
ロストークの問題を防止しながら、高精度な距離情報を
取得することが可能になる。
ロストークの問題を防止しながら、高精度な距離情報を
取得することが可能になる。
【0042】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(2) 前記電荷振り分けゲートがオフされ
るのと同期して、前記電荷転送部のポテンシャルを下げ
ることを特徴とする(1)に記載の距離情報入力装置が
提供される。
るために、(2) 前記電荷振り分けゲートがオフされ
るのと同期して、前記電荷転送部のポテンシャルを下げ
ることを特徴とする(1)に記載の距離情報入力装置が
提供される。
【0043】(対応する発明の実施の形態)この本発明
に関する実施の形態は、後述する第1の実施の形態が対
応する。
に関する実施の形態は、後述する第1の実施の形態が対
応する。
【0044】(作用)本発明による電荷振り分け方式で
は、前記電荷振り分けゲートがオフされるのと同期し
て、前記電荷転送部のポテンシャルを下げることを特徴
とする。
は、前記電荷振り分けゲートがオフされるのと同期し
て、前記電荷転送部のポテンシャルを下げることを特徴
とする。
【0045】本発明によれば、余剰電子が引き起こすク
ロストークの問題を防止しながら、より高精度な距離情
報を取得することが可能になる。
ロストークの問題を防止しながら、より高精度な距離情
報を取得することが可能になる。
【0046】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(3) 前記光電変換部が一次元または二次
元のアレイ状に配置されていることを特徴とする(1)
に記載の距離情報入力装置が提供される。
るために、(3) 前記光電変換部が一次元または二次
元のアレイ状に配置されていることを特徴とする(1)
に記載の距離情報入力装置が提供される。
【0047】(対応する発明の実施の形態)この本発明
に関する実施の形態は、後述する第2の実施の形態が対
応する。
に関する実施の形態は、後述する第2の実施の形態が対
応する。
【0048】(作用)本発明によれば、クロストークの
低減された高精度な距離情報を画像としてリアルタイム
に取得することが可能になる。
低減された高精度な距離情報を画像としてリアルタイム
に取得することが可能になる。
【0049】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態について説明する。
の形態について説明する。
【0050】(第1の実施の形態)図1を用いて本発明
の第1の実施の形態による距離情報入力装置について説
明する。
の第1の実施の形態による距離情報入力装置について説
明する。
【0051】図1は、本発明の第1の実施の形態による
距離情報入力装置における感度変調素子の1画素分の画
素の構成例を示したものである。
距離情報入力装置における感度変調素子の1画素分の画
素の構成例を示したものである。
【0052】図1に示すように、距離情報入力装置にお
ける感度変調素子としての1画素は、入射光が入射され
る開口部100aを有する遮光層100と、MOSフォ
トゲート部101aと、このMOSフォトゲート部10
1aへの印加電圧入力端子101と、電荷振り分けゲー
ト102a及び103aと、これら電荷振り分けゲート
102a及び103aへの電荷振り分けパルス入力端子
102及び103と、電荷蓄積ゲート104a及び10
4bと、これら電荷蓄積ゲート104a及び104bへ
の制御パルス入力端子104と、信号電荷転送ゲート1
05a及び105bと、これら信号電荷転送ゲート10
5a及び105bへの制御パルス入力端子105と、画
素電極リセットパルス入力端子106と、画素電極リセ
ット電圧入力端子107と、画素ドレイン電圧入力端子
108と、画素選択パルス入力端子109と、画素リセ
ットMOSトランジスタ110及び111と、画素信号
増幅トランジスタ112及び113と、画素選択トラン
ジスタ114及び115、画素信号出力端子116及び
117とで構成されている。
ける感度変調素子としての1画素は、入射光が入射され
る開口部100aを有する遮光層100と、MOSフォ
トゲート部101aと、このMOSフォトゲート部10
1aへの印加電圧入力端子101と、電荷振り分けゲー
ト102a及び103aと、これら電荷振り分けゲート
102a及び103aへの電荷振り分けパルス入力端子
102及び103と、電荷蓄積ゲート104a及び10
4bと、これら電荷蓄積ゲート104a及び104bへ
の制御パルス入力端子104と、信号電荷転送ゲート1
05a及び105bと、これら信号電荷転送ゲート10
5a及び105bへの制御パルス入力端子105と、画
素電極リセットパルス入力端子106と、画素電極リセ
ット電圧入力端子107と、画素ドレイン電圧入力端子
108と、画素選択パルス入力端子109と、画素リセ
ットMOSトランジスタ110及び111と、画素信号
増幅トランジスタ112及び113と、画素選択トラン
ジスタ114及び115、画素信号出力端子116及び
117とで構成されている。
【0053】入射光が遮光層100の開口部100aか
ら感度変調素子を構成する光電変換部120に入射する
と、この光電変換部120で入射光の光量に応じた光生
成電子が発生する。
ら感度変調素子を構成する光電変換部120に入射する
と、この光電変換部120で入射光の光量に応じた光生
成電子が発生する。
【0054】ここで、光電変換部120は、MOSフォ
トゲート部101aと電荷振り分けゲート102a及び
103aの下に形成されている。
トゲート部101aと電荷振り分けゲート102a及び
103aの下に形成されている。
【0055】このように構成された感度変調素子の1画
素を使って実際に感度変調信号を読み出す駆動方法を図
2、図3、図4を用いて説明する。
素を使って実際に感度変調信号を読み出す駆動方法を図
2、図3、図4を用いて説明する。
【0056】なお、図1において、MOSフォトゲート
部101aへの印加電圧入力端子101には、フォトゲ
ート部印加電圧が印加され、画素電極リセット電圧入力
端子107には画素電極リセット電圧が印加され、画素
ドレイン電圧入力端子108には画素ドレイン電圧が印
加されているものとする。
部101aへの印加電圧入力端子101には、フォトゲ
ート部印加電圧が印加され、画素電極リセット電圧入力
端子107には画素電極リセット電圧が印加され、画素
ドレイン電圧入力端子108には画素ドレイン電圧が印
加されているものとする。
【0057】(画素リセット動作)図2を用いて図1の
画素のリセット動作を説明する。
画素のリセット動作を説明する。
【0058】まず、(1)の期間において、画素ドレイ
ン電圧入力端子108を画素電極リセットパルス入力端
子106から印加されたリセット電圧に固定したまま全
ての端子をオンすることにより、MOSフォトゲート部
101aと電荷振り分けゲート102a及び103aの
下の光電変換部120で入射光の光量に応じて発生した
光生成電子による電荷を画素ドレイン電圧入力端子10
8へと排出する。
ン電圧入力端子108を画素電極リセットパルス入力端
子106から印加されたリセット電圧に固定したまま全
ての端子をオンすることにより、MOSフォトゲート部
101aと電荷振り分けゲート102a及び103aの
下の光電変換部120で入射光の光量に応じて発生した
光生成電子による電荷を画素ドレイン電圧入力端子10
8へと排出する。
【0059】次に、(2)の期間において、電荷振り分
けパルス入力端子102及び103の電荷振り分けパル
スをオフすることにより、電荷蓄積ゲート104a及び
104bからMOSフォトゲート部101aヘの電荷逆
流を防止する。
けパルス入力端子102及び103の電荷振り分けパル
スをオフすることにより、電荷蓄積ゲート104a及び
104bからMOSフォトゲート部101aヘの電荷逆
流を防止する。
【0060】次に、(3)の期間において、電荷蓄積ゲ
ート制御パルス入力端子104のパルスをオフすること
により、上記電荷蓄積ゲート104a及び104b下の
電荷を信号電荷転送ゲート105a及び105bと画素
ドレイン電圧入力端子108へ排出する。
ート制御パルス入力端子104のパルスをオフすること
により、上記電荷蓄積ゲート104a及び104b下の
電荷を信号電荷転送ゲート105a及び105bと画素
ドレイン電圧入力端子108へ排出する。
【0061】次に、(4)の期間において、信号電荷転
送ゲート制御パルス入力端子105をオフすることによ
り、信号電荷転送ゲート105a及び105b下の電荷
を画素ドレイン電圧入力端子108へと排出する。
送ゲート制御パルス入力端子105をオフすることによ
り、信号電荷転送ゲート105a及び105b下の電荷
を画素ドレイン電圧入力端子108へと排出する。
【0062】(感度変調動作:電荷振り分けとオーバー
フロー)図3を用いて図1の画素による感度変調動作
(電荷振り分けとオーバーフロー)を説明する。
フロー)図3を用いて図1の画素による感度変調動作
(電荷振り分けとオーバーフロー)を説明する。
【0063】まず、(5)の期間において、電荷振り分
けパルス入力端子102及び103に対して相補的にオ
ンオフするようなパルスを入力することにより、MOS
フォトゲート101a下の光電変換部120で生成され
た光電荷をそれぞれの電荷蓄積ゲート104a及び10
4bに振り分ける。
けパルス入力端子102及び103に対して相補的にオ
ンオフするようなパルスを入力することにより、MOS
フォトゲート101a下の光電変換部120で生成され
た光電荷をそれぞれの電荷蓄積ゲート104a及び10
4bに振り分ける。
【0064】次に、(6)の期間において、電荷蓄積ゲ
ート制御パルス入力端子104の印加電圧を下げること
により、電荷蓄積ゲート104a及び104bに溜まっ
た余剰電子を信号電荷転送ゲート105a及び105b
を介して画素ドレイン電圧入力端子108へとオーバー
フローさせる。
ート制御パルス入力端子104の印加電圧を下げること
により、電荷蓄積ゲート104a及び104bに溜まっ
た余剰電子を信号電荷転送ゲート105a及び105b
を介して画素ドレイン電圧入力端子108へとオーバー
フローさせる。
【0065】この(5)と(6)の期間を交互に繰り返
し行うことにより、クローストークを防止しながら、感
度変調された信号電荷を蓄積することができる。
し行うことにより、クローストークを防止しながら、感
度変調された信号電荷を蓄積することができる。
【0066】(読み出し動作)図4を用いて図1の画素
の読み出し動作を説明する。
の読み出し動作を説明する。
【0067】まず、(7)の期間において、画素選択パ
ルス入力端子109をオンすることにより、信号電荷転
送前のオフセット信号を画素信号出力端子116及び1
17から読み出す。
ルス入力端子109をオンすることにより、信号電荷転
送前のオフセット信号を画素信号出力端子116及び1
17から読み出す。
【0068】次に、(8)の期間において、信号電荷転
送ゲート制御パルス入力端子105をオンすることによ
り、蓄積した電荷をフローティング状態にされた画素ド
レイン電圧入力端子108へ転送する。
送ゲート制御パルス入力端子105をオンすることによ
り、蓄積した電荷をフローティング状態にされた画素ド
レイン電圧入力端子108へ転送する。
【0069】次に、(9)の期間において、信号電荷転
送後の信号レベルを画素信号出力端子116及び117
からそれぞれ読み出し、(7)の期間において読み出し
たオフセットレベルとの差をとることにより、オフセッ
ト成分を除去する。
送後の信号レベルを画素信号出力端子116及び117
からそれぞれ読み出し、(7)の期間において読み出し
たオフセットレベルとの差をとることにより、オフセッ
ト成分を除去する。
【0070】以上の動作をすることにより、感度変調信
号を読み出すことができる。
号を読み出すことができる。
【0071】この感度変調信号から式(1)における電
荷Q1とQ2を算出し、式(1)に代入することにより
距離情報が抽出される。
荷Q1とQ2を算出し、式(1)に代入することにより
距離情報が抽出される。
【0072】本実施の形態によれば、余剰電子が引き起
こすクロストークの問題を防止しながら、高精度な距離
情報を取得することが可能になる。
こすクロストークの問題を防止しながら、高精度な距離
情報を取得することが可能になる。
【0073】(第2の実施の形態)次に、本発明の第2
の実施の形態について、図5、図6、図7、を用いて説
明する。
の実施の形態について、図5、図6、図7、を用いて説
明する。
【0074】図5において、参照符号500は光源部、
参照符号501は輝度変調光源、参照符号505は光源
駆動回路、参照符号502はコリメータレンズ、参照符
号503はスリット光走査用のミラー、参照符号506
はミラー503の向きを制御するミラー駆動回路、参照
符号504はシリンドリカルレンズ、参照符号509は
画素アレイ、参照符号507はTOF法に基づいた測距
を行うための輝度変調信号及び感度変調信号を光源駆動
回路505及び画素駆動回路508にそれぞれ送るとと
もに、スリット光の走査と同期して画素信号を読み出せ
るようにミラー駆動回路506と画素駆動回路508と
に信号を送るコントローラ、参照符号510は撮像光学
系、参照符号511は信号処理回路、参照符号512は
対象物、参照符号513は撮像部を表している。
参照符号501は輝度変調光源、参照符号505は光源
駆動回路、参照符号502はコリメータレンズ、参照符
号503はスリット光走査用のミラー、参照符号506
はミラー503の向きを制御するミラー駆動回路、参照
符号504はシリンドリカルレンズ、参照符号509は
画素アレイ、参照符号507はTOF法に基づいた測距
を行うための輝度変調信号及び感度変調信号を光源駆動
回路505及び画素駆動回路508にそれぞれ送るとと
もに、スリット光の走査と同期して画素信号を読み出せ
るようにミラー駆動回路506と画素駆動回路508と
に信号を送るコントローラ、参照符号510は撮像光学
系、参照符号511は信号処理回路、参照符号512は
対象物、参照符号513は撮像部を表している。
【0075】図6はm行×n列に配列された電荷振り分
け方式の画素アレイ509でXYアドレス型エリアセン
サを構成したときの構成例を表す。
け方式の画素アレイ509でXYアドレス型エリアセン
サを構成したときの構成例を表す。
【0076】受光したスリット光の位置変化と同期し
て、画素駆動回路508により画素アレイ509の行ご
とに、感度変調、リセット、信号読み出しが行われる。
て、画素駆動回路508により画素アレイ509の行ご
とに、感度変調、リセット、信号読み出しが行われる。
【0077】画素アレイ509からの画素出力信号は、
信号処理回路511でオフセット除去などの前処理後
に、画素駆動回路508で水平走査されることによって
時系列信号に変換され、この後、距離画像化される。
信号処理回路511でオフセット除去などの前処理後
に、画素駆動回路508で水平走査されることによって
時系列信号に変換され、この後、距離画像化される。
【0078】図7は、図6の画素アレイ509の各行に
おける感度変調期間及び輝度変調光照射期間、画素信号
のリセット及び読み出しのタイミング、水平走査期間を
表している。
おける感度変調期間及び輝度変調光照射期間、画素信号
のリセット及び読み出しのタイミング、水平走査期間を
表している。
【0079】ここで、感度変調期間とは、感度変調信号
が図6の画素駆動回路508から出力される期間を表し
ている。
が図6の画素駆動回路508から出力される期間を表し
ている。
【0080】また、輝度変調光照射期間とは、輝度変調
光が図6の光源501から出射される期間を表してい
る。
光が図6の光源501から出射される期間を表してい
る。
【0081】そして、感度変調期間と、輝度変調光照射
期間との、それぞれの期間中に感度変調及び輝度変調が
なされている。
期間との、それぞれの期間中に感度変調及び輝度変調が
なされている。
【0082】なお、この感度変調期間は、前述した第1
の実施の形態で示した電荷振り分け蓄積と余剰電子のオ
ーバーフローの繰り返しにより構成されている。
の実施の形態で示した電荷振り分け蓄積と余剰電子のオ
ーバーフローの繰り返しにより構成されている。
【0083】また、水平走査期間とは、水平走査信号φ
H1,φH2,…,φHnが図6の画素駆動回路508
(水平走査回路)から順次出力される期間を表し、この
期間中に図6の画素アレイ509の1行分の画素出力信
号が時系列信号として変換される。
H1,φH2,…,φHnが図6の画素駆動回路508
(水平走査回路)から順次出力される期間を表し、この
期間中に図6の画素アレイ509の1行分の画素出力信
号が時系列信号として変換される。
【0084】そして、感度変調期間及び輝度変調光照射
期間、画素信号のリセット及び読み出しのタイミング
は、スリット光の走査に同期してシフトするとともに、
感度変調期間及び輝度変調光照射期間はどの行において
も画素信号のリセット及び読み出しのタイミングと重な
らないようになっている。
期間、画素信号のリセット及び読み出しのタイミング
は、スリット光の走査に同期してシフトするとともに、
感度変調期間及び輝度変調光照射期間はどの行において
も画素信号のリセット及び読み出しのタイミングと重な
らないようになっている。
【0085】このような装置構成により、対象物をスリ
ット光で走査しながら、TOF法に基づく距離画像生成
が可能になる。
ット光で走査しながら、TOF法に基づく距離画像生成
が可能になる。
【0086】本実施の形態の特徴は、電荷振り分け方式
画素をXYアドレス型エリアセンサに適用し、本発明の
距離情報入力装置におけるクロストーク低減のための駆
動方法を用いることにより、一度の検出でクロストーク
の軽減された距離(画像)情報を生成することができ、
かつスリット光を用いることによって1画素あたりの蓄
積時間が短くなるので外光の影響が少なくなるととも
に、上述の画素駆動タイミングを用いることにより、消
費電力を抑え、リアルタイムに高精度な距離画像の取得
が小型の装置で行えるところにある。
画素をXYアドレス型エリアセンサに適用し、本発明の
距離情報入力装置におけるクロストーク低減のための駆
動方法を用いることにより、一度の検出でクロストーク
の軽減された距離(画像)情報を生成することができ、
かつスリット光を用いることによって1画素あたりの蓄
積時間が短くなるので外光の影響が少なくなるととも
に、上述の画素駆動タイミングを用いることにより、消
費電力を抑え、リアルタイムに高精度な距離画像の取得
が小型の装置で行えるところにある。
【0087】
【発明の効果】従って、以上説明したように、本発明に
よれば、クロストークの低減された高精度な距離情報を
取得可能にする距離情報入力装置を提供することができ
る。
よれば、クロストークの低減された高精度な距離情報を
取得可能にする距離情報入力装置を提供することができ
る。
【図1】図1は、本発明の第1の実施の形態による距離
情報入力装置における感度変調素子の1画素分の画素の
構成例を示す図である。
情報入力装置における感度変調素子の1画素分の画素の
構成例を示す図である。
【図2】図2は、図1の画素のリセット動作を説明する
ために示す図である。
ために示す図である。
【図3】図3は、図1の画素による感度変調動作(電荷
振り分けとオーバーフロー)を説明するために示す図で
ある。
振り分けとオーバーフロー)を説明するために示す図で
ある。
【図4】図4は、図1の画素の読み出し動作を説明する
ために示す図である。
ために示す図である。
【図5】図5は、本発明の第2の実施の形態による距離
情報入力装置の構成例を示す図である。
情報入力装置の構成例を示す図である。
【図6】図6は、本発明の第2の実施の形態による距離
情報入力装置において、m行×n列に配列された電荷振
り分け方式の画素アレイ509でXYアドレス型エリア
センサを構成したときの構成例を示す図である。
情報入力装置において、m行×n列に配列された電荷振
り分け方式の画素アレイ509でXYアドレス型エリア
センサを構成したときの構成例を示す図である。
【図7】図7は、図6の画素アレイ509の各行におけ
る感度変調期間及び輝度変調光照射期間、画素信号のリ
セット及び読み出しのタイミング、水平走査期間を示す
図である。
る感度変調期間及び輝度変調光照射期間、画素信号のリ
セット及び読み出しのタイミング、水平走査期間を示す
図である。
【図8】図8の(a),(b)は、R.Miyagaw
aらが用いた感度変調素子の受光部について、1画素分
の断面構造(a)とポテンシャルダイアグラム(b)を
示す図である。
aらが用いた感度変調素子の受光部について、1画素分
の断面構造(a)とポテンシャルダイアグラム(b)を
示す図である。
【図9】図9は、図8の(a)に示すような受光部を有
する感度変調素子を用いた測距原理を説明するために、
送光時の輝度変調光と受光時の対象物からの反射光の光
強度、電荷振り分けゲート801及び802の印加電
圧、受光部805で生成される信号電荷量及び電荷蓄積
部806、807の電荷蓄積量の時間変化を示す図であ
る。
する感度変調素子を用いた測距原理を説明するために、
送光時の輝度変調光と受光時の対象物からの反射光の光
強度、電荷振り分けゲート801及び802の印加電
圧、受光部805で生成される信号電荷量及び電荷蓄積
部806、807の電荷蓄積量の時間変化を示す図であ
る。
【図10】図10の(a),(b)は、図8の(a)に
示すような受光部を有する感度変調素子による電荷振り
分け方式において、飽和光量を超える入射光や外光成分
の増大などにより、電荷蓄積部から溢れだした余剰電子
が引き起こすクロストークを説明するために、1画素分
の断面構造に対応したポテンシャルダイヤグラムを示す
図である。
示すような受光部を有する感度変調素子による電荷振り
分け方式において、飽和光量を超える入射光や外光成分
の増大などにより、電荷蓄積部から溢れだした余剰電子
が引き起こすクロストークを説明するために、1画素分
の断面構造に対応したポテンシャルダイヤグラムを示す
図である。
【図11】図11の(a),(b)は、本発明の電荷振
り分け方式におけるクロストークの軽減方法の考え方を
説明するために、1画素分の断面構造に対応したポテン
シャルダイヤグラムを示す図である。
り分け方式におけるクロストークの軽減方法の考え方を
説明するために、1画素分の断面構造に対応したポテン
シャルダイヤグラムを示す図である。
100a…開口部、
100…遮光層、
101a…MOSフォトゲート部、
101…MOSフォトゲート部への印加電圧入力端子、
102a,103a…電荷振り分けゲート、
102…電荷振り分けゲート102aへの電荷振り分け
パルス入力端子、 103…電荷振り分けゲート103aへの電荷振り分け
パルス入力端子、 104a,104b…電荷蓄積ゲート、 104…電荷蓄積ゲート104a,104bへの制御パ
ルス入力端子、 105a,105b…信号電荷転送ゲート、 105…信号電荷転送ゲート105a,105bへの制
御パルス入力端子、 106…画素電極リセットパルス入力端子、 107…画素電極リセット電圧入力端子、 108…画素ドレイン電圧入力端子、 109…画素選択パルス入力端子、 110,111…画素リセットMOSトランジスタ、 112,113…画素信号増幅トランジスタ、 114,115…画素選択トランジスタ、 116,117…画素信号出力端子、 120…光電変換部、 500…光源部、 501…輝度変調光源、 505…光源駆動回路、 502…コリメータレンズ、 503…スリット光走査用のミラー、 506…ミラー503の向きを制御するミラー駆動回
路、 504…シリンドリカルレンズ、 509…画素アレイ、 507…コントローラ、 508…画素駆動回路、 510…撮像光学系、 511…信号処理回路、 512…対象物、 513…撮像部、 1101,1102…電荷振り分けゲート、 1100…フォトゲート、 1103,1104…電荷蓄積部、 1105,1106…信号転送ゲート、 1107,1108…画素ドレイン電極。
パルス入力端子、 103…電荷振り分けゲート103aへの電荷振り分け
パルス入力端子、 104a,104b…電荷蓄積ゲート、 104…電荷蓄積ゲート104a,104bへの制御パ
ルス入力端子、 105a,105b…信号電荷転送ゲート、 105…信号電荷転送ゲート105a,105bへの制
御パルス入力端子、 106…画素電極リセットパルス入力端子、 107…画素電極リセット電圧入力端子、 108…画素ドレイン電圧入力端子、 109…画素選択パルス入力端子、 110,111…画素リセットMOSトランジスタ、 112,113…画素信号増幅トランジスタ、 114,115…画素選択トランジスタ、 116,117…画素信号出力端子、 120…光電変換部、 500…光源部、 501…輝度変調光源、 505…光源駆動回路、 502…コリメータレンズ、 503…スリット光走査用のミラー、 506…ミラー503の向きを制御するミラー駆動回
路、 504…シリンドリカルレンズ、 509…画素アレイ、 507…コントローラ、 508…画素駆動回路、 510…撮像光学系、 511…信号処理回路、 512…対象物、 513…撮像部、 1101,1102…電荷振り分けゲート、 1100…フォトゲート、 1103,1104…電荷蓄積部、 1105,1106…信号転送ゲート、 1107,1108…画素ドレイン電極。
─────────────────────────────────────────────────────
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Fターム(参考) 2F065 AA06 DD04 FF11 FF31 FF41
GG08 HH05 JJ02 JJ03 JJ25
JJ26 LL04 LL08 LL13 LL62
LL63 MM16 MM22 MM28 NN08
NN13 QQ47
2F112 AD01 AD03 BA07 CA12 DA06
DA09 DA28 DA40 EA03 EA05
4M118 AA05 AB03 BA10 CA07 DA14
DD12 FA06 FA08
5J084 AA05 AD01 AD05 BB04 BB07
BB21 DA01 EA01 FA03
Claims (3)
- 【請求項1】 対象物に輝度変調した光を照射する輝度
変調光源、前記輝度変調光源によって輝度変調された光
が照射された前記対象物からの反射光を受光し、光電変
換を行うと共に、前記輝度変調光源と同期して感度変調
可能な受光素子を備えた距離情報入力装置において、 前記受光素子は、 前記対象物からの反射光を電荷に変換する光電変換部
と、 前記光電変換部で変換された電荷を蓄積記憶する二つの
電荷蓄積部と、 前記光電変換部と前記電荷蓄積部との間に設けられ、前
記光電変換部で変換された電荷を前記輝度変調光源と同
期して前記二つの電荷蓄積部に振り分ける二つの電荷振
り分けゲートと、 前記電荷蓄積部に蓄積された電荷を検出する二つの電荷
検出部と、 前記電荷蓄積部と前記電荷検出部との間に設けられると
ともに、二つの信号振り分けゲートで構成され、前記電
荷蓄積部に蓄積された電荷を前記電荷蓄積部から前記電
荷検出部に転送する二つの電荷転送部と、を有し、 前記受光素子のリセット動作と前記電荷蓄積部に蓄積さ
れた電荷を読み出す読み出し動作との間に、前記電荷振
り分けゲートをオフして前記電荷蓄積部のポテンシャル
を上げることによって飽和電荷量以上の余剰電子を排出
する動作を少なくとも一回行なうことを特徴とする距離
情報入力装置。 - 【請求項2】 前記電荷振り分けゲートがオフされるの
と同期して、前記電荷転送部のポテンシャルを下げるこ
とを特徴とする請求項1に記載の距離情報入力装置。 - 【請求項3】 前記光電変換部が一次元または二次元の
アレイ状に配置されていることを特徴とする請求項1に
記載の距離情報入力装置。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
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Publications (1)
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|---|---|
| JP2003247809A true JP2003247809A (ja) | 2003-09-05 |
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ID=28662489
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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